CN107861055B - 集成电路动态输出性能测定方法、装置和系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种集成电路动态输出性能测定方法，包括以下步骤：获取数字通道板的各个目标基准比较电压值和数字通道板对应输出的集成电路的各个目标电平输出错误率；其中，目标电平输出错误率与目标基准比较电压一一对应；根据各个目标基准比较电压值和各个电平输出错误率，得到集成电路的基准比较电压动态分布；根据基准比较电压动态分布确定集成电路输出性能。上述的集成电路动态输出性能测定方法将根据多个目标基准比较电压值和多个电平输出错误率得到基准比较电压动态分布(即基准比较电压和错误率的关系)，根据基准比较电压动态分布可以得到集成电路的噪声容限、误码率等参数，测试结果更加准确。

Description

集成电路动态输出性能测定方法、装置和系统

技术领域

本发明涉及集成电路测定技术领域，特别是涉及一种集成电路输出电平测定方法、装置及系统。

背景技术

随着集成电路技术的发展，集成电路功能越来越复杂，集成度、工作频率越来越高以及工作电平越来越低，这将导致集成电路对噪声的容限越来越小。然而，集成电路在实际使用过程中，当外界条件发生变化时(例如集成电路的测试电路改变)，集成电路输出电平可能也会发生改变(可能会出现实际输出电平与理论不符)，当集成电路输出电平发生改变时，集成电路的输出性能(例如噪音容限以及误码率)也将发生变化。可见，精确的测定集成电路动态条件下的输出电平状态就显得尤为重要。

目前，常用静态测定方法来测定集成电路的输出电平，具体过程为将需要进行测定的集成电路接入自动测试系统的数字通道板中，然后将集成电路的管脚置于高电平输出和低电平输出两个状态(即给需要测定的集成电路输入相应的驱动信号)，分别测定每个状态下电路输出的电平，这种测定方法没有考虑外界寄生电容和电感对器件输出的影响，测定条件与实际条件相差较大，致使输出电平测定结果不准确，从而导致集成电路的性能测定不准确。

发明内容

基于此，有必要针对目前的静态测定方法测定结果不准确的问题，提供一种集成电路动态输出性能测定方法、装置及系统。

一种集成电路动态输出性能测定方法，所述集成电路接入至自动测试系统的数字通道板中，所述方法包括以下步骤：

获取所述数字通道板的各个目标基准比较电压值和所述数字通道板对应输出的所述集成电路的各个目标电平输出错误率；其中，所述目标电平输出错误率与所述目标基准比较电压一一对应；

根据各个所述目标基准比较电压值和各个所述电平输出错误率，得到所述集成电路的基准比较电压动态分布；

根据所述基准比较电压动态分布确定所述集成电路输出性能。

一种集成电路动态输出性能测定装置，用于自动测试系统的数字通道板，包括：

信息获取模块，用于获取所述数字通道板的各个目标基准比较电压值和所述数字通道板对应输出的所述集成电路的各个目标电平输出错误率；其中，所述目标电平输出错误率与所述目标基准比较电压一一对应；

基准电压动态分布模块，用于根据各个所述目标基准比较电压值和各个所述电平输出错误率，得到所述集成电路的基准比较电压动态分布；

输出性能确定模块，用于根据所述基准比较电压动态分布确定所述集成电路输出性能。

一种集成电路动态输出性能测定系统，包括：自动测试系统的数字通道板和计算机设备；

所述自动测试系统的数字通道板用于固定集成电路，并输出基准比较电压值和集成电路的电平输出错误率；

所述计算机设备用于执行所述的集成电路电路动态输出性能测定方法。

上述的集成电路动态输出性能测定方法、装置以及系统，首先，获取数字通道板的目标基准比较电压和数字通道板输出的集成电路的目标电平输出错误率，其中数字通道板包括的驱动电路和比较电路，驱动电路主要为集成电路提供各驱动电压，一个驱动电压就对应一个输出电压，驱动电路会将输出电压传输至比较电路，比较电路将输出电压与基准比较电压进行比较，得到实际输出电平。并且比较电路将实际输出电平与期望输出电平进行比较，在实际输出电平与期望输出电平不相符时，输出错误，将各实际输出电平与各期望输出电平比较，得到电平输出错误率；当电平输出错误率达到目标电平输出错误率时，得到目标基准比较电压值；得到多个目标基准比较电压值和与多个目标基准比较电压值对应的输出电平错误率，根据多个目标基准比较电压值和多个电平输出错误率得到集成电路的基准比较电压动态分布，最后根据集成电路基准比较电压动态分布确定集成电路输出性能。上述的集成电路动态输出性能测定方法将根据多个目标基准比较电压值和多个电平输出错误率得到基准比较电压动态分布(即基准比较电压和错误率的关系)，根据基准比较电压动态分布可以得到集成电路的噪声容限、误码率等参数，测试结果更加准确。

附图说明

图1为本发明的集成电路动态输出性能测定方法在其中一个实施例中的流程示意图；

图2为本发明的集成电路电平输出的工作原理图；

图3为数字通道板的结构原理图

图4为本发明的集成电路动态输出性能测定方法中数据包处理方法的流程示意图；

图5为本发明的集成电路动态输出性能测定装置在其中一个实施例中的流程示意图；

图6为本发明的集成电路动态输出性能测定装置在其中一个实施例中的流程示意图；

图7为本发明的集成电路动态输出性能测定系统在其中一个实施例中的流程示意图。

具体实施方式

下面将结合较佳实施例及附图对本发明的内容作进一步详细描述。显然，下文所描述的实施例仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。应当说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部内容。

图1为本发明的集成电路动态输出性能测定方法在一个实施例中的流程示意图，如图1所示，本发明实施例中的集成电路动态输出性能测定方法，包括以下步骤：

步骤S110，获取数字通道板的各个目标基准比较电压值和数字通道板对应输出的集成电路的各个目标电平输出错误率；其中，目标电平输出错误率与目标基准比较电压一一对应。

具体地，集成电路生产过程中通常采用集成电路自动测试系统(ATE)对比集成电路进行测试，只有在集成电路测试通过(即合格)是才能出售使用。自动测试系统一般由主控板、电源板、数字通道板和模拟通道板等板组合而成。而数字通道板主要用来测定集成电路的电平输出，即集成电路是输出高电平或输出低电平。图2为集成电路电平输出的工作原理图，如图2，在对集成电路输出电平测定时，先将集成电路连接到数字通道板上(即将集成电路的输入管脚和输出管脚分别连接到数字通道板上)，其中数字通道板通过输入管脚为集成电路输入驱动信号(即驱动电压)，然后通过输出管脚将集成电路的输出信号(即1或0电平信号)输入值数字通道板，数字通道板根据集成电路的输出信号来判断集成电路是否通过测试。

图3为数字通道板的结构原理图。参照图3，数字通道板主要包括两部分：驱动电路(上方虚线框部分)和比较电路(下方实线框部分)，其中，驱动部分用于为集成电路提供驱动信号(驱动电压)，其中驱动信号通常为0和1组成的信号(如图中的“1”“0”“X”)，一个驱动信号可以是单路信号(例如0或1)也可以是多路信号(例如001或101等)。比较电路主要用于判断集成电路输出信号是否和期望一致，并给出合格和失效的判定。驱动电路中Vt是用于管脚阻抗匹配的信号，Vil和Vih是驱动电路的基准电压。比较电路中需要基准比较电压，其中基准比较电压用于与输出电压(集成电路根据驱动信号生成的输出信号)比较，生成集成电路实际输出电平，其中，基准比较电压通常包括高电平基准比较电压和低电平基准比较电压，即分别记为Voh和Vol，当输出电压小于Vol时，实际输出电平为低电平(即0)；当输出大于Voh，实际输出电平为高电平(即1)，其中Voh和Vol的值是可以设置的，当Voh和Vol值改变时，实际输出电平也可能将发生变化。另外，比较电路还用于将集成电路实际输出电平与期望输出电平进行比较，在实际输出电平与期望输出电平相符(或一致)时，判定测试通过。当实际输出电平与期望输出电平不相符(或不一致)时，判定测试是失效。当对集成电路输入多个驱动信号时，将对应得到多个实际输出电平。将每一个实际输出电平与对应的期望输出电平进行比较，当实际输出电平与期望输出电平不相符时，计算得到电平输出错误率。当电平输出错误率达到目标电平输出错误率时，得到与目标电平输出错误率对应的基准比较电压。

步骤S120，根据各个目标基准比较电压值和各个电平输出错误率，得到集成电路的基准比较电压动态分布。

具体地，从上述集成电路测定的原理可知，当基准比较电压发生变化时，集成电路实际输出电平可能发生变化，当实际输出电平发生变化后，集成电路测试的错误率也将发生变化。因此，调节基准比较电压，就可以得到多个基准比较电压值和与基准比较电压值对应的错误率。然后根据多个基准比较电压值和多个基准比较电压对应的错误率得到集成电路基准比较电压的动态分布，即可以是基准比较电压与错误率对应的关系的分布图。

步骤S130，根据基准比较电压动态分布确定集成电路输出性能。

在本实施例中，根据集成电路基准比较电压动态分布，采用统计学的手段可以计算得到集成电路的噪声容限、误码率等数据，其中噪声容限、误码率与集成电路的性能息息相关，即根据成电路的噪声容限、误码率能来确定集成电路的性能。

上述的集成电路动态输出性能测定方法，首先，获取数字通道板的目标基准比较电压和数字通道板输出的集成电路的目标电平输出错误率，其中数字通道板包括的驱动电路和比较电路，驱动电路主要为集成电路提供各驱动电压，一个驱动电压就对应一个输出电压，驱动电路会将输出电压传输至比较电路，比较电路将输出电压与基准比较电压进行比较，得到实际输出电平。并且比较电路将实际输出电平与期望输出电平进行比较，在实际输出电平与期望输出电平不相符时，输出错误，将各实际输出电平与各期望输出电平比较，得到电平输出错误率；当电平输出错误率达到目标电平输出错误率时，得到目标基准比较电压值；得到多个目标基准比较电压值和与多个目标基准比较电压值对应的输出电平错误率，根据多个目标基准比较电压值和多个电平输出错误率得到集成电路的基准比较电压动态分布，最后根据集成电路基准比较电压动态分布确定集成电路输出性能。上述的集成电路动态输出性能测定方法将根据多个目标基准比较电压值和多个电平输出错误率得到基准比较电压动态分布(即基准比较电压和错误率的关系)，根据基准比较电压动态分布可以得到集成电路的噪声容限、误码率等参数，测试结果更加准确。

在其中一个实施例中，在获取数字通道板的各个目标基准比较电压值和数字通道板输出的集成电路的各个目标电平输出错误率的步骤中，包括：

调节数字通道板的基准比较电压值，并获取数字通道板对应输出的集成电路的电平输出错误率；

若当前基准比较电压值对应的电平输出错误率等于目标电平输出错误率，则判定当前基准比较电压值为目标基准比较电压值。

具体地，根据数字通道板的原理可知，当基准比较电压变化时，集成电路的电平输出错误率也会发生变化，调节基准比较电压，当调节后的当前基准比较电压所对应的电平输出错误率等于目标电平输出错误时，将当前基准比较电压值记为目标基准比较电压。采用上述的方式，可以快获得目标基准比较电压值和目标电平输出错误率。

在其中一个实施例中，如图4所示，基准比较电压包括高电平基准比较电压，目标基准比较电压值包括第一高电平目标基准比较电压值、第二高电平目标基准比较电压值以及第三高电平目标基准比较电压值；目标电平输出错误率包括第一目标电平输出错误率、第二目标电平输出错误率以及第三目标电平输出错误率；在调节基准比较电压，得到各个目标电平输出错误率以及与各个目标电平输出错误率新对应的各个基准比较电压值的步骤中：

步骤S111，逐步增加高电平基准比较电压，若当前高电平基准比较电压值对应的电平输出错误率等于第一目标电平输出错误率，则判定当前高电平基准比较电压值为第一高电平目标基准比较电压值。

步骤S112，若当前高电平基准比较电压值对应的电平输出错误率等于第二目标电平输出错误率，则判定当前高电平基准比较电压值为第二高电平目标基准比较电压值。

步骤S113，若当前高电平基准比较电压值对应的电平输出错误率等于第三目标电平输出错误率，则判定当前高电平基准比较电压值为第三高电平目标基准比较电压值。

在本实施例中，基准比较电压包括高电平基准比较电压(即Voh)。为了测试的准确性，首先固定高电平基准比较电压值，对集成电路输入多个驱动信号对集成电路进行测试，在多个测试信号对应的每一个实际输出电平都与期望输出电平一致时，即集成电路输出错误率为0，或错误率非常低时(即保证集成电路质量合格)，判断集成电通过测试，即满足要求。对满足要求的集成电路输入驱动信号，然后逐步增加高电平基准比较电压，此时，集成电路测试结果将出现错误，产生对应的错误率。当错误率达到第一目标电平输出错误率时，将此时的第一目标电平输出错误率记为第一目标电平输出错误率，将将此时的高电平基准电压值记为第一高电平目标基准比较电压值。同理，得到第二目标电平输出错误率、第二高电平目标基准比较电压值、第三目标电平输出错误率和第三高电平目标基准比较电压值。

在其中一个实施例中，如图4所示，还包括

步骤S121，根据第一目标电平输出错误率、第一高电平目标基准比较电压值、第二目标电平输出错误率、第二高电平目标基准比较电压值、第三目标电平输出错误率和第三高电平目标基准比较电压值，得到高电平基准比较电压动态分布。

理论上，第一目标电平输出错误率、第二目标电平输出错误率和第三目标电平输出错误率可以是任意值，通常选择第一目标电平输出错误率小于50％，第二目标电平输出错误率为50％，第三目标电平输出错误率大于50％，例如第一目标电平输出错误率为34％，第二目标电平输出错误率为50％，第三目标电平输出错误率为68％。第一高电平目标基准比较电压值、第二高电平目标基准比较电压值和第三高电平目标基准比较电压值分别为第一目标电平输出错误率、第二目标电平输出错误率和第三目标电平输出错误率对应的高电平基准比较电压。根据上述的数值(即离散数据)可以得到高电平基准比较电压与错误率对应关系的分布。采用上述的方式，可以快速得到高电平基准比较电压值与错误率一一对应的离散数值，根据这些离散数据就可以确定高电平基准比较电压值与错误率的分布。

在其中一个实施例中，如图5所示，基准比较电压包括低电平基准比较电压，目标基准比较电压值包括第一低电平目标基准比较电压值、第二低电平目标基准比较电压值以及第三低电平目标基准比较电压值；目标电平输出错误率包括第一目标电平输出错误率、第二目标电平输出错误率以及第三目标电平输出错误率；在调节基准比较电压，得到各个目标电平输出错误率以及与各个目标电平输出错误率新对应的各个基准比较电压值的步骤中，包括：

步骤S114，逐步减少低电平基准比较电压，若当前低电平基准比较电压值对应的电平输出错误率等于第一目标电平输出错误率，则判定当前低电平基准比较电压值为第一低电平目标基准比较电压值。

步骤S115，若当前低电平基准比较电压值对应的电平输出错误率等于第二低电平目标电平输出错误率，则判定当前低电平基准比较电压值为第二低电平目标基准比较电压值。

步骤S116，若当前低电平基准比较电压值对应的电平输出错误率等于第三低电平目标电平输出错误率，则判定当前低电平基准比较电压值为第三低电平目标基准比较电压值。

在本实施例中，基准比较电压包括低电平基准比较电压(即Vol)。为了测试的准确性，首先固定低电平基准比较电压值，对集成电路输入多个驱动信号对集成电路进行测试，在多个测试信号对应的每一个实际输出电平都与期望输出电平一致时，即集成电路输出错误率为0，或错误率非常低时(即保证集成电路质量合格)，判断集成电通过测试，即满足要求。对满足要求的集成电路输入驱动信号，然后逐步减小低电平基准比较电压，此时，集成电路测试结果将出现错误，产生对应的错误率。当错误率达到第一目标电平输出错误率时，将将此时的低电平基准电压值记为第一低电平基准比较电压值。同理，得到第二低电平目标基准比较电压值和第三低电平目标基准比较电压值。

应当理解，上述的错误率和高电平基准比较电压值不限于只选择三个，可以选择多个。

在其中一个实施例中，如图5所示，在根据各个目标基准比较电压值和各个电平输出错误率，得到集成电路的基准比较电压动态分布的步骤中，包括：

步骤S122，根据第一目标电平输出错误率、第一低电平基准比较电压值、第二目标电平输出错误率、第二低电平目标基准比较电压值、第三目标电平输出错误率和第三低电平目标基准比较电压值，得到集成电路低电平基准比较电压动态分布。

理论上，第一目标电平输出错误率、第二目标电平输出错误率和第三目标电平输出错误率可以是任意值，通常选择第一目标电平输出错误率小于50％，第二目标电平输出错误率为50％，第三目标电平输出错误率大于50％，例如第一目标电平输出错误率为34％，第二目标电平输出错误率为50％，第三目标电平输出错误率为68％。第一低电平基准比较电压值、第二低电平基准比较电压值和第三低电平基准比较电压值分别为第一目标电平输出错误率、第二目标电平输出错误率和第三目标电平输出错误率对应的低电平基准比较电压。根据上述的数值(即离散数据)可以得到低电平基准比较电压与错误率对应关系的分布。采用上述的方式，可以快速得到低电平基准比较电压值与错误率一一对应的离散数值，根据这些离散数据就可以确定低电平基准比较电压值与电平输出错误率的分布。

应当理解，上述的错误率和低电平基准比较电压值不限于只选择三个，可以选择多个。

在其中一个实施例中，根据第一目标电平输出错误率、第一高电平目标基准比较电压值、第二目标电平输出错误率、第二高电平目标基准比较电压值、第三目标电平输出错误率和第三高电平目标基准比较电压值，得到集成电路高电平基准比较电压动态分布的步骤中，包括：

利用蒙特卡罗分析法，得到高电平基准比较电压与电平输出错误率之间关系的动态分布图。

具体地，蒙特卡罗方法(Monte Carlo method)，也称统计模拟方法，一种以概率统计理论为指导的一类非常重要的数值计算方法。是指使用随机数(或伪随机数)来解决很多计算问题的方法，其基本思想为：当所求解问题是某种随机事件出现的概率，或者是某个随机变量的期望值时，通过某种“实验”的方法，以这种事件出现的频率估计这一随机事件的概率，或者得到这个随机变量的某些数字特征，并将其作为问题的解。

蒙特卡罗方法解题过程的三个主要步骤：(1)构造或描述概率过程，对于本身就具有随机性质的问题，如粒子输运问题，主要是正确描述和模拟这个概率过程，对于本来不是随机性质的确定性问题，比如计算定积分，就必须事先构造一个人为的概率过程，它的某些参量正好是所要求问题的解。即要将不具有随机性质的问题转化为随机性质的问题。(2)实现从已知概率分布抽样构造了概率模型以后，由于各种概率模型都可以看作是由各种各样的概率分布构成的，因此产生已知概率分布的随机变量(或随机向量)。最重要的一个概率分布是(0，1)上的均匀分布(或称矩形分布)。随机数就是具有这种均匀分布的随机变量。随机数序列就是具有这种分布的总体的一个简单子样。产生随机数的问题，就是从这个分布的抽样问题。在计算机上，可以用物理方法产生随机数。另一种方法是用数学递推公式产生。(3)建立各种估计量，构造了概率模型并能从中抽样后，即实现模拟实验后，确定一个随机变量，作为所要求的问题的解，我们称它为无偏估计。建立各种估计量，相当于对模拟实验的结果进行考察和登记，从中得到问题的解。

在本实施例中，采用蒙特卡罗方法来确定集成电路高电平基准比较电压与错误率之间关系的动态分布图，采用该方法，可以选用比较少的数据就能得到集成电路高电平基准比较电压的动态分布图，且结果准确。

在其中一个实施例中，如图所示，在根据第一目标电平输出错误率、第一低电平目标基准比较电压值、第二目标电平输出错误率、第二低电平目标基准比较电压值、第三目标电平输出错误率和第三低电平目标基准比较电压值，得到低电平基准比较电压动态分布的步骤中，包括：

利用蒙特卡罗分析法，得到低电平基准比较电压与电平输出错误率之间关系的动态分布图。

在本实施例中，采用蒙特卡罗方法来确定低电平基准比较电压与错误率之间关系的动态分布图，采用该方法，可以选用比较少的数据就能得到集成电路低电平基准比较电压的动态分布图，且结果准确。

在其中一个实施例中，采用以下公式得到高电平基准比较电压与电平输出错误率之间关系的动态分布图：

其中，Voh(V)表示高电平基准比较电压，V表示错误率为0时的高电平基准比较电压，Voh1表示第一高电平目标基准比较电压值，Voh2表示第二高电平目标基准比较电压值，Voh3表示第三高电平目标基准比较电压值。

具体地，只要得到第一高电平目标基准比较电压值Voh1、第二高电平目标基准比较电压值Voh2和第三高电平目标基准比较电压值Voh3就可以根据上述公式计算得到集成电路高电平基准比较电压与错误率之间关系的动态分布图，计算简单易行。

在其中一个实施例中，采用以下公式得到动态输出低电平与电平输出错误率之间关系的动态分布图，

其中，Vol(V)表示高电平基准比较电压，V表示错误率为0时的低电平基准比较电压，Vol1表示第一低电平目标基准比较电压值，Vol2表示第二低电平目标基准比较电压值，Vol3表示第三低电平目标基准比较电压值。

具体地，只要得到第一低电平基准比较电压值Vol1、第二低电平基准比较电压值Vol2和第三低电平基准比较电压值Vol3就可以根据上述公式计算得到集成电路低电平基准比较电压与电平输出错误率之间关系的动态分布图，计算简单易行。

根据上述本发明的集成电路电路动态输出性能测定方法，本发明还提供一种集成电路动态输出性能测定装置，下面结合附图及较佳实施例对本发明的变电站吊车作业安全演练装置进行详细说明。

图6为本发明的一种集成电路动态输出性能测定装置在一个实施例中的结构示意图。如图6所示，该实施例中的集成电路动态输出性能测定装置，包括：

信息获取模块10，用于获取数字通道板的各个目标基准比较电压值和数字通道板对应输出的集成电路的各个目标电平输出错误率；其中，目标电平输出错误率与目标基准比较电压一一对应。

基准电压动态分布模块20，用于根据各个目标基准比较电压值和各个电平输出错误率，得到集成电路的基准比较电压动态分布；

输出性能确定模块30，用于根据基准比较电压动态分布确定集成电路输出性能。

在其中一个实施例中，所述信息获取模块还包括：

电压调节模块，用于调节数字通道板的基准比较电压值；

错误率获取模块，用于获取数字通道板对应输出的集成电路的电平输出错误率；

电压值获取模块，用于若当前基准比较电压值对应的电平输出错误率等于目标电平输出错误率，则判定当前基准比较电压值为目标基准比较电压值。

在其中一个实施例中，所述基准比较电压包括高电平基准比较电压，所述目标基准比较电压值包括第一高电平目标基准比较电压值、第二高电平目标基准比较电压值以及第三高电平目标基准比较电压值；所述目标电平输出错误率包括第一目标电平输出错误率、第二目标电平输出错误率以及第三目标电平输出错误率；

所述电压调节模块，还用于逐步增加所述高电平基准比较电压；

第一目标高电平电压获得模块，用于若当前高电平基准比较电压值对应的电平输出错误率等于第一目标电平输出错误率，则判定当前高电平基准比较电压值为第一高电平目标基准比较电压值；

第二目标高电平电压获得模块，用于若当前高电平基准比较电压值对应的电平输出错误率等于第二目标电平输出错误率，则判定当前高电平基准比较电压值为第二高电平目标基准比较电压值；

第三目标高电平电压获得模块，用于若当前高电平基准比较电压值对应的电平输出错误率等于第三目标电平输出错误率，则判定当前高电平基准比较电压值为第三高电平目标基准比较电压值。

在其中一个实施例中，还包括：

基准电压动态分布模块还用于根据所述第一目标电平输出错误率、第一高电平目标基准比较电压值、所述第二目标电平输出错误率、所述第二高电平目标基准比较电压值、所述第三目标电平输出错误率和第三高电平目标基准比较电压值，得到高电平基准比较电压动态分布。

在其中一个实施例中，所述基准比较电压包括低电平基准比较电压，所述目标基准比较电压值包括第一低电平目标基准比较电压值、第二低电平目标基准比较电压值以及第三低电平目标基准比较电压值；所述目标电平输出错误率包括第一目标电平输出错误率、第二目标电平输出错误率以及第三目标电平输出错误率；包括：

所述电压调节模块，还用于逐步减少所述低电平基准比较电压；

第一目标低电平电压获得模块，用于若当前低电平基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于所述第一目标电平输出错误率，则判定当前低电平基准比较电压值为所述第一低电平目标基准比较电压值；

第二目标低电平电压获得模块，用于若所述当前低电平基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于所述第二低电平目标电平输出错误率，则判定所述当前低电平基准比较电压值为所述第二低电平目标基准比较电压值；

第三目标高电平电压获得模块，用于若所述当前低电平基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于所述第三低电平目标电平输出错误率，则判定当前低电平基准比较电压值为所述第三低电平目标基准比较电压值。

在其中一个实施例中，还包括：

基准电压动态分布模块20还用于根据所述第一目标电平输出错误率、第一低电平基准比较电压值、所述第二目标电平输出错误率、所述第二低电平目标基准比较电压值、所述第三目标电平输出错误率和第三低电平目标基准比较电压值，得到所述集成电路低电平基准比较电压动态分布。

在其中一个实施例中，还包括：

基准电压动态分布模块20还用于利用蒙特卡罗分析法，得到所述高电平基准比较电压与所述电平输出错误率之间关系的动态分布图。

在其中一个实施例中，还包括：

基准电压动态分布模块还用于利用蒙特卡罗分析法，得到所述低电平基准比较电压与所述电平输出错误率之间关系的动态分布图。

在其中一个实施例中，还包括：

基准电压动态分布模块还用于采用以下公式得到所述高电平基准比较电压与所述电平输出错误率之间关系的动态分布图：

其中，Voh(V)表示高电平基准比较电压，V表示错误率为0时的高电平基准比较电压，Voh1表示第一高电平目标基准比较电压值，Voh2表示第二高电平目标基准比较电压值，Voh3表示第三高电平目标基准比较电压值。

在其中一个实施例中，还包括：

基准电压动态分布模块20还用于采用以下公式得到所述低电平基准比较电压与所述电平输出错误率之间关系的动态分布图，

其中，Vol(V)表示高电平基准比较电压，V表示错误率为0时的低电平基准比较电压，Vol1表示第一低电平目标基准比较电压值，Vol2表示第二低电平目标基准比较电压值，Vol3表示第三低电平目标基准比较电压值。

上述集成电路动态输出性能测定装置可执行本发明实施例所提供的集成电路动态输出性能测定方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。至于其中各个功能模块所执行的处理方法，例如信息获取模块10、基准电压动态分布模块20、输出性能确定模块30，可参照上述方法实施例中的描述，此处不再进行赘述。

根据上述本发明的集成电路电路动态输出性能测定方法和装置，本发明还提供一种集成电路动态输出性能测定系统，下面结合附图及较佳实施例对本发明的集成电路动态输出性能测定系统进行详细说明。

图7为本发明的一种集成电路动态输出性能测定系统在一个实施例中的结构示意图。如图7所示，该实施例中的集成电路电路动态输出性能测定，包括：自动测试系统的数字通道板100和计算机设备200；

自动测试系统的数字通道板100用于固定集成电路，并输出基准比较电压值和集成电路的电平输出错误率；

计算机设备200用于执行集成电路电路动态输出性能测定方法中任意一实施例中的方法步骤。

具体地，在对集成电路进行测试之前，先将集成电路接入自动测试系统的数字通道板中，数字通道板包括驱动电路和比较电路，其中驱动电路连接集成电路的输入管脚，用于为集成电路提供驱动电压，比较电路连接集成电路的输出管脚，用于将集成电路输出电压与基准比较电压相比，根据比较结果得到的测试的集成电路实际输出电平，并将实际输出电平与期望输出电平进行比较，输出集成电路的电平输出错误率。

计算机设备实时获取基准比较电压值和集成电路的电平输出错误率，根据基准比较电压值和电平输出错误率能快速地确定集成电路基准比较电压动态分布，进而得到集成电路输出性能。测试过程非常简单，易行，且测定结果准确。

根据上述本发明的基于集成电路电路动态输出性能测定方法、装置和系统，本发明还提供一种计算机可读存储介质，下面结合附图及较佳实施例对本发明的计算机可读存储介质进行详细说明。

本发明实施例中的计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时可以实现本发明方法实施例中的所有方法步骤。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(Random Access Memory，RAM)等”。

上述计算机可读存储介质用于存储本发明实施例所提供的集成电路电路动态输出性能测定方法的程序(指令)，其中执行该程序可以执行本发明实施例所提供的集成电路电路动态输出性能测定方法，具备执行方法相应有益效果。可参照上述方法实施例中的描述，此处不再进行赘述。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种集成电路动态输出性能测定方法，所述集成电路接入至自动测试系统的数字通道板中，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

获取所述数字通道板的各个目标基准比较电压值和所述数字通道板对应输出的所述集成电路的各个目标电平输出错误率；其中，所述目标电平输出错误率与所述目标基准比较电压值一一对应；

根据各个所述目标基准比较电压值和各个所述目标电平输出错误率，得到所述集成电路的基准比较电压动态分布；

根据所述基准比较电压动态分布确定所述集成电路输出性能。

2.根据权利要求1所述的集成电路动态输出性能测定方法，其特征在于，在获取所述数字通道板的各个目标基准比较电压值和所述数字通道板对应输出的所述集成电路的各个目标电平输出错误率的步骤中，包括：

调节所述数字通道板的基准比较电压值，并获取所述数字通道板对应输出的所述集成电路的电平输出错误率；

若当前基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于目标电平输出错误率，则判定当前基准比较电压值为所述目标基准比较电压值。

3.根据权利要求2所述的集成电路动态输出性能测定方法，其特征在于，所述基准比较电压值包括高电平基准比较电压值，所述目标基准比较电压值包括第一高电平目标基准比较电压值、第二高电平目标基准比较电压值以及第三高电平目标基准比较电压值；所述目标电平输出错误率包括第一目标电平输出错误率、第二目标电平输出错误率以及第三目标电平输出错误率；

在调节所述数字通道板的基准比较电压值，并获取所述数字通道板对应输出的所述集成电路的电平输出错误率；若当前基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于目标电平输出错误率，则判定当前基准比较电压值为所述目标基准比较电压值的步骤中，包括：

逐步增加所述高电平基准比较电压值，若当前高电平基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于所述第一目标电平输出错误率，则判定当前高电平基准比较电压值为所述第一高电平目标基准比较电压值；

若所述当前高电平基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于所述第二目标电平输出错误率，则判定所述当前高电平基准比较电压值为所述第二高电平目标基准比较电压值；

若所述当前高电平基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于所述第三目标电平输出错误率，则判定所述当前高电平基准比较电压值为所述第三高电平目标基准比较电压值。

4.根据权利要求3所述的集成电路动态输出性能测定方法，其特征在于，还包括：

根据所述第一目标电平输出错误率、第一高电平目标基准比较电压值、所述第二目标电平输出错误率、所述第二高电平目标基准比较电压值、所述第三目标电平输出错误率和第三高电平目标基准比较电压值，得到高电平基准比较电压动态分布。

5.根据权利要求2所述的集成电路动态输出性能测定方法，其特征在于，所述基准比较电压值包括低电平基准比较电压值，所述目标基准比较电压值包括第一低电平目标基准比较电压值、第二低电平目标基准比较电压值以及第三低电平目标基准比较电压值；所述目标电平输出错误率包括第一目标电平输出错误率、第二目标电平输出错误率以及第三目标电平输出错误率；

在调节所述数字通道板的基准比较电压值，并获取所述数字通道板对应输出的所述集成电路的电平输出错误率；若当前基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于目标电平输出错误率，则判定当前基准比较电压值为所述目标基准比较电压值的步骤中，包括：

逐步减少所述低电平基准比较电压值，若当前低电平基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于所述第一目标电平输出错误率，则判定当前低电平基准比较电压值为所述第一低电平目标基准比较电压值；

若所述当前低电平基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于所述第二低电平目标电平输出错误率，则判定所述当前低电平基准比较电压值为所述第二低电平目标基准比较电压值；

若所述当前低电平基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于所述第三低电平目标电平输出错误率，则判定所述当前低电平基准比较电压值为所述第三低电平目标基准比较电压值。

6.根据权利要求5所述的集成电路动态输出性能测定方法，其特征在于，在根据各个所述目标基准比较电压值和各个所述目标电平输出错误率，得到所述集成电路的基准比较电压动态分布的步骤中，包括：

根据所述第一目标电平输出错误率、第一低电平目标基准比较电压值、所述第二目标电平输出错误率、所述第二低电平目标基准比较电压值、所述第三目标电平输出错误率和第三低电平目标基准比较电压值，得到所述集成电路低电平基准比较电压动态分布。

7.根据权利要求4所述的集成电路动态输出性能测定方法，其特征在于，根据所述第一目标电平输出错误率、第一高电平目标基准比较电压值、所述第二目标电平输出错误率、所述第二高电平目标基准比较电压值、所述第三目标电平输出错误率和第三高电平目标基准比较电压值，得到所述集成电路高电平基准比较电压动态分布的步骤中，包括：

利用蒙特卡罗分析法，得到所述高电平基准比较电压值与所述电平输出错误率之间关系的动态分布图。

8.根据权利要求6所述的集成电路动态输出性能测定方法，其特征在于，在根据所述第一目标电平输出错误率、第一低电平目标基准比较电压值、所述第二目标电平输出错误率、所述第二低电平目标基准比较电压值、所述第三目标电平输出错误率和第三低电平目标基准比较电压值，得到低电平基准比较电压动态分布的步骤中，包括：

利用蒙特卡罗分析法，得到所述低电平基准比较电压值与所述电平输出错误率之间关系的动态分布图。

9.一种集成电路动态输出性能测定装置，所述集成电路接入至自动测试系统的数字通道板中，其特征在于，所述装置包括：

信息获取模块，用于获取所述数字通道板的各个目标基准比较电压值和所述数字通道板对应输出的所述集成电路的各个目标电平输出错误率；其中，所述目标电平输出错误率与所述目标基准比较电压值一一对应；

基准电压动态分布模块，用于根据各个所述目标基准比较电压值和各个所述目标电平输出错误率，得到所述集成电路的基准比较电压动态分布；

输出性能确定模块，用于根据所述基准比较电压动态分布确定所述集成电路输出性能。

10.一种集成电路动态输出性能测定系统，包括：自动测试系统的数字通道板和计算机设备；

所述自动测试系统的数字通道板用于固定集成电路，并输出基准比较电压值和集成电路的电平输出错误率；

所述计算机设备用于执行权利要求2-8任一项所述的集成电路电路动态输出性能测定方法。

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