CN107490353A - 在齿轮工件的齿面上进行接触测量的方法和测量设备 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及在齿轮工件的齿面上进行接触测量的方法和测量设备。一种用于在齿轮工件(11)的至少一个齿面(7.1)上进行接触测量的方法，该接触测量利用测量设备(10)的呈探测头、探测滑动头或探测球形式的探头(3)进行，该方法包括以下步骤：预先确定与齿面(7.1)相关的最大区域；预先确定与齿面(7.1)相关的关键区域，其中，关键区域与最大区域至少部分地重叠；执行测量设备(10)的探头(3)的相对移动，以便沿着齿面(7.1)引导探头(3)，使得：针对齿面(7.1)的处于最大区域内的若干位置提供具有第一分辨率的实际测量值，并且针对齿面(7.1)的处于关键区域内的若干位置提供具有第二分辨率的实际测量值，其中，第二分辨率高于第一分辨率。

Description

在齿轮工件的齿面上进行接触测量的方法和测量设备
技术领域
本发明涉及在齿轮工件的至少一个齿面上进行接触测量的方法和相应适配的测量设备。
背景技术
齿轮工件的形貌和表面特性是带齿齿轮的领域中的重要质量特征。
因此，存在用于检测齿轮工件的形貌和表面特性的不同测量设备。以非接触方式操作的方法和以探测(probing)方式操作的方法之间是有区别的。
在机械探测期间，探头通常在表面上引导。结果是在探测路径上记录的高度信号，其也被称为表面轮廓。在正齿轮的情况下，通常仅测量沿着轮廓线和齿面线的线。在锥齿轮的情况下，将虚拟网格设置在齿面的径向投影上，以便因此基于该网格限定目标测量点。相对粗糙地划分的网格足以检查锥齿轮的齿面的形貌。
大多数探测测量方法是串行操作的方法，这导致在测量精度提高的情况下增加时间和计算能力的支出。如果假设齿轮具有10个齿，则需要测量20个齿面。如果每个齿面提供5×9个测量点，则在这种测量体系中产生900个实际测量值。在所述实际测量值的计算评估和调整期间，它们例如与相应的目标数据相关。该简单的数字示例展示了用户所面对的计算复杂性。
由于对带齿齿轮的要求不断上升，往往还需要进行允许说明齿面的微观结构的检查。只有当测量的分辨率提高时，这些说明才是可能的。
发明内容
本发明的目的是提供一种测量方法，该方法允许以快速、精确和可再现的方式测量齿面的表面特性。
根据本发明，提供了用于在齿轮工件的至少一个齿面上进行接触测量的方法，该接触测量利用测量设备的呈探测头、探测滑动头或探测球形式的探头进行，该方法包括以下步骤：预先确定与齿面相关的最大区域；预先确定与齿面相关的关键区域，其中，关键区域与最大区域至少部分地重叠；执行测量设备的探头的相对移动，以便沿着齿面引导探头，使得：针对齿面的处于最大区域内的若干位置提供具有第一分辨率的实际测量值，并且针对齿面的处于关键区域内的若干位置提供具有第二分辨率的实际测量值，其中，第二分辨率高于第一分辨率。根据本发明，提供了测量设备，其具有至少一个探头，所述至少一个探头形成为用于在齿轮工件的至少一个齿面上进行接触测量，其特征在于，该测量设备包括控制器，在该控制器中实现根据本发明的方法。本文中还提供了根据本发明的方法的有利实施例。
在本发明的优选实施例的方面中，测量以这样的方式进行，即，使得例如形貌的实际测量值可以以简单计算的方式与表面的实际测量值相关。为了实现这一点，表面特性的测量优选地在对于形貌的测量几何已知的情形中进行。
在所有实施例中，测量优选地在具有坐标系(例如以第二测量网格的形式)的关键区域内进行，该坐标系与最大区域的坐标系(例如以第一测量网格的形式)以已知的几何相关。
在所有实施例中，第二测量网格优选地与第一测量网格以已知的几何相关。在所有实施例中，所述几何相关可以例如从第一测量网格和第二测量网格至少部分地彼此重叠的事实而获得。在所有实施例中，第一测量网格和第二测量网格还可以覆盖齿面的相同区域，即，两个测量网格还可以是叠合的，但是其中，由于不同的划分密度，它们是彼此不同的。在所有实施例中，第一测量网格和第二测量网格还可以以使得两个测量网格共同具有至少一个公共测量点(测量网格的网格点)的方式而以已知的几何相关。
术语“测量网格”应在本文中宽泛地解释。例如在所有实施例中，它可以涉及具有均匀划分密度的测量网格，或者可以涉及其划分密度是可变的所有实施例中的测量网格。
在所有实施例中，第二测量网格可以是例如具有比第一测量网格的均匀或可变划分密度更高的均匀或可变划分密度的测量网格。
在所有实施例中，优选地涉及应用特定的带齿齿轮测量。为此，根据本发明，实际测量数据或实际测量网格根据要测量的带齿齿轮来确定。
本发明允许将以应用特定的方式(例如承受负载或无负载)相关的区域限定为关键区域。
在所有实施例中，关键区域的位置和/或尺寸可以(优选地通过计算机支持)自动确定，以便允许在该关键区域中以较高精度执行测量。
通过本发明可以局部地提高测量的精度，并且与整个齿面的高分辨率测量相比，测量时间显著减少。
本发明的方法优选以这样的方式使用，即，可以在一次测量操作中以组合的方式确定具有较粗糙的第一测量网格的齿面和具有较精细的第二测量网格的齿面关键部分区域。如果这两个测量网格以已知的方式(计算地/几何地)相互关联(例如，使得两个测量网格至少部分地重叠，或者使得两个测量网格具有至少一个公共测量点)，则是特别有利的。
根据本发明的测量探头的使用特别用于测量齿轮的齿面的表面特性，其中，测量探头的纵向轴线以使得其以平直的方式被引导，以便确定处于第一较粗糙网格的范围内的实际测量值以及处于第二较精细网格的范围内的实际测量值。
本发明的优点在于，可以快速地且可靠地确定例如齿面的起伏。
本发明的优点在于，可以快速地对例如齿轮的预期噪声行为进行说明。
本发明的优点在于，该方法还可以例如用于检查齿轮的齿面上的裂纹形成、颗粒形成和其它磨损现象。
上述第一测量网格和第二测量网格或具有局部增加的测量密度的测量网格可以在所有实施例中基于剖视图和/或基于相应齿面的投影来限定，或者它们可以在实际的齿面上限定。
在所有实施例中，第一测量网格和/或第二测量网格优选地具有规则形状，其中，所述规则形状可以在剖视图中和/或在齿面的投影中和/或在实际的齿面上限定。
本发明可以与1D、2D和3D测量设备结合使用。
附图说明
下面将参考附图更详细地描述本发明的实施例，其中：
图1示出了设计成用于执行根据本发明的方法的设备(这里为CNC测量装置的形式)的透视图；
图2A以径向剖视图示出了齿圈的示意图，其中，在齿面的区域中示出了均匀(测量)网格；
图2B示出了图2A的齿面的放大视图，其中，除了均匀(测量)网格之外，还示出了示例性的齿接触图案；
图2C示出了图2B的视图，其中，除了(测量)网格和齿接触图案之外，关键区域由更精细的均匀(测量)网格限定；
图3A示出了锥齿轮的单个齿的示意性透视图，其中，在凹齿面上示出了示例性(测量)网格；
图3B示出了图3A的齿的示意性透视图，其中，在凹齿面上示出了更精细的(测量)网格作为示例；
图3C示出了锥齿轮的单个齿的示意性透视图，其中，在凹齿面上示出了示例性(测量)网格，其包括具有较粗糙网格结构(分辨率)的第一区域和具有较精细网格结构(分辨率)的第二区域，其中，第一区域汇入第二区域中，并且第二区域汇入第一区域中；
图4示出了根据本发明的处于小齿轮的齿面的探测期间的示例性探头的示意性构造。
具体实施方式
结合本说明书一起使用的术语也用于相关的出版物和专利。然而，要注意的是，这些术语的使用只是为了更好地理解。本发明的概念和专利权利要求的保护范围不限于通过具体选择的术语所进行的解释。本发明可以容易地转移到其他术语系统和/或技术领域。这些术语将相应地应用于其他技术领域。
除此之外，本主题涉及齿面7.1的形貌(例如隆起)和表面特性(例如起伏)。在结构说明的范围内，术语“形貌”相当地限制于宏观。在点状或局部说明的范围内，术语“表面特性”相当地限制于微观。在提及表面特性时，通常涉及齿面7.1的具有介于nm至约500μm的范围内的量级的结构、元件和特征。
齿轮工件在此一般用附图标记11表示。如果参考特定齿轮工件，则所述特定齿轮工件设有索引。例如，图2A示出了作为特定齿轮工件的齿圈11.1。例如，图4示出了作为特定齿轮工件的小齿轮11.2。
在这种情况下，测量方法涉及测量探头3以接触模式在待测表面上被连续地引导，或者开关探头3以点状方式与表面进行接触。在所有实施例中，这样的探头可以可选地被预先确定或被提供振荡(oscillation)，以便因此提高测量灵敏性。
因此，所有实施例涉及基于接触的方法，其也被称为探测方法。这就是为什么这种类型的测量在这种情况下也被称为接触测量。探头与表面的接触可以是点状的(例如在均匀和不均匀的网格的网格点上)，或者它可以沿着直线(例如沿着网格的一条线)、沿着曲线或沿着多边形渐进线而延伸。
为了能够以可靠、可再现且高度精确的方式测量齿面7.1的形貌和表面特性，图2A中示例性所示的齿轮工件11.1在图1中示例性所示的测量设备10中经受接触测量。关于这种测量的更多细节还会结合图4进行描述。在这种接触测量的范围内，例如可以执行以下步骤M1至M4：
M1.预先确定与齿面7.1相关的最大区域Fmax，如图2B中示例性所示。根据本发明，最大区域Fmax可以以不同的方式预先确定。在所有实施例中，最大区域Fmax的预先确定优选以处理器支持的方式进行。下面涉及了各种示例。
a)在齿轮工件11的齿的设计中，齿轮工件11的齿面7.1的目标测量数据通常被限定和存储以供以后使用。所述目标测量数据可以已经在设计中在齿面7.1的最大区域Fmax中限定。在这种情况下，相应的参数在步骤M1中从存储器加载。
b)最大区域Fmax可以在设计期间或在进行接触测量之前进行限定。这可以例如通过使用(图形)用户界面人工输入缩进或边缘来进行。通过参考图2B中的示例，可以认识到最大区域Fmax可以被限定为例如矩形。可以识别到在图2B的齿面7.1的边缘处具有不位于测量网格G的区域中的窄边带。在图2B中，齿面7.1由齿顶8.1在顶部处限定、由齿根8.2在底部处限定、由外齿端8.3于左侧限定并且由内齿端8.4于右侧限定。窄边带或相应缩进可以以例如毫米或百分比来限定。
c)通常，最大区域Fmax还可以通过预先确定相对或绝对的量而被限定为具有多边形渐进轮廓。
M2.预先确定与齿面7.1相关的关键区域Fk，其中，如图2C中示例性所示，关键区域Fk完全位于最大区域Fmax内，或者其中，关键区域Fk与最大区域Fmax至少部分地或全部地重叠。如通过使用词语“关键”所已经表示的那样，所涉及的是在进行接触测量时特别感兴趣的区域。术语“关键”不应被狭义地理解。关键区域Fk涉及特别感兴趣的区域。图2A和2B示例性示出了齿面7.1的齿接触图案T1。为了能够对所述齿接触图案T1的区域中的部件进行更详细的检查，关键区域Fk以例如其包括齿接触图案T1的方式被限定和定位。根据本发明，关键区域Fk可以以不同的方式预先确定。在所有实施例中，关键区域Fk的预先确定可以优选地以处理器支持的方式进行。下面涉及了各种示例。
a)在齿轮工件11的齿的设计中，关键区域Fk可以被存储以供以后使用。
b)可以例如使用模拟来预先确定齿面7.1的齿接触图案T1的位置。关键区域Fk可以基于该模拟来限定。
c)还可以例如对齿轮工件11与另一齿轮的跑合行为(running behaviour)进行测量，以便因此确定需要更仔细检查的区域。在这种情况下，关键区域Fk然后以使得其包括需要被更精确地检查的区域的方式来限定。
d)关键区域Fk还可以在对齿面7.1进行成像检查之后进行限定。
M3.利用测量设备10的开关探头或测量探头3来实现第一相对移动，以便沿着齿面7.1引导探头3的探测头、探测滑动头或探测球4，使得针对齿面7.1的处于最大区域Fmax内的若干位置提供具有第一分辨率的实际测量值。在图2A至2C中所示的示例的情况下，第一接触测量的执行基于规则测量网格G进行，该规则测量网格对于最大区域Fmax预先确定ze＝5行和s＝9列。在该示例中，在行和列的相交点(网格点)处分别检测测量值。在该示例中，第一分辨率是与表面Fmax相关的5×9个测量值。
在所有实施例中，第一相对移动的执行可以连续进行，使得测量探头3在齿面7.1上在最大区域Fmax中被逐行地引导。该移动可以可选地与探头3的振荡叠加。可以以这样的方式来检测实际测量值，例如，在等距的距离中将相应的当前测量值写入存储器。替代地，可以在探头3的均匀移动期间以相等的时间单位(循环)检测和存储测量值。
然而，在所有实施例中，第一相对移动的执行还可以离散地进行，使得探头3被引导到网格G的每个单独的网格点，以便在网格点局部地执行测量。离散测量的执行特别适用于开关探头。
M4.利用测量设备10的探头3(在所有实施例中，可以使用与步骤M3中相同的探头3，但是也可以使用第二探头)的探测头、探测滑动头或探测球4来实现第二相对移动，以便沿着齿面7.1引导探头3，使得针对齿面7.1的处于关键区域Fk内的若干位置提供具有第二分辨率的实际测量值。第二分辨率高于第一分辨率。在所有实施例中，关键区域Fk中的接触测量的执行可以以连续或离散的方式进行，如上已经所述。在图2A至2C中所示的示例中，关键区域Fk中的接触测量的执行基于具有较窄划分的规则测量网格G1进行，该规则测量网格对于关键区域Fk预先确定ze＝5行和s＝9列。在该示例中，在行和列的相交点处分别获得测量值。在该示例中，第二分辨率是与表面Fk相关的5×9个测量值(例如，第二分辨率还可以具有与第一分辨率不同的其他值)。第二分辨率更大，因为表面Fk小于表面Fmax。在所有实施例中，用于测量关键区域Fk的测量网格G1可以与测量网格G在空间上重合(如图2C中所示)，其中，测量网格G的至少一行ze例如与测量网格G1的至少一行ze重合。这种模式提供的优势在于，所有实际测量值处于相同的参考坐标系中。如果用于步骤M4中的测量网格G1不与测量网格G重合，则执行计算调整(例如通过坐标变换)，以便将实际测量值相互关联。
在所有实施例中，本发明的方法可以以使得第一相对移动汇入到第二相对移动然后返回到第一相对移动的方式进行，如下文将参考图3C所述的那样。
在所有实施例中，本发明的方法可以以使关键区域Fk既在步骤M3的范围内被探测也在步骤M4的范围内被探测的方式进行。
本发明的方法的特征大致在于，测量设备10的探头3的相对移动以使探头3沿着齿面7.1被引导的方式进行，其中，在这些相对移动期间：
○针对齿面7.1的处于最大区域Fmax内的若干位置提供具有第一分辨率的实际测量值，和
○针对齿面7.1的处于关键区域Fk内的若干位置提供具有第二分辨率的实际测量值，其中，第二分辨率高于第一分辨率。
在所有实施例中，还可以将具有第一分辨率的探测限制到位于关键区域Fk之外的最大区域Fmax。
在所有实施例中，本发明的方法可以以在步骤M3之前执行步骤M4的方式进行。
在所有实施例中，本发明的方法可以以使得步骤M3和M4部分地同时执行的方式进行。如果图2C的网格G的第二行(源自齿顶8.1)从左向右以恒定的速度被探测，则可以通过调整读出时钟频率来增加区域Fk中的分辨率。具体地，在这种情况下，读出时钟频率加倍，以便还获得网格G1的中间网格点处的实际测量值。在图2C的示例中，在完整的最下行中再次进行具有网格G的分辨率的探测。
在所有实施例中，例如关键区域Fk可以对应于齿面7.1的齿接触区域，关键区域可以包括齿面7.1的齿接触区域，或者关键区域可以从关于齿面7.1的齿接触区域的数据(例如由模拟确定)获得。
齿面7.1的位置可以从例如在齿轮工件11的设计期间确定的设计数据获得。
齿面7.1上的齿接触区域的位置可以例如从数据记录获得，其中，在齿轮工件11承受负载的情况下执行齿接触区域的位置的位移调整，以便基于相应调整数据来确定关键区域Fk。
齿面7.1上的关键区域Fk的位置还可以例如通过考虑在齿轮工件11与另一齿轮工件配对期间的激励行为(excitation behaviour)来确定。可以通过模拟和/或测量来检查激励行为，以便此后确定齿面7.1的要更仔细地检查的一个或几个区域。关键区域Fk可以然后以使得其包括所述区域的方式被限定。
在所有实施例中，关键区域Fk可以基于计算接触分析来限定。
在所有实施例中，关键区域Fk还可以基于接触线的渐进轮廓来限定。
图3A示出了具有螺旋齿的齿轮工件11的单个齿7的示意性透视图，其中，以示例的方式示出的所述齿7在凹齿面7.1上设置有齿顶倒角6。齿顶倒角6的尺寸大致示出为实际尺寸。齿7从跟部(图像右侧)到趾部(图像左侧)逐渐变细。跟部处的齿高大于趾部处的齿高。
在齿面7.1上示出了示例性的第一测量网格G，其在这种情况下由z＝8行和s＝14列构成，其中，在齿轮的测量中奇数更常规。在图3A中示出，所述测量网格G以使得周围存在余隙的方式设置在齿面7.1上。不同于在图2A至2C的情况中均匀测量网格G和G1在径向投影中限定，图3A的测量网格G在实际目标齿面上被限定为均匀的测量网格G。
在图3A中，关键区域Fk由椭圆O1标记。在该关键区域Fk中，齿面7.1具有表面的局部不规则性。这种不规则性应在测量齿面7.1的范围内具体检查。这就是为什么以允许在关键区域Fk中获得表面特性的信息的方式来确定第二测量网格G1的原因。通过参考图3B中的示例示出了第二测量网格G1。在这种情况下，网格G1由z＝7行和s＝11列构成。第二测量网格G1位于关键区域Fk内，关键区域在图3B中同样由椭圆O1标记。
在所有实施例中，上述测量网格G和/或G1可以基于相关齿面的投影来限定，或者它们可以在实际目标齿面上限定。
在所有实施例中，测量网格G和/或G1优选地具有规则形状，其中，所述规则形状可以在剖视图中和/或在齿面7.1的投影中和/或在实际目标齿面上限定。
在所有实施例中，测量网格G和/或G1还可以具有可变划分密度的不规则形状。
在所有实施例中，第二测量网格G1还可以被限定为第一测量网格G1的一部分，使得划分密度局部增加，如图3C中示例性所示。在划分密度的局部增加中，优选地减小列宽或行宽(图3C中的列宽减小)。具有减小的列宽或行宽的这种实施例的优点在于自动地在第一网格G和第二网格G1之间提供几何精确的相关性。
根据本发明，包括图4中的探测球4的探头3在要扫描的表面(这里是齿面7.1)上移动。图4示出了作为齿轮工件11.2的锥齿小齿轮，其中，所述齿轮工件11.2被竖向地夹紧(如图1中所示)。
探测球4在测量期间在要扫描的齿面7.1上被拉动或推动。如果探头球4例如在齿7的齿顶8.1的方向上从齿根8.2开始被拉动，则例如通过两个线性运动的叠加执行来拉动探头3，同时齿轮工件11以逆时针的方式旋转，使得探测球4在测量期间总是相对于齿面7.1以恒定角度对准。齿轮工件11的旋转在图1中由箭头ω1表示。齿轮工件11的旋转轴线(称为工件旋转轴线)在图1和图4中用A1表示。
在所示的示例中，探头球4位于细长的探测臂5的前端处，如图1中所示，探测臂可以可移动地位于测量设备10的转塔1上。
本发明的方法优选地用于装配有至少一个探头3的测量设备10。测量设备10包括数控轴，以便使探头3能够相对于齿轮工件11的齿面7.1移动。在图1中设置有控制器NC，其移动并控制数控轴。测量设备10的特征在于在控制器NC中实现本发明的方法。本发明的方法优选地以可由控制器NC加载和执行的一组规则的形式编程。
在沿着网格G或G1的列s的测量期间，可以例如通过齿轮工件11的数控旋转ω1和例如通过探头3的平行于Y轴和Z轴的数控线性位移来产生所需的相对移动。在沿着网格G或G1的行ze的测量期间，可以通过探头3的数控线性位移与齿轮工件11的数控旋转ω1的组合来再次产生所需的相对移动。如图4中所示，在以复杂的方式成形的齿面7.1的情况下，需要测量设备10的几个轴的叠加移动。图4示出了齿面7.1上的测量网格的一小部分。
附图标记列表：

Claims (22)

1.一种用于在齿轮工件(11)的至少一个齿面(7.1)上进行接触测量的方法，该接触测量利用测量设备(10)的呈探测头、探测滑动头或探测球形式的探头(3)进行，该方法包括以下步骤：
-预先确定与齿面(7.1)相关的最大区域(Fmax)，
-预先确定与齿面(7.1)相关的关键区域(Fk)，其中，关键区域(Fk)与最大区域(Fmax)至少部分地重叠，
-执行测量设备(10)的探头(3)的相对移动，以便沿着齿面(7.1)引导探头(3)，使得：
ο针对齿面(7.1)的处于最大区域(Fmax)内的若干位置提供具有第一分辨率的实际测量值，并且
ο针对齿面(7.1)的处于关键区域(Fk)内的若干位置提供具有第二分辨率的实际测量值，其中，第二分辨率高于第一分辨率。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，最大区域(Fmax)的实际测量值的提供是在执行探头(3)的第一相对移动时进行的，并且关键区域(Fk)的实际测量值的提供是在执行第二相对移动时进行的。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，最大区域(Fmax)的实际测量值的提供和关键区域(Fk)的实际测量值的提供是在探测过程的范围内进行的。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当执行第一相对移动时，仅提供关键区域(Fk)之外的实际测量值。
5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当执行第一相对移动时，还提供关键区域(Fk)内的实际测量值。
6.根据权利要求1至5之一所述的方法，其特征在于，能够针对最大区域(Fmax)和/或关键区域(Fk)预先确定恒定划分密度的测量网格。
7.根据权利要求1至5之一所述的方法，其特征在于，能够针对最大区域(Fmax)和/或关键区域(Fk)预先确定可变划分密度的测量网格。
8.根据权利要求1至7之一所述的方法，其特征在于，关键区域(Fk)对应于齿面(7.1)的齿接触区域、或者包括齿面(7.1)的齿接触区域、或者从关于齿面(7.1)的齿接触区域的数据获得。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，齿面(7.1)上的齿接触区域的位置从在齿轮工件(11)的设计中确定的设计数据获得。
10.根据权利要求1至7之一所述的方法，其特征在于，探头(3)涉及测量设备(10)的开关探头(3)，其与表面进行点状接触。
11.根据权利要求1至7之一所述的方法，其特征在于，探头(3)涉及测量设备(10)的测量探头(3)，其以接触模式在待测表面上被连续地引导。
12.根据权利要求10或11所述的方法，其特征在于，探头(3)经受振荡。
13.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，
-齿面(7.1)上的齿接触区域的位置从数据记录获得，并且
-在齿轮工件(11)承受负载的情况下执行齿接触区域的位置的位移调整，以便基于相应调整数据来确定关键区域(Fk)。
14.根据权利要求1至7之一所述的方法，其特征在于，关键区域(Fk)对应于齿面(7.1)的区域、或者包括齿面(7.1)的区域、或者从与齿轮工件(11)和另一齿轮工件配对期间的激励行为相关的关于齿面(7.1)的区域的数据获得。
15.根据权利要求1至7之一所述的方法，其特征在于，通过使用计算机在准备步骤中执行齿轮工件(11)的基于计算机的接触分析，以便然后基于该接触分析来确定关键区域(Fk)。
16.根据前述权利要求之一所述的方法，其特征在于，与齿面(7.1)相关的最大区域(Fmax)是预先确定的，使得：
-外围区域被限定，或
-外围距离被限定，
其中，最大区域(Fmax)不包括该外围区域或该外围距离。
17.根据权利要求15所述的方法，其特征在于，最大区域(Fmax)包括在齿面的径向投影中作为外周的多边形渐进轮廓。
18.根据前述权利要求1至5之一所述的方法，其特征在于，第一分辨率能够由第一数量的行(ze)和列(s)限定，并且第二分辨率能够由第二数量的行(ze)和列(s)限定，其中，第二数量预先确定比第一数量更高密度的网格(G1)。
19.根据前述权利要求1至5之一所述的方法，其特征在于，第一分辨率能够由第一网格结构(G)限定，并且第二分辨率能够由第二网格结构(G1)限定，其中，第二网格结构(G1)预先确定比第一网格结构(G)更高的密度。
20.根据前述权利要求之一所述的方法，其特征在于，在预先确定关键区域(Fk)之前，在测量设备(10)中或者在另一测量设备中进行齿轮工件(11)的第一测量。
21.根据前述权利要求1至18之一所述的方法，其特征在于，在预先确定关键区域(Fk)之前，执行计算接触分析。
22.一种测量设备(10)，其具有至少一个探头(3)，所述至少一个探头形成为用于在齿轮工件(11)的至少一个齿面(7.1)上进行接触测量，其特征在于，该测量设备(10)包括控制器(NC)，在该控制器中实现根据前述权利要求1至21之一所述的方法。
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