CN104298575A - 主板调试电路 - Google Patents

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Abstract

本发明的主板调试电路包括一调试接口、与调试接口相连的一切换单元、与切换单元相连的一控制信号输出单元、及与切换单元相连的一平台控制中枢和微处理器。所述调试接口连接在所述切换单元与一调试设备之间。所述切换单元接收控制信号输出单元的发出的控制信号，并选择地将平台控制中枢或微处理器的数据信号通过调试接口传递至所述调试设备。

Description

主板调试电路
技术领域
本发明涉及一种主板调试电路。
背景技术
在目前服务器设计中我们需要通过基本输入输出系统（Basic Input Output System, BIOS）来对主板的平台控制中枢（Platform Controller Hub，PCH）及微处理器（Central Processing Unit，CPU）进行故障调试。在调试中，通常对PCH与CPU分别配置一个连接到主板上的接口连接器，这样，不仅占用主板上的空间，而且在切换PCH与CPU的调试时，需更换相应的接口连接器，从而导致调试效率降低。
发明内容
本发明提供一种能使平台控制中枢和微处理器共用一个调试接口的主板调试电路。
一种主板调试电路，包括：
一平台控制中枢，包括第一组数据引脚及第二组数据引脚；
一微处理器，包括第一组数据引脚及第二组数据引脚；
一控制信号输出单元，用于输出一控制信号；
一切换单元，包括逻辑控制引脚、第一组输入端、第二组输入端及输出端，所述平台控制中枢的第一及第二组数据引脚与切换单元的第一组输入端相连，所述微处理器的第一及第二组数据引脚与切换单元的第二组输入端相连，所述切换单元的逻辑控制引脚接收所述控制信号输出单元发出的控制信号，并根据控制信号的逻辑状态选择性地将第一组输入端接收到的平台控制中枢的数据信号或第二组输入端接收到微处理器的数据信号通过所述输出端输出；
一调试接口，连接于所述切换单元，所述调试接口的输入端与所述切换单元的输出端相连，用于将切换单元输出端的数据信号传递至与调试接口相连的一调试设备。
本发明的主板调试电路能使平台控制中枢及微处理器通过一个切换单元共用一个调试接口，并由切换单元根据控制信号输出单元发出的控制信号，选择地将平台控制中枢的数据信号或微处理器的数据信号通过所述调试接口传递至外部调试设备。从而，不仅节省主板上的空间，还可以方便调试，提高调试效率。
附图说明
图1是本发明主板调试电路与一调试设备连接的较佳实施例的方框图。
图2是本发明主板调试电路的较佳实施例的电路图。
主要元件符号说明
主板调试电路 10
调试设备 20
调试接口 11
切换单元 12
控制信号输出单元 14
平台控制中枢 16
微处理器 18
第一切换芯片 U1
第二切换芯片 U2
连接器 JP1
电阻 R1-R5
跳帽 J1
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
如图1所示，为本发明主板调试电路10与一调试设备20相连的较佳实施例的方框图。所述主板调试电路10包括一调试接口11、与调试接口11相连的一切换单元12、与切换单元12相连的一控制信号输出单元14、与切换单元12相连的一平台控制中枢（Platform Controller Hub，PCH）16及微处理器（Central Processing Unit，CPU）18。所述切换单元12接收控制信号输出单元14发出的控制信号，并选择地将平台控制中枢16或微处理器18的数据信号通过调试接口11传递至所述调试设备20。
如图2所示，所述平台控制中枢16包括第一组数据引脚D1-D4及第二组数据引脚D5-D8。所述微处理器18包括第一组数据引脚D1-D4及第二组数据引脚D5-D8。
所述切换单元12包括第一切换芯片U1及第二切换芯片U2，所述第一切换芯片U1及第二切换芯片U2分别包括四个第一组输入引脚10A-10D及四个第二组输入引脚11A-11D。其中，所述平台控制中枢16的第一组数据引脚D1-D4与第一切换芯片U1的第一组输入引脚10A-10D对应相连，平台控制中枢16的第二组数据引脚D5-D8与第二切换芯片U2的第一组输入引脚10A-10D对应相连；所述微处理器18的第一组数据引脚D1-D4与第一切换芯片U1的第二组输入引脚11A-11D对应相连，微处理器18的第二组数据引脚D5-D8与第二切换芯片U2的第二组输入引脚11A-11D对应相连。所述第一切换芯片U1及第二切换芯片U2的接地引脚GND均接地。所述第一切换芯片U1及第二切换芯片U2的使能引脚E分别通过电阻R1及电阻R2接地。所述第一切换芯片U1及第二切换芯片U2的逻辑控制引脚S均与所述控制信号输出单元14相连。所述第一切换芯片U1及第二切换芯片U2的电源引脚VCC均连接一电压源P3V3。
所述第一切换芯片U1及第二切换芯片U2均包括四个输出引脚YA-YD，所述调试接口11包括八个数据传输接口D0-D7，所述第一切换芯片U1的四个输出引脚YA-YD与调试接口11的数据传输接口D0-D3对应相连，所述第二切换芯片U2的四个输出引脚YA-YD与调试接口11的数据传输接口D4-D7对应相连。
所述控制信号输出单元14包括一连接器JP1及一跳帽J1，所述连接器JP1的第一引脚P1通过一电阻R3与所述电压源P3V3相连。所述连接器JP1的第二引脚P2与所述第一切换芯片U1及第二切换芯片U2的逻辑控制引脚S相连，所述连接器JP1的第二引脚P2还通过一电阻R4连接所述电压源P3V3。所述连接器JP1的第三引脚P3通过一电阻R5接地。
本实施例的工作原理如下：
当对PCH信号进行调试时，通过一跳帽J1将所述连接器JP1的第一引脚P1与第二引脚P2相连，所述连接器JP1的第二引脚P2向第一切换芯片U1及第二切换芯片U2的逻辑控制引脚S发出一高电平控制信号，所述平台控制中枢16的8路数据信号通过第一切换芯片U1及第二切换芯片U2的第一组输入引脚10A-10D传递至所述第一切换芯片U1及第二切换芯片U2的输出引脚YA-YD，所述第一切换芯片U1及第二切换芯片U2的输出引脚YA-YD将平台控制中枢16的8路数据信号输出至所述调试接口11，并经所述调试接口11传递至调试设备20。
当对CPU信号进行调试时，通过所述跳帽J1将所述连接器JP1的第一引脚P2与第二引脚P3相连，所述连接器JP1的第二引脚P2向第一切换芯片U1及第二切换芯片U2的逻辑控制引脚S发出一低电平控制信号，所述微处理器18的8路数据信号通过第一切换芯片U1及第二切换芯片U2的第二组输入引脚11A-11D传递至所述第一切换芯片U1及第二切换芯片U2的输出引脚YA-YD，所述第一切换芯片U1及第二切换芯片U2的输出引脚YA-YD将微处理器18的8路数据信号输出至所述调试接口11，并经所述调试接口11传递至调试设备20。
由于平台控制中枢16与微处理器18通过切换单元12共用一个调试接口11，并由切换单元12根据接收到的控制信号输出单元14发出的控制信号，而选择地将平台控制中枢16的数据信号或微处理器18的数据信号通过所述调试接口11传递至调试设备20。由此，便可实现节省主板上的空间，且方便调试，提高调试效率效果。
可以理解的是，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术构思做出其它各种相应的改变与变形，而所有这些改变与变形都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims (4)

1.一种主板调试电路，包括：
一平台控制中枢，包括第一组数据引脚及第二组数据引脚；
一微处理器，包括第一组数据引脚及第二组数据引脚；
一控制信号输出单元，用于输出一控制信号；
一切换单元，包括逻辑控制引脚、第一组输入端、第二组输入端及输出端，所述平台控制中枢的第一及第二组数据引脚与切换单元的第一组输入端相连，所述微处理器的第一及第二组数据引脚与切换单元的第二组输入端相连，所述切换单元的逻辑控制引脚接收所述控制信号输出单元发出的控制信号，并根据控制信号的逻辑状态选择性地将第一组输入端接收到的平台控制中枢的数据信号通过所述输出端输出或将第二组输入端接收到微处理器的数据信号通过所述输出端输出；
一调试接口，连接于所述切换单元，所述调试接口的输入端与所述切换单元的输出端相连，用于将切换单元输出端的数据信号传递至与调试接口相连的一调试设备。
2.如权利要求1所述的主板调试电路，其特征在于：所述切换单元包括第一切换芯片和第二切换芯片，所述第一及第二切换芯片的使能引脚均接地，第一及第二切换芯片的接地引脚均接地，所述第一及第二切换芯片的电压引脚均连接一电压源，所述第一及第二切换芯片均包括第一组输入端及第二组输入端，所述切换单元的第一组输入端包括第一及第二切换芯片的第一组输入端，所述切换单元的第二组输入端包括第一及第二切换芯片的第二组输入端，第一及第二切换芯片的第一组输入端和第二组输入端均包括四个输入引脚，第一及第二切换芯片的输出端包括四个与调试接口相连并用以将的输出引脚，切换单元的第一组输入端或第二组输入端接收到的信号传递至调试接口，所述第一及第二切换芯片的逻辑控制引脚接收控制信号输出单元发出的控制信号，当控制信号输出单元发出的控制信号为高电平时，第一及第二切换芯片输出第一组输入端接收到的平台控制中枢的数据信号，并将该平台控制中枢的数据信号通过所述调试接口传递至所述调试设备；当控制信号输出单元发出的控制信号为低电平时，第一及第二切换芯片输出第二组输出端接收到的微处理器的数据信号，并将该微处理器的数据信号通过所述调试接口传递至所述调试设备。
3.如权利要求2所述的主板调试电路，其特征在于：所述控制信号输出单元包括一连接器及一跳帽，所述连接器的第一引脚通过一第一电阻连接所述电压源，所述连接器的第二引脚与所述第一及第二切换芯片的逻辑控制引脚相连，且通过一第二电阻连接所述电压源，所述连接器的第三引脚通过一第三电阻接地，当所述跳帽将所述连接器的第一及第二引脚相连时，所述连接器的第二引脚输出一高电平控制信号给所述第一及第二切换芯片的逻辑控制引脚；当所述跳帽将所述连接器的第二及第三引脚相连时，所述连接器的第二引脚输出一低电平控制信号给所述第一及第二切换芯片的逻辑控制引脚。
4.如权利要求2所述的主板调试电路，其特征在于：所述第一切换芯片的使能引脚通过一第四电阻接地，所述第二切换芯片的使能引脚通过一第五电阻接地。
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