CN107437942A - Sar模数转换器测试系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种SAR模数转换器测试系统，包括输入端、与输入端相连的SAR模数转换器、线性反馈移位寄存器、与SAR模数转换器及线性反馈移位寄存器相连的数字比较器、测试数据码输出端、误差数据输入端及测试结果输出端，所述线性反馈移位寄存器产生测试码，所述SAR模数转换器对测试码进行转换后，产生测试数据码至测试数据码输出端及数字比较器，所述数字比较器对测试数据码与线性反馈移位寄存器产生的理想测试码进行比较，判断比较结果是否在误差数据输入端输入的误差范围之内，所述测试结果输出端根据判断结果指示测试结果。本发明还公开了一种SAR模数转换器测试方法。本发明量产测试快捷、测试结果可靠性高且测试成本降低。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路测试领域，特别是涉及一种SAR模数转换器测试系统及方法。
背景技术
随着当今电子科技的高速发展，现有的集成电路的结构非常复杂、集成化高且功能也很多样化，面对电子信息技术的日益增长的需求，整个集成电路产业得到了飞速发展。
在现有的芯片设计中，SAR(逐次逼近)模数转换器是众多系统中不可缺少的模块，在芯片量产时，如何快速准确的确定芯片中的SAR模数转换器模块是否存在缺陷，是非常重要的测试流程。
在现有技术中，对SAR模数转换器进行量产测试时，是先由探针为SAR模数转换器输入不同的测试电压，然后由SAR模数转换器进行采样量化，再由测试仪器对SAR模数转换器的输出测试数据码进行对比，如果对比结果在允许的误差范围内，则测试通过，否则测试失败。这种测试方法对模数转换器的测试样本电压太少，可靠性不高，且消耗时间较长，从而增加了测试成本。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种测试快捷、可靠性高且能节约测试成本的SAR模数转换器测试系统及方法。
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：一种SAR模数转换器测试系统，包括用于输入模拟差分信号的输入端、与所述输入端相连的SAR模数转换器、与所述SAR模数转换器相连的线性反馈移位寄存器、与所述SAR模数转换器及所述线性反馈移位寄存器相连的数字比较器、测试数据码输出端、误差数据输入端及测试结果输出端，所述线性反馈移位寄存器产生用于测试所述SAR模数转换器的测试码，所述SAR模数转换器对所述测试码进行转换后，产生测试数据码至所述测试数据码输出端及所述数字比较器，所述数字比较器对所述SAR模数转换器产生的测试数据码与所述线性反馈移位寄存器产生的理想测试码进行比较，判断比较结果是否在所述误差数据输入端输入的误差范围之内，所述测试结果输出端根据判断结果指示测试结果。
所述SAR模数转换器包括与所述输入端相连的电容式数模转换器、与所述电容式数模转换器相连的比较器及与所述比较器及所述电容式数模转换器相连的逻辑控制单元。
所述线性反馈移位寄存器产生用于测试所述SAR模数转换器的测试码至所述电容式数模转换器，所述电容式数模转换器将所述测试码转换为模拟信号，所述SAR模数转换器通过所述比较器及所述逻辑控制单元对所述模拟信号进行转换后，产生所述测试数据码。
所述数字比较器判断比较结果是否在误差数据输入端输入的误差范围之内，如果比较结果在误差范围之内，则所述测试结果输出端指示测试通过；如果比较结果不在误差范围之内，则测试结果输出端指示测试失败。
所述线性反馈移位寄存器产生的测试码包括N个随机测试电压，且N≥1，所述数字比较器根据所述测试码中的测试电压，对所述SAR模数转换器产生的测试数据码与所述线性反馈移位寄存器产生的理想测试码进行N次比较，如果其中一次比较结果不在误差范围之内，则测试结果输出端指示测试失败。
一种SAR模数转换器测试方法，包括以下步骤：
线性反馈移位寄存器产生用于测试SAR模数转换器的测试码至所述SAR模数转换器的电容式数模转换器；
所述电容式数模转换器将所述测试码转换为模拟信号；
所述SAR模数转换器通过比较器及逻辑控制单元对所述模拟信号进行转换后，产生测试数据码至测试数据码输出端及数字比较器；
所述数字比较器对所述SAR模数转换器产生的测试数据码与所述线性反馈移位寄存器产生的理想测试码进行比较；以及
所述数字比较器判断比较结果是否在误差数据输入端输入的误差范围之内，如果比较结果在误差范围之内，则测试结果输出端指示测试通过；如果比较结果不在误差范围之内，则所述测试结果输出端指示测试失败。
所述比较器与所述电容式数模转换器相连，所述逻辑控制单元与所述比较器及所述电容式数模转换器相连。
所述线性反馈移位寄存器产生的测试码包括N个随机测试电压，且N≥1，所述数字比较器根据所述测试码中的测试电压，对所述SAR模数转换器产生的测试数据码与所述线性反馈移位寄存器产生的理想测试码进行N次比较，如果其中一次比较结果不在误差范围之内，则测试结果输出端指示测试失败。
本发明的有益效果是：量产测试快捷、测试结果可靠性高且测试成本降低。
附图说明
图1为本发明SAR模数转换器测试系统的系统架构图；
图2为本发明SAR模数转换器测试方法的方法流程图。
具体实施方式
下面结合附图进一步详细描述本发明的技术方案，但本发明的保护范围不局限于以下所述。
如图1所示，图1为本发明SAR模数转换器测试系统的系统架构图，本发明SAR模数转换器测试系统包括用于输入模拟差分信号的输入端Vip/Vin、与输入端Vip/Vin相连的SAR模数转换器、与SAR模数转换器相连的线性反馈移位寄存器(LFSR，Linear Feedback ShiftingRegister)、与SAR模数转换器及线性反馈移位寄存器相连的数字比较器、测试数据码输出端D、误差数据输入端error及测试结果输出端Pass/failed。线性反馈移位寄存器产生用于测试SAR模数转换器的测试码，SAR模数转换器对测试码进行转换后，产生测试数据码至测试数据码输出端D及数字比较器，数字比较器对SAR模数转换器产生的测试数据码与线性反馈移位寄存器产生的理想测试码进行比较，判断比较结果是否在误差数据输入端error输入的误差范围之内，测试结果输出端Pass/failed根据判断结果指示测试结果。
其中，SAR模数转换器包括与输入端Vip/Vin相连的电容式数模转换器、与电容式数模转换器相连的比较器及与比较器及电容式数模转换器相连的逻辑控制单元。
线性反馈移位寄存器产生用于测试SAR模数转换器的测试码至电容式数模转换器，电容式数模转换器将测试码转换为模拟信号，SAR模数转换器通过比较器及逻辑控制单元对模拟信号进行转换后，产生测试数据码至测试数据码输出端D及数字比较器，数字比较器对SAR模数转换器产生的测试数据码与线性反馈移位寄存器产生的理想测试码进行比较，并判断比较结果是否在误差数据输入端error输入的误差范围之内，如果比较结果在误差范围之内，则测试结果输出端Pass/failed指示测试通过；如果比较结果不在误差范围之内，则测试结果输出端Pass/failed指示测试失败。其中，线性反馈移位寄存器产生的测试码包括N个随机测试电压，且N≥1，数字比较器根据测试码中的测试电压，对SAR模数转换器产生的测试数据码与线性反馈移位寄存器产生的理想测试码进行N次比较，如果其中一次比较结果不在误差范围之内，则测试结果输出端Pass/failed指示测试失败。
如图2所示，图2为本发明SAR模数转换器测试方法的方法流程图，本发明SAR模数转换器测试方法包括以下步骤：
步骤一，线性反馈移位寄存器产生用于测试SAR模数转换器的测试码至SAR模数转换器的电容式数模转换器。
步骤二，电容式数模转换器将测试码转换为模拟信号。
步骤三，SAR模数转换器通过比较器及逻辑控制单元对模拟信号进行转换后，产生测试数据码至测试数据码输出端D及数字比较器。
步骤四，数字比较器对SAR模数转换器产生的测试数据码与线性反馈移位寄存器产生的理想测试码进行比较。
步骤五，数字比较器判断比较结果是否在误差数据输入端error输入的误差范围之内，如果比较结果在误差范围之内，则测试结果输出端Pass/failed指示测试通过；如果比较结果不在误差范围之内，则测试结果输出端Pass/failed指示测试失败。
其中，线性反馈移位寄存器产生的测试码包括N个随机测试电压，且N≥1，数字比较器根据测试码中的测试电压，对SAR模数转换器产生的测试数据码与线性反馈移位寄存器产生的理想测试码进行N次比较，如果其中一次比较结果不在误差范围之内，则测试结果输出端Pass/failed指示测试失败。
本发明SAR模数转换器测试系统及方法使得用于测试SAR模数转换器的测试码不再是几个固定的电压，而是随机测试电压，因此测试更加快捷，测试结果更加可靠，且不会增加太多的电路，节约了测试成本。
综上所述，本发明SAR模数转换器测试系统及方法，使得量产测试快捷、测试结果可靠性高且测试成本降低。
Claims (8)
1.一种SAR模数转换器测试系统，其特征在于：所述SAR模数转换器测试系统包括用于输入模拟差分信号的输入端、与所述输入端相连的SAR模数转换器、与所述SAR模数转换器相连的线性反馈移位寄存器、与所述SAR模数转换器及所述线性反馈移位寄存器相连的数字比较器、测试数据码输出端、误差数据输入端及测试结果输出端，所述线性反馈移位寄存器产生用于测试所述SAR模数转换器的测试码，所述SAR模数转换器对所述测试码进行转换后，产生测试数据码至所述测试数据码输出端及所述数字比较器，所述数字比较器对所述SAR模数转换器产生的测试数据码与所述线性反馈移位寄存器产生的理想测试码进行比较，判断比较结果是否在所述误差数据输入端输入的误差范围之内，所述测试结果输出端根据判断结果指示测试结果。
2.根据权利要求1所述的SAR模数转换器测试系统，其特征在于：所述SAR模数转换器包括与所述输入端相连的电容式数模转换器、与所述电容式数模转换器相连的比较器及与所述比较器及所述电容式数模转换器相连的逻辑控制单元。
3.根据权利要求2所述的SAR模数转换器测试系统，其特征在于：所述线性反馈移位寄存器产生用于测试所述SAR模数转换器的测试码至所述电容式数模转换器，所述电容式数模转换器将所述测试码转换为模拟信号，所述SAR模数转换器通过所述比较器及所述逻辑控制单元对所述模拟信号进行转换后，产生所述测试数据码。
4.根据权利要求3所述的SAR模数转换器测试系统，其特征在于：所述数字比较器判断比较结果是否在误差数据输入端输入的误差范围之内，如果比较结果在误差范围之内，则所述测试结果输出端指示测试通过；如果比较结果不在误差范围之内，则测试结果输出端指示测试失败。
5.根据权利要求4所述的SAR模数转换器测试系统，其特征在于：所述线性反馈移位寄存器产生的测试码包括N个随机测试电压，且N≥1，所述数字比较器根据所述测试码中的测试电压，对所述SAR模数转换器产生的测试数据码与所述线性反馈移位寄存器产生的理想测试码进行N次比较，如果其中一次比较结果不在误差范围之内，则测试结果输出端指示测试失败。
6.一种SAR模数转换器测试方法，包括以下步骤：
线性反馈移位寄存器产生用于测试SAR模数转换器的测试码至所述SAR模数转换器的电容式数模转换器；
所述电容式数模转换器将所述测试码转换为模拟信号；
所述SAR模数转换器通过比较器及逻辑控制单元对所述模拟信号进行转换后，产生测试数据码至测试数据码输出端及数字比较器；
所述数字比较器对所述SAR模数转换器产生的测试数据码与所述线性反馈移位寄存器产生的理想测试码进行比较；以及
所述数字比较器判断比较结果是否在误差数据输入端输入的误差范围之内，如果比较结果在误差范围之内，则测试结果输出端指示测试通过；如果比较结果不在误差范围之内，则所述测试结果输出端指示测试失败。
7.根据权利要求6所述的SAR模数转换器测试方法，其特征在于：所述比较器与所述电容式数模转换器相连，所述逻辑控制单元与所述比较器及所述电容式数模转换器相连。
8.根据权利要求7所述的SAR模数转换器测试方法，其特征在于：所述线性反馈移位寄存器产生的测试码包括N个随机测试电压，且N≥1，所述数字比较器根据所述测试码中的测试电压，对所述SAR模数转换器产生的测试数据码与所述线性反馈移位寄存器产生的理想测试码进行N次比较，如果其中一次比较结果不在误差范围之内，则测试结果输出端指示测试失败。
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109831207A (zh) * | 2019-01-28 | 2019-05-31 | 芯海科技（深圳）股份有限公司 | 一种集成sar adc与sd adc的多站点测试方法 |
| US11848682B2 (en) | 2022-01-11 | 2023-12-19 | Allegro Microsystems, Llc | Diagnostic circuits and methods for analog-to-digital converters |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5659312A (en) * | 1996-06-14 | 1997-08-19 | Logicvision, Inc. | Method and apparatus for testing digital to analog and analog to digital converters |
| US6417794B1 (en) * | 1999-09-09 | 2002-07-09 | Cirrus Logic, Inc. | System and apparatus for digitally calibrating capacitors in an analog-to-digital converter using successive approximation |
| CN102025375A (zh) * | 2010-12-07 | 2011-04-20 | 西安电子科技大学 | 模数转换器及其数字校准电路 |
| CN102628923A (zh) * | 2012-03-19 | 2012-08-08 | 硅谷数模半导体（北京）有限公司 | 模拟电路测试装置 |
| CN102938647A (zh) * | 2012-11-20 | 2013-02-20 | 华为技术有限公司 | 转换电路及芯片 |
| CN205754280U (zh) * | 2016-05-25 | 2016-11-30 | 成都锐成芯微科技有限责任公司 | Sar模数转换器测试系统 |
-
2016
- 2016-05-25 CN CN201610357103.2A patent/CN107437942A/zh active Pending
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5659312A (en) * | 1996-06-14 | 1997-08-19 | Logicvision, Inc. | Method and apparatus for testing digital to analog and analog to digital converters |
| US6417794B1 (en) * | 1999-09-09 | 2002-07-09 | Cirrus Logic, Inc. | System and apparatus for digitally calibrating capacitors in an analog-to-digital converter using successive approximation |
| CN102025375A (zh) * | 2010-12-07 | 2011-04-20 | 西安电子科技大学 | 模数转换器及其数字校准电路 |
| CN102628923A (zh) * | 2012-03-19 | 2012-08-08 | 硅谷数模半导体（北京）有限公司 | 模拟电路测试装置 |
| CN102938647A (zh) * | 2012-11-20 | 2013-02-20 | 华为技术有限公司 | 转换电路及芯片 |
| CN205754280U (zh) * | 2016-05-25 | 2016-11-30 | 成都锐成芯微科技有限责任公司 | Sar模数转换器测试系统 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109831207A (zh) * | 2019-01-28 | 2019-05-31 | 芯海科技（深圳）股份有限公司 | 一种集成sar adc与sd adc的多站点测试方法 |
| US11848682B2 (en) | 2022-01-11 | 2023-12-19 | Allegro Microsystems, Llc | Diagnostic circuits and methods for analog-to-digital converters |
| TWI849579B (zh) * | 2022-01-11 | 2024-07-21 | 美商愛列果微系統公司 | 用於類比數位轉換器的診斷電路及方法 |
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