CN107144993B - 一种显示面板检测方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种显示面板检测方法及装置，其中方法包括：获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像，其中所述灰阶图像包括所述显示面板中的多个像素电极对应的像素电极图像；以及获取所述像素电极图像对应的灰阶范围；调用预设灰阶范围与像素电极类别的预设对应关系；根据所述预设对应关系和灰阶范围识别所述像素电极图像对应的像素电极类别。该检测方法利用灰阶识别出不同类型的像素电极，同时该方法适合反射光或透射光，降低了检测设备设计时对光源的要求。此外，该方法是通过软件实现，无需增加硬件成本。

Description

一种显示面板检测方法及装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板检测方法及装置。
背景技术
目前，液晶显示面板广泛地应用于手机、平板电脑、计算机显示器等电子设备中。然而现有液晶显示面板的制造技术中，完全避免显示缺陷是十分困难的，因此有必要对显示面板进行显示缺陷检测。利用透射光源照射显示面板是常见的检测方法，然而在显示面板的测试设备中，有许多设备因为结构设计导致限制无法使用透射光源，检测时只能使用反射光，检测人员无法在检测画面中直观的辨别不同类型的像素电极，比如RGB像素电极，尤其是RGB像素电极的图案形状相似的情况，检测人员更无法区别不同类型的像素电极，造成检测判断的干扰。
发明内容
本发明的实施例提供了一种显示面板检测方法及装置，旨在解决现有的显示面板检测方法无法区分不同类型的像素电极。
一方面，提供了一种显示面板检测方法，该方法包括：
获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像，其中所述灰阶图像包括所述显示面板中的多个像素电极对应的像素电极图像；
获取所述像素电极图像对应的灰阶范围；
调用预设灰阶范围与像素电极类别的预设对应关系；
根据所述预设对应关系和灰阶范围识别所述像素电极图像对应的像素电极类别；
判断相同类型的像素电极对应的像素电极图像是否存在灰阶差异；
若相同类型的像素电极对应的像素电极图像存在灰阶差异，判断所述灰阶差异是否大于预设阈值；
若所述灰阶差异大于所述预设阈值，则判定存在所述灰阶差异的像素电极图像对应的像素电极为异常像素电极。
另一方面，提供了一种显示面板检测方法，该方法包括：
获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像，其中所述灰阶图像包括所述显示面板中的多个像素电极对应的像素电极图像；
获取所述像素电极图像对应的灰阶范围；
调用预设灰阶范围与像素电极类别的预设对应关系；
根据所述预设对应关系和灰阶范围识别所述像素电极图像对应的像素电极类别。
又一方面，还提供了一种显示面板检测装置，该检测装置包括：
第一获取单元，用于获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像，其中所述灰阶图像包括所述显示面板中的多个像素电极对应的像素电极图像；
第二获取单元，用于获取所述像素电极图像对应的灰阶范围；
调用单元，用于调用预设灰阶范围与像素电极类别的预设对应关系；
识别单元，用于根据所述预设对应关系和灰阶范围识别所述像素电极图像对应的像素电极类别。
本发明实施例通过获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像，其中所述灰阶图像包括所述显示面板中的多个像素电极对应的像素电极图像；以及获取所述像素电极图像对应的灰阶范围；调用预设灰阶范围与像素电极类别的预设对应关系；根据所述预设对应关系和灰阶范围识别所述像素电极图像对应的像素电极类别。该检测方法利用灰阶识别出不同类型的像素电极，同时该方法适合反射光或透射光，降低了检测设备设计时对光源的要求。此外，该方法是通过软件实现，无需增加硬件成本。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种显示面板检测方法的示意流程图；
图2是本发明实施例提供的一种显示面板检测方法的另一示意流程图；
图3是本发明实施例提供的一种显示面板检测装置的示意性框图；
图4是本发明实施例提供的一种显示面板检测装置的另一示意性框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1，图1是本发明实施例提供的一种显示面板检测方法的示意流程图。如图1所示，该显示面板检测方法包括步骤S101～S104。
S101、获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像，其中所述灰阶图像包括所述显示面板中的多个像素电极对应的像素电极图像。
在本发明的实施例中，所述预设光源包括白光源、红光源、绿光源或蓝光源等。光源照射显示面板对应的照射方式包括正面照射和反面照射，正面照射对应的是反射光，反面照射对应的透射光。该方法针对的是正面照射利用反射成像，目的是解决在反射光中检测人员无法在检测画面图像中识别出像素电极。
显示面板例如为液晶显示面板、QLED显示面板、OLED显示面板、曲面显示面板或其他显示面板，该显示面板包括多个阵列式的像素电极。故获取该显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像，该灰阶图像包括所述显示面板中的多个像素电极被所述预设光源照射时对应的像素电极图像。
具体地，可以先获取显示面板被预设光源照射时对应的面板画面图像，然后将所述面板画面图像转换成所述灰阶图像。
S102、获取所述像素电极图像对应的灰阶范围。
在本发明的实施例中，获取所述像素电极图像对应的灰阶范围是指：获取所述像素电极对应的像素电极图像的灰阶范围。由于所述灰阶图像包括所述显示面板中的多个像素电极被所述预设光源照射时对应的像素电极图像。因此，可以解析该灰阶图像，从该灰阶图像中获取多个像素电极图像，再获取像素电极图像的灰阶范围。
其中，灰阶范围包括：白、灰白、浅灰、灰、深灰、浅黑、与黑等七个范围，此七个灰度范围是人眼可以区分的。
S103、调用预设灰阶范围与像素电极类别的预设对应关系。
在本发明的实施例中，像素电极类别包括：红像素电极、绿像素电极和蓝像素电极。所述预设灰阶范围与光源参数和像素电极类别有关，不同光源照射不同像素电极会有不同的灰阶范围；相同的光源其照射参数不同，照射相同的像素电极会有不同的灰阶范围，照射参数包括照射距离或角度等。
因此，该预设灰阶范围是指不同类型的像素电极在相同光源及在相同照射参数等条件下所对应的灰阶范围。该灰阶范围和所述像素电极具有一一对应关系，该一一对应关系即为预设对应关系。
在某些实施例中，该像素电极类别包括：红像素电极、绿像素电极、蓝像素电极和白像素电极。
S104、根据所述预设对应关系和灰阶范围识别所述像素电极图像对应的像素电极类别。
在本发明的实施例中，根据所述像素电极图像的灰阶范围和所述预设对应关系，即可识别出所述像素电极图像对应的像素电极类别，具体地，该像素电极类别是红像素电极、绿像素电极或蓝像素电极。
上述实施例通过获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像，其中所述灰阶图像包括所述显示面板中的多个像素电极对应的像素电极图像；以及获取所述像素电极图像对应的灰阶范围；调用预设灰阶范围与像素电极类别的预设对应关系；根据所述预设对应关系和灰阶范围识别所述像素电极图像对应的像素电极类别。该检测方法利用灰阶识别出不同类型的像素电极，同时该方法适合反射光或透射光，降低了检测设备设计时对光源的要求。此外，该方法是通过软件实现，无需增加硬件成本。
请参阅图2，图2是本发明实施例提供的一种显示面板检测方法的另一示意流程图。如图2所示，该显示面板检测方法包括步骤S201～S207。
S201、获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像，其中所述灰阶图像包括所述显示面板中的多个像素电极对应的像素电极图像。
在本发明的实施例中，所述预设光源包括白光源、红光源、绿光源或蓝光源等。
具体地，获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像为：获取显示面板被预设光源照射时反射在预定区域的对应的灰阶图像。
S202、获取所述像素电极图像对应的灰阶范围。
在本发明的实施例中，获取所述像素电极图像对应的灰阶范围是指：获取所述像素电极对应的像素电极图像的灰阶范围。其中，灰阶范围包括：白、灰白、浅灰、灰、深灰、浅黑、与黑等七个范围，此七个灰度范围是人眼可以区分的。
S203、调用预设灰阶范围与像素电极类别的预设对应关系。
在本发明的实施例中，像素电极类别包括：红像素电极、绿像素电极和蓝像素电极。所述预设灰阶范围与光源参数和像素电极类别有关，不同光源照射不同像素电极会有不同的灰阶范围；相同的光源其照射参数不同，照射相同的像素电极会有不同的灰阶范围，照射参数包括照射距离或角度等。
因此，该预设灰阶范围是指不同类型的像素电极在相同光源及在相同照射参数等条件下所对应的灰阶范围。该灰阶范围和所述像素电极具有一一对应关系，该一一对应关系即为预设对应关系。
S204、根据所述预设对应关系和灰阶范围识别所述像素电极图像对应的像素电极类别。
在本发明的实施例中，根据像素电极图像的灰阶范围以及所述预设对应关系，即该灰阶范围和所述像素电极具有一一对应关系，即可识别所述像素电极图像对应的像素电极类别。具体地，该像素电极类别是红像素电极、绿像素电极或蓝像素电极。
S205、判断相同类型的像素电极对应的像素电极图像是否存在灰阶差异。
在本发明的实施例中，相同类型的像素电极，比如都是红像素电极、绿像素电极或蓝像素电极。
具体地，计算出所有相同类型的像素电极的灰阶值，基于该灰阶值判断所述同类型的像素电极中是否有明显大于或小于该灰阶值的像素电极图像。
S206、若相同类型的像素电极对应的像素电极图像存在灰阶差异，判断所述灰阶差异是否大于预设阈值。
在本发明的实施例中，若相同类型的像素电极对应的像素电极图像存在灰阶差异，比如，所有红像素电极中有像素电极100对应的像素电极图像的灰机值明显大于或小于其他的像素电极。
进一步地，灰阶差异为像素电极100对应像素电极图像的灰机值与其他的像素电极的像素电极图像的灰阶值之差，或者作差后的绝对值。
预设阈值是一个灰阶值范围，用于根据灰阶差异判断出那些是像素电极存在异常。具体值根据实际应用确定。
S207、若所述灰阶差异大于所述预设阈值，则判定存在所述灰阶差异的像素电极图像对应的像素电极为异常像素电极。
在本发明的实施例中，所述灰阶差异大于所述预设阈值，则判定存在所述灰阶差异的像素电极图像对应的像素电极为异常像素电极。该异常像素电极即是缺陷电极。
上述实施例中的显示面板的检测方法，不仅可以利用灰阶识别出不同类型的像素电极，还可以检测出有缺陷的像素电极。此外，该方法是通过软件实现，无需增加硬件成本。
请参阅图3，图3是本发明实施例提供的一种显示面板检测装置的示意性框图。如图3所示，该检测装置300包括：第一获取单元301、第二获取单元302、调用单元303和识别单元304。
第一获取单元301，用于获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像，其中所述灰阶图像包括所述显示面板中的多个像素电极对应的像素电极图像。
其中，第一获取单元301，例如包括摄像装置，比如CCD摄像头等，该摄像装置用于显示面板被预设光源照射时对应的面板画面图像。
其中，所述预设光源包括白光源、红光源、绿光源或蓝光源等。光源照射显示面板对应的照射方式包括正面照射和反面照射，正面照射对应的是反射光，反面照射对应的透射光。具体地，可以先获取显示面板被预设光源照射时对应的面板画面图像，然后将所述面板画面图像转换成所述灰阶图像。
第二获取单元302，用于获取所述像素电极图像对应的灰阶范围。
具体地，解析该灰阶图像，从该灰阶图像中获取多个像素电极图像，再获取像素电极图像的灰阶范围。其中，灰阶范围包括：白、灰白、浅灰、灰、深灰、浅黑、与黑等七个范围，此七个灰度范围是人眼可以区分的。
调用单元303，用于调用预设灰阶范围与像素电极类别的预设对应关系。
其中，像素电极类别包括：红像素电极、绿像素电极和蓝像素电极。该预设灰阶范围是指不同类型的像素电极在相同光源及在相同照射参数等条件下所对应的灰阶范围。该灰阶范围和所述像素电极具有一一对应关系，该一一对应关系即为预设对应关系。
在某些实施例中，该像素电极类别包括：红像素电极、绿像素电极、蓝像素电极和白像素电极。
识别单元304，用于根据所述预设对应关系和灰阶范围识别所述像素电极图像对应的像素电极类别。
具体地，根据所述像素电极图像的灰阶范围和所述预设对应关系，即可识别出所述像素电极图像对应的像素电极类别，具体地，该像素电极类别是红像素电极、绿像素电极或蓝像素电极。
请参阅图4，图4是本发明实施例提供的一种显示面板检测装置的示意性框图。如图4所示，该检测装置400包括：第一获取单元401、第二获取单元402、调用单元403、识别单元404、第一判断单元405、第二判断单元406和判定单元407。
第一获取单元401，用于获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像，其中所述灰阶图像包括所述显示面板中的多个像素电极对应的像素电极图像。
具体地，第一获取单元401，例如包括摄像装置，比如CCD摄像头等，该摄像装置用于显示面板被预设光源照射时对应的面板画面图像。
其中，所述预设光源包括白光源、红光源、绿光源或蓝光源等。光源照射显示面板对应的照射方式包括正面照射和反面照射，正面照射对应的是反射光，反面照射对应的透射光。具体地，可以先获取显示面板被预设光源照射时对应的面板画面图像，然后将所述面板画面图像转换成所述灰阶图像。
第二获取单元402，用于获取所述像素电极图像对应的灰阶范围。
具体地，解析该灰阶图像，从该灰阶图像中获取多个像素电极图像，再获取像素电极图像的灰阶范围。其中，灰阶范围包括：白、灰白、浅灰、灰、深灰、浅黑、与黑等七个范围，此七个灰度范围是人眼可以区分的。
调用单元403，用于调用预设灰阶范围与像素电极类别的预设对应关系。
其中，像素电极类别包括：红像素电极、绿像素电极和蓝像素电极。该预设灰阶范围是指不同类型的像素电极在相同光源及在相同照射参数等条件下所对应的灰阶范围。该灰阶范围和所述像素电极具有一一对应关系，该一一对应关系即为预设对应关系。
在某些实施例中，该像素电极类别包括：红像素电极、绿像素电极、蓝像素电极和白像素电极。
识别单元404，用于根据所述预设对应关系和灰阶范围识别所述像素电极图像对应的像素电极类别。
具体地，根据所述像素电极图像的灰阶范围和所述预设对应关系，即可识别出所述像素电极图像对应的像素电极类别，具体地，该像素电极类别是红像素电极、绿像素电极或蓝像素电极。
第一判断单元405，用于判断相同类型的像素电极对应的像素电极图像是否存在灰阶差异。
其中，相同类型的像素电极，比如都是红像素电极、绿像素电极或蓝像素电极。
具体地，计算出所有相同类型的像素电极的灰阶值，基于该灰阶值判断所述同类型的像素电极中是否有明显大于或小于该灰阶值的像素电极图像。
第二判断单元406，用于若相同类型的像素电极对应的像素电极图像存在灰阶差异，判断所述灰阶差异是否大于预设阈值。
比如，所有红像素电极中有像素电极100对应的像素电极图像的灰机值明显大于或小于其他的像素电极。灰阶差异为像素电极100对应像素电极图像的灰机值与其他的像素电极的像素电极图像的灰阶值之差，或者作差后的绝对值。其中，预设阈值是一个灰阶值范围，用于根据灰阶差异判断出那些是像素电极存在异常。具体值根据实际应用确定。
判定单元407，用于若所述灰阶差异大于所述预设阈值，则判定存在所述灰阶差异的像素电极图像对应的像素电极为异常像素电极。
具体地，所述灰阶差异大于所述预设阈值，则判定存在所述灰阶差异的像素电极图像对应的像素电极为异常像素电极。该异常像素电极即是缺陷电极。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，上述描述装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。
本发明实施例方法中的步骤可以根据实际需要进行顺序调整、合并和删减。
本发明实施例装置中的单元可以根据实际需要进行合并、划分和删减。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (9)

1.一种显示面板检测方法，其特征在于，包括：
获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像，其中所述灰阶图像包括所述显示面板中的多个像素电极对应的像素电极图像；
获取所述像素电极图像对应的灰阶范围；
调用预设灰阶范围与像素电极类别的预设对应关系；
根据所述预设对应关系和灰阶范围识别所述像素电极图像对应的像素电极类别；
判断相同类型的像素电极对应的像素电极图像是否存在灰阶差异；
若相同类型的像素电极对应的像素电极图像存在灰阶差异，判断所述灰阶差异是否大于预设阈值；
若所述灰阶差异大于所述预设阈值，则判定存在所述灰阶差异的像素电极图像对应的像素电极为异常像素电极。
2.根据权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像，包括：
获取显示面板被预设光源照射时反射在预定区域的对应的灰阶图像。
3.根据权利要求2所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述预设光源包括白光源、红光源、绿光源或蓝光源；
所述调用预设灰阶范围与像素电极类别的预设对应关系，包括：调用所述白光源、红光源、绿光源或蓝光源的预设灰阶范围与像素电极类别的对应关系。
4.根据权利要求3所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述像素电极类别包括：红像素电极、绿像素电极和蓝像素电极。
5.一种显示面板检测装置，其特征在于，包括：
第一获取单元，用于获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像，其中所述灰阶图像包括所述显示面板中的多个像素电极对应的像素电极图像；
第二获取单元，用于获取所述像素电极图像对应的灰阶范围；
调用单元，用于调用预设灰阶范围与像素电极类别的预设对应关系；
识别单元，用于根据所述预设对应关系和灰阶范围识别所述像素电极图像对应的像素电极类别。
6.根据权利要求5所述的显示面板检测装置，其特征在于，还包括：
第一判断单元，用于判断相同类型的像素电极对应的像素电极图像是否存在灰阶差异；
第二判断单元，用于若相同类型的像素电极对应的像素电极图像存在灰阶差异，判断所述灰阶差异是否大于预设阈值；
判定单元，用于若所述灰阶差异大于所述预设阈值，则判定存在所述灰阶差异的像素电极图像对应的像素电极为异常像素电极。
7.根据权利要求6所述的显示面板检测装置，其特征在于，所述第一获取单元，具体用于：获取显示面板被预设光源照射时反射在预定区域的对应的灰阶图像。
8.根据权利要求7所述的显示面板检测装置，其特征在于，所述预设光源包括白光源、红光源、绿光源或蓝光源；
所述调用单元，具体用于：调用所述白光源、红光源、绿光源或蓝光源的预设灰阶范围与像素电极类别的对应关系。
9.根据权利要求7所述的显示面板检测装置，其特征在于，所述像素电极类别包括：红像素电极、绿像素电极和蓝像素电极。
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