CN107170147B - 光电传感器的修正方法和装置、电子设备和存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种光电传感器的修正方法和装置、电子设备和存储介质。所述方法包括：获取光电传感器在当前投光强度下输出的工作光电流；根据光电流修正系数将工作光电流修正到当前投光强度对应的无介质电流理论值；根据无介质电流理论值计算光电传感器的工作采样电压。本发明实施例的技术方案解决了现有技术中当光电传感器产生磨损、表面有灰尘或灵敏度下降等情况时，采样得到的光电传感器的输出电压值或输出电流值不准确的技术缺陷，实现了将光电传感器输出的光电流值修正到，与该光电传感器的最佳工作状态相对应的输出光电流值，从而提高了ATM机对纸币进行计数和残留检测的准确性。

Description

光电传感器的修正方法和装置、电子设备和存储介质

技术领域

本发明实施例涉及信息处理技术领域，尤其涉及一种光电传感器的修正方法和装置、电子设备和存储介质。

背景技术

我国自从20世纪80年代开始引进ATM机(Automatic Teller Machine，自动柜员机)以来，经过多年的培育，我国ATM市场得到了长足发展，已经取代日本成为美国之后全球第二大ATM市场。

ATM机中一般使用光电传感器对纸币进行计数和残留检测，通常情况下当所需光电传感器的数量较多时，为了节省电子硬件的成本及降低硬件电路的设计复杂度，一般会将多个光电传感器同时串联在一个恒流源上，因此，所有光电传感器的输入电流值都是相同的。

由于不同的光电传感器在长时间使用后，磨损程度、脏净程度以及灵敏度等会有所差异，因此，当对该不同的光电传感器输入相同的电流时，每个光电传感器的采样值不尽相同，有时甚至会出现采样值超范围的情况，从而导致纸币计数错误或残留检测不准确。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种光电传感器的修正方法和装置、电子设备和存储介质，以解决现有技术中当光电传感器产生磨损、表面有灰尘或灵敏度下降等情况时，采样得到的光电传感器的输出电压值或输出电流值不准确的技术缺陷。

在第一方面，本发明实施例提供了一种光电传感器的修正方法，包括：

获取光电传感器在当前投光强度下输出的工作光电流；

根据光电流修正系数将所述工作光电流修正到当前投光强度对应的无介质电流理论值；

根据所述无介质电流理论值计算所述光电传感器的工作采样电压。

在上述方法中，优选的是，在所述获取光电传感器在当前投光强度下输出的工作光电流之前，包括：

依据设定时间周期或当所述光电传感器的投光强度改变后，重新计算所述光电流修正系数并存储。

在上述方法中，优选的是，还包括：

判断所述光电流修正系数的数值是否满足预设修正系数范围；

若所述光电流修正系数的数值不满足所述预设修正系数范围，则依据所述光电流修正系数与所述预设修正系数范围的关系，对应改变所述光电传感器的投光强度，重新计算所述光电流修正系数并存储，直至所述光电流修正系数满足所述预设修正系数范围。

在上述方法中，优选的是，所述依据所述光电流修正系数与所述预设修正系数范围的关系，对应改变所述光电传感器的投光强度，包括：

若所述光电流修正系数的数值小于所述预设修正范围的最小值，则降低所述光电传感器的投光强度；

若所述光电流修正系数的数值大于所述预设修正范围的最大值，则增加所述光电传感器的投光强度。

在上述方法中，优选的是，所述根据光电流修正系数将工作光电流修正到当前投光强度对应的无介质电流理论值包括：

根据公式I_B＝K×I_W计算所述无介质电流理论值，其中，I_B为所述无介质电流理论值，K为所述光电流修正系数，I_W为所述工作光电流。

在上述方法中，优选的是，所述根据所述无介质电流理论值计算所述光电传感器的工作采样电压，包括

根据公式V_t＝V_cc-K×I_W×R计算所述工作采样电压，其中，V_t为所述工作采样电压，V_cc为所述光电传感器的工作电压，R为所述光电传感器的输出上拉电阻。

在上述方法中，优选的是，所述光电流修正系数的计算方法包括：

根据公式K＝(V_cc-V)/(V_cc-V_c)计算所述光电流修正系数，其中，V_c为所述光电传感器在当前投光强度下或在投光强度改变后的无介质采样电压值，V为在当前投光强度下所述光电传感器的最佳无介质电压理论值，V_cc为所述光电传感器的工作电压。

在第二方面，本发明实施例提供了一种光电传感器的修正装置，包括：

光电流获取模块，用于获取光电传感器在当前投光强度下输出的工作光电流；

光电流修正模块，用于根据光电流修正系数将所述工作光电流修正到当前投光强度对应的无介质电流理论值；

采样电压计算模块，用于根据所述无介质电流理论值计算所述光电传感器的工作采样电压。

在第三方面，本发明实施例提供了一种电子设备，所述电子设备包括：

一个或多个处理器；

存储器，用于存储一个或多个程序，

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现本发明实施例所述的光电传感器的修正方法。

在第四方面，本发明实施例提供了一种包含计算机可执行指令的存储介质，所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行本发明实施例所述的光电传感器的修正方法。

本发明实施例提供了一种光电传感器的修正方法、电子设备和存储介质，通过首先获取光电传感器在当前投光强度下输出的工作光电流，然后根据光电流修正系数将工作光电流修正到当前投光强度对应的无介质电流理论值，最后根据无介质电流理论值计算光电传感器的工作采样电压，解决了现有技术中当光电传感器产生磨损、表面有灰尘或灵敏度下降等情况时，采样得到的光电传感器的输出电压值或输出电流值不准确的技术缺陷，实现了将光电传感器输出的光电流值修正到，与该光电传感器的最佳工作状态相对应的输出光电流值，从而提高了ATM机对纸币进行计数和残留检测的准确性。

附图说明

图1是本发明实施例一提供的一种光电传感器的修正方法的流程图；

图2是本发明实施例二提供的一种光电传感器的修正方法的流程图；

图3是本发明实施例三提供的一种光电传感器的修正方法的流程图；

图4是本发明实施例四提供的一种光电传感器的修正装置的结构图；

图5是本发明实施例五中的一种电子设备的结构图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合附图对本发明具体实施例作进一步的详细描述。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。

另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部内容。在更加详细地讨论示例性实施例之前应当提到的是，一些示例性实施例被描述成作为流程图描绘的处理或方法。虽然流程图将各项操作(或步骤)描述成顺序的处理，但是其中的许多操作可以被并行地、并发地或者同时实施。此外，各项操作的顺序可以被重新安排。当其操作完成时所述处理可以被终止，但是还可以具有未包括在附图中的附加步骤。所述处理可以对应于方法、函数、规程、子例程、子程序等等。

实施例一

图1为本发明实施例一提供的一种光电传感器的修正方法的流程图，本实施例的方法可以由光电传感器的修正装置来执行，该装置可通过硬件和/或软件的方式实现，并一般可集成于ATM机等具有纸币计数和纸币残留检测等功能的设备中。本实施例的方法具体包括：

步骤110、获取光电传感器在当前投光强度下输出的工作光电流。

本领域技术人员可以理解的是，光电传感器处于工作状态时，其受光部会根据接收光的强度输出对应大小的光电流。

在本实施例中，光电传感器处于工作状态，且在工作过程中，光电传感器的投光部的投光强度不变，其中，工作过程具体是指在光电传感器的投光部和受光部之间可能会有待测物体通过，光电传感器典型的可以是对射型光电传感器等。

步骤120、根据光电流修正系数将工作光电流修正到当前投光强度对应的无介质电流理论值。

一般来说，光电传感器在出厂时处于最佳状态，也就是说，此时光电传感器的输出光电流值可以准确地反应受光部的受光强度，但是，经过长时间的使用，光电传感器会由于器件的老化、磨损以及受光部覆盖的灰尘等因素，导致输出的光电流无法准确反应受光部的受光强度。

因此，在本实施例中，使用了光电流修正系数对工作光电流进行修正。修正的方式具体可以是将光电流修正系数与工作光电流相乘，乘积作为当前投光强度对应的无介质电流理论值等。其中，当前投光强度对应的无介质电流理论值具体是指当光电传感器处于出厂时的最佳状态时，在当前投光强度下且投光部和受光部之间无介质遮挡时的输出光电流值。

另外，为了实现修正后的工作光电流修正与当前投光强度对应的无介质电流理论值的数值的高度一致性，在本实施例中，光电流修正系数不是一个固定不变的数值，当投光部的投光强度改变时，会重新计算光电流修正系数，并且，也会根据时间周期或实际的使用情况定期重新计算光电流修正系数。

步骤130、根据无介质电流理论值计算光电传感器的工作采样电压。

一般来说，可以根据光电传感器输出的光电流值，也可以使用与光电传感器输出的光电流值对应的采样电压值作为检测结果，在本实施例中，选取了光电传感器输出的光电流值对应的采样电压值作为检测结果。

在本实施例中，计算工作采样电压值的方法具体可以是用光电传感器的工作电压值减去当前投光强度对应的无介质电流理论值与上拉电阻的乘积的差值作为工作采样电压值等。

在一个具体的例子中，ATM机一般来说会将多个光电传感器串联在同一个恒流源的同一个电流输出通道上，同时使用该多个光电传感器实现走钞过程中对纸币的张数进行计数以及纸币残留检测，但是，由于长时间的使用会导致该多个光电传感器的器件磨损程度、老化程度以及受光部尘土覆盖程度不尽相同，因此，该多个光电传感器在工作中输出光电流的准确度不尽相同，当有一个或多个光电传感器的输出光电流数值准确度过低以至影响对纸币的张数进行计数以及纸币残留检测的准确性时，使用本实施例提供的光电传感器的修正方法可以在不更换光电传感器的情况下，实现对纸币的张数进行准确计数以及对纸币进行准确的残留检测。

本发明实施例一提供了一种光电传感器的修正方法，通过首先获取光电传感器在当前投光强度下输出的工作光电流，然后根据光电流修正系数将工作光电流修正到当前投光强度对应的无介质电流理论值，最后根据无介质电流理论值计算光电传感器的工作采样电压，解决了现有技术中当光电传感器产生磨损、表面有灰尘或灵敏度下降等情况时，采样得到的光电传感器的输出电压值或输出电流值不准确的技术缺陷，实现了将光电传感器输出的光电流值修正到，与该光电传感器的最佳工作状态相对应的输出光电流值，从而提高了ATM机对纸币进行计数和残留检测的准确性。

实施例二

图2是本发明实施例二提供的一种光电传感器的修正方法的流程图。本实施例以上述实施例为基础进行优化，在本实施例中，在获取光电传感器在当前投光强度下输出的工作光电流之前，优化为：依据设定时间周期或当光电传感器的投光强度改变后，重新计算光电流修正系数并存储。

进一步地，优化包括：判断光电流修正系数的数值是否满足预设修正系数范围；若光电流修正系数的数值不满足预设修正系数范围，则依据光电流修正系数与预设修正系数范围的关系，对应改变光电传感器的投光强度，重新计算光电流修正系数并存储，直至光电流修正系数满足预设修正系数范围。

进一步地，将依据光电流修正系数与预设修正系数范围的关系，对应改变光电传感器的投光强度，优化为：若光电流修正系数的数值小于预设修正范围的最小值，则降低光电传感器的投光强度；若光电流修正系数的数值大于预设修正范围的最大值，则增加光电传感器的投光强度。

相应的，本实施例的方法具体包括：

步骤210、依据设定时间周期或当光电传感器的投光强度改变后，重新计算光电流修正系数并存储。

一般来说，光电传感器在使用过程中，器件的老化程度、磨损程度以及受光部覆盖灰尘的程度会有不同程度的改变，因此，在本实施例中会依据设定时间周期重新计算光电流修正系数，其中，设定时间周期典型的可以是一个月等。

进一步地，工作光电流与当前投光强度对应的无介质电流理论值之间的数值关系，对应于不同的投光强度不一定是固定不变的，因此，在本实施例中，当光电传感器的投光强度改变后，会重新计算光电流修正系数。

步骤220、判断光电流修正系数的数值是否满足预设修正系数范围，若不满足，则执行步骤230，若满足，则执行步骤240。

在本实施例中，会根据预设修正系数范围判断光电流修正系数的正确性。典型的预设修正系数范围可以是[1，2.3]等。

步骤230、若光电流修正系数的数值小于预设修正范围的最小值，则降低光电传感器的投光强度，若光电流修正系数的数值大于预设修正范围的最大值，则增加光电传感器的投光强度，返回重新计算光电流修正系数并存储，直至光电流修正系数满足预设修正系数范围。

在本实施例中，当光电流修正系数的数值不满足预设修正范围时，会依据光电流修正系数的数值与预设修正范围之间的关系调整投光强度，调整之后重新计算光电流修正系数，若重新计算的光电流修正系数还是不满足预设修正范围，则需要继续依据实际情况调整投光强度并再次重新计算光电流修正系数，直至最后计算得到的光电流修正系数满足预设修正范围。

步骤240、获取光电传感器在当前投光强度下输出的工作光电流。

步骤250、根据光电流修正系数将工作光电流修正到当前投光强度对应的无介质电流理论值。

步骤260、根据无介质电流理论值计算光电传感器的工作采样电压。

本发明实施例二提了一种光电传感器的修正方法，优化增加了依据设定时间周期或当光电传感器的投光强度改变后，重新计算光电流修正系数并存储，提高了光电流修正系数的准确度，同时，优化增加了对光电流修正系数正确性的判断，增加了工作光电流修正结果的正确性。该方法可以准确、适时地将光电传感器输出的光电流值修正到，与该光电传感器的最佳工作状态相对应的输出光电流值，从而提高了ATM机对纸币进行计数和残留检测的准确性。

实施例三

图3是本发明实施例三提供的一种光电传感器的修正方法的流程图。本实施例以上述实施例为基础进行优化，在本实施例中，将根据光电流修正系数将工作光电流修正到当前投光强度对应的无介质电流理论值优化为：根据公式I_B＝K×I_W计算无介质电流理论值，其中，I_B为无介质电流理论值，K为光电流修正系数，I_W为工作光电流。

进一步地，将根据无介质电流理论值计算光电传感器的工作采样电压，优化为：根据公式V_t＝V_cc-K×I_W×R计算工作采样电压，其中，V_t为工作采样电压，V_cc为光电传感器的工作电压，R为光电传感器的输出上拉电阻。

进一步地，将光电流修正系数的计算方法优化为：根据公式K＝(V_cc-V)/(V_cc-V_c)计算光电流修正系数，其中，V_c为光电传感器在当前投光强度下或在投光强度改变后的无介质采样电压值，V为在当前投光强度下光电传感器的最佳无介质电压理论值，V_cc为所述光电传感器的工作电压。

相应的，本实施例的方法具体包括：

步骤310、依据设定时间周期或当光电传感器的投光强度改变后，根据公式K＝(V_cc-V)/(V_cc-V_c)重新计算光电流修正系数并存储。

在本实施例中，计算光电流修正系数的方法为根据公式K＝(V_cc-V)/(V_cc-V_c)计算光电流修正系数，其中，V_c为光电传感器在当前投光强度下或在投光强度改变后的无介质采样电压值，V为在当前投光强度下光电传感器的最佳无介质电压理论值，V_cc为所述光电传感器的工作电压。

其中，V具体是指当光电传感器处于出厂时的最佳状态时，在当前投光强度下且投光部和受光部之间无介质存在时的输出光电流值对应的采样电压值。V_c具体是指当前状态下的光电传感器，在当前投光强度下或在投光强度改变后，且投光部和受光部之间无介质存在时的输出光电流对应的采样电压值。

步骤320、获取光电传感器在当前投光强度下输出的工作光电流。

步骤330、根据公式I_B＝K×I_W算无介质电流理论值。

在本实施例中，根据公式I_B＝K×I_W计算无介质电流理论值，其中，I_B为无介质电流理论值，K为光电流修正系数，I_W为工作光电流。

步骤340、根据公式V_t＝V_cc-K×I_W×R计算工作采样电压。

在本实施例中，根据公式V_t＝V_cc-K×I_W×R计算工作采样电压，其中，V_t为工作采样电压，V_cc为光电传感器的工作电压，R为光电传感器的输出上拉电阻。

本发明实施例三提供了一种光电传感器的修正方法，具体化了无介质电流理论值、工作采样电压以及光电流修正系数的计算公式，该方法可以准确、适时地将光电传感器输出的光电流值修正到，与该光电传感器的最佳工作状态相对应的输出光电流值，从而提高了ATM机对纸币进行计数和残留检测的准确性。

实施例四

图4是本发明实施例四提供的一种光电传感器的修正装置的结构图。如图4所示，所述装置包括：光电流获取模块401、光电流修正模块402和采样电压计算模块403。其中：

光电流获取模块401，用于获取光电传感器在当前投光强度下输出的工作光电流；

光电流修正模块402，用于根据光电流修正系数将工作光电流修正到当前投光强度对应的无介质电流理论值；

采样电压计算模块403，用于根据无介质电流理论值计算光电传感器的工作采样电压。

本发明实施例提供了一种光电传感器的修正装置，通过首先获取光电传感器在当前投光强度下输出的工作光电流，然后根据光电流修正系数将工作光电流修正到当前投光强度对应的无介质电流理论值，最后根据无介质电流理论值计算光电传感器的工作采样电压，解决了现有技术中当光电传感器产生磨损、表面有灰尘或灵敏度下降等情况时，采样得到的光电传感器的输出电压值或输出电流值不准确的技术缺陷，实现了将光电传感器输出的光电流值修正到，与该光电传感器的最佳工作状态相对应的输出光电流值，从而提高了ATM机对纸币进行计数和残留检测的准确性。

在上述各实施例的基础上，可以包括：

修正系数计算模块，用于在获取光电传感器在当前投光强度下输出的工作光电流之前，依据设定时间周期或当光电传感器的投光强度改变后，重新计算光电流修正系数并存储。

在上述各实施例的基础上，还可以包括：

修正系数判断模块，用于判断光电流修正系数的数值是否满足预设修正系数范围；

投光强度修正模块，用于若光电流修正系数的数值不满足预设修正系数范围，则依据光电流修正系数与预设修正系数范围的关系，对应改变光电传感器的投光强度，重新计算光电流修正系数并存储，直至光电流修正系数满足预设修正系数范围。

在上述各实施例的基础上，投光强度修正模块可以包括：

投光强度降低单元，用于若光电流修正系数的数值小于预设修正范围的最小值，则降低光电传感器的投光强度；

投光强度增加单元，用于若光电流修正系数的数值大于预设修正范围的最大值，则增加光电传感器的投光强度。

在上述各实施例的基础上，光电流修正模块可以包括：

光电流计算单元，用于根据公式I_B＝K×I_W计算无介质电流理论值，其中，I_B为无介质电流理论值，K为光电流修正系数，I_W为工作光电流。

在上述各实施例的基础上，采样电压计算模块可以包括：

根据公式V_t＝V_cc-K×I_W×R计算工作采样电压，其中，V_t为工作采样电压，V_cc为光电传感器的工作电压，R为光电传感器的输出上拉电阻。

在上述各实施例的基础上，修正系数计算模块可以包括：

第一修正系数计算单元，用于根据公式K＝(V_cc-V)/(V_cc-V_c)计算光电流修正系数，其中，V_c为光电传感器在当前投光强度下或在投光强度改变后的无介质采样电压值，V为在当前投光强度下光电传感器的最佳无介质采样电压值，V_cc为所述光电传感器的工作电压。

本发明实施例所提供的光电传感器的修正装置可用于执行本发明任意实施例提供的光电传感器的修正方法，具备相应的功能模块，实现相同的有益效果。

实施例五

图5为本发明实施例五提供的一种设备的结构示意图，如图5所示，该设备包括处理器501、存储器502、输出装置503；设备中处理器501的数量可以是一个或多个，图5中以一个处理器501为例；设备中的处理器501、存储器502、输出装置503可以通过总线或其他方式连接，图5中以通过总线连接为例。

存储器502作为一种计算机可读存储介质，可用于存储软件程序、计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例中的光电传感器的修正方法对应的模块(例如，光电传感器的修正装置中的光电流获取模块401、光电流修正模块402和采样电压计算模块403。)处理器501通过运行存储在存储器502中的软件程序、指令以及模块，从而执行设备的各种功能应用以及数据处理，即实现上述的光电传感器的修正方法。

存储器502可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序；存储数据区可存储根据终端的使用所创建的数据等。此外，存储器502可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实例中，存储器502可进一步包括相对于处理器501远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至设备。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

输出装置503可包括显示屏等显示设备。

实施例六

本发明实施例六还提供一种包含计算机可执行指令的存储介质，所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行一种光电传感器的修正方法，该方法包括：

获取光电传感器在当前投光强度下输出的工作光电流；

根据光电流修正系数将所述工作光电流修正到当前投光强度对应的无介质电流理论值；

根据所述无介质电流理论值计算所述光电传感器的工作采样电压。

当然，本发明实施例所提供的一种包含计算机可执行指令的存储介质，其计算机可执行指令不限于如上所述的方法操作，还可以执行本发明任意实施例所提供的光电传感器的修正方法中的相关操作。

通过以上关于实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，本发明可借助软件及必需的通用硬件来实现，当然也可以通过硬件实现，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如计算机的软盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、随机存取存储器(RandomAccess Memory，RAM)、闪存(FLASH)、硬盘或光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

值得注意的是，上述光电传感器的修正装置的实施例中，所包括的各个单元和模块只是按照功能逻辑进行划分的，但并不局限于上述的划分，只要能够实现相应的功能即可；另外，各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明的保护范围。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (8)

1.一种光电传感器的修正方法，其特征在于，包括：

依据设定时间周期或当光电传感器的投光强度改变后，重新计算光电流修正系数并存储；

判断所述光电流修正系数的数值是否满足预设修正系数范围；

若所述光电流修正系数的数值不满足所述预设修正系数范围，则依据所述光电流修正系数与所述预设修正系数范围的关系，对应改变所述光电传感器的投光强度，重新计算所述光电流修正系数并存储，直至所述光电流修正系数满足所述预设修正系数范围；

获取所述光电传感器在当前投光强度下输出的工作光电流；

根据所述光电流修正系数将所述工作光电流修正到当前投光强度对应的无介质电流理论值；

根据所述无介质电流理论值计算所述光电传感器的工作采样电压。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述依据所述光电流修正系数与所述预设修正系数范围的关系，对应改变所述光电传感器的投光强度，包括：

若所述光电流修正系数的数值小于所述预设修正范围的最小值，则降低所述光电传感器的投光强度；

若所述光电流修正系数的数值大于所述预设修正范围的最大值，则增加所述光电传感器的投光强度。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据光电流修正系数将所述工作光电流修正到当前投光强度对应的无介质电流理论值包括：

根据公式I_B＝K×I_W计算所述无介质电流理论值，其中，I_B为所述无介质电流理论值，K为所述光电流修正系数，I_W为所述工作光电流。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述无介质电流理论值计算所述光电传感器的工作采样电压，包括：

根据公式V_t＝V_cc-K×I_W×R计算所述工作采样电压，其中，V_t为所述工作采样电压，V_cc为所述光电传感器的工作电压，R为所述光电传感器的输出上拉电阻。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光电流修正系数的计算方法包括：

根据公式K＝(V_cc-V)/(V_cc-V_c)计算所述光电流修正系数，其中，V_c为所述光电传感器在当前投光强度下或在投光强度改变后的无介质采样电压值，V为在当前投光强度下所述光电传感器的最佳无介质电压理论值，V_cc为所述光电传感器的工作电压。

6.一种光电传感器的修正装置，其特征在于，包括：

光电流修正系数计算模块，用于依据设定时间周期或当光电传感器的投光强度改变后，重新计算光电流修正系数并存储；

判断所述光电流修正系数的数值是否满足预设修正系数范围；

若所述光电流修正系数的数值不满足所述预设修正系数范围，则依据所述光电流修正系数与所述预设修正系数范围的关系，对应改变所述光电传感器的投光强度，重新计算所述光电流修正系数并存储，直至所述光电流修正系数满足所述预设修正系数范围；

光电流获取模块，用于获取所述光电传感器在当前投光强度下输出的工作光电流；

光电流修正模块，用于根据所述光电流修正系数将所述工作光电流修正到当前投光强度对应的无介质电流理论值；

采样电压计算模块，用于根据所述无介质电流理论值计算所述光电传感器的工作采样电压。

7.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

一个或多个处理器；

存储器，用于存储一个或多个程序，

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-5中任一所述的光电传感器的修正方法。

8.一种包含计算机可执行指令的存储介质，所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行如权利要求1-5中任一所述的光电传感器的修正方法。