CN1072399C - 检测－测试模式的系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明关于一种测试模式检测装置，可应用于集成电路，且可用以配合一产生第一重组信号的测试装置，该测试模式检测装置包含：一信号重组电路，有一第二信息信号输入端，该信号重组电路用以输入一第二信息信号且然后将该第二信息信号予以重组，并产生一第二重组信号输出；以及一判别电路，用以输入该第一与第二重组信号，以判别是否使该集成电路进入该测试模式。
Description
本发明涉及一种检测装置与方法，尤指一种关于测试模式的检测装置与方法。
集成电路在批量生产过程中的品质优劣，通常需藉批量生产过程中的测试来加以区分，所以，为了在批量生产过程的测试程序中提高所测得数据的准确性并提高测试速度，可在集成电路中包含若干部分测试线路，以实现批量生产测试时，确认产品品质的目的。
然而，为避免集成电路于处于正常工作模式时误入测式模式中，导致测试线路影响到实际电路的正常工作，电路设计师采用了种种分辨集成电路处于正常工作模式与测试模式的方法，以便集成电路可在随后的批量生产测试的情况下，确保测试线路不致影响集成电路的正常工作；不过，因已知的辨别正常工作模式与测试模式的方式各有其缺陷，本发明的目的，即在于提供一种更稳定且可靠度更高的辨别正常工作模式与测试模式的装置与方法，以克服已知方法的缺陷。
在已知的方法中，最常见实施测试模式检测方式的方法为增加一只或多只测试管脚(test pin)来切换正常工作模式与测试模式，甚至用以区分多种测试模式中的特定测试模式；举例而言，一测试管脚平时将其固定于高电位(/低电位)状态，一旦自外部强迫该测试管脚转换为处于低电位(/高电位)状态时，即使集成电路由正常工作模式切换到测试模式中，集成电路开始将其内部信号通过测试线路予以导出，并允许由外部直接控制这种内部信号；这样，外部测试设备便可利用此特性以量测位于集成电路内部的相应的内部信号以及输入控制信号。
前述已知方法的优点在于正常工作模式与测试模式之间划分得相当明确，所以，不会产生自正常工作模式误入测试模式的事故，然而，其缺陷在于必须规划多余管脚以作为切换之用，所以对于小包装的集成电路常常形成困扰，其原因在于小包装集成电路上的管脚往往各有用途，实难空出多余的特定管脚供测试之用；再则，由于使用者只能在这种供测试用的特定管脚处施以固定电位的信号，才能进入测试模式而将内部信息予以导出，所以很难作到电路保密。
为改善前述需额外设置测试管脚的缺陷，已知的另一方法为采用自某一特定管脚处输入特殊组合的串行(或并行)信号，以区分欲使集成电路进入正常工作模式或测试模式的动作；这种方法的优点在于不需增加管脚即可达到辨别正常工作模式或测试模式，然而，其缺点在于应设计产生何种特殊组合的串行(或并行)信号，使之在集成电路处于正常工作模式时不会被产生，否则原本处于正常操作的集成电路，其正常工作信号即可能因与特殊组合信号相同而使集成电路误切换至测试模式中，反造成误动作；换言之，由于集成电路的正常工作信号千奇百种，很难确保不会发生与这种特殊组合信号相同的事情，所以，已知采用自某一特定管脚处输入特殊组合信号的作法不甚可靠。
此外，还有利用检测振荡器是否振荡，以辨别集成电路是处于正常工作模式还是处于测试模式的已知方法，然而该方法亦与前述采用自某一特定管脚处输入特殊组合信号的已知方法一样，都同样难以避免误入测试模式的状况发生。
本发明的主要目的，即在于提供一种可使集成电路避免误入测试模式的测试模式的检测装置与方法。
本发明的另一目的，即在于提供一种具有高保密性的测试模式的检测装置与方法。
本发明的又一目的，即在于提供一种在不增加测试管脚的情况下达到测量集成电路的测试模式的检测装置与方法。
本发明涉及一种测试模式的检测装置，可应用于一集成电路，且该装置可用以配合产生一第一重组信号的测试装置，该测试模式的检测装置可包含：一信号重组电路，其具有一第二信息信号输入端，该信号重组电路用以输入一第二信息信号然后将该第二信息信号予以重组，并产生一第二重组信号输出；以及一判别电路，用以输入该第一与第二重组信号，以判别是否使该集成电路进入测试模式。
为实现上述目的，其中该集成电路还可包含一启动信号输入端，所述信号重组电路与该判别电路皆电连接于该启动信号输入端，且该启动信号输入端用以输入一启动信号。
其中该启动信号输入端可为一复位(reset)信号输入端，而该启动信号则可为一复位信号。
为实现上述目的，其中所述信号重组电路与所述判别电路都可相应于所述启动信号处于一致能(enable)状态而产生一致能动作，且在该启动信号处于一禁能(disable)状态时，停止致能该信号重组电路与该判别电路的动作。
为实现上述目的，其中该致能状态可为一高电位状态。
为实现上述目的，其中该致能状态可为一低电位状态。
为实现上述目的，其中该测试装置可为一集成电路测试设备，用以测量该集成电路的内部特性与品质。
为实现上述目的，其中在该测试装置中可包含另一信号重组电路，其具有一第一信息信号输入端，该另一信号重组电路可自该第一信息信号输入端处输入一第一信息信号，且予以重组产生该第一重组信号输出。
为实现上述目的，其中该另一信号重组电路还可包含另一延迟编码电路，用以将该第一信息信号中的全部或部分信号予以分割、重组，以得到该第一重组信号。
为实现上述目的，其中该另一信号重组电路可包含：一第一触发器，用以输入该第一信息信号，并将该第一信息信号作为其时钟脉冲信号；一第二触发器，电连接于该第一触发器，用以将该第一触发器的输出信号作为其时钟脉冲信号；以及一第三触发器，电连接于该第二触发器，用以将该第二触发器的输出信号作为其时钟脉冲信号。
为实现上述目的，其中该第一、第二与第三触发器皆可为一T型触发器，且该第一、第二与第三触发器的输出信号用以作为该第一重组信号。
为实现上述目的，其中该第一重组信号可为一并行形式的重组信号。
为实现上述目的，其中该信号重组电路还可包含一延迟编码电路，用以将该第二信息信号中的全部或部分信号予以分割、重组，以获得该第二重组信号。
为实现上述目的，其中该信号重组电路可包含：一第四触发器，用以输入该第二信息信号，并将该第二信息信号作为其时钟脉冲信号；一第五触发器，电连接于该第四触发器，用以将该第四触发器的输出信号作为其时钟脉冲信号；以及一第六触发器，电连接于该第五触发器，用以将该第五触发器的输出信号作为其时钟脉冲信号，且该第四、第五与第六触发器的输出信号用以作为该第二重组信号。
为实现上述目的，其中该第四、第五与第六触发器皆可为一T型触发器。
为实现上述目的，其中该第二重组信号可为一串行形式的重组信号。
为实现上述目的，其中该第二重组信号可为一并行形式的重组信号。
为实现上述目的，其中该判别电路系可为一比较器。
为实现上述目的，其中当该比较器比较该第一与第二重组信号相同时，即可产生一测试模式信号，以驱动设于该集成电路内部的一测试线路而进入该测试模式中，否则该集成电路仍将维持处于一正常工作模式中。
为实现上述目的，其中该测试模式的检测装置可设于该集成电路的内部。
为实现上述目的，其中该测试模式的检测装置还可包含：一信号产生电路，用以产生该第一信息信号与该第二信息信号，以供另一信号重组电路与该信号重组电路分别产生该第一与第二重组信号。
为实现上述目的，其中该信号产生电路可包含：一信号产生器，用以产生一原始信号输出；一状态产生器，电连接于该信号产生器，用以将该原始信号转为一状态信号输出；以及一信号编码器，电连接于该状态产生器，用以将该状态信号予以编码，以产生该第一信息信号或该第二信息信号输出。
为实现上述目的，其中该第一信息信号或该第二信息信号可为一串行形式的第二信息信号。
为实现上述目的，其中该第一信息信号或该第二信息信号可为一并行形式的第二信息信号。
为实现上述目的，其中该信号产生电路可电连接于该启动信号输入端，并相应于该启动信号处于该致能状态时产生一致能动作，且于该启动信号处于该禁能状态时停止致能该信号产生电路的动作。
为实现上述目的，其中该第一信息信号与该第二信息信号可为相同的第二信息信号。
为实现上述目的，其中该信号产生电路可设于该集成电路内部中，而该测试模式的检测装置还可包含：一多路转换装置，用以使该第二信息信号与该集成电路的一正常工作信号可共用该集成电路的一输出接脚端。
为实现上述目的，其中该多路转换装置可为一二对一的多路转换器，该多路转换器的选择信号端用以相应于自该信号产生电路处所输入的一多路转换致能选择信号，以将该第二信息信号或该正常工作信号输出至该输出接脚端，以对应于该集成电路所处的工作模式为该测试模式或该正常工作模式。
为实现上述目的，其中该正常工作信号可为该集成电路中系统振荡器的系统振荡输出信号，而该输出接脚端则可为该系统振荡器的输出接脚端。
本发明涉及一种测试模式的检测方法，可应用于一集成电路中，且该方法可用以配合一产生第一重组信号的一测试装置，以及接收一第二信息信号，该方法可包含下列步骤：a)输入一第二信息信号，使该集成电路相应于该第二信息信号予以分割、重组，并产生一第二重组信号；b)输入该第一重组信号至该集成电路中；c)将该第一与第二重组信号执行一判别动作，判别是否使该集成电路进入该测试模式。
为实现上述目的，其中于该步骤(a)之前还可包含步骤：d)将一启动信号提供给该集成电路。
为实现上述目的，其中在该启动信号处于一致能(enable)状态时，实施该步骤(a)至该步骤(c)，且于该启动信号处于一禁能(disable)状态时，停止实施该步骤(a)至该步骤(c)。
为实现上述目的，其中该致能状态可为一高电位状态。
为实现上述目的，其中该致能状态系可为一低电位状态。
为实现上述目的，其中该启动信号可为一复位(reset)信号。
为实现上述目的，其中该测试装置可为一集成电路测试设备，用以测量该集成电路的内部特性与品质。
为实现上述目的，其中该测试装置可输入第一信息信号，然后予以分割、重组，以产生该第一重组信号输出。
为实现上述目的，其中该第一重组信号可为一串行形式的重组信号。
为实现上述目的，其中该第一重组信号可为一并行形式的重组信号。
为实现上述目的，其中在步骤(a)中的所述第二重组信号可为一串行形式的重组信号。
为实现上述目的，其中在步骤(a)中的所述第二重组信号可为一并行形式的重组信号。
为实现上述目的，其中在该步骤(c)中判别比较所述第一与第二重组信号相同时，即可产生一测试模式信号，以驱动设于该集成电路内部的一测试线路而进入该测试模式中，否则该集成电路仍将维持处于一正常工作模式中。
为实现上述目的，其中该第一信息信号或该第二信息信号可为一串行形式的第二信息信号。
为实现上述目的，其中该第一信息信号或该第二信息信号可为一并行形式的第二信息信号。
为实现上述目的，其中该第一信息信号与该第二信息信号可为相同的第二信息信号。
为实现上述目的，其中在步骤(a)之后还可包括步骤：e)相应于该启动信号与一多路转换致能选择信号，使该集成电路自其输出一正常工作信号之处，转为输出该第二信息信号；以及f)输入该第二信息信号至该测试装置中，以产生该第一重组信号。
借助下列附图及详细说明，可对本发明有更深入的了解。
图1：为本发明的第一较佳实施例的测试模式的检测装置方块示意图；
图2(a)、(b)：为本发明第一较佳实施例中该信号重组电路与该另一信号重组电路的内部示例图；
图2(c)：为本发明第一较佳实施例中该信号重组电路的波形示例图；
图3：为本发明的第二较佳实施例的测试模式的检测装置方块示意图；
图4：为本发明第二较佳实施例中该信号产生电路的内部示例图；
图5：为本发明的第三较佳实施例的测试模式的检测装置方块示意图；
图6：为本发明的一第一较佳实施例的测试模式的检测方法流程示意图；
图7：为本发明的一第二较佳实施例的测试模式的检测方法流程示意图。
请参阅图1，为本发明的第一较佳实施例的测试模式的检测装置方块示意图，图1所述装置包含：一集成电路10与一测试装置11；其中，该集成电路10中包含：呈测试模式的检测装置101与一测试线路102；而该测试模式的检测装置101则包含：具有一第二信息信号输入端P11的信号重组电路1011与一判别电路1012(较佳者，该判别电路1012可为一比较器)；另外，该集成电路10还可包含一启动信号输入端P12，用以供输入一启动信号S15之用；其中该启动信号输入端P12可为一复位(reset)信号输入端，而该启动信号S15则可为一复位信号；在该测试装置11中还可包含具有第一信息信号输入端P13的信号重组电路111。
较佳者，该测试装置11可为一集成电路测试设备，用以量测该集成电路10的内部特性与品质。
现在进一步说明图1所示装置的工作原理。
首先，为确保该集成电路不会任意进入测试模式，可设计使该启动信号S15在确实处于一致能(enable)状态时，才能驱动该测试模式的检测装置101中的电路，以决定是否进入测试模式中；换言之，由于该信号重组电路1011与该判别电路1012皆电连接于该启动信号输入端P12，所以，该信号重组电路1011与该判别电路1012都会相应于该启动信号S15处于该致能状态而产生一致能动作；当然，如该启动信号S15处于一禁能(disable)状态时，则将停止致能该信号重组电路1011与该判别电路1012的动作，即，此时可确保该集成电路10不致任意进入测试模式而产生误动作。
再则，该信号重组电路1011可自该第二信息信号输入端P11处输入一第二信息信号S11，并响应于该启动信号S15处于致能状态，从而产生一致能动作，然后将该第二信息信号S11予以重组，或筛选出该第二信息信号S11的部分(或全部)信号，以产生一第二重组信号S12输出至该判别电路1012中；另一方面，该另一信号重组电路111可自该第一信息信号输入端P13处输入第一信息信号S13，以产生一第一重组信号S14，并予以输出至该判别电路1012中；之后，该判别电路1012响应于该启动信号S15处于致能状态，从而产生一致能动作，且判别比较该第一与第二重组信号S14、S12为相同时，即可产生一测试模式信号S16输出，并驱动设于该集成电路10内部的该测试线路102进入该测试模式中，否则，如信号不同或该启动信号S15回到该禁能状态时，该集成电路10将维持处于一正常工作模式中，以达到该集成电路10原先的正常电路功能。
较佳者，该判别电路1012可接受并比较为串行(或并行)形式的所述第一或第二重组信号S14、S12；当然，该判别电路1012亦可任意单独地选择比较所述第一或第二重组信号S14、S12中的一个或多个比较信号。
当然，不论信号重组电路1011或另一信号重组电路111，其目的都是为了加强集成电路的保密功能，即，只有该测试装置11采用了与设于该集成电路10内部中的测试模式的检测装置10相同的信号重组电路，才可组出相同的比对信号；当然，关于另一种增加保密性的方法，则是可采用互补观念，即将信号重组电路1011与另一信号重组电路111设计为一互补电路，而相应地第二信息信号S11与第一信息信号S13则为一互补信号，此时，通过另一信号重组电路111与信号重组电路1011分别处理第一信息信号S13与第二信息信号S11之后，才可获得相同一致的第一与第二重组信号S14、S12，以使该测试模式的检测装置10可于正确时机产生出该测试模式信号S16，进而驱动该测试线路102进入该测试模式中。
另外，如果所述的集成电路10不同，则设于该集成电路10内部中的该测试模式的检测装置10内部的信号重组电路1011显然可有所改变或调整，如此一来，该测试装置11内部的另一信号重组电路111显然亦需进行相对应的变化或调整，而这种改变或调整另一信号重组电路111的工作，对于设计者而言是极为简易的事，然而对于抄袭者而言，则必须经过种种复杂程序(例如，实施还原工程程序等)方能了解，因此，对于集成电路的保护当可提供更深一层的保障。
进而，关于所述的另一信号重组电路111与所述的信号重组电路1011，一简单方法，可分别将相应地第一信息信号S13与第二信息信号S11直接传送至判别电路1012中，或在复杂设计时，任意筛选若干位元信号加以延迟、编码后，再传送至判别电路1012中；另外，另一信号重组电路111与信号重组电路1011可分别接受串行(或并行)形式的第一信息信号S13与第二信息信号S11，同时，另一信号重组电路111与信号重组电路1011亦可分别输出为串行(或并行)形式的第一与第二重组信号S14、S12。
至于所述的另一信号重组电路111与信号重组电路1011的内部电路示例图(以串行信号重组为并行信号为例)，则可分别参阅图2(a)、(b)所示者，其中，图2(a)中所示的另一信号重组电路111可包含：一第一触发器FF1，用以输入第一信息信号S13，并将该第一信息信号S13为作其时钟脉冲信号；一第二触发器FF2，电连接于该第一触发器FF1，该第二触发器FF2用以将该第一触发器FF1的输出信号O0作为其时钟脉冲信号；以及一第三触发器FF3，电连接于该第二触发器FF2，该第三触发器FF3用以将该第二触发器FF2的输出信号Q1作为其时钟脉冲信号，而该第三触发器FF3的输出信号则为Q2；当然，将所述第一信息信号S13予以重组后的信号(Q0、Q1、Q2)，即用以输出作为第一重组信号S14使用，之后，通过该集成电路10原来即已具备的正常信号输入接脚，便可轻易地将该第一重组信号S14予以输入至该集成电路10中。所述第一、第二、第三触发器FF1、FF2、FF3的致能动作皆受到一触发器致能信号SE的控制，而该触发器致能信号SE则可来自于该测试装置11的内部。
同理，于图2(b)中所示的所述信号重组电路1011亦可与于图2(a)中所示的另一信号重组电路111具有相同功能的触发器(即为一第四、第五、第六触发器FF4、FF5、FF6)电连接关系，且其可将该第二信息信号S11予以重组后的信号(Q3、Q4、Q5)，用以输出作为所述第二重组信号S12使用；至于该第四、第五、第六触发器FF4、FF5、FF6的致能动作，则皆将受到该启动信号S15的控制。
当然，在图2(a)、(b)中所示的该第一～第六触发器FF1～FF6，皆可为一T型触发器，而该任一T型触发器可包含：一信号输入端T、一时钟脉冲输入端CK、一信号输入端Q以及一触发器致能端E。
举例而言，设若该第二信息信号S11为如图2(c)中所示的(11001010)串行信号，则作为该第二重组信号S12的触发器FF4～FF6输出信号的波形，即为如图2(c)中标示(Q3、Q4、Q5)所示并行信号，如此结果，显然可提供比已知技术更具保密性的集成电路测试功能。
由于图1所示的测试用接脚仅占用一只(即用以输入该第二信息信号S11之用)，故本发明不必增加已知集成电路管脚数目的情况下，提供一种可使集成电路避免误入测试模式且具高保密性与高可靠度的测试模式的检测装置，以顺利达到测量集成电路的目标。
关于本发明测试模式的检测装置的另一较佳实施例，请参阅图3，其为本发明第二较佳实施例的测试模式的检测装置方块示意图，图3中，包含一测试装置21、一测试线路202、具有一第二信息信号输入端P21的信号重组电路2011、一判别电路2012(较佳者，该判别电路2012可为一比较器)、一启动信号输入端P22与具有第一信息信号输入端P23的信号重组电路211以及一启动信号S25，其功能皆可等同于图1中所示的测试装置11、测试线路102、具有第二信息信号输入端P11的信号重组电路1011、判别电路1012(较佳者，该判别电路1012可为一比较器)、启动信号输入端P12与具该第一信息信号输入端P13的另一信号重组电路111以及该启动信号S15，在此即不再予以赘述。
图3中所示的测试模式的检测装置201与图1中所示的测试模式的检测装置101两者间的差异在于，所述测试模式的检测装置201还可包含一设于该集成电路外部的信号产生装置2013，用于响应于该启动信号S25处于该致能状态，产生输出第一信息信号S23与一第二信息信号S21，以供另一信号重组电路211与信号重组电路2011可分别相应地产生输出具有相同的第一与第二重组信号S24、S22，如此一来，在该判别电路2012相应于该启动信号S25处于该致能状态而产生一致能动作，且判别比较该第一与第二重组信号S24、S22为相同时，即可产生一测试模式信号S26输出，并驱动设于该集成电路20内部的该测试电路202进入该测试模式中，否则，如信号不同或该启动信号S25回到该禁能状态时，该集成电路20将维持处于一正常工作模式中，以达成该集成电路20原先的正常电路功能。
其中，关于该信号产生装置2013的内部电路较佳实施例，则可参阅图4所示，图4中，该信号产生装置2013可包含一信号产生器20131、一状态产生电路20132以及一信号编码电路20133；其中，该信号产生器20131，用以产生一原始信号S27输出；该状态产生器20132用以将该原始信号S27转为一状态信号S28输出；而该信号编码器20133则用以将该状态信号S28予以编码，以产生该第一信息信号S23或该第二信息信号S21输出；当然，该第一信息信号S23与该第二信息信号S21可为相同的第二信息信号。
关于本发明测试模式的检测装置的又一较佳实施例，请参阅图5，为本发明第三较佳实施例的测试模式的检测装置方块示意图，图5中，包含一测试装置31、一测试线路302、具有一第二信息信号输入端P31的信号重组电路3011、一判别电路3012(较佳者，该判别电路3012可为一比较器)、一启动信号输入端P34、具有第一信息信号输入端P33的信号重组电路311与一信号产生装置3013以及一启动信号S35，其功能皆可等同于图3中所示的该测试装置21、该测试线路202、具有该第二信息信号输入端P21的信号重组电路2011、该判别电路2012(较佳者，该判别电路2012可为一比较器)、该启动信号输入端P22、具有该第一信息信号输入端P23的另一信号重组电路211与该信号产生装置2013以及该启动信号S25者，在此即不再予以赘述。
图5中所示的测试模式的检测装置301与图3中所示的该测试模式的检测装置201两者间的差异在于，图5中所述的测试模式的检测装置301是将图3中设于该集成电路外部的信号产生装置2013改成设置于该集成电路30内部中的该信号产生装置3013，并且，通过增加一多路转换装置3014(较佳者，可为一多路转换器)，以使由该信号产生装置3013所产生的一第二信息信号S31可与该集成电路30的一正常工作信号S34共同使用集成电路输出接脚端P32，如此一来，当可更加节省该集成电路30的接脚数目。
进一步说，该多路转换装置3014可为一二对一的多路转换器，该多路转换器3014的选择信号端S则用以响应于自该信号产生电路3013处所输入的一多路转换致能选择信号S33，以将该第二信息信号S31或该正常工作信号S34输出至该输出接脚端P32，以对应该集成电路30所处的工作模式为该测试模式或该正常工作模式；当然，如果在该输出接脚端P32处的输出为该第二信息信号S31，该第二信息信号S31应提供该另一信号重组电路3113以产生一第一重组信号S35并且输入到该判别电路3012中，同时，该信号重组电路3011即响应于该第二信息信号S31而产生一第二重组信号S32，因此，该判别电路3012响应于该启动信号S36处于该致能状态而产生一致能动作，且判别比较该第一与第二重组信号S35、S32为相同时，即可产生一测试模式信号S37输出，并驱动设于该集成电路30内部的测试线路302进入测试模式，否则，如信号不同或该启动信号S36回到禁能状态时，该信号产生电路3013将停止输出或改变该多路转换致能选择信号S33的状态，以使该多路转换器3014切换回可在该输出接脚端P32处输出该正常工作信号S34的模式，亦即，该集成电路30将维持处于一正常工作模式中，以达成该集成电路30原先的正常电路功能。
另一优选方案是，该正常工作信号S34可为该集成电路30中系统振荡器的系统振荡输出信号，而该输出接脚端P32则可为该系统振荡器的输出接脚端。
当然，关于本发明测试模式的检测方法的流程示意图，则可参阅第6和7，图6和7分别为本发明的一第一与第二较佳实施例测试模式的检测方法流程示意图；其中，关于图6与图7的差异点，可藉由图1与图5(或图3与图5)两者所示电路的工作原理而得一清楚的了解，在此即不再予以赘述。
综上所述，利用本发明，可在不增加过多成本的条件下，大幅且有效地改善已知方法浪费集成电路接脚数、低保密性与低可靠度的缺陷，所以，本发明确为一极具产业价值的作。
Claims (10)
1．一种测试模式的检测装置，可应用于一集成电路，且该装置可用以配合产生一第一重组信号的一测试装置，并接收一第二信息信号，该测试模式的检测装置可包含：
一信号重组电路，其具有一第二信息信号输入端，该信号重组电路用以输入一第二信息信号并将该第二信息信号予以重组，以产生一第二重组信号输出；以及
一判别电路，其用以输入该第一与第二重组信号，以判别是否使该集成电路进入该测试模式。
2．根据权利要求1的装置，其中该集成电路还可包含一启动信号输入端，所述信号重组电路与所述判别电路都电连接于所述启动信号输入端，且该启动信号输入端用以供输入一启动信号之用；其中该启动信号输入端可为一复位(reset)信号输入端，而该启动信号则可为一复位信号；另外，所述信号重组电路与所述判别电路都可响应于该启动信号处于一致能(enable)状态而产生一致能动作，且当该启动信号处于一禁能(disable)状态时，停止致能所述信号重组电路与所述判别电路的动作，其中该致能状态可为一高电位状态或一低电位状态。
3．根据权利要求1的装置，其中该测试装置可为一集成电路测试设备，其用以量测该集成电路的内部特性与品质，可包含另一信号重组电路，其具有一第一信息信号输入端，该另一信号重组电路可自该第一信息信号输入端处输入一第一信息信号，且予以重组产生该第一重组信号输出；而该另一信号重组电路还可包含另一延迟编码电路，其用以将该第一信息信号中的全部或部分信号予以分割、重组，以获得该第一重组信号；且该另一信号重组电路可包含：
一第一触发器，其用以输入该第一信息信号，并将该第一信息信号作为其时钟脉冲信号之用；
一第二触发器，电连接该第一触发器，该第二触发器用以将该第一触发器的输出信号作为其时钟脉冲信号之用；以及
一第三触发器，电连接于该第二触发器，该第三触发器用以将该第二触发器的输出信号作为其时钟脉冲信号之用；其中该第一、第二与第三触发器可为一T型触发器，且该第一、第二与第三触发器的输出信号用以作为该第一重组信号之用。
4．根据权利要求1的装置，其中该第一重组信号可为一串列形式的重组信号，或一并列形式的重组信号；而其中该信号重组电路还可包含一延迟编码电路，其用以将该第二信息信号中的全部或部分信号予以分割、重组，以获得该第二重组信号；且其中该信号重组电路可包含：
一第四触发器，其用以输入该第二信息信号，并将该第二信息信号作为其时钟脉冲信号之用；
一第五触发器，电连接于该第四触发器，该第五触发器用以将该第四触发器的输出信号作为其时钟脉冲信号之用；以及
一第六触发器，电连接于该第五触发器，该第六触发器用以将该第五触发器的输出信号作为其时钟脉冲信号之用，且该第四、第五与第六触发器的输出信号用以作为该第二重组信号之用；其中该第四、第五与第六触发器可为一T型触发器。
5．根据权利要求1的装置，其中该第二重组信号可为一串列形式的重组信号，或一并列形式的重组信号，而所述判别电路可为一比较器，该比较器比较该第一与第二重组信号为相同时，即可产生一测试模式信号，以驱动设于该集成电路内部的一测试线路而进入该测试模式中，否则该集成电路仍将维持一正常工作模式中；且该测试模式的检测装置可设于该集成电路的内部。
6．根据权利要求3的装置，其中该测试模式的检测装置还可包含一信号产生电路，其用以产生该第一信息信号与该第二信息信号，以供另一信号重组电路与该信号重组电路分别产生该第一与第二重组信号，该信号产生电路可包含：
一信号产生器，其用以产生一原始信号输出；
一状态产生器，电连接于所述信号产生器，该状态产生器用以将该原始信号转为一状态信号输出；以及
一信号编码器，电连接于所述状态产生器，该信号编码器用以将该状态信号予以编码，以产生该第一信息信号或该第二信息信号输出；而该第一信息信号或该第二信息信号可为一串列形式的第二信息信号或一并列形式的第二信息信号；且该信号产生电路可电连接于该启动信号输入端，以响应于该启动信号处于该致能状态时产生一致能动作，且于该启动信号处于该禁能状态时停止致能该信号产生电路的动作；该第一信息信号与该第二信息信号可为相同的第二信息信号；该信号产生电路可设于该集成电路内部中，而该测试模式的检测装置还可包含一多路转换装置，其用以使该第二信息信号与该集成电路的正常工作信号可共用该集成电路的一输出接脚端，该多路转换装置可为一二对一的多路转换器，该多路转换器的选择信号端用以响应于自该信号产生电路处所输入的一多路转换致能选择信号，以将该第二信息信号或该正常工作信号输出至该输出接脚端，以对应该集成电路所处的工作模式为该测试模式或该正常工作模式，而该正常工作信号可为该集成电路中系统振荡器的系统振荡输出信号，而该输出接脚端则可为该系统振荡器的输出接脚端。
7．一种测试模式的检测方法，其可应用于一集成电路中，且该方法可用以配合产生一第一重组信号的一测试装置，以及接收一第二信息信号，该方法可包含下列步骤：
a)输入该第二信息信号，使该集成电路响应于该第二信息信号而予以分割、重组，并产生一第二重组信号；
b)输入该第一重组信号至该集成电路中；以及
c)将该第一与第二重组信号执行一判别动作，以判别是否使该集成电路进入该测试模式。
8．根据权利要求7的方法，其中于该步骤(a)的前还可包含步骤(d)提供一启动信号给该集成电路，其中在该启动信号处于一致能(enable)状态时，方执行该步骤(a)至该步骤(c)，且于该启动信号处于一禁能(disble)状态时，停止执行该步骤(a)至该步骤(c)；且该致能状态可为一高电位状态或一低电位状态，而该启动信号可为一复位(reset)信号。
9．根据权利要求7的方法，其中该测试装置可为一集成电路测试设备，其用以量测该集成电路的内部特性与品质；而该测试装置可输入第一信息信号，且予以分割、重组，以产生该第一重组信号输出，其中该第一重组信号可为一串列形式的重组信号或一并列形式的重组信号，且该步骤(a)中的该第二重组信号可为一串列形式的重组信号或一并列形式的重组信号；又该步骤(c)中判别比较该第一与第二重组信号为相同时，即可产生一测试模式信号，以驱动设于该集成电路内部的一测试线路而进入该测试模式中，否则该集成电路仍将维持处于一正常工作模式中；另外，该第一信息信号或该第二信息信号可为一串列形式的第二信息信号或一并列形式的第二信息信号。
10．根据权利要求9的方法，其中该第一信息信号与该第二信息信号可为相同的第二信息信号；且该步骤(a)的后还可包括步骤：
e)响应于该启动信号与一多路转换致能选择信号，使该集成电路自其输出一正常工作信号之处，转为输出该第二信息信号；以及
f)输入该第二信息信号至该测试装置中，以产生该第一重组信号。
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