CN107430061B

CN107430061B - 用于温度控制旋光仪样品室的技术

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Publication number: CN107430061B
Application number: CN201680021520.8A
Authority: CN
Inventors: V·R·维斯玛
Original assignee: Xylem IP UK SARL
Current assignee: Xylem IP UK SARL
Priority date: 2015-02-17
Filing date: 2016-02-17
Publication date: 2020-11-06
Anticipated expiration: 2036-02-17
Also published as: CN107430061A; US9562845B2; WO2016133991A1; EP3259575A4; EP3259575A1; EP3259575B1; US20160245740A1; EP3259575C0

Abstract

一种装置的特征在于：由传导材料制成的样品管适配器，具有第一部分以包含和接触其中具有样品的样品管，并且具有第二部分以提供用于在样品管与热组件之间来回进行热量传递的热路径，以用于执行样品分析；以及样品支撑轨，接纳样品管适配器来提供对样品管的物理支撑，相对于热组件来定向样品管适配器，使得在样品管适配器与热组件之间存在接触，以提供用于在样品管与热组件之间来回进行热量传递的热路径，并且相对于光源来对准样品管适配器，使得在样品管与由光源提供的光束之间存在配准，以上均用于执行样品分析。

Description

用于温度控制旋光仪样品室的技术

相关申请的交叉引用

本申请要求于2015年2月17日提交的美国临时申请No.62/117,296(代理人案号No.911-022.003-1//NB&S-X0002US)的权益，其通过引用以其整体内容并入本文。

技术领域

本发明涉及用于在旋光仪中实现珀耳帖控制样品的技术。

背景技术

如本领域技术人员应理解的，旋光仪是本领域已知的用于测量由光学活性物质展示出的光学活性的仪器。在操作中，当穿过光学活性物质时，线偏振光束的偏振平面可能旋转，并且旋转可以由具体物质、该物质的浓度、以及光通过包含在样品室中的物质的光程长度来确定，由此具体物质的浓度可以通过测量到的旋转来计算。旋光度也可能受到包含在样品室中的物质的温度的影响，因此，如下可能是期望的并且在许多情况下是被管理规定要求的，即，样品物质的温度被控制在设定点处，以用于精确测量。

在这种背景下，并且作为示例，用于使用这种旋光仪来实现珀耳帖控制样品的一些已知技术可以包括以下技术：

用于在旋光仪中实现珀耳帖控制样品的已知技术可以包括使用圆柱形管的样品室，以便最小化在室中但不在光路中的、被称为“死体积”的样品物质的量。在样品室的相对端处设置有法兰，在每个法兰中具有用于允许偏振光束穿过的光束孔。这些法兰的尺寸通常是标准尺寸，以用于当一对法兰位于由平行轨构成的室座上时，将样品室适当地定位在光路中。法兰可以从样品室移除，以允许清洗样品室。样品物质的温度控制是通过在包含该样品物质的样品室的外表面周围的水套中循环水而实现的。水套由与水管连通的外部管形成，该水管连接至处于预先确定温度的水源。然而，如本领域技术人员可以理解的，这种包括水套和冷却管的水温控制系统结构复杂。此外，如本领域技术人员还可以理解的，在清洗室和更换样品时连接和断开管道是不方便的，并且改变温度设定点也花费很长时间。

用于在旋光仪中实现珀耳帖控制样品的其他已知技术可以包括诸如热电冷却器(TEC)的热电温度控制技术。例如，通常为平板形状的TEC器件的一侧的温度是可由电流控制的。可以根据要求使热量在任一方向上流过器件。具有散热器的TEC元件被设置为是与容纳矩形样品室的矩形室座热传导的。偏振光束经由设置在室座上的孔穿过样品室。固体TEC元件看来消除了常规圆柱形室样品中所要求的水管道的复杂性和不便性。此外，室座的温度以及因此的样品室的温度可以容易且快速地被控制在设定点处。然而，矩形样品室具有大的死体积并且需要较大的样品体积来填充。当所测量的物质昂贵时，这样做的代价较高。这种矩形结构设计的另一问题表现为：室座不能与工业中通常使用的常规标准圆柱形样品室一起工作。此外，这种设计不能将温度控制在相关管理规定所要求的温度范围内。

用于在旋光仪中实现珀耳帖控制样品的其他已知技术还可以包括使用倾斜平底板和单个水平轨的组合，例如，其中倾斜平底板由导热材料制成，以用于传递热电导体(TEC)与样品室内的材料之间的热量，其中倾斜平底板被偏置为迫使样品室抵着单个水平轨，并且该组合将样品室定位在预先确定的位置处，使得偏振光束纵向穿过样品室。

用于在旋光仪中实现珀耳帖控制样品的其他已知技术还可以包括：使用倾斜平底板和阻挡器或侧壁的组合来将样品室定位在预先确定的位置处，使得偏振光束纵向穿过样品室。

用于在旋光仪中实现珀耳帖控制样品的其他已知技术还可以包括使用平行轨和底板的组合，其具有到安装在样品室之上的底板的楔形榫连接，其中底板相对于光束路径不固定，并且没有与光束路径相关的定位功能。

用于使用这种旋光仪来实现珀耳帖控制样品的其他技术在本领域中也是已知的，但不在此阐述，这样的技术例如包括在本专利申请进行期间提供给专利局的现有技术中所阐述的那些技术。

发明内容

作为示例，本发明提供了一种用于在旋光仪中实现珀耳帖控制样品的新颖且独特的技术。

根据一些实施例，并且作为示例，本发明可以包括如下装置或采取如下装置的形式，该装置被配置为对包含在样品管中的样品执行样品分析，其特征在于样品管适配器和样品支撑轨的组合。

样品管适配器可以由传导材料制成，并且被配置有第一部分以至少部分地包含和接触其中具有样品的样品管，并且被配置有第二部分以提供用于在样品管与热组件之间来回进行热量传递的热路径，以用于执行样品分析。

样品支撑轨可以被配置为：

接纳样品管适配器，来提供对样品管的物理支撑，以用于执行样品分析，

相对于热组件来定向样品管适配器，使得在样品管适配器的第二部分与热组件的某个部分之间存在接触，以便提供用于在样品管与热组件之间来回进行热量传递的热路径，以用于执行样品分析，以及

相对于光源来对准样品管适配器，使得在样品管与由光源提供的光束之间存在配准(registration)，以用于执行样品分析。

本发明可以包括以下特征中的一个或多个特征：

样品管适配器的第一部分可以包括弯曲内表面，以靠在其中具有样品的样品管的弯曲外表面上并且与该弯曲外表面接触。

样品管适配器的第二部分可以包括平坦表面，以与热组件的温度控制板接触。

样品管适配器可以包括两个端部凸起法兰部分，其配置为靠在样品支撑轨上并且由样品支撑轨支撑。

弯曲内表面可以是U形的，例如，以包含和包围样品管。

样品支撑轨可以被配置为彼此平行地延伸，例如，包括以平行于样品管的纵向轴线的方式延伸。

样品管适配器可以包括弯曲的外部表面，该弯曲的外部表面被配置为靠在其中具有样品的样品管的弯曲外表面上并且与该弯曲外表面接触。该弯曲的外部表面可以是半圆柱状的，例如，基本上具有圆柱的纵向一半的形状。

样品管适配器的第二部分可以包括向下延伸的两个叶片，这两个叶片跨过从热组件的温度控制板向上延伸的垂直叶片，来提供用于在样品管与热组件之间来回进行热量传递的热路径，以用于执行样品分析。

样品管适配器的第二部分可以包括向下延伸的叶片，该叶片具有与热组件的温度控制板抵接的叶片表面，来提供用于在样品管与热组件之间来回进行热量传递的热路径，以用于执行样品分析。

样品管适配器的第二部分可以包括向下延伸的两个叶片，每个叶片具有分别与热组件的对应温度控制板抵接的对应叶片表面，来提供用于在样品管与热组件之间来回进行热量传递的热路径，以用于执行样品分析。

该装置可以包括热组件，例如，该热组件具有温度控制板、珀耳帖器件和散热器的组合。

该装置可以包括用于提供光束的光源，例如，包括其中光源是激光器并且光束是激光光束的情况。光源也可以包括用于提供白炽光束的白炽灯，或用于提供LED光束的发光二极管(LED)。

该装置可以包括热组件和光源；并且还可以包括仪器机架，该仪器机架配置为相对于热组件和光源来固定地安装样品支撑轨，使得当样品支撑轨接纳样品管适配器时，样品支撑轨相对于热组件来定向样品管适配器，使得在样品管适配器的第二部分与热组件的一部分之间存在接触，以便提供用于在样品管与热组件之间来回进行热量传递的热路径，以用于执行样品分析；并且样品支撑轨相对于光源来对准样品管适配器，使得在样品管与由光源提供的光束之间存在配准，以用于执行样品分析。

该装置可以包括检测器/分析器，该检测器/分析器被配置为接收穿过样品管的光束并且执行样品分析。

附图说明

附图包括以下各图，其不一定按比例绘制：

图1包括图1A和图1B，根据本发明的一些实施例，其中图1A示出了旋光仪沿着其纵向轴线的视图，并且其中图1B示出了图1A所示的旋光仪的透视图。

图2包括图2A和图2B，根据本发明的一些实施例，其中图2A示出了旋光仪沿着其纵向轴线的视图，并且其中图2B示出了图2A所示的旋光仪的透视图。

图3包括图3A和图3B，根据本发明的一些实施例，其中图3A示出了旋光仪沿着其纵向轴线的视图，并且其中图3B示出了图3A所示的旋光仪的透视图。

图4包括图4A和图4B，根据本发明的一些实施例，其中图4A示出了旋光仪沿着其纵向轴线的视图，并且其中图4B示出了图4A所示的旋光仪的透视图。

图5包括图5A和图5B，根据本发明的一些实施例，其中图5A示出了旋光仪沿着其纵向轴线的视图，并且其中图5B示出了图5A所示的旋光仪的透视图。

图6是根据本发明的一些实施例的、相对于仪器机架而布置的图1B所示的旋光仪的示图。

具体实施方式

1.整体系统的三个关键要素

总体而言，根据本发明的一些实施例，以下是对在旋光仪中实现珀耳帖控制样品的技术性描述或具体描述。作为示例并且与附图(包括图1-图6)中所示的一致，整体系统、设备或装置可以被配置为提供以下三个关键要素，以用于样品分析：

a.对样品管的物理支撑；

b.样品管与光束之间的配准；以及

c.用于向样品管或从样品管传递热量的热路径。

下文更详细地描述了本发明用于实现这三个关键要素以用于样品分析的基本部件或部分的结构和功能。

2.部件或部分

作为示例并且与图1-图6所示的一致，以及根据本发明的一些实施例，总体指示为(7、10、20、30、40)的旋光仪可以包括以下部件或部分：

a.样品支撑轨(1、11、21、31、41)，

b.温度控制板(2、12、22、32、42)，

c.珀耳帖器件(3、13、23、33、43)，

d.散热器(4、14、24、34、44)，

e.样品管(5、15、25、35、45)，以及

f.样品管适配器(6、16、26、36、46)。

作为示例，图6示出了总体指示为(100)的整体系统、设备或装置，其具有相对于框架状结构或仪器机架(102)而布置的旋光仪(7)，以用于执行样品分析，例如，与下文描述一致。

3.部件或部分的功能描述

部件或部分的基本功能描述如下：

a.样品支撑轨(1、11、21、31、41)为标准旋光仪样品管和样品管适配器(6、16、26、36、46)二者提供三个关键要素中的两个，包括：

第一关键要素：对样品管(5、15、25、35、45)的物理支撑，以及

第二关键要素：样品管(5、15、25、35、45)与光束(未示出)之间的配准。

b.温度控制板(2、12、22、32、42)接触样品管适配器(6、16、26、36、46)，从而提供：

第三关键要素，即，用于向样品管(5、15、25、35、45)或从样品管(5、15、25、35、45)传递热量的热路径。

c.珀耳帖器件(3、13、23、33、43)提供了向温度控制板(2、12、22、32、42)泵送热量或从温度控制板(2、12、22、32、42)泵汲热量的方法。

d.散热器(4、14、24、34、44)提供了吸收或耗散经由珀耳帖器件(3、13、23、33、43)泵汲的热量的方法。

e.样品管(5、15、25、35、45)容纳待分析的样品。

f.样品管适配器(6、16、26、36、46)由导热材料制成，并将三个关键要素(参见上文的1a、1b和1c)组合，以提供样品分析所需的物理环境和热环境。样品管适配器(6、16、26、36、46)可以被制成不同的尺寸，以适应任何长度、直径、形状或形式的样品管。“棉线卷轴式(cotton-reel)”设计允许样品管适配器(6、16、26、36、46)以最小的接触面积靠在样品支撑轨(1、11、21、31、41)上，从而限制了到样品支撑轨(1、11、21、31、41)的热泄漏。

g.根据本发明的一些实施例，可以在没有热控制的情况下使用标准的旋光仪管。

4.部件或部分的结构描述

部件或部分的基本结构如下：

a.温度控制板(2、12、22、32、42)、珀耳帖器件(3、13、23、33、43)和散热器(4、14、24、34、44)在结构上被组合，以形成一个组件(又称为所谓的“热组件”)，并且由仪器机架支撑，例如，与图1-图5所示的一致。

b.样品管适配器(6、16、26、36、46)物理地靠在样品支撑轨(1、11、21、31、41)上，例如，与以下所阐述的一致。

i.对于图1和图2所示的实施例，热组件的位置可以横向调整，以确保温度控制板(2、12)与样品管适配器(6、16)之间的正确配合。

ii.对于图3、图4和图5所示的实施例，温度控制板(22、32、42)与样品管适配器(26、36、46)之间的正确配合将通常需要在产品组装期间对热组件进行预先定位。

c.样品管(5、15、25、35、45)物理地靠在样品管适配器(6、16、26、36、46)上，例如，与图1-图5所示一致。

d.样品管(5、15、25、35、45)可以与样品管适配器(6、16、26、36、46)的一部分组合或被设计为样品管适配器(6、16、26、36、46)的一部分，形成一个特定组件，例如，与图1-图5所示一致。

图1和图2

图1示出了总体指示为7的、用于实现本发明的一些实施例的装置。作为示例，在图1中示出了样品管适配器(6)，其具有U形部分(6a)和带有平坦表面(6b')的部分(6b)，该平坦表面(6b')用于与温度控制板(2)接触。如图1A所标记，U形部分(6a)具有U形内表面(6a')和配置在两个凸起法兰部分(6c)之间的U形外表面(6a”)。如图1B所标记，每个凸起法兰部分(6c)都具有相应的凸起法兰部分表面(6c')。U形内表面(6a')靠在样品管(5)的样品管外表面(5a)上。两个凸起法兰部分(6c)靠在样品支撑轨(1)上并且由样品支撑轨(1)支撑，例如，与图1所示一致。样品管适配器(6)与温度控制板(2)之间的接触通过接近(proximity)/摩擦适配来保持。

图2示出了总体指示为10的、用于实现本发明的一些实施例的装置。作为示例，在图2中，样品管适配器(16)具有U形部分(16a)和带有平坦表面(16b')的部分(16b)，该平坦表面(16b')用于与温度控制板(22)接触。U形部分(16a)具有U形内表面(16a')，其靠在两个凸起外法兰部分(15b)之间的样品管(15)的圆柱形外表面(15a)上。如图2B所标记，两个凸起外法兰部分(15b)各自具有相应的凸起外法兰部分表面(15b')，其分别靠在样品支撑轨(1)上并由该样品支撑轨支撑，例如，与图2所示一致。样品管适配器(16)与温度控制板(12)之间的接触通过接近/摩擦适配来保持。

图1和图2示出了可以被认为是优选实现的实施例，其具有以下优点：

i.热组件(参见4(a)部分)被配置在样品水平位置的上方，这提供了一定程度的保护以防止样品泄漏；

ii.热组件的位置(参见5(a))可相对于样品管适配器(6、16)调整，从而提供了最佳的可能热接触；

iii.样品泄漏聚集在仪器腔的底部处，并且可以容易地移除；

iv.这些实施例易于搭建和维护；以及

v.图2中的“过鞍(over saddle)”布置允许对大到最大可能直径的管进行热控制。

作为示例，并且为了本文讨论的目的，术语“U形”被理解为意味着具有基本上与字母“U”相似的形状。

图3

图3示出了总体指示为20的、用于实现本发明的一些实施例的装置。作为示例，在图3中，样品管适配器(26)具有U形部分(26a)和向下延伸的两个叶片(26b、26c)，这两个叶片(26b、26c)跨过温度控制板(22)上的垂直叶片(22a)。温度控制板(22)上的垂直叶片(22a)被配置为并且其尺寸被设置为适配在U形部分(26a)的两个叶片(26b、26c)内。如图3B所标记，U形部分(26a)具有U形内表面(26a')和配置在两个凸起法兰部分(26c)之间的U形外表面(26a”)。如图3B所标记，每个凸起法兰部分(26c)具有相应的凸起法兰部分表面(26c')。U形内表面(26a')靠在样品管(25)的样品管外表面(25a)上。两个凸起法兰部分(26c)靠在样品支撑轨(21)上并由样品支撑轨(21)支撑，例如，与图3所示一致。样品管适配器(26)的向下延伸的两个叶片(26b、26c)与温度控制板(22)的垂直叶片(22a)之间的接触允许热传递，并且它们之间的接触通过接近/摩擦配合来保持。适用相同水平的(如上文3(f)部分所阐述的)样品管适配器(26)通用性。

图4

图4示出了总体指示为30的、用于实现本发明的一些实施例的装置。作为示例，在图4中，样品管适配器(36)具有连接到向下延伸的一个叶片(36b)的U形部分(36a)，该叶片(36b)邻接温度控制板(32)。样品管适配器(36)与温度控制板(32)之间的接触可以通过例如弹簧或磁力来保持。适用相同水平的(如上文3(f)部分所阐述的)样品管适配器(36)通用性。

与图3所示类似，图4中的实施例包括U形部分(36a)，该U形部分(36a)具有U形内表面(36a')和配置在两个凸起法兰部分(36c)之间的U形外表面(36a”)，如图4B所标记。每个凸起法兰部分(36c)具有相应的凸起法兰部分表面(36c')，如图4B所标记。U形内表面(36a')靠在样品管(35)的样品管外表面(35a)上。两个凸起法兰部分(36c)靠在样品支撑轨(31)上并由样品支撑轨(31)支撑，例如，与图4所示一致。

图5

图5示出了总体指示为40的、用于实现本发明的一些实施例的装置。作为示例，在图5中，样品管适配器(46)具有连接到向下延伸的两个叶片(46b、46c)的U形部分(46a)，这两个叶片(46b、46c)被放置在两个温度控制板(42)之间。样品管适配器(46)与温度控制板(42)之间的接触通过接近/摩擦配合来保持。适用相同水平的(如上文3(f)部分所阐述的)样品管适配器(36)通用性。

与图3和图4所示类似，图5中的实施例包括U形部分(46a)，该U形部分(46a)具有U形内表面(46a')和配置在两个凸起法兰部分(46c)之间的U形外表面(46a”)，如图5B所标记。每个凸起法兰部分(46c)具有相应的凸起法兰部分表面(46c')，如图5B所标记。U形内表面(46a')靠在样品管(45)的样品管外表面(45a)上。两个凸起法兰部分(46c)靠在样品支撑轨(41)上并由样品支撑轨(41)支撑，例如，与图5所示一致。

注意，在图3、图4和图5所示的实施例中，热组件位于样品支撑轨(1、11、21、31、41)的下面，因此可能更易于遭受样品污染。

样品支撑轨(1、11、21、31、41)

图1-图5所示的样品支撑轨(1、11、21、31、41)被配置为作为平行的样品支撑轨而延伸。此外，样品支撑轨(1、11、21、31、41)被成形为与圆柱形杆相似，每个圆柱形杆沿着平行的轴线延伸。作为示例，本文所示的实施例具有样品管适配器(6、16、26、36、46)的一个或多个弯曲表面，该一个或多个弯曲表面物理地靠在样品支撑轨(1、11、21、31、41)的对应的弯曲表面上并由样品支撑轨(1、11、21、31、41)的对应的完全表面支撑。

图6

图6示出了整体设备(100)，该整体设备(100)具有光源(120)和相对于框架状结构或仪器机架(102)而布置的旋光仪(7)，以用于执行样品分析，例如，与以下描述一致。在图6中，仅标记了旋光仪(7)的基本部件，以减少图中的杂乱，例如所包括的基本部件是：样品支撑导轨(1)、温度控制板(2)、珀耳帖器件(3)、散热器(4)、样品管(5)、样品管适配器(6)以及检测器/分析器(8)，以用于执行样品分析。参见与图1相关的描述以得到更详细的描述。在图6中，框架状结构或仪器机架(102)在底部上被耦合到样品支撑轨(1)，并且在顶部上被耦合到热组件，例如，如图所示，热组件可以包括珀耳帖器件(3)、散热器(4)、样品管(5)。

作为示例，并且与图6所示一致，如元件(104、106)的一个或多个框架构件可以耦合到一个样品支撑轨(1)，并且如元件(105)的一个或多个框架构件可以耦合到另一个样品支撑轨(1)。为了减少杂乱，仅示出了一个框架构件耦合到另一个样品支撑轨(1)。然而，本发明的范围不旨在受限于框架状结构或仪器机架(102)与样品支撑轨(1)之间的类型、种类或结构布置。一些实施例被预想为，并且本发明的范围旨在包括：框架状结构或仪器机架(102)与样品支撑轨(1)之间的目前已知或未来开发的其他类型、种类或结构布置。

作为示例，并且与图6所示一致，如元件(108、110)的一个或多个框架构件可以在热组件的每个侧面上耦合到部件(2)、(3)和(4)中的一个或多个。然而，本发明的范围不旨在受限于框架状结构或仪器机架(102)与热组件之间的类型、种类或结构布置。一些实施例被预想为，并且本发明的范围旨在包括：框架状结构或仪器机架(102)与热组件之间的目前已知或未来将开发的其他类型、种类或结构布置。例如，如元件(108、110)的一个或多个框架构件可以在热组件的每个侧面上耦合到如元件(2)的一个部件。

作为示例，并且与图6所示一致，如元件(112)的一个或多个框架构件可以耦合到光源(120)。然而，本发明的范围不旨在限于框架状结构或仪器机架(102)与光源(120)之间的类型、种类或结构布置。此外，光源(120)可以采取激光器的形式，以用于向样品管(5)提供激光L，例如与图6所示一致。此外，本发明的范围旨在包括使用白炽灯或LED，并且实施例被设想为其中使用白炽灯或LED。实际上，本发明的范围并不旨在受限于所使用的光源的类型或种类，并且可以包括目前已知或未来将开发的其他类型或种类的光源。

基于框架状结构或仪器机架(102)、样品支撑轨(1)与热组件(2)、(3)和(4)之间的上述结构理解，在操作中，具有样品管(5)的样品管适配器(6)可以可移除地布置或放置在样品支撑轨(1)与热组件(2)、(3)和(4)之间，以用于执行样品分析。当具有样品管(5)的样品管适配器(6)靠在样品支撑轨(1)上并由样品支撑轨(1)物理支撑时，在样品管(5)与来自光源(120)的光(L)之间存在配准，并且还存在用于经由样品管适配器(6)而在样品管(5)与热组件(2)、(3)和(4)之间传递热量的热路径，例如，以便提供用于样品分析的上述三个关键要素(参见上文1(a)、(b)和(c)小段)。如本领域技术人员应理解的，样品分析可以包括使用热组件(2)、(3)和(4)来加热样品管(5)中所包含的样品，和/或使用光源(120)来探询样品管(5)中所包含的样品。本发明的范围并不旨在受限于所执行的样品分析的类型或种类。实施例被设想为，并且本发明的范围旨在包括：目前已知或未来将开发的许多不同类型或种类的样本分析技术。

如本领域技术人员应理解的，图6所示的整体设备(100)还可以包括其他类型或种类的部件，这些部件未被示出或描述是因为例如它们不构成本文所公开的潜在发明的一部分。作为示例，这种其他类型或种类的部件可以包括用于热组件或光源等的一个或多个控制器。

检测器/分析器是本领域已知的，并且本发明的范围不旨在限于目前已知或未来将开发的任何特定类型或种类的检测器/分析器。

本发明的范围

应当理解，除非本文中另有说明，否则本文关于特定实施例所述的的特征、特性、备选方案或修改中的任何一个也可以与本文所述的任何其他实施例一起应用、使用或者与本文所述的任何其他实施例合并。另外，本文的附图未按比例绘制。

尽管本发明通过离心泵相关的示例进行描述，但是本发明的范围旨在包括使用目前已知或未来将开发的其他类型或种类的泵。

虽然已经相对于本发明的示例性实施例描述和说明了本发明，但是在不脱离本发明的精神和范围的情况下，可以在本发明中或对本发明进行前述和各种其他的添加和省略。

Claims

1.一种被配置为对样品执行样品分析的装置，所述样品被包含在样品管中，所述装置包括：

样品管适配器和多个样品支撑轨的组合；

所述样品管适配器由传导材料制成，并且被配置有第一部分以至少部分地包含和接触其中具有样品的样品管，并且被配置有第二部分以提供用于在所述样品管与热组件之间来回进行热量传递的热路径，以用于执行样品分析；并且

其中所述多个样品支撑轨被配置为：

接纳所述样品管适配器，来提供对所述样品管的物理支撑，以用于执行所述样品分析，

相对于所述热组件来定向所述样品管适配器，使得在所述样品管适配器的所述第二部分与所述热组件的某个部分之间存在接触，以便提供用于在所述样品管与所述热组件之间来回进行热量传递的所述热路径，以用于执行所述样品分析，以及

相对于光源来对准所述样品管适配器，使得在所述样品管与由所述光源提供的光束之间存在配准，以用于执行所述样品分析，

其中所述热组件被配置在所述样品的水平位置的上方，并且所述热组件的位置能够相对于所述样品管适配器横向调整。

2.根据权利要求1所述的装置，其中所述样品管适配器的所述第一部分具有弯曲内表面，以靠在其中具有所述样品的所述样品管的弯曲外表面上并且与所述弯曲外表面接触。

3.根据权利要求1所述的装置，其中所述样品管适配器的所述第二部分具有平坦表面，以与所述热组件的温度控制板接触。

4.根据权利要求1所述的装置，其中所述样品管适配器具有两个端部凸起法兰部分，所述两个端部凸起法兰部分被配置为靠在所述多个样品支撑轨上并且由所述多个样品支撑轨支撑。

5.根据权利要求2所述的装置，其中所述弯曲内表面是U形的。

6.根据权利要求1所述的装置，其中所述多个样品支撑轨被配置为彼此平行地延伸。

7.根据权利要求1所述的装置，其中所述样品管适配器具有弯曲的外部表面，所述弯曲的外部表面被配置为靠在其中具有所述样品的所述样品管的弯曲外表面上并且与所述弯曲外表面接触。

8.根据权利要求1所述的装置，其中所述装置包括所述热组件，所述热组件具有温度控制板、珀耳帖器件和散热器的组合。

9.根据权利要求1所述的装置，其中所述装置包括用于提供所述光束的所述光源。

10.根据权利要求1所述的装置，其中所述光束是激光光束、或白炽光束、或LED光束。

11.根据权利要求1所述的装置，其中所述装置包括所述热组件和所述光源；并且还包括仪器机架，所述仪器机架被配置为相对于所述热组件和所述光源来安装所述多个样品支撑轨，使得当所述多个样品支撑轨接纳所述样品管适配器时，所述多个样品支撑轨相对于所述热组件来定向所述样品管适配器，使得在所述样品管适配器的所述第二部分与所述热组件的所述部分之间存在接触，以便提供用于在所述样品管与所述热组件之间来回进行热量传递的所述热路径，以用于执行所述样品分析；并且所述多个样品支撑轨相对于所述光源来对准所述样品管适配器，使得在所述样品管与由所述光源提供的光束之间存在配准，以用于执行所述样品分析。

12.根据权利要求1所述的装置，其中所述装置包括检测器/分析器，所述检测器/分析器被配置为接收穿过所述样品管的所述光束并且执行所述样品分析。

13.一种被配置为对样品执行样品分析的装置，所述样品被包含在样品管中，所述装置包括：

样品管适配器和多个样品支撑轨的组合；

其中所述多个样品支撑轨被配置为：

其中所述样品管适配器的所述第二部分包括向下延伸的两个叶片，所述两个叶片跨过从所述热组件的温度控制板向上延伸的垂直叶片，来提供用于在所述样品管与所述热组件之间来回进行热量传递的所述热路径，以用于执行所述样品分析。

14.一种被配置为对样品执行样品分析的装置，所述样品被包含在样品管中，所述装置包括：

样品管适配器和多个样品支撑轨的组合；

其中所述多个样品支撑轨被配置为：

其中所述样品管适配器的所述第二部分包括向下延伸的叶片，所述叶片具有与所述热组件的温度控制板抵接的叶片表面，来提供用于在所述样品管与所述热组件之间来回进行热量传递的所述热路径，以用于执行所述样品分析。

15.一种被配置为对样品执行样品分析的装置，所述样品被包含在样品管中，所述装置包括：

样品管适配器和多个样品支撑轨的组合；

其中所述多个样品支撑轨被配置为：

其中所述样品管适配器的所述第二部分包括向下延伸的两个叶片，每个叶片具有分别与所述热组件的对应温度控制板抵接的对应叶片表面，来提供用于在所述样品管与所述热组件之间来回进行热量传递的所述热路径，以用于执行所述样品分析。