CN107389716A - X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法，包括以下步骤：1)取铜矿石标准品和待测铜矿石，再将所述铜矿石标准品、待测铜矿石分别先用混合溶剂和硝酸锶混合搅拌均匀后，再滴加溴化锂，然后于1030～1050℃熔融10～15分钟成标准样片和待测样片，所述混合溶剂为Li2B4O7和LiBO2的混合溶剂，所述Li2B4O7和LiBO2的质量比为35:65；2)再将所述标准样片和待检测样片通过X射线荧光光谱仪进行检测，并根据强度与含量确定线性关系，制作校准曲线，得到铜矿石中杂质的含量。本发明的方法的检测灵敏度高，重复性强。

Description

X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法
技术领域
本发明涉及一种测定矿石中杂质的方法，具体涉及一种X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法，属于冶金工业的化学分析方法技术领域。
背景技术
在钢铁工业分析中，铜矿石成分分析非常重要。在现在的日常生产中,常采用湿化学分析方法,试样加工往往采取碱熔后进行溶解的方法,不同元素分析时还要采用沉淀、过滤、分离等繁杂的手段以消除干扰,分析速度慢,溶解分离过程中较易带来人为误差,不容易进行大批量的分析。
X射线荧光光谱分析目前已广泛应用于冶金、地质、化工、环保、生物等领域,并逐步应用于铜矿石的分析中，但是其测得的准确度和精密度不够。
发明内容
本发明要解决的技术问题是：为解决技术问题，提供一种X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法，从而可以大大提高X射线荧光的分析精密度和准确度。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：
本发明提供一种X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法，包括以下步骤：
1)取铜矿石标准品和待测铜矿石，再将所述铜矿石标准品、待测铜矿石分别先用混合溶剂和硝酸锶混合搅拌均匀后，再滴加溴化锂，然后于1030～1050℃熔融10～15分钟成标准样片和待测样片，所述混合溶剂为Li2B4O7和LiBO2的混合溶剂，所述Li2B4O7和LiBO2的质量比为35:65；
2)再将所述标准样片和待检测样片通过X射线荧光光谱仪进行检测，并根据强度与含量确定线性关系，制作校准曲线，得到铜矿石中杂质的含量。
优选地，在步骤1)中，于1040℃熔融13分钟制成标准样品和待检测样品。
优选地，在步骤1)中，再将所述铜矿石标准品、待测铜矿石分别先用混合溶剂和硝酸锶混合搅拌均匀后，于620℃预氧化12min，再滴加碘化铵，在该温度和条件下进行预氧化，能够有效地氧化，不易发生溅射，使得测定结果准确。
优选地，在步骤1)中，所述混合溶剂与所述铜矿石标准品、待测铜矿石的质量比为(35～42):1。
优选地，在步骤1)中，所述混合溶剂与所述铜矿石标准品、待测铜矿石的质量比为38:1。
优选地，所述铜矿石标准品或待测铜矿石、混合溶剂、硝酸锶的质量比为1∶38∶10。
本发明的有益效果是：采用合适比例的无水四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂，熔点低、流动性好，同时通过合适的稀释比例，使得其流动性较好，降低了基体的吸收-增强效应，使得制成的玻璃样片中元素分布均匀，消除共存元素间的吸收增强效应；并且通过合理控制熔融温度，避免温度过高铜矿石与坩埚发生反应，产生副反应，使得测得的结果准确；此外，通过Sr(NO3)2则能形成稳定的玻璃态，此外Sr可作为Cu的内标，使得测量结果更为准确，并减少混合溶剂的使用量；并通过溴化锂作为脱模剂，干扰少，残存量低，使得测得的结果更为准确。
具体实施方式
以下通过实施例的方式，对本申请进行进一步说明。
除非特别指明，以下实施例中所用的试剂均可从正规渠道商购获得。
实施例1
1)待测样品的制备：分别称取GBW07166铜矿作为标准品和待测铜矿1g，然后分别加入42g混合溶剂，混合溶剂为质量比为35:65的无水四硼酸锂和偏硼酸锂，10g硝酸锶，混合搅拌均匀后，再滴加10％的溴化锂溶液2.5ml，然后于1050℃熔融10分钟成标准玻璃样和待测玻璃样片。
2)标准曲线的制作：
用制备好的校准样片在X射线荧光光谱仪上进行条件试验，以选择仪器最佳的分析条件，并根据强度与含量确定线性关系进行线性回归，制作出校准曲线，并保存在计算机的定量分析软件中。
3)待测样品中杂质的测试
然后将所述标准样片和待检测样片通过X射线荧光光谱仪进行检测。
实施例2
1)待测样品的制备：分别称取GBW07166铜矿作为标准品和待测铜矿1g，然后分别加入38g混合溶剂，混合溶剂为质量比为35:65的无水四硼酸锂和偏硼酸锂，10g硝酸锶，混合搅拌均匀后，再滴加10％的溴化锂溶液2.5ml，然后于1040℃熔融13分钟成标准玻璃样和待测玻璃样片。
2)标准曲线的制作：
用制备好的校准样片在X射线荧光光谱仪上进行条件试验，以选择仪器最佳的分析条件，并根据强度与含量确定线性关系进行线性回归，制作出校准曲线，并保存在计算机的定量分析软件中。
3)待测样品中杂质的测试
然后将所述标准样片和待检测样片通过X射线荧光光谱仪进行检测。
实施例3
1)待测样品的制备：分别称取GBW07166铜矿作为标准品和待测铜矿1g，然后分别加入35g混合溶剂，混合溶剂为质量比35:65为的无水四硼酸锂和偏硼酸锂，10g硝酸锶，混合搅拌均匀后，再滴加10％的溴化锂溶液2.5ml，然后于1030℃熔融15分钟成标准玻璃样和待测玻璃样片。
2)标准曲线的制作：
用制备好的校准样片在X射线荧光光谱仪上进行条件试验，以选择仪器最佳的分析条件，并根据强度与含量确定线性关系进行线性回归，制作出校准曲线，并保存在计算机的定量分析软件中。
3)待测样品中杂质的测试
然后将所述标准样片和待检测样片通过X射线荧光光谱仪进行检测。
实施例1-3中的标准品的各杂质元素的重量百分比含量的测定结果如下述表1所示：
表1
S Zn AL2O3 MgO CaO
实施例3 33.60 0.0056 1.22 2.49 1.94
实施例2 33.62 0.0058 1.25 2.51 1.97
实施例3 33.61 0.0055 1.19 2.47 1.91
以上结果表明，本发明的检测方法的准确度高，重复性强。
实施例1-4中的待检测矿石的各杂质元素的重量百分比含量的测定结果如下述表2所示：
表2
S Zn AL2O3 MgO CaO
实施例1 7.71 0.095 9.21 1.51 8.12
实施例2 7.72 0.098 9.27 1.56 8.46
实施例3 7.68 0.092 9.15 1.42 8.02
平均值 7.703 0.095 9.21 1.497 8.20
SD 0.0208 0.003 0.06 0.0709 0.231
RSD 0.27 3.16 0.651 4.74 2.82
以上结果表明，其标准偏差(SD)和相对标准偏差(RSD)在合理的范围内，该方法的检测精确度高。
此外，通过化学分析方法测定实施例1-3中的标准样片和待检测样片中的杂质，结果表明实施例2的测定结果与化学分析方法中的结果更为接近，也就是说在实施例2的条件下进行检测，检测准确率最高。
以上述依据本发明的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。

Claims (6)

1.一种X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法，包括以下步骤：
1)取铜矿石标准品和待测铜矿石，再将所述铜矿石标准品、待测铜矿石分别先用混合溶剂和硝酸锶混合搅拌均匀后，再滴加溴化锂，然后于1030～1050℃熔融10～15分钟成标准样片和待测样片，所述混合溶剂为Li2B4O7和LiBO2的混合溶剂，所述Li2B4O7和LiBO2的质量比为35:65；
2)再将所述标准样片和待检测样片通过X射线荧光光谱仪进行检测，并根据强度与含量确定线性关系，制作校准曲线，得到铜矿石中杂质的含量。
2.根据权利要求1所述的X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法，其特征在于，在步骤1)中，于1040℃熔融13分钟制成标准样品和待检测样品。
3.根据权利要求1或2所述的X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法，其特征在于，在步骤1)中，再将所述铜矿石标准品、待测铜矿石分别先用混合溶剂和硝酸锶混合搅拌均匀后，于620℃预氧化12min，再滴加碘化铵。
4.根据权利要求1或2所述的X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法，其特征在于，在步骤1)中，所述混合溶剂与所述铜矿石标准品、待测铜矿石的质量比为(35～42):1。
5.根据权利要求1或2所述的X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法，其特征在于，在步骤1)中，所述混合溶剂与所述铜矿石标准品、待测铜矿石的质量比为38:1。
6.根据权利要求5所述的X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法，其特征在于，所述铜矿石标准品或待测铜矿石、混合溶剂、硝酸锶的质量比为1∶38∶10。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108088866A (zh) * 2018-02-08 2018-05-29 新疆维吾尔自治区地质矿产勘查开发局第地质大队 一种检测银铜矿中银铜含量的方法
CN111721726A (zh) * 2020-06-30 2020-09-29 广西武宣东磊矿业有限公司 一种利用分光光度计测定矿石中氧化铁含量的方法
CN112964741A (zh) * 2021-02-01 2021-06-15 中国铝业股份有限公司 一种重金属精矿的样片及其制备方法和应用

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103529067A (zh) * 2013-10-29 2014-01-22 吉林建龙钢铁有限责任公司 X荧光光谱法测定铁矿石的检测试剂及方法
CN105806865A (zh) * 2016-03-21 2016-07-27 中华人民共和国南通出入境检验检疫局 X射线荧光光谱法用铜精矿熔融制片方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103529067A (zh) * 2013-10-29 2014-01-22 吉林建龙钢铁有限责任公司 X荧光光谱法测定铁矿石的检测试剂及方法
CN105806865A (zh) * 2016-03-21 2016-07-27 中华人民共和国南通出入境检验检疫局 X射线荧光光谱法用铜精矿熔融制片方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
李小莉 等: "Ｘ射线荧光光谱熔融片法测定铜矿中的主次元素", 《冶金分析》 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108088866A (zh) * 2018-02-08 2018-05-29 新疆维吾尔自治区地质矿产勘查开发局第地质大队 一种检测银铜矿中银铜含量的方法
CN111721726A (zh) * 2020-06-30 2020-09-29 广西武宣东磊矿业有限公司 一种利用分光光度计测定矿石中氧化铁含量的方法
CN112964741A (zh) * 2021-02-01 2021-06-15 中国铝业股份有限公司 一种重金属精矿的样片及其制备方法和应用

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