CN107462945A - 彩色滤光片及其检测方法、掩膜版以及液晶显示器 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种彩色滤光片及其检测方法、掩膜版以及液晶显示器，彩色滤光片检测方法包括：提供彩色滤光片，其中，彩色滤光片包括显示区和测试区，测试区包括像素闲置区和像素检测区，像素检测区与像素闲置区分别具有相同形状的若干像素图形，且像素检测区中的每一像素图形的面积大于像素闲置区的每一像素图形的面积；对彩色滤光片的像素检测区进行检测。由于像素检测区的像素图形的面积大于像素闲置区的像素图形的面积，像素检测区内的像素图形的面积较大，便于检测设备对齐该像素检测区，能够有效避免彩色滤光片的偏移，使得检测准确性更高，且使得对像素检测区的检测更为便捷，有效提高了检测效率。

Description

彩色滤光片及其检测方法、掩膜版以及液晶显示器

技术领域

本发明涉及液晶显示器技术领域，特别是涉及彩色滤光片及其检测方法、掩膜版以及液晶显示器。

背景技术

目前，液晶显示器LCD(Liquid Crystal Display)依然是市场上显示器的主流，随着液晶技术的不断发展，人们对液晶显示器的要求也越来越高，对液晶显示器的分辨率的要求也随之提高。

屏幕的分辨率越高，则能在其上显示更多的窗口、图像和文字，用户同时能够查看更多的信息和内容，这样可以减小用户的工作强度，并且提高用户的工作效率。当前以及在可预见的未来，高分辨率的显示屏幕将会是市场上显示器的重要衡量标准之一。

为了追求更高的屏幕分辨率，往往需要提高液晶面板的工艺技术，使得单位面积内所显示的像素图形增多，单位面积内的像素图形增多，则使得单个像素图形的尺寸减小，这无疑对设备工艺技术的性能提出了更高的要求，尤其是检测设备的性能急需提高，检测手段的准确性和效率也急需提高。

彩色滤光片的生产与检测是液晶显示器生产中的重要一环。彩色滤光片由多个RGB(RED、GREED、BLUE，红绿蓝)像素组成，高分辨率的彩色滤光片产品由于单个的RGB像素太小，检测设备无法自动测试出结果，在测试时需要手动处理，检测效率低下，使得生产效率较低；此外，由于RGB像素太小，测试时经常会导致测试偏移，测试准确性较低。

发明内容

基于此，有必要针对传统的高分辨率的彩色滤光片的检测效率低下，且测试准确性较低的缺陷，提供一种彩色滤光片及其检测方法、掩膜版以及液晶显示器。

一种彩色滤光片检测方法，包括：

提供彩色滤光片，其中，所述彩色滤光片包括显示区和测试区，所述测试区包括像素闲置区和像素检测区，所述像素检测区与所述像素闲置区分别具有相同形状的若干像素图形，且所述像素检测区中的每一像素图形的面积大于所述像素闲置区的每一像素图形的面积；

对所述彩色滤光片的所述像素检测区进行检测。

在其中一个实施例中，在所述提供彩色滤光片的步骤之前还包括：

提供基板；

在所述基板上涂胶，并经过曝光和显影处理，形成彩色滤光片。

在其中一个实施例中，所述在所述基板上涂胶，并经过曝光和显影处理，形成彩色滤光片的步骤包括：

在所述基板上涂胶；

提供掩膜版，所述掩膜版具有显示掩膜区和测试掩膜区，所述测试掩膜区包括闲置掩膜区和检测掩膜区，所述检测掩膜区与所述闲置掩膜区分别具有相同形状的若干像素图形，且所述检测掩膜区中的每一像素图形大于所述闲置掩膜区的每一像素图形；

通过所述掩膜版对所述基板进行曝光和显影处理，形成所述彩色滤光片，其中，在所述显示掩膜区形成所述彩色滤光片的显示区，在所述测试掩膜区形成所述彩色滤光片的测试区，在所述闲置掩膜区形成所述彩色滤光片的像素闲置区，在所述检测掩膜区形成所述彩色滤光片的像素检测区。

在其中一个实施例中，所述对所述彩色滤光片的所述像素检测区进行检测的步骤包括：

对所述彩色滤光片的所述像素检测区的平整度进行检测。

在其中一个实施例中，所述对所述彩色滤光片的所述像素检测区进行检测的步骤包括：

对所述彩色滤光片的所述像素检测区的厚度进行检测。

在其中一个实施例中，所述对所述彩色滤光片的所述像素检测区进行检测的步骤包括：

对所述彩色滤光片的所述像素检测区的色度进行检测。

在其中一个实施例中，所述对所述彩色滤光片的所述像素检测区进行检测的步骤包括：

对所述彩色滤光片的所述像素检测区的平整度、厚度以及色度进行检测。

一种掩膜版，所述掩膜版具有显示掩膜区和测试掩膜区，所述测试掩膜区包括闲置掩膜区和检测掩膜区，所述检测掩膜区与所述闲置掩膜区分别具有相同形状的若干像素图形，且所述检测掩膜区中的每一像素图形的面积大于所述闲置掩膜区的每一像素图形的面积。

一种彩色滤光片，所述彩色滤光片包括显示区和测试区，所述测试区包括像素闲置区和像素检测区，所述像素检测区与所述像素闲置区分别具有相同形状的若干像素图形，且所述像素检测区中的每一像素图形的面积大于所述像素闲置区的每一像素图形的面积。

一种液晶显示器，包括权利要求上述实施例中所述的彩色滤光片。

上述彩色滤光片及其检测方法、掩膜版以及液晶显示器，通过在彩色滤光片的测试区设置与像素闲置区的像素图形的形状相同的像素检测区，由于像素检测区的像素图形的面积大于像素闲置区的像素图形的面积，像素检测区内的像素图形的面积较大，便于检测设备对齐该像素检测区，能够有效避免彩色滤光片的偏移，使得检测准确性更高，且使得对像素检测区的检测更为便捷，有效提高了检测效率。

附图说明

图1A为一个实施例的彩色滤光片检测方法的流程示意图；

图1B为另一个实施例的彩色滤光片检测方法的流程示意图；

图1C为另一个实施例的彩色滤光片检测方法的流程示意图；

图2为一个实施例的彩色滤光片的结构示意图；

图3为一个实施例的彩色滤光片的制作方法的流程示意图。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施方式。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本发明的公开内容理解的更加透彻全面。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

例如，一种彩色滤光片检测方法，包括：提供彩色滤光片，其中，所述彩色滤光片包括显示区和测试区，所述测试区包括像素闲置区和像素检测区，所述像素检测区与所述像素闲置区分别具有相同形状的若干像素图形，且所述像素检测区中的每一像素图形的面积大于所述像素闲置区的每一像素图形的面积；对所述彩色滤光片的所述像素检测区进行检测。例如，所述像素检测区与所述像素闲置区分别具有相同形状的若干像素图形，且所述像素检测区中的每一像素图形的面积大于所述像素闲置区的每一像素图形的面积，具体为：所述像素检测区具有若干像素图形，与所述像素闲置区具有若干像素图形，所述像素检测区的各像素图形与所述像素闲置区的各像素图形一一对应，且，所述像素检测区的像素图形与所述像素闲置区对应的像素图形为相似图形，所述像素检测区的像素图形的面积大于所述像素闲置区对应的像素图形的面积。可以理解的是，相同形状的若干像素图形中的相同形状，即形状相同但是大小相同或相异。

本实施例中，通过在彩色滤光片的测试区设置与像素闲置区的像素图形的形状相同的像素检测区，由于像素检测区的像素图形的面积大于像素闲置区的像素图形的面积，像素检测区内的像素图形的面积较大，便于检测设备对齐该像素检测区，能够有效避免彩色滤光片的偏移，使得检测准确性更高，且使得对像素检测区的检测更为便捷，有效提高了检测效率。

在一个实施例中，提供一种彩色滤光片检测方法，如图1A所示，包括：

步骤120，提供彩色滤光片，其中，所述彩色滤光片包括显示区和测试区，所述测试区包括像素闲置区和像素检测区，所述像素检测区与所述像素闲置区分别具有相同形状的若干像素图形，且所述像素检测区中的每一像素图形的面积大于所述像素闲置区的每一像素图形的面积。

具体地，该显示区为彩色滤光片的正常显示区域，用于显示，并且显示区在彩色滤光片组装至液晶显示器中后对齐于液晶，使得透过该显示区的光能够呈现彩色。测试区用于测试，该测试区不用于显示，测试区在彩色滤光片组装至液晶显示器中后对齐于液晶显示器的边框，并且被边框所遮挡。

应该理解的是，一个像素图形即为一个RGB像素。该检测区的像素闲置区用于为像素检测区提供参考和对比，该像素检测区的像素图形与像素闲置区的像素图形为几何中的相似关系，像素检测区的像素图形与像素闲置区的像素图形为相似图形，即像素检测区的像素图形与像素闲置区的像素图形一一对应，且像素检测区的像素图形为像素闲置区的像素图形按预设比例放大后得到，这样，像素检测区的像素图形的形状与像素闲置区内对应的像素图形的形状相同，但尺寸相异，具体地，像素检测区的像素图形的尺寸大于像素闲置区内对应的像素图形的尺寸，且每一像素检测区的像素图形与像素闲置区内对应的像素图形的比值相同，即每个像素闲置区内的像素图形通过相同的比例放大，即可得到像素检测区的多个像素图形。

例如，像素闲置区的像素图形的形状与显示区的像素图形的形状相同，且像素闲置区的像素图形的面积与显示区的像素图形的面积相同，像素闲置区的像素图形的尺寸与显示区的像素图形的尺寸相同。也就是说，像素闲置区内的像素图形具有与显示区的像素图形相同的大小。

由于像素检测区的像素图形的尺寸较大，因此，相对的像素检测区的分辨率较小，而显示区以及像素闲置区的像素图形的尺寸较小，对应的分辨率较大，而由于像素检测区仅用于检测，而并不在液晶显示器工作时提供滤光，因此，并不会对液晶显示器的高分辨率的显示造成影响。

步骤140，对所述彩色滤光片的所述像素检测区进行检测。

由于像素检测区的像素图形的尺寸较大，使得像素检测区内的像素线宽较大，因此，有利于检测设备快速对齐于像素检测区，对像素检测区进行检测，而无需手动调整，进而有效提高了检测效率，并且能够有效避免彩色滤光片的偏移，使得检测准确性更高，且使得对像素检测区的检测更为便捷，有效提高了检测效率。

应该理解的是，由于彩色滤光片的显示区和测试区是在相同工艺条件下处理得到的，显示区与测试区的物理结构相同，也就是说，像素检测区域显示区的物理结构相同，这样，通过检测像素检测区，既可以完成对显示区的检测。

在一个实施例中，如图1B所示，步骤120之前还包括：

步骤100，提供基板。

在本实施例中，基板可以采用玻璃基板、石英基板以及塑料基板等透明基板，优选的，基板为玻璃基板，并在将玻璃基板进行处理之前，对玻璃基板表面进行清洁处理，确保玻璃基板表面无异物。

步骤110，在所述基板上涂胶，并经过曝光和显影处理，形成彩色滤光片。

具体地，先在基板上涂覆一层胶层，再通过掩膜板对涂覆的胶层进行曝光、显影、固化，以形成具有像素图形的彩色滤光片。

在一个实施例中，如图1C所示，步骤110包括：

步骤112，在所述基板上涂胶。

步骤114，提供掩膜版，所述掩膜版具有显示掩膜区和测试掩膜区，所述测试掩膜区包括闲置掩膜区和检测掩膜区，所述检测掩膜区与所述闲置掩膜区分别具有相同形状的若干像素图形，且所述检测掩膜区中的每一像素图形大于所述闲置掩膜区的每一像素图形。

例如，所述检测掩膜区与所述闲置掩膜区分别具有相同形状的若干像素图形，且所述检测掩膜区中的每一像素图形的面积大于所述闲置掩膜区的每一像素图形的面积，具体为：所述检测掩膜区具有若干像素图形，与所述闲置掩膜区具有若干像素图形，所述检测掩膜区的各像素图形与所述闲置掩膜区的各像素图形一一对应，且，所述检测掩膜区的像素图形与所述闲置掩膜区对应的像素图形为相似图形，所述检测掩膜区的像素图形的面积大于所述闲置掩膜区对应的像素图形的面积。可以理解的是，相同形状的若干像素图形中的相同形状，即形状相同但是大小相同或相异。

具体地，该掩膜版用于彩色滤光片的曝光和显影，使得彩色滤光片形成与掩膜版对应的像素图形。该掩膜版按照预设的图案设计，设置有显示掩膜区和测试掩膜区，且测试掩膜区包括闲置掩膜区和检测掩膜区。

其中，显示掩膜区用于形成彩色滤光片的显示区，测试掩膜区用于形成彩色滤光片的测试区，测试掩膜区中的闲置掩膜区用于形成彩色滤光片的像素闲置区，测试掩膜区中的检测掩膜区用于形成彩色滤光片的像素检测区。

本实施例中，像素图形即为像素图案，像素图案用于使得基板曝光显影处理后形成像素图形。

例如，所述检测掩膜区与所述闲置掩膜区分别具有相同形状的若干像素图案，且所述检测掩膜区中的每一像素图案大于所述闲置掩膜区的每一像素图案。

检测掩膜区的像素图案与所述闲置掩膜区的像素图案一一对应，且检测掩膜区的像素图案为闲置掩膜区的像素图案按预设比例放大后得到，即检测掩膜区的像素图案与闲置掩膜区的像素图案为相似图案，检测掩膜区的像素图案与闲置掩膜区内对应的像素图案的形状相同，且尺寸相异，检测掩膜区的像素图案的尺寸大于闲置掩膜区内对应的像素图案的尺寸，且每一检测掩膜区的像素图案与闲置掩膜区内对应的像素图案的比值相同，即每个闲置掩膜区内的像素图案通过相同的比例放大，即可得到检测掩膜区的多个像素图案。

步骤116，通过所述掩膜版对所述基板进行曝光和显影处理，形成所述彩色滤光片，其中，在所述显示掩膜区形成所述彩色滤光片的显示区，在所述测试掩膜区形成所述彩色滤光片的测试区，在所述闲置掩膜区形成所述彩色滤光片的像素闲置区，在所述检测掩膜区形成所述彩色滤光片的像素检测区。

具体地，本步骤同，通过掩膜版的图案对基板上的胶层进行曝光、显影以及固化，使得基板上形成多个像素图形，进而形成彩色滤光片。该彩色滤光片的多个像素图形划分为多个区域，即与所述显示掩膜区对应的显示区，于所述测试掩膜区对应的测试区，在测试区中，划分为与所述闲置掩膜区对应的像素闲置区，与所述检测掩膜区对应的像素检测区。

形成了具有像素检测区的彩色滤光片后，即可对该彩色滤光片进行检测，从而提高了彩色滤光片的检测效率，并且提高检测精确度。

在一个实施例，步骤140包括：对所述彩色滤光片的所述像素检测区的平整度进行检测。例如，步骤140包括：对所述彩色滤光片的所述像素检测区的厚度进行检测。例如，步骤140包括：对所述彩色滤光片的所述像素检测区的色度进行检测。

一个实施例中，步骤140包括：对所述彩色滤光片的所述像素检测区的平整度、厚度以及色度进行检测。

应该理解的是，虽然彩色滤光片划分为多个区域，但是由于彩色滤光片上的各区域是由同一工艺处理得到，因此，各区域的物理特性或者物理结构相同，例如，像素检测区的平整度与彩色滤光片上的其他区域的平整度相同，例如，像素检测区的平整度与显示区的平整度相同，例如，像素检测区的平整度与像素闲置区的平整度相同；例如，像素检测区的厚度与彩色滤光片上的其他区域的厚度相同，例如，像素检测区的厚度与显示区的厚度相同，例如，像素检测区的厚度与像素闲置区的厚度相同；例如，像素检测区的色度与彩色滤光片上的其他区域的色度相同，例如，像素检测区的厚度与显示区的色度相同，例如，像素检测区的厚度与像素闲置区的色度相同，这样，通过对像素检测区的平整度、厚度以及色度检测，即可实现对彩色滤光片平整度、厚度以及色度的检测，像素检测区的像素图形较大，有利于检测设备快速对齐像素检测区的像素图形，从而有效提高了检测效率，并且使得显示设备的检测准确度提高。

在一个实施例中，提供一种掩膜版，所述掩膜版具有显示掩膜区和测试掩膜区，所述测试掩膜区包括闲置掩膜区和检测掩膜区，所述检测掩膜区与所述闲置掩膜区分别具有相同形状的若干像素图形，且所述检测掩膜区中的每一像素图形的面积大于所述闲置掩膜区的每一像素图形的面积。

例如，检测掩膜区的像素图案与所述闲置掩膜区的像素图案一一对应，且检测掩膜区的像素图案为闲置掩膜区的像素图案按预设比例放大后得到，即检测掩膜区的像素图案与闲置掩膜区的像素图案为相似图案，检测掩膜区的像素图案与闲置掩膜区内对应的像素图案的形状相同，且尺寸相异，检测掩膜区的像素图案的尺寸大于闲置掩膜区内对应的像素图案的尺寸，且每一检测掩膜区的像素图案与闲置掩膜区内对应的像素图案的比值相同，即每个闲置掩膜区内的像素图案通过相同的比例放大，即可得到检测掩膜区的多个像素图案。

在一个实施例中，如图2所示，提供一种彩色滤光片20，所述彩色滤光片20包括显示区210和测试区220，所述测试区220包括像素闲置区221和像素检测区222，所述像素检测区222与所述像素闲置区221分别具有相同形状的若干像素图形，且所述像素检测区222中的每一像素图形222a的面积大于所述像素闲置区221的每一像素图形221a的面积。

该检测区的像素闲置区221用于为像素检测区222提供参考和对比，该像素检测区222的像素图形与像素闲置区221的像素图形为几何中的相似关系，像素检测区222的像素图形与像素闲置区221的像素图形为相似图形，即像素检测区222的像素图形与像素闲置区221的像素图形一一对应，且像素检测区222的像素图形为像素闲置区221的像素图形按预设比例放大后得到，这样，像素检测区222的像素图形的形状与像素闲置区221内对应的像素图形的形状相同，但尺寸相异，具体地，像素检测区222的像素图形的尺寸大于像素闲置区221内对应的像素图形的尺寸，且每一像素检测区222的像素图形与像素闲置区221内对应的像素图形的比值相同，即每个像素闲置区221内的像素图形通过相同的比例放大，即可得到像素检测区222的多个像素图形。

例如，像素闲置区221的像素图形的形状与显示区210的像素图形的形状相同，且像素闲置区221的像素图形的面积与显示区210的像素图形的面积相同，像素闲置区221的像素图形的尺寸与显示区210的像素图形的尺寸相同。也就是说，像素闲置区221内的像素图形具有与显示区210的像素图形相同的大小。

由于像素检测区222的像素图形的尺寸较大，因此，相对的像素检测区222的分辨率较小，而显示区210以及像素闲置区221的像素图形的尺寸较小，对应的分辨率较大，而由于像素检测区222仅用于检测，而并不在液晶显示器工作时提供滤光，因此，并不会对液晶显示器的高分辨率的显示造成影响。

由于像素检测区222的像素图形的尺寸较大，使得像素检测区222内的像素线宽较大，因此，有利于检测设备快速对齐于像素检测区222，对像素检测区222进行检测，而无需手动调整，进而有效提高了检测效率，并且能够有效避免彩色滤光片20的偏移，使得检测准确性更高，且使得对像素检测区222的检测更为便捷，有效提高了检测效率。

在一个实施例中，提供一种液晶显示器，包括上述任一实施例中的彩色滤光片。

具体地，将彩色滤光片组装在液晶显示器中时，该彩色滤光片的显示区对齐于液晶面板，而测试区则对齐于液晶显示器的边框，即该测试区被液晶显示器的边框所遮挡。显示区内的像素图形的尺寸较小，因此，显示区能够提供高分辨率，这样，使得该显示区能够正常滤光，使得液晶显示器在高分辨率下显示，而测试区中的像素检测区则被边框所遮挡，而不会对液晶显示器的高分辨率造成影响。

在一个实施例中，提供一种彩色滤光片的制作方法，上述实施例中步骤110中的彩色滤光片可采用本实施例中彩色滤光片的制作方法制作形成，本实施例中，如图3所示，彩色滤光片的制作方法包括：

步骤301，在基板上形成黑色矩阵。

在本实施例中，基板可以采用玻璃基板、石英基板以及塑料基板等透明基板，优选的，基板为玻璃基板，并在将玻璃基板处理之前，对玻璃基板表面进行清洁处理，确保玻璃基板表面无异物。

具体地，先在基板上涂覆黑色涂料层，再通过掩膜板对黑色涂料层进行曝光、显影、固化，以形成的黑色矩阵。其中，黑色矩阵的厚度根据实际生产需求设定，例如，黑色矩阵的厚度为1.0～1.7微米，又如，黑色矩阵的厚度为1.2微米。

步骤302，在基板上形成光阻层，且光阻层部分覆盖黑色矩阵。

具体地，在基板上涂覆具有彩色量子点的涂料，通过掩膜板对涂料进行曝光、显影及固化，形成光阻层。其中，将红色或者绿色的量子点溶于丙烯酸涂料、起始剂或固化剂等有机溶剂中后，形成具有彩色量子点的涂料。

进一步的，在基板上涂覆等厚的红色涂料，通过掩膜板对红色涂料进行曝光、显影。例如，具体的，掩膜板的显示区域设有图形化的图案层，优选的，红色涂料为负性光刻胶，即经过光照后固化形成不溶物，这样，经过显影，可以保留红色涂料图案，以形成非连续分布的红色光阻区。之后在基板上涂覆绿色涂料，通过掩膜板曝光、显影，在显示区域形成非连续分布的绿色光阻区。

需要说明的是，基板上预留空白区域，以使蓝色光源(蓝色背光源)通过时形成蓝光。

步骤303，在形成有黑色矩阵及光阻层的基板上形成配向膜，且配向膜覆盖黑色矩阵及光阻层。

具体的，在黑色矩阵及光阻层上涂覆配向膜。

步骤304，在配向膜上形成多个隔垫物。

具体的，在配向膜上涂覆树脂层，通过掩膜板曝光、显影，以形成在配向膜上多个间隔的隔垫物。其中，隔垫物形成于配向膜对应着黑色矩阵的上方。

例如，隔垫物的高度范围为2～4.5微米。

在本实施例中，隔垫物可以根据实际需要制作为多种适合的形状，例如锥体、圆柱体、长方体等，优选的，隔垫物的底面面积小于黑色矩阵的面积。隔垫物也可以根据硬度需求采用不同性质的材料。

本实施例中，形成隔垫物后，通过紫外光照射配向膜，以对配向膜配向。根据实际需要，也可以形成配向膜后，在步骤304之前对配向膜进行配向。

需要说明的是，根据实际情况，在步骤302后，步骤303之前，本方法还包括如下步骤，

步骤305，在形成有黑色矩阵及光阻层的基板上形成保护层。

具体地，在黑色矩阵及光阻层上涂覆透明树脂层，以形成保护层。例如，保护层采用透明材料制成。在本实施例中，保护层的厚度为1～3微米。保护层能够进一步保护光阻层。

此时，步骤303的配向膜，通过保护层设置于基板上，即配向膜形成于保护层上。

根据实际情况，也可以省略步骤305。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种彩色滤光片检测方法，其特征在于，包括：

提供彩色滤光片，其中，所述彩色滤光片包括显示区和测试区，所述测试区包括像素闲置区和像素检测区，所述像素检测区与所述像素闲置区分别具有相同形状的若干像素图形，且所述像素检测区中的每一像素图形的面积大于所述像素闲置区的每一像素图形的面积；

对所述彩色滤光片的所述像素检测区进行检测。

2.根据权利要求1所述的彩色滤光片检测方法，其特征在于，在所述提供彩色滤光片的步骤之前还包括：

提供基板；

在所述基板上涂胶，并经过曝光和显影处理，形成彩色滤光片。

3.根据权利要求2所述的彩色滤光片检测方法，其特征在于，所述在所述基板上涂胶，并经过曝光和显影处理，形成彩色滤光片的步骤包括：

在所述基板上涂胶；

提供掩膜版，所述掩膜版具有显示掩膜区和测试掩膜区，所述测试掩膜区包括闲置掩膜区和检测掩膜区，所述检测掩膜区与所述闲置掩膜区分别具有相同形状的若干像素图形，且所述检测掩膜区中的每一像素图形大于所述闲置掩膜区的每一像素图形；

通过所述掩膜版对所述基板进行曝光和显影处理，形成所述彩色滤光片，其中，在所述显示掩膜区形成所述彩色滤光片的显示区，在所述测试掩膜区形成所述彩色滤光片的测试区，在所述闲置掩膜区形成所述彩色滤光片的像素闲置区，在所述检测掩膜区形成所述彩色滤光片的像素检测区。

4.根据权利要求1所述的彩色滤光片检测方法，其特征在于，所述对所述彩色滤光片的所述像素检测区进行检测的步骤包括：

对所述彩色滤光片的所述像素检测区的平整度进行检测。

5.根据权利要求1所述的彩色滤光片检测方法，其特征在于，所述对所述彩色滤光片的所述像素检测区进行检测的步骤包括：

对所述彩色滤光片的所述像素检测区的厚度进行检测。

6.根据权利要求1所述的彩色滤光片检测方法，其特征在于，所述对所述彩色滤光片的所述像素检测区进行检测的步骤包括：

对所述彩色滤光片的所述像素检测区的色度进行检测。

7.根据权利要求1所述的彩色滤光片检测方法，其特征在于，所述对所述彩色滤光片的所述像素检测区进行检测的步骤包括：

对所述彩色滤光片的所述像素检测区的平整度、厚度以及色度进行检测。

8.一种掩膜版，其特征在于，所述掩膜版具有显示掩膜区和测试掩膜区，所述测试掩膜区包括闲置掩膜区和检测掩膜区，所述检测掩膜区与所述闲置掩膜区分别具有相同形状的若干像素图形，且所述检测掩膜区中的每一像素图形的面积大于所述闲置掩膜区的每一像素图形的面积。

9.一种彩色滤光片，其特征在于，所述彩色滤光片包括显示区和测试区，所述测试区包括像素闲置区和像素检测区，所述像素检测区与所述像素闲置区分别具有相同形状的若干像素图形，且所述像素检测区中的每一像素图形的面积大于所述像素闲置区的每一像素图形的面积。

10.一种液晶显示器，其特征在于，包括权利要求9中所述的彩色滤光片。