CN107577574A - 一种调试切换电路及调试电路板 - Google Patents

一种调试切换电路及调试电路板 Download PDF

Info

Publication number
CN107577574A
CN107577574A CN201710884067.XA CN201710884067A CN107577574A CN 107577574 A CN107577574 A CN 107577574A CN 201710884067 A CN201710884067 A CN 201710884067A CN 107577574 A CN107577574 A CN 107577574A
Authority
CN
China
Prior art keywords
switch
chip
debugging
terminal
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201710884067.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN107577574B (zh
Inventor
王智勇
何绍军
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hefei Huike Jinyang Technology Co Ltd
Original Assignee
Hefei Huike Jinyang Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hefei Huike Jinyang Technology Co Ltd filed Critical Hefei Huike Jinyang Technology Co Ltd
Priority to CN201710884067.XA priority Critical patent/CN107577574B/zh
Publication of CN107577574A publication Critical patent/CN107577574A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN107577574B publication Critical patent/CN107577574B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

本发明属于电路测试技术领域,提供了一种调试切换电路及调试电路板,其包括转换芯片、多个配置芯片单元、多个开关管芯片单元、多路切换开关的调试切换电路及调试电路板,由转换芯片将调试信号进行数据转换实现串口的转接,在多个配置芯片单元中加载待调试的技术方案,通过多个开关管芯片单元及多路切换开关实现在芯片或者软件调试过程中可以根据用户需要在不同的待调试技术方案中进行切换调试。该调试切换电路及调试电路板使用简单方便且通过一块调试板解决了调试过程中需要多种调试方案的调试问题,极大的降低了调试成本。

Description

一种调试切换电路及调试电路板
技术领域
本发明属于调试技术领域,尤其涉及一种调试切换电路及调试电路板。
背景技术
在芯片或者软件开发过程中,需通过各种接口进行调试工作,仅仅通过飞线或单一调试功能的电路板已经不能满足日益增加的调试工作量。在国际通用标准中,一块调试板只包含一套调试方案,对芯片或者软件进行调试完成后再次更换另一块调试板进行调试,在实际设计中,为了单个调试板调试的便利性,通常将该调试板的接口设置成通用可拔插接口,但是现有的调试板测试过程中仍然具有调试繁琐的问题,且在面对多种调试方案的情景时使用多块调试板极大增加了调试成本。
发明内容
本发明的目的在于提供一种调试切换电路及调试电路板,旨在解决面对多种调试方案时调试繁琐复杂且成本昂贵的问题。
本发明实施例提供的一种调试切换电路,包括:
转换芯片,用于对调试信号的输入与输出进行数据转换以实现串口的转接;
多个配置芯片单元,用于加载待调试的技术方案;
多个开关管芯片单元,用于控制配置芯片单元与转换芯片的连接状态,所述多个开关管芯片单元分别与所述多个配置芯片单元一一对应,所述开关管芯片单元的第一电流输入端与对应的所述配置芯片单元的第一输出端连接,所述开关管芯片单元的第二电流输入端与对应的所述配置芯片单元的第二输出端连接,所述开关管芯片单元的第一电流输出端与所述转换芯片的芯片选择端口连接,所述开关管芯片单元的第二电流输出端与所述转换芯片的时钟端口连接;
多路切换开关,用于控制多个开关管芯片的状态从而控制调试过程的开启、关闭以及选择需要调试的配置芯片单元进行调试从而实现调试电路的切换,所述多路切换开关的数据端与所述转换芯片的数据端连接,所述多路切换开关的多个开关端与多个配置芯片单元的数据端一一对应连接,所述多路切换开关的接地端接地,所述多路切换开关的多个控制端与所述多个开关管芯片单元的受控端一一对应连接。
优选地,所述开关管芯片单元包括:开关管芯片、电阻R1;
所述电阻R1的第一端接入供电电源,所述电阻R1的第二端、所述开关管芯片的第一控制端与所述开关管芯片的第二控制端共接作为所述开关管芯片单元的受控端,所述开关管芯片的第一电流输出端作为所述开关管芯片单元的第一电流输出端,所述开关管芯片的第二电流输出端作为所述开关管芯片单元的第二电流输出端,所述开关管芯片的第一电流输入端为所述开关管芯片单元的第一电流输入端,所述开关管芯片的第二电流输入端为所述开关管芯片单元的第二电流输入端。
优选地,所述配置芯片单元包括:电阻R2、电阻R3、配置芯片;
所述电阻R2的第一端、所述电阻R3的第一端共接于所述配置芯片的数据输出端,所述电阻R3的第二端与所述配置芯片的电源端共接于供电电源,所述配置芯片的芯片选择端口作为所述配置芯片单元的第一输出端,所述配置芯片的时钟端口作为所述配置芯片单元的第二输出端,所述配置芯片的数据输入端与所述电阻R2的第二端共接作为所述配置芯片单元的数据端,所述配置芯片的接地端接地。
优选地,所述配置芯片为符合3线制串行总线的电可擦除只读存储器。
优选地,所述开关管芯片包括第一N型MOS管和第二N型MOS管,所述第一N型MOS管的漏极为所述开关管芯片的第一电流输入端,所述第一N型MOS管的源极为所述开关管芯片的第一电流输出端,所述第一N型MOS管的栅极为所述开关管芯片的第一控制端,所述第二N型MOS管的漏极为所述开关管芯片的第二电流输入端,所述第二N型MOS管的源极为所述开关管芯片的第二电流输出端,所述第二N型MOS管的栅极为所述开关管芯片的第二控制端。
优选地,所述转换芯片主要用于实现USB到串行UART接口的转换,所述转换芯片为USB-UART转换芯片。
优选地,所述多路切换开关为机械多控开关,所述机械多控开关具有数据端和接地端,所述机械多控开关的多个开关端与所述多个配置芯片单元的数据端一一对应连接,所述机械多控开关的所述开关端用于开启或者关闭对应的所述配置芯片单元的数据端与所述转换芯片单元的数据端之间的连接,所述机械多控开关的多个控制端用于开启或者关闭对应的所述开关管芯片单元的受控端与所述机械多控开关的接地端的连接。
进一步地,所述多路切换开关还可以为多路数字开关,所述多路数字开关具有数据端和接地端,通过控制所述多路数字开关的控制指令来开启或者关闭所述配置芯片单元的数据端与所述转换芯片单元的数据端之间的连接以及所述开关管芯片单元的受控端与所述机械多控开关的接地端的连接。
本发明的另一目的还在于提供一种调试电路板,所述调试电路板包括:
转换芯片,用于对调试信号的输入与输出进行数据转换以实现串口的转接;
多个配置芯片单元,用于加载待调试的技术方案;
多个开关管芯片单元,用于控制配置芯片单元与转换芯片的连接状态,所述多个开关管芯片单元分别与所述多个配置芯片单元一一对应,所述开关管芯片单元的第一电流输入端与对应的所述配置芯片单元的第一输出端连接,所述开关管芯片单元的第二电流输入端与对应的所述配置芯片单元的第二输出端连接,所述开关管芯片单元的第一电流输出端与所述转换芯片的芯片选择端口连接,所述开关管芯片单元的第二电流输出端与所述转换芯片的时钟端口连接;
多路切换开关,用于控制多个开关管芯片的状态从而控制调试过程的开启、关闭以及选择需要调试的配置芯片单元进行调试从而实现调试电路的切换,所述多路切换开关的数据端与所述转换芯片的数据端连接,所述多路切换开关的多个开关端分别与多个配置芯片单元的数据端一一对应连接,所述多路切换开关的接地端接地,所述多路切换开关的多个控制端分别与所述多个开关管芯片单元的受控端一一连接。
优选地,所述开关管芯片单元包括:开关管芯片、电阻R1;
所述电阻R1的第一端接入供电电源,所述电阻R1的第二端、所述开关管芯片的第一控制端与所述开关管芯片的第二控制端共接作为所述开关管芯片单元的受控端,所述开关管芯片的第一电流输出端作为所述开关管芯片单元的第一电流输出端,所述开关管芯片的第二电流输出端作为所述开关管芯片单元的第二电流输出端,所述开关管芯片的第一电流输入端为所述开关管芯片单元的第一电流输入端,所述开关管芯片的第二电流输入端为所述开关管芯片单元的第二电流输入端。
优选地,所述配置芯片单元包括:电阻R2、电阻R3、配置芯片;
所述电阻R2的第一端、所述电阻R3的第一端共接于所述配置芯片的数据输出端,所述电阻R3的第二端与所述配置芯片的电源端共接于供电电源,所述配置芯片的芯片选择端口作为所述配置芯片单元的第一输出端,所述配置芯片的时钟端口作为所述配置芯片单元的第二输出端,所述配置芯片的数据输入端与所述电阻R2的第二端共接作为所述配置芯片单元的数据端,所述配置芯片的接地端接地。
优选地,所述配置芯片为符合3线制串行总线的电可擦除只读存储器。
优选地,所述开关管芯片包括第一N型MOS管和第二N型MOS管,所述第一N型MOS管的漏极为所述开关管芯片的第一电流输入端,所述第一N型MOS管的源极为所述开关管芯片的第一电流输出端,所述第一N型MOS管的栅极为所述开关管芯片的第一控制端,所述第二N型MOS管的漏极为所述开关管芯片的第二电流输入端,所述第二N型MOS管的源极为所述开关管芯片的第二电流输出端,所述第二N型MOS管的栅极为所述开关管芯片的第二控制端。
优选地,所述转换芯片主要用于实现USB到串行UART接口的转换,所述转换芯片为USB-UART转换芯片。
优选地,所述多路切换开关为机械多控开关,所述机械多控开关具有数据端和接地端,所述机械多控开关的多个开关端与所述多个配置芯片单元的数据端一一对应连接,所述机械多控开关的所述开关端用于开启或者关闭对应的所述配置芯片单元的数据端与所述转换芯片单元的数据端之间的连接,所述机械多控开关的多个控制端用于开启或者关闭对应的所述开关管芯片单元的受控端与所述机械多控开关的接地端的连接。
进一步地,所述多路切换开关还可以为多路数字开关,所述多路数字开关具有数据端和接地端,通过控制所述多路数字开关的控制指令来开启或者关闭所述配置芯片单元的数据端与所述转换芯片单元的数据端之间的连接以及所述开关管芯片单元的受控端与所述机械多控开关的接地端的连接。
进一步地,所述调试电路板还包括与USB接口连接,所述电路板通过USB接口与PC机连接进行芯片或者软件调试数据的传输。
本发明采用包括转换芯片、多个配置芯片单元、多个开关管芯片单元、多路切换开关的调试切换电路及调试电路板,由转换芯片将调试信号进行数据转换实现串口的转接,在多个配置芯片单元中加载待调试的技术方案,通过多个开关管芯片单元及多路切换开关实现在芯片或者软件调试过程中可以根据用户需要在不同的待调试技术方案中进行切换调试。该调试切换电路及调试电路板使用简单方便且通过一块调试板解决了调试过程中需要多种调试方案的调试问题,极大的降低了调试成本。
附图说明
图1为本发明实施例提供的调试切换电路的单元结构图;
图2为本发明实施例提供的调试切换电路的示例电路结构图;
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
本发明采用包括转换芯片、多个配置芯片单元、多个开关管芯片单元、多路切换开关的调试切换电路及调试电路板,由转换芯片将调试信号进行数据转换实现串口的转接,在多个配置芯片单元中加载待调试的技术方案,通过多个开关管芯片单元及多路切换开关实现在芯片或者软件调试过程中可以根据用户需要在不同的待调试技术方案中进行切换调试。该调试切换电路及调试电路板使用简单方便且通过一块调试板解决了调试过程中需要多种调试方案的调试问题,极大的降低了调试成本。
图1示出了本发明实施例提供的调试切换电路的单元结构图,为了便于说明,仅示出了与本实施例相关的部分,详述如下:
本发明实施例提供的一种调试切换电路,包括:
转换芯片100,用于对调试信号的输入与输出进行数据转换以实现串口的转接;
多个配置芯片单元400,用于加载待调试的技术方案;
多个开关管芯片单元300,用于控制配置芯片单元400与转换芯片100的连接状态,所述多个开关管芯片单元300分别与所述多个配置芯片单元400一一对应,所述开关管芯片单元300的第一电流输入端与对应的所述配置芯片单元400的第一输出端连接,所述开关管芯片单元300的第二电流输入端与对应的所述配置芯片单元400的第二输出端连接,所述开关管芯片单元300的第一电流输出端与所述转换芯片100的芯片选择端口连接,所述开关管芯片单元300的第二电流输出端与所述转换芯片100的时钟端口连接;
多路切换开关200,用于控制需要调试的配置芯片单元400对应的开关管芯片单元300开启使得需要调试的配置芯片单元400与转换芯片100连接,控制其他不需要调试的配置芯片单元400对应的开关管芯片单元300关闭,从而实现调试技术方案的切换,所述多路切换开关200的数据端与所述转换芯片100的数据端连接,所述多路切换开关200的多个开关端分别与多个配置芯片单元400的数据端一一对应连接,所述多路切换开关200的接地端接地,所述多路切换开关200的多个控制端分别与所述多个开关管芯片单元300的受控端一一连接。
在本发明实施例中,多路切换开关200将需要调试的配置芯片单元400对应的开关端与多路切换开关200的数据端连接,将需要调试的配置芯片单元400所对应开关管芯片单元300对应的控制端空置使得该开关管芯片单元300导通,同时,将不需要调试的配置芯片单元400对应的开关端空置,将不需要调试的配置芯片单元400所对应开关管芯片单元300对应的控制端接地,从而实现在多种调试技术方案中通过多路切换开关200选择所需调试技术方案进行调试。图2示出了本发明实施例提供的调试切换电路的示例电路结构图,为了便于说明,仅示出了与本发明相关的部分,详述如下:
作为本发明一实施例,所述开关管芯片单元400包括:开关管芯片U3、电阻R1;
所述电阻R1的第一端接入供电电源,所述电阻R1的第二端、所述开关管芯片U3的第一控制端与所述开关管芯片U3的第二控制端共接作为所述开关管芯片单元300的受控端,所述开关管芯片U3的第一电流输出端作为所述开关管芯片单元300的第一电流输出端,所述开关管芯片U3的第二电流输出端作为所述开关管芯片单元300的第二电流输出端,所述开关管芯片U3的第一电流输入端为所述开关管芯片单元300的第一电流输入端,所述开关管芯片U3的第二电流输入端为所述开关管芯片单元300的第二电流输入端。
作为本发明一实施例,所述配置芯片单元400包括:电阻R2、电阻R3、配置芯片U4;
所述电阻R2的第一端、所述电阻R3的第一端共接于所述配置芯片U4的数据输出端,所述电阻R3的第二端与所述配置芯片U4的电源端共接于供电电源,所述配置芯片U4的芯片选择端口作为所述配置芯片单元400的第一输出端,所述配置芯片U4的时钟端口作为所述配置芯片单元400的第二输出端,所述配置芯片U4的数据输入端与所述电阻R2的第二端共接作为所述配置芯片单元400的数据端,所述配置芯片U4的接地端接地。
作为本发明一实施例,所述配置芯片U4为符合3线制串行总线的电可擦除只读存储器。
作为本发明一实施例,所述开关管芯片U3包括第一N型MOS管和第二N型MOS管,所述第一N型MOS管的漏极为所述开关管芯片U3的第一电流输入端,所述第一N型MOS管的源极为所述开关管芯片U3的第一电流输出端,所述第一N型MOS管的栅极为所述开关管芯片U3的第一控制端,所述第二N型MOS管的漏极为所述开关管芯片U3的第二电流输入端,所述第二N型MOS管的源极为所述开关管芯片U3的第二电流输出端,所述第二N型MOS管的栅极为所述开关管芯片U3的第二控制端。
作为本发明一实施例,所述转换芯片U1主要用于实现USB到串行UART接口的转换,所述转换芯片U1为USB-UART转换芯片。
作为本发明一实施例,所述多路切换开关U2为机械多控开关,所述机械多控开关具有数据端和接地端,所述机械多控开关的多个开关端与所述多个配置芯片单元400的数据端一一对应连接,所述机械多控开关的所述开关端用于开启或者关闭对应的所述配置芯片单元400的数据端与所述转换芯片100的数据端之间的连接,所述机械多控开关的多个控制端用于开启或者关闭对应的所述开关管芯片单元300的受控端与所述机械多控开关的接地端的连接。
作为本发明一实施例,所述多路切换开关U2还可以为多路数字开关,所述多路数字开关具有数据端和接地端,通过控制所述多路数字开关的控制指令来开启或者关闭所述配置芯片单元400的数据端与所述转换芯片100的数据端之间的连接以及所述开关管芯片单元300的受控端与所述机械多控开关的接地端的连接。
作为本发明一实施例,所述多路切换开关U2还可以为多路数字开关,所述多路数字开关通过软件对IO控制,根据软件程序中的控制指令对开关管芯片单元300进行调控,实现需要进行测试的技术方案的配置芯片单元400与转换芯片100同时将其他不需要进行测试的技术方案的配置芯片单元与转换芯片断开。
本发明的另一目的还在于提供一种调试电路板,所述调试电路板包括:
转换芯片100,用于对调试信号的输入与输出进行数据转换以实现串口的转接;
多个配置芯片单元400,用于加载待调试的技术方案;
多个开关管芯片单元300,用于控制配置芯片单元400与转换芯片100的连接状态,所述多个开关管芯片单元300分别与所述多个配置芯片单元400一一对应,所述开关管芯片单元300的第一电流输入端与对应的所述配置芯片单元400的第一输出端连接,所述开关管芯片单元300的第二电流输入端与对应的所述配置芯片单元400的第二输出端连接,所述开关管芯片单元300的第一电流输出端与所述转换芯片100的芯片选择端口连接,所述开关管芯片单元300的第二电流输出端与所述转换芯片100的时钟端口连接;
多路切换开关200,用于控制多个开关管芯片单元300的状态从而控制调试过程的开启、关闭以及选择需要调试的配置芯片单元400进行调试从而实现调试技术方案的切换,所述多路切换开关200的数据端与所述转换芯片100的数据端连接,所述多路切换开关200的多个开关端分别与多个配置芯片单元400的数据端一一对应连接,所述多路切换开关200的接地端接地,所述多路切换开关200的多个控制端分别与所述多个开关管芯片单元300的受控端一一连接。
在本发明实施例中,多路切换开关200将需要调试的配置芯片单元400对应的开关端与多路切换开关200的数据端连接,将需要调试的配置芯片单元400所对应开关管芯片单元300对应的控制端空置使得该开关管芯片单元300导通,同时,将不需要调试的配置芯片单元400对应的开关端空置,将不需要调试的配置芯片单元400所对应开关管芯片单元300对应的控制端接地,从而实现在一块调试板上集成多种调试技术方案并通过多路切换开关200选择所需调试技术方案进行调试。
作为本发明一实施例,所述开关管芯片单元400包括:开关管芯片U3、电阻R1;
所述电阻R1的第一端接入供电电源,所述电阻R1的第二端、所述开关管芯片U3的第一控制端与所述开关管芯片U3的第二控制端共接作为所述开关管芯片单元300的受控端,所述开关管芯片U3的第一电流输出端作为所述开关管芯片单元300的第一电流输出端,所述开关管芯片U3的第二电流输出端作为所述开关管芯片单元300的第二电流输出端,所述开关管芯片U3的第一电流输入端为所述开关管芯片单元300的第一电流输入端,所述开关管芯片U3的第二电流输入端为所述开关管芯片单元300的第二电流输入端。
作为本发明一实施例,所述配置芯片单元400包括:电阻R2、电阻R3、配置芯片U4;
所述电阻R2的第一端、所述电阻R3的第一端共接于所述配置芯片U4的数据输出端,所述电阻R3的第二端与所述配置芯片U4的电源端共接于供电电源,所述配置芯片U4的芯片选择端口作为所述配置芯片单元400的第一输出端,所述配置芯片U4的时钟端口作为所述配置芯片单元400的第二输出端,所述配置芯片U4的数据输入端与所述电阻R2的第二端共接作为所述配置芯片单元400的数据端,所述配置芯片U4的接地端接地。
作为本发明一实施例,所述配置芯片U4为符合3线制串行总线的电可擦除只读存储器。
作为本发明一实施例,所述开关管芯片U3包括第一N型MOS管和第二N型MOS管,所述第一N型MOS管的漏极为所述开关管芯片U3的第一电流输入端,所述第一N型MOS管的源极为所述开关管芯片U3的第一电流输出端,所述第一N型MOS管的栅极为所述开关管芯片U3的第一控制端,所述第二N型MOS管的漏极为所述开关管芯片U3的第二电流输入端,所述第二N型MOS管的源极为所述开关管芯片U3的第二电流输出端,所述第二N型MOS管的栅极为所述开关管芯片U3的第二控制端。
作为本发明一实施例,所述转换芯片U1主要用于实现USB到串行UART接口的转换,所述转换芯片U1为USB-UART转换芯片。
作为本发明一实施例,所述多路切换开关U2为机械多控开关,所述机械多控开关具有数据端和接地端,所述机械多控开关的多个开关端与所述多个配置芯片单元400的数据端一一对应连接,所述机械多控开关的所述开关端用于开启或者关闭对应的所述配置芯片单元400的数据端与所述转换芯片100的数据端之间的连接,所述机械多控开关的多个控制端用于开启或者关闭对应的所述开关管芯片单元300的受控端与所述机械多控开关的接地端的连接。
作为本发明一实施例,所述多路切换开关U2还可以为多路数字开关,所述多路数字开关具有数据端和接地端,通过控制所述多路数字开关的控制指令来开启或者关闭所述配置芯片单元400的数据端与所述转换芯片100的数据端之间的连接以及所述开关管芯片单元300的受控端与所述机械多控开关的接地端的连接。
作为本发明一实施例,所述多路切换开关U2还可以为多路数字开关,所述多路数字开关通过软件对IO控制,根据软件程序中的控制指令对开关管芯片单元300进行调控,实现需要进行测试的技术方案的配置芯片单元400与转换芯片100同时将其他不需要进行测试的技术方案的配置芯片单元与转换芯片断开。
作为本发明一实施例,所述调试电路板还包括与USB接口连接,所述电路板通过USB接口与PC机连接进行芯片或者软件调试数据的传输。
以下结合工作原理对上述的调试切换电路及调试电路板作进一步说明:
在多路切换开关为机械多控开关时,用户通过选择加载了需要进行测试的技术方案的配置芯片单元所对应的开关端与机械多控开关的数据端连接,将其他开关端空置,同时将与需要进行测试的技术方案的配置芯片单元对应的开关芯片单元的受控端在机械多控开关上连接的控制端空置使得开关芯片单元中的开关管芯片导通,将机械多控开关上的其他控制端与机械多控开关上的接地端连接使得开关管芯片关闭,从而达到待测试的软件或者芯片进行用户所需要进行的调试技术方案。
在多路切换开关为多路数字开关时,该多路数字开关包括了数字选择器和与每个数字信号对应的多个开关管来实现对应的开关管芯片单元的导通状态和对应的配置芯片单元的数据端与转换芯片的数据端之间的连接状态,当用户需要选择加载了需要进行测试的技术方案的配置芯片单元与转换芯片连接时,在多路数字开关中输入连接对应的配置芯片单元的数据端与转换芯片的数据端同时导通对应的开关管芯片单元的控制指令,该控制指令还包括将其他芯片配置单元的数据端空置以及将其他开关管芯片单元的受控端接地使得开关管芯片单元处于关闭状态,从而达到待测试的软件或者芯片进行用户所需要进行的调试技术方案。
本领域普通技术人员还可以理解,所述多路数字开关需要将用户需要进行测试的技术方案的配置芯片单元与转换芯片连接时,在多路数字开关中对应的线路中输入数字信号“1”便可以实现对应的配置芯片单元的数据端与转换芯片的数据端的连接,同时导通对应的开关管芯片单元,同时为了减少不必要的损耗,将多路数字开关中加载了其他不需要进行调试的技术方案的配置芯片单元所对应的线路输入数字信号“0”便可以实现其他芯片配置单元的数据端空置以及将其他开关管芯片单元的受控端接地使得开关管芯片单元处于关闭状态,从而达到待测试的软件或者芯片进行用户所需要进行的调试技术方案。
本发明采用包括转换芯片、多个配置芯片单元、多个开关管芯片单元、多路切换开关的调试切换电路及调试电路板,由转换芯片将调试信号进行数据转换实现串口的转接,在多个配置芯片单元中加载待调试的技术方案,通过多个开关管芯片单元及多路切换开关实现在芯片或者软件调试过程中可以根据用户需要在不同的待调试技术方案中进行切换调试。该调试切换电路及调试电路板使用简单方便且通过一块调试板解决了调试过程中需要多种调试方案的调试问题,极大的降低了调试成本。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种调试切换电路,其特征在于,所述电路包括:
转换芯片,用于对调试信号的输入与输出进行数据转换以实现串口的转接;
多个配置芯片单元,用于加载待调试的技术方案;
多个开关管芯片单元,用于一一对应控制多个所述配置芯片单元与所述转换芯片的连接状态,所述开关管芯片单元的第一电流输入端与对应的所述配置芯片单元的第一输出端连接,所述开关管芯片单元的第二电流输入端与对应的所述配置芯片单元的第二输出端连接,所述开关管芯片单元的第一电流输出端与所述转换芯片的芯片选择端口连接,所述开关管芯片单元的第二电流输出端与所述转换芯片的时钟端口连接;
多路切换开关,用于控制多个所述开关管芯片单元的状态从而控制调试过程的开启、关闭以及选择需要调试的所述配置芯片单元进行调试从而实现调试技术方案的切换,所述多路切换开关的数据端与所述转换芯片的数据端连接,所述多路切换开关的多个开关端分别与多个所述配置芯片单元的数据端一一对应连接,所述多路切换开关的接地端接地,所述多路切换开关的多个控制端分别与多个所述开关管芯片单元的受控端一一连接。
2.如权利要求1所述的电路,其特征在于,所述开关管芯片单元包括:开关管芯片、电阻R1;
所述电阻R1的第一端接入供电电源,所述电阻R1的第二端、所述开关管芯片的第一控制端与所述开关管芯片的第二控制端共接作为所述开关管芯片单元的受控端,所述开关管芯片的第一电流输出端为所述开关管芯片单元的第一电流输出端,所述开关管芯片的第二电流输出端为所述开关管芯片单元的第二电流输出端,所述开关管芯片的第一电流输入端为所述开关管芯片单元的第一电流输入端,所述开关管芯片的第二电流输入端为所述开关管芯片单元的第二电流输入端。
3.如权利要求2所述的电路,其特征在于,所述开关管芯片包括第一N型MOS管和第二N型MOS管,所述第一N型MOS管的漏极为所述开关管芯片的第一电流输入端,所述第一N型MOS管的源极为所述开关管芯片的第一电流输出端,所述第一N型MOS管的栅极为所述开关管芯片的第一控制端,所述第二N型MOS管的漏极为所述开关管芯片的第二电流输入端,所述第二N型MOS管的源极为所述开关管芯片的第二电流输出端,所述第二N型MOS管的栅极为所述开关管芯片的第二控制端。
4.如权利要求1所述的电路,其特征在于,所述配置芯片单元包括:电阻R2、电阻R3、配置芯片;
所述电阻R2的第一端、所述电阻R3的第一端共接于所述配置芯片的数据输出端,所述电阻R3的第二端与所述配置芯片的电源端共接于供电电源,所述配置芯片的芯片选择端口作为所述配置芯片单元的第一输出端,所述配置芯片的时钟端口作为所述配置芯片单元的第二输出端,所述配置芯片的数据输入端与所述电阻R2的第二端共接作为所述配置芯片单元的数据端,所述配置芯片的接地端接地。
5.如权利要求4所述的电路,其特征在于,所述配置芯片为符合三线制串行总线的电可擦除只读存储器。
6.如权利要求1所述的电路,其特征在于,所述转换芯片主要用于实现USB到串行UART接口的转换,所述转换芯片为USB-UART转换芯片。
7.如权利要求1所述的电路,其特征在于,所述多路切换开关为机械多控开关,所述机械多控开关具有数据端和接地端,所述机械多控开关的多个开关端与所述多个配置芯片单元的数据端一一对应连接,所述机械多控开关的所述开关端用于开启或者关闭对应的所述配置芯片单元的数据端与所述转换芯片单元的数据端之间的连接,所述机械多控开关的多个控制端用于开启或者关闭对应的所述开关管芯片单元的受控端与所述机械多控开关的接地端的连接。
8.如权利要求1所述的电路,其特征在于,所述多路切换开关为多路数字开关,所述多路数字开关具有数据端和接地端,通过控制所述多路数字开关的控制指令来开启或者关闭所述配置芯片单元的数据端与所述转换芯片单元的数据端之间的连接以及所述开关管芯片单元的受控端与所述机械多控开关的接地端的连接。
9.一种调试电路板,其特征在于,所述电路板包括如权利要求1至8任一项所述的调试切换电路。
10.如权利要求9所述的电路板,其特征在于,所述电路板还包括USB接口,所述电路板通过USB接口与PC机连接进行芯片或者软件调试数据的传输。
CN201710884067.XA 2017-09-26 2017-09-26 一种调试切换电路及调试电路板 Active CN107577574B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710884067.XA CN107577574B (zh) 2017-09-26 2017-09-26 一种调试切换电路及调试电路板

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710884067.XA CN107577574B (zh) 2017-09-26 2017-09-26 一种调试切换电路及调试电路板

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN107577574A true CN107577574A (zh) 2018-01-12
CN107577574B CN107577574B (zh) 2023-12-29

Family

ID=61039259

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710884067.XA Active CN107577574B (zh) 2017-09-26 2017-09-26 一种调试切换电路及调试电路板

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN107577574B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109633407A (zh) * 2018-12-04 2019-04-16 上海无线电设备研究所 一种雷达电路板的电阻智能化调试方法及其调试系统
WO2024001537A1 (zh) * 2022-06-29 2024-01-04 京东方科技集团股份有限公司 显示装置输入电路、显示装置及其控制方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN202258359U (zh) * 2011-09-27 2012-05-30 深圳市顶星数码网络技术有限公司 一种烧录器及其刷写数据输出切换电路
CN102843040A (zh) * 2011-06-20 2012-12-26 深圳市蓝海华腾技术有限公司 一种开关电源
CN104216744A (zh) * 2014-08-27 2014-12-17 惠州Tcl移动通信有限公司 一种在线烧录设备
CN104298575A (zh) * 2013-07-16 2015-01-21 鸿富锦精密电子(天津)有限公司 主板调试电路
CN205015883U (zh) * 2015-09-15 2016-02-03 深圳市华讯方舟软件信息科技有限公司 一种多路串口调试装置
US20170187287A1 (en) * 2015-07-07 2017-06-29 Shenzhen Skyworth-Rgb Electronic Co., Ltd. Power converter and switching power supply device
CN107015836A (zh) * 2017-04-21 2017-08-04 上海雍敏信息科技有限公司 程序批量烧录工作平台及批量烧录方法
CN207571730U (zh) * 2017-09-26 2018-07-03 合肥惠科金扬科技有限公司 一种调试切换电路及调试电路板

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102843040A (zh) * 2011-06-20 2012-12-26 深圳市蓝海华腾技术有限公司 一种开关电源
CN202258359U (zh) * 2011-09-27 2012-05-30 深圳市顶星数码网络技术有限公司 一种烧录器及其刷写数据输出切换电路
CN104298575A (zh) * 2013-07-16 2015-01-21 鸿富锦精密电子(天津)有限公司 主板调试电路
CN104216744A (zh) * 2014-08-27 2014-12-17 惠州Tcl移动通信有限公司 一种在线烧录设备
US20170187287A1 (en) * 2015-07-07 2017-06-29 Shenzhen Skyworth-Rgb Electronic Co., Ltd. Power converter and switching power supply device
CN205015883U (zh) * 2015-09-15 2016-02-03 深圳市华讯方舟软件信息科技有限公司 一种多路串口调试装置
CN107015836A (zh) * 2017-04-21 2017-08-04 上海雍敏信息科技有限公司 程序批量烧录工作平台及批量烧录方法
CN207571730U (zh) * 2017-09-26 2018-07-03 合肥惠科金扬科技有限公司 一种调试切换电路及调试电路板

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109633407A (zh) * 2018-12-04 2019-04-16 上海无线电设备研究所 一种雷达电路板的电阻智能化调试方法及其调试系统
WO2024001537A1 (zh) * 2022-06-29 2024-01-04 京东方科技集团股份有限公司 显示装置输入电路、显示装置及其控制方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN107577574B (zh) 2023-12-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE112009000147T5 (de) Mobilgerät, das eine UART- und USB-Kommunikation unter Verwendung desselben Steckers gestattet, und Verfahren zum Betreiben desselben
CN104809043A (zh) 基于边界扫描的主板cpu插槽的连接测试方法和装置
CN102331963A (zh) 数字输入输出接口测试治具及测试方法
CN107577574A (zh) 一种调试切换电路及调试电路板
CN102854430B (zh) 多芯电缆混线、断线测试方法及测试系统
CN107329872A (zh) 一种协处理器的应用验证板
CN108226807A (zh) 一种数字可控型电池单体模拟器
CN109307833A (zh) 芯片测试装置及芯片测试方法
CN107305526A (zh) 一种用于微控制器的调试器
CN207571730U (zh) 一种调试切换电路及调试电路板
CN113960443A (zh) 一种io静态参数测试方法及系统
CN106324384A (zh) 一种多回路安规测试系统和一种多路切换装置
CN104122967B (zh) 一种上电掉电复位控制电路及计算机
CN203164404U (zh) 安规测试仪的集约化测试系统
CN205091732U (zh) Usb接口自动切换装置
CN110659037B (zh) 一种基于jtag的烧录装置
CN107861004A (zh) 一种备自投自动测试系统
CN207965097U (zh) 一种数字可控型电池单体模拟器
CN201152972Y (zh) 一种高性能智能化基于m模块的vxi 总线测试模块
CN206696311U (zh) 一种快速充电器的测试系统以及测试夹具
CN107479411B (zh) 芯片io现场可编程控制的装置及方法
CN209118114U (zh) 便携式记录仪
CN107748277A (zh) 一种用于保护仿真测试的可编程自动接线装置
CN110928274B (zh) 一种leu设备的测试系统
CN114295962A (zh) 一种电源芯片测试系统

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant