CN107533143A - 放射线检测器或具备放射线检测器的放射线断层摄影装置 - Google Patents

Abstract

提供一种通过不使用透射材料地使闪烁体晶体(C)和反射板(rx、ry)一体化来防止荧光的损失并且放射线检测的灵敏度高的放射线检测器(1)。根据本发明，在纵横地排列的闪烁体晶体(C)的高度方向上的端部粘接有粘合片(Sa、Sb)。通过该粘合片(Sa、Sb)将各闪烁体晶体(C)一体化。根据本发明，由于不需要通过粘接剂将闪烁体晶体(C)和反射板(ry)固定来构成闪烁体(2)，因此不存在固化前的粘接剂进入闪烁体晶体(C)与反射板(ry)的间隙的情况，从而该间隙成为空气层。如果形成为这样的结构，则不容易发生在闪烁体晶体(C)内部产生的荧光从闪烁体晶体(C)射出的现象，从而能够极力抑制荧光的强度下降。

Description

放射线检测器或具备放射线检测器的放射线断层摄影装置

技术领域

本发明涉及一种具备将放射线转换为荧光的闪烁体的放射线检测器和具备放射线检测器的放射线断层摄影装置。

背景技术

作为检测放射线的放射线检测器，以往有成为如图15所示那样的结构的放射线检测器。这样的放射线检测器具备闪烁体52，该闪烁体52是呈长方体的形状的闪烁体晶体C纵横地排列而构成的。闪烁体晶体C由当放射线入射时将放射线转换为荧光的材料构成。通过与闪烁体52光学性地耦合的光检测器53检测在闪烁体52中产生的荧光(例如参照专利文献1)。

图16表示闪烁体52的结构。在彼此相邻的闪烁体晶体C之间设置有用于使荧光反射的反射板r。彼此相邻的闪烁体晶体C被该反射板r光学地隔开。闪烁体52是由闪烁体晶体C和反射板r如图16那样组装而构成的。

通过使荧光透过的透射材料t来使闪烁体晶体C和反射板r一体化。透射材料t是流入闪烁体晶体C与反射板r的间隙的液状的粘接剂固化而构成的。通过该透射材料t使闪烁体晶体C和反射板r相互不分离。透射材料t具有保持闪烁体52的形状的功能。

对于放射线在闪烁体晶体C内部被转换而生成的荧光在闪烁体内部如何扩散进行说明。图16的星号表示位于闪烁体晶体C内部的荧光的产生点。在该星号处产生的荧光的一部分如图16所示那样将要从闪烁体晶体C的侧面射出。这样的荧光被反射板r阻挡，从而不会到达相邻的闪烁体晶体C。荧光最终从作为产生源的闪烁体晶体C向光检测器53侧射出。

也就是说，荧光入射于光检测器53的位置位于闪烁体52内部的荧光的产生点的正下方。光检测器53能够判别荧光的入射位置，因此光检测器53辨别出的荧光的入射位置表示闪烁体52中的荧光的产生点的位置。

如果在闪烁体晶体C之间没有设置反射板r，则导致在闪烁体晶体C中产生的荧光向闪烁体52的大范围扩散，导致难以确定荧光的产生点。闪烁体52的反射板r对于确定荧光的产生点而言起到重要的作用。

专利文献1：日本特表2008-525161号公报

发明内容

发明要解决的问题

然而，在以往的放射线检测器中存在如下问题。

即，在以往的放射线检测器中，将闪烁体晶体C与反射板r粘接的透射材料减弱了荧光的强度。

图17说明了以往结构的问题。在图17的左侧，表示从星号所示的产生点产生的荧光被反射板r反射的情形。此时的荧光沿着如下的复杂的路径行进：从闪烁体晶体C朝向透射材料t射出，穿过透射材料t入射至反射板r并在此处发生反射，再次穿过透射材料t向闪烁体晶体C入射。荧光在穿过透射材料t的期间被吸收一部分。另外，在由反射板r反射荧光时，也并非将荧光全部反射。进而，根据反射板r的材质的不同，存在折射率接近透射材料t的反射板。在该情况下，导致从闪烁体晶体C朝向透射材料t射出的荧光透过反射板r漏出到了相邻的闪烁体晶体C中。这样，如果发生从闪烁体晶体C朝向透射材料t射出的现象，则导致向光检测器53入射的荧光的强度下降。

为了不使向光检测器53入射的荧光的强度下降，优选使荧光在闪烁体晶体C内尽可能不射出。关于这一点，存在称为荧光的全反射的现象。图17的右侧说明了荧光的全反射。从星号所示的产生点产生的荧光在到达反射板r之前在闪烁体晶体C的表面进行了反射。将这样的反射称为全反射。在这样的全反射中，荧光不会穿过透射材料t，从而也不会被反射板r反射，因此更加抑制强度的下降。

以往结构的放射线检测器成为难以发生图17的右侧所说明的荧光的全反射的结构。是因为透射材料t是固体，相应地具有较高的折射率。透射材料t的折射率越高且越接近闪烁体晶体C的折射率，则全反射临界角越大，越容易使荧光从闪烁体晶体C向透射材料t透射。从第一介质向第二介质射出荧光的情况下的全反射临界角θ0能够基于斯涅耳定律来通过θ0＝sin^-1(n2/n1)求出。其中，n2是第二介质(透射材料t)的折射率，n1是第一介质(闪烁体晶体C)的折射率。

如果像图17的右侧那样设为将透射材料t替换为空气层的结构，则容易发生荧光的全反射。是因为空气的折射率小，因此全反射临界角变小。

另外，如图18所示，在构成以往结构的闪烁体52的透射材料t中混入了气泡的情况下，当荧光照射向该泡时，导致荧光发生漫反射。这样的现象成为向光检测器53入射的荧光的强度、偏差的下降的原因。

这样，当将闪烁体52的透射材料替换为空气时，能够更高效地检测荧光，从而能够提供一种放射线的检测灵敏度高的放射线检测器。能够提供一种特别是在作为PET装置用的放射线检测器使用的情况下时间分辨率非常优秀的放射线检测器。但是，透射材料t具有将构成闪烁体52的各闪烁体晶体C和反射板r一体化这样的重要功能。如果设为将透射材料t替换为空气那样的结构，则导致闪烁体52整体无法保持自身的形状而造成崩坏。如果闪烁体52不是一体的，则放射线检测器无法保持自己的形状。

本发明是鉴于这样的情形而完成的，其目的在于提供一种通过不使用透射材料地使闪烁体晶体和反射板一体化来防止荧光的损失并且放射线检测的灵敏度高的放射线检测器。

用于解决问题的方案

本发明为了解决上述的问题而采用如下结构。

即，本发明所涉及的放射线检测器的特征在于，具备：闪烁体晶体，其将放射线转换为荧光；反射板，其设置在纵横地排列的闪烁体晶体的间隙，用于使荧光反射；空气层，其设置在被反射板与闪烁体晶体夹持的位置；以及粘合片，其具有粘合性，被粘接于各闪烁体晶体的高度方向上的端部，其中，通过粘合片将各闪烁体晶体一体化来构成闪烁体。

[作用和效果]根据本发明，能够不使用透射材料地使闪烁体晶体和反射板一体化来构成闪烁体。即，根据本发明，粘合片被粘接于纵横地排列的闪烁体晶体的高度方向上的端部。通过该粘合片将各闪烁体晶体一体化。这样不需要通过粘接剂将闪烁体晶体和反射板固定来构成闪烁体，因此不存在固化前的粘接剂进入闪烁体晶体与反射板的间隙的情况。因而，该间隙成为空气层。如果闪烁体晶体与反射板的间隙为空气层，则不容易发生在闪烁体晶体内部产生的荧光从闪烁体晶体射出的现象，从而抑制荧光在被反射板反射时产生损失、荧光透过反射板而漏出到相邻的闪烁体晶体中。结果能够极力抑制荧光的强度下降。根据本发明，能够提供一种特别是在作为PET装置用的放射线检测器使用的情况下时间分辨率非常优秀的放射线检测器。

另外，在上述的放射线检测器中，更期望的是，粘合片为使荧光透过的透明的薄片，检测荧光的光检测器或使在闪烁体中产生的荧光通过光检测器的光导件被光学性地耦合于粘合片的与粘接有各闪烁体晶体的面相反侧的面。

[作用和效果]上述的结构表示本发明的具体结构。如果粘合片位于各闪烁体晶体与光检测器之间并且为使荧光透过的透明的薄片，则在闪烁体晶体中产生的荧光可靠地向光检测器入射。作为本发明的具体结构，也可以设为具备光导件的结构。

另外，在上述的放射线检测器中，更期望的是，粘合片的与粘接有各闪烁体晶体的面相反侧的面具有粘合性，粘合片被粘接于光检测器或光导件。

[作用和效果]上述的结构表示本发明的具体结构。如果各闪烁体晶体与光检测器通过粘贴共用的粘合片来一体化，则能够可靠地构建闪烁体晶体与光检测器之间的光学耦合。作为本发明的具体结构，也可以各闪烁体晶体与光导件通过粘贴共用的粘合片来一体化。

另外，在上述的放射线检测器中，也能够设为如下的结构：粘合片的与粘接有各闪烁体晶体的面相反侧的面不具有粘合性，闪烁体通过连接构件来与光检测器或光导件光学性地耦合。

[作用和效果]上述的结构表示本发明的具体结构。也可以通过单面粘合型的粘合片实现本发明的放射线检测器。

另外，在上述的放射线检测器中，更期望的是，在光检测器由成为真空管的光电倍增管构成的情况下，粘合片以按照光检测器所具有的用于使荧光入射的光接收面的变形而发生变形的状态粘接于光检测器。

[作用和效果]上述的结构表示本发明的具体结构。还能够将本发明的光检测器设为光电倍增管。粘合片以按照光检测器所具有的用于使荧光入射的光接收面的变形而发生变形的状态粘接于光检测器，因此不论闪烁体晶体如何，各闪烁体晶体与光检测器之间的距离都是固定的。根据这样的结构，能够使各闪烁体晶体的光学条件一致。

另外，在上述的放射线检测器中，更期望的是，光检测器具有半导体光接收元件。

[作用和效果]上述的结构表示本发明的具体结构。还能够设为光检测器具有半导体光接收元件的方式。

另外，在上述的放射线检测器中，更期望的是，粘合片被设置于各闪烁体晶体的高度方向上的两端部。

[作用和效果]上述的结构表示本发明的具体结构。如果粘合片设置于各闪烁体晶体的高度方向上的两端部，则闪烁体的物理强度增加。

另外，在上述的放射线检测器中，更期望的是，粘合片为丙烯酸系的粘合片。

[作用和效果]上述的结构表示本发明的具体结构。如果粘合片为丙烯酸系的粘合片，则能够更可靠地构成闪烁体。

发明的效果

根据本发明，能够不使用透射材料地使闪烁体晶体和反射板一体化来构成闪烁体。即，根据本发明，在纵横地排列的闪烁体晶体的高度方向上的端部粘接有粘合片。通过该粘合片将各闪烁体晶体一体化。这样，不需要通过粘接剂将闪烁体晶体和反射板固定来构成闪烁体，因此不存在固化前的粘接剂进入闪烁体晶体与反射板的间隙的情况。因而，该间隙成为空气层。如果闪烁体晶体与反射板的间隙是空气层，则不容易发生在闪烁体晶体内部产生的荧光从闪烁体晶体射出的现象，能够抑制荧光在被反射板反射时产生损失、荧光透过反射板而漏出到相邻的闪烁体晶体中。结果能够极力抑制荧光的强度下降。根据本发明，能够提供一种特别是在作为PET装置用的放射线检测器使用的情况下时间分辨率非常优秀的放射线检测器。

附图说明

图1是说明实施例1所涉及的放射线检测器的整体结构的立体图。

图2是说明实施例1所涉及的闪烁体的结构的俯视图。

图3是说明实施例1所涉及的粘合片的俯视图。

图4是说明实施例1所涉及的反射板的俯视图。

图5是说明实施例1所涉及的反射板框对的立体图。

图6是说明实施例1所涉及的光检测器的俯视图。

图7是说明实施例1所涉及的粘合片的示意图。

图8是说明实施例1所涉及的粘合片的示意图。

图9是说明本发明的效果的示意图。

图10是说明本发明的一个变形例的示意图。

图11是说明本发明的一个变形例的示意图。

图12是说明本发明的一个变形例的示意图。

图13是说明本发明的一个变形例的示意图。

图14是说明本发明的一个变形例的示意图。

图15是说明以往结构的放射线检测器的立体图。

图16是说明以往结构的放射线检测器的俯视图。

图17是说明以往结构的问题的示意图。

图18是说明以往结构的问题的示意图。

具体实施方式

以下说明用于实施发明的方式。γ射线相当于本发明的放射线。

实施例1

<放射线检测器的整体结构>

如图1所示，放射线检测器1具备：闪烁体2，其是闪烁体晶体C纵横地排列而构成的；以及光检测器3，其设置于闪烁体2的下表面，用于检测从闪烁体2产生的荧光。在图1的闪烁体2中，在高度方向上呈细长状的闪烁体晶体C排列为纵8×横8的二维矩阵状，具备合计64个闪烁体晶体C。

闪烁体晶体C由含有铈元素的LGSO(Lu，Gd)₂SiO₅构成，具有当γ射线入射时发出荧光那样的特性。也可以代替LGSO而由GSO(Gd₂SiO₅)等其它材料构成闪烁体晶体C。闪烁体晶体C将γ射线转换为荧光。

闪烁体2具备沿横向延伸的反射板rx和沿纵向延伸的反射板ry。反射板rx设置在纵向上相邻的闪烁体晶体C之间，反射板ry设置在横向上相邻的闪烁体晶体C之间。因而，彼此相邻的闪烁体晶体C被反射板rx和反射板ry中的某一个反射板隔开。反射板rx、ry由使荧光反射的ESR(Enhanced Specular Reflector：增强镜面反射)膜等材质构成。

<关于粘合片>

由于在闪烁体2的高度方向上的两个端面分别设置有用于粘接闪烁体晶体C的粘合片Sa、Sb，因此对于它们进行说明。图2是表示闪烁体2的侧面的俯视图。如图2所示，通过将反射板ry与闪烁体晶体C交替地排列来构成闪烁体2，在被反射板ry与闪烁体晶体C的侧面夹持的位置设置有空气层。该空气层被从大气流入反射板ry与闪烁体晶体C之间的空气填满。因而，闪烁体晶体C的侧面与反射板ry没有通过粘接剂来粘接。另外，在图1中的被反射板rx与闪烁体晶体C的侧面夹持的位置也设置有空气层。

如图2所示，本发明中的闪烁体2在各闪烁体晶体C的高度方向上的两个端部设置有粘合片Sa、Sb。粘合片Sa、Sb具有粘合性，被粘接于各闪烁体晶体C的高度方向上的端部。闪烁体2是通过粘合片Sa、Sb将各闪烁体晶体C和反射板ry物理地进行一体化而构成的。

粘合片Sa粘贴在闪烁体2的高度方向上的一个端面(闪烁体2中的放射线所入射的入射面)，构成闪烁体2的闪烁体晶体C均在一个端面粘贴粘合片Sa。粘合片Sa由例如丙烯酸系的粘合材料构成，具有要粘贴于接触物的性质。粘合片Sa粘贴于各闪烁体晶体C的一个端面而不剥落。另外，粘合片Sa还粘贴于反射板rx、ry的一个端部(靠闪烁体2中的放射线所入射的入射面侧的端部)。各闪烁体晶体C和反射板rx、ry通过粘合片Sa在高度方向的一端侧被物理地一体化。粘合片Ra由使荧光通过的透明的构件构成。

粘合片Sa的与粘贴于闪烁体晶体C的面相反侧的面粘贴于使荧光反射的反射板rc。由此，粘合片Sa不会从反射板rc剥落。反射板rc例如由ESR膜构成。通过粘合片Sa使闪烁体2与反射板rc一体化。

粘合片Sb粘贴于闪烁体2的高度方向上的另一端面(闪烁体2的连接光检测器3的连接面)，构成闪烁体2的闪烁体晶体C均在另一端面粘贴粘合片Sb。粘合片Sb由具有粘合性的例如丙烯酸系的粘合材料构成，具有要粘贴于接触物的性质。粘合片Sb粘贴于各闪烁体晶体C的另一端面而不剥落。另外，粘合片Sb还粘贴于反射板rx、ry的另一端部(靠闪烁体2的连接光检测器3的连接面侧的端部)。各闪烁体晶体C和反射板rx、ry通过粘合片Sb在高度方向上的另一端侧被物理地一体化。粘合片Sb由使荧光通过的透明的构件构成。

图2在闪烁体晶体C的两端设置有两片粘合片Sa、Sb，但是在能够仅通过粘合片Sb来将闪烁体晶体C一体化的情况下，还能够设为省略粘合片Sa的结构。在该情况下，成为闪烁体2与反射板rc直接相互紧密接合的结构。

另外，图2说明了闪烁体2的侧面中的沿横向排列的各个闪烁体晶体C被反射板ry隔绝的侧面。闪烁体2的侧面中的沿纵向排列的各个闪烁体晶体C被反射板rx隔绝的侧面也是与图2相同的结构。

所谓粘合，在JISZ0109中进行了如下定义：“是粘接的一种，特征在于，不使用水、溶剂、热等，仅通过常温下短时间地稍微施加压力就进行粘接。”。另外，粘合性是同时具有发粘的物性和弹性的物理特性。当将由具有粘合性的物质构成的材料压紧在粘合对象的固体上时，该材料不改变物性而保持原来的状态地粘贴在固体上。另一方面，在具有一般的粘接性的粘接剂的情况下，开始为柔软的物性的粘接剂通过化学变化进行固化，由此以伴有物性变化的状态粘贴于粘接对象。可以说粘合性与一般的粘接性的不同点在于不发生固化现象。

粘合片Sb为双面粘合片，与粘合于各闪烁体晶体的面相反侧的面也具有粘合性。闪烁体2通过该粘合片Sb的粘合性来粘合于光检测器3。在后面记述该情形的详细内容。

图3表示试着从闪烁体2的两个端面剥下粘合片Sa、Sb时的情形。当剥下粘合片Sa、Sb时，导致构成闪烁体2的闪烁体晶体C失去束缚而从闪烁体2脱落。之所以闪烁体2能够作为一体物而保持长方体的形状是因为通过粘合片Sa、Sb粘合于各个闪烁体晶体C来将闪烁体晶体C连结在一起。

图4说明了反射板rx、ry。反射板rx具有多个沿高度方向延伸的槽。这些槽全部从反射板rx的底部开始延伸。另外，反射板ry也具有多个沿高度方向延伸的槽。这些槽全部从反射板ry的上部开始延伸。

反射板rx和反射板ry彼此的槽相互嵌合而构成如图5所示的反射板框体。反射板框体由沿横向延伸的7片反射板rx和沿纵向延伸的7片反射板ry构成。反射板框体具有收纳闪烁体晶体C的区室。

图6表示光检测器3的被荧光入射的入射面。在光检测器3的入射面纵横地排列有检测荧光的半导体光接收元件3a。关于入射面，半导体光接收元件3a排列为纵8×横8的二维矩阵状，具备合计64个半导体光接收元件3a。

粘合片Sb粘合于半导体光接收元件3a，因此对于这一点进行说明。图7表示闪烁体2的粘合片Sb粘合于光检测器3的入射面的情形。粘合片Sb的下表面粘贴在设置于光检测器3的入射面的各个半导体光接收元件3a上。而且，将构成闪烁体2的各个闪烁体晶体C与光检测器3的各个半导体光接收元件3a一对一地进行光学耦合。检测荧光的光检测器3被光学性地耦合于粘合片Sb的与粘合于各闪烁体晶体C的面相反侧的面。粘合片Sb的与粘合有各闪烁体晶体C的面相反侧的面具有粘合性，粘合片Sb被粘合于光检测器3。

另外，粘合片Sb具有配合粘接对方的立体形状地进行变形的性质。因而，粘合片Sb以吸收闪烁体晶体阵列的下端部的立体形状与光检测器的入射面的立体形状之间的差异的方式使彼此可靠地进行一体化。此外，粘合片Sb粘合于反射板ry的下端部。图7说明了闪烁体2的侧面中的沿横向排列的各个闪烁体晶体C被反射板ry隔绝的侧面。闪烁体2的侧面中的沿纵向排列的各个闪烁体晶体C被反射板rx隔绝的侧面也是与图7相同的结构。粘合片Sb粘合于反射板rx的下端部的情形也相同。

图8说明了闪烁体2的侧面中的沿横向排列的各个闪烁体晶体C被反射板ry隔绝的侧面。闪烁体2的侧面中的沿纵向排列的各个闪烁体晶体C被反射板rx隔绝的侧面也是与图8相同的结构。粘合片Sb粘合于反射板rx的上端部的情形也相同。

在图7、图8中，要关注的是，粘合片Sa、Sb几乎不进入闪烁体晶体C与反射板ry的间隙。上述的粘合片Sa、Sb是固体。因而，粘合片Sa、Sb不会进入闪烁体晶体C与反射板ry的间隙。

图9说明了代替粘合片Sa而使用粘接剂的情况。该图9的结构表示通过在各闪烁体晶体C的一个端部涂布液状的粘接剂来实现各闪烁体晶体C的一体化的情况。由于闪烁体晶体C与反射板ry之间的空气层非常薄，因此涂布于各闪烁体晶体C的一端的液状的粘接剂由于毛细现象而较深地进入闪烁体晶体C与反射板ry之间。由于不存在瞬间去除该粘接剂的方法，因此结果该粘接剂直接固化。因而，形成为固化后的粘接剂介于闪烁体晶体C与反射板ry之间。这样的结构如图17、图18中所说明的那样不是期望的结构。

根据本发明，由于粘合片Sa、Sb不会进入闪烁体晶体C与反射板ry的间隙，因此能够可靠地使闪烁体晶体C与反射板ry的间隙为空气层。

如以上那样，根据本发明，能够不使用透射材料地使闪烁体晶体C和反射板rx、ry一体化来构成闪烁体2。即，根据本发明，粘合片Sa、Sb被粘接于纵横地排列的闪烁体晶体C的高度方向上的端部。通过该粘合片Sa、Sb将各闪烁体晶体C一体化。根据本发明，不需要通过粘接剂将闪烁体晶体C和反射板rx、ry固定来构成闪烁体2，因此不存在固化前的粘接剂进入闪烁体晶体C与反射板rx、ry的间隙的情况。该间隙成为空气层。如果成为这样的结构，则不容易发生在闪烁体晶体C内部产生的荧光从闪烁体晶体C射出的现象，能够抑制荧光在被反射板rx、ry反射时产生损失、荧光透过反射板rx、ry而漏出到相邻的闪烁体晶体C。结果能够极力抑制荧光的强度下降。

另外，如果粘合片Sa、Sb位于各闪烁体晶体C与光检测器3之间并且为使荧光透过的透明的薄片，则在闪烁体晶体C中产生的荧光可靠地向光检测器3入射。作为本发明的具体结构，也可以如后述那样设为具备光导件4的结构。

另外，如果各闪烁体晶体C与光检测器3通过粘贴共用的粘合片Sa、Sb来进行一体化则能够可靠地构建闪烁体晶体C与光检测器3之间的光学耦合。作为本发明的具体结构，也可以如后述那样将各闪烁体晶体C与光导件4通过粘贴共用的粘合片Sa、Sb来进行一体化。

本发明不限于上述的结构，能够如下述那样实施变形。

(1)根据图7，通过双面粘合性的粘合片Sb将各个闪烁体晶体C与光检测器3光学性地耦合，但是本发明不限于该结构。也能够如图10所示，使粘合片Sb为单面粘合性。根据图10的结构，粘合片Sb由具有粘合性的粘接层和不具有粘合性的透明的支承层构成。闪烁体2与光检测器3的粘接能够通过使液体的粘接剂固化来进行。固化后的粘接剂将闪烁体2与光检测器3光学性地耦合。这样，本变形例的粘合片Sb的与粘接有各闪烁体晶体C的面相反侧的面不具有粘合性，闪烁体2与光检测器3或光导件4被固化后的粘接剂光学性地耦合。固化后的粘接剂相当于本发明的连接构件。

(2)根据图6，使用半导体光接收元件来作为光检测器3，但是本发明不限于该结构。也可以使用如图11所示的由光电倍增管构成的光检测器。这样的光检测器为真空管，因此使荧光入射的入射面形成为由于负压而凹陷的形状。

图12表示将由光电倍增管构成的光检测器3应用于本发明的放射线检测器的情况。本发明的闪烁体2由于底面由具有变形性的粘合片Sb构成，因此当将闪烁体2粘贴于光检测器3时，粘合片Sb沿着光检测器3的入射面的曲线而变形。粘合片Sb以按照光检测器3所具有的用于使荧光入射的光接收面的变形而发生变形的状态粘合于光检测器3。粘合片Sb即使发生变形，厚度也是固定的。因而，无论是哪个闪烁体晶体C，从光检测器3到闪烁体晶体C的距离都相同。

图13表示通过固化性的粘接剂来将由光电倍增管构成的光检测器3与以往结构的闪烁体2耦合的情况。在图13的情况下，构成闪烁体2的闪烁体晶体C通过粘接剂相互粘接。因而，当使闪烁体2粘接于光检测器3时，闪烁体2不会沿着光检测器3的入射面的曲线而变形。因而，当想要将成为平面的闪烁体2的底部与呈凹陷形状的光检测器3的入射面粘接而使粘接剂流入两者之间时，粘接剂进入间隙以填充入射面的凹陷。该粘接剂固化而成为粘接层。于是，粘接层的厚度为中央部厚且周缘部薄。也就是说，在各闪烁体晶体C之间，到光检测器3的距离不一致。

期望的是，无论是哪个闪烁体晶体C，从光检测器3到闪烁体晶体C的距离都相同。是因为通过使闪烁体晶体C的光学条件相同，能够正确地检测荧光。根据本发明，在各闪烁体晶体C之间，到光检测器3的距离不会不一致，与之相伴地，荧光的检测不会不正确。

(3)根据图1，闪烁体2与光检测器3连接，但是本发明不限于该结构。本发明也能够如图14所示那样设为在被闪烁体2与光检测器3夹持的位置具备使在闪烁体2中产生的荧光通过光检测器3的光导件4的结构。在该情况下，也能够设为闪烁体2的粘合片Sb粘合于光导件4的结构。

(4)本发明的放射线检测器能够搭载于PET(Positron Emission Tomography：正电子发射计算机断层显像)装置等医用的放射线摄影装置。能够提供一种特别是在作为PET装置用的放射线检测器使用的情况下时间分辨率非常优秀的放射线检测器。

产业上的可利用性

如以上那样，本发明适于医用领域。

附图标记说明

C：闪烁体晶体；rx、ry：反射板；Sa、Sb：粘合片；2：闪烁体；3：光检测器；3a：半导体光接收元件；4：光导件。

Claims (9)

1.一种放射线检测器，其特征在于，具备：

闪烁体晶体，其将放射线转换为荧光；

反射板，其设置在纵横地排列的所述闪烁体晶体的间隙，用于使荧光反射；

空气层，其设置在被所述反射板与所述闪烁体晶体夹持的位置；以及

粘合片，其具有粘合性，被粘接于各闪烁体晶体的高度方向上的端部，

其中，通过所述粘合片将各闪烁体晶体一体化来构成闪烁体。

2.根据权利要求1所述的放射线检测器，其特征在于，

所述粘合片为使荧光透过的透明的薄片，检测荧光的光检测器或使在所述闪烁体中产生的荧光通过所述光检测器的光导件被光学性地耦合于所述粘合片的与粘接有各闪烁体晶体的面相反侧的面。

3.根据权利要求2所述的放射线检测器，其特征在于，

所述粘合片的与粘接有各闪烁体晶体的面相反侧的面具有粘合性，所述粘合片被粘接于所述光检测器或所述光导件。

4.根据权利要求2所述的放射线检测器，其特征在于，

所述粘合片的与粘接有各闪烁体晶体的面相反侧的面不具有粘合性，所述闪烁体通过连接构件来与所述光检测器或所述光导件光学性地耦合。

5.根据权利要求3所述的放射线检测器，其特征在于，

所述光检测器由成为真空管的光电倍增管构成，

所述粘合片以按照所述光检测器所具有的用于使荧光入射的光接收面的变形而发生变形的状态粘接于所述光检测器。

6.根据权利要求2所述的放射线检测器，其特征在于，

所述光检测器具有半导体光接收元件。

7.根据权利要求1所述的放射线检测器，其特征在于，

所述粘合片被设置于各闪烁体晶体的高度方向上的两端部。

8.根据权利要求1所述的放射线检测器，其特征在于，

所述粘合片为丙烯酸系的粘合片。

9.一种放射线断层摄影装置，其特征在于，具备根据权利要求1所述的放射线检测器。