CN107037120A - 触棒磁粉探伤装置及触棒磁粉探伤方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提出一种触棒磁粉探伤装置，包括手柄、连接于手柄上的两个触棒、同轴铝合金电缆，本发明实施例还提供了一种触棒12磁粉探伤方法，包括方形分区框划分、标识触点、极距调整、喷洒磁悬液、第一次磁化探伤、第二次磁化探伤步骤，本发明的触棒磁粉探伤装置及触棒磁粉探伤方法可以同时实现同一方向的两次操作四次磁化探伤操作，劳动效率是现有技术的两倍，磁化区域形成有效重叠，磁化有效区域扩大为150mm×150mm。
Description
技术领域
本发明涉及工件无损检测探伤技术领域，尤其涉及一种触棒磁粉探伤装置及触棒磁粉探伤方法。
背景技术
触棒法是常用的磁粉探伤方法，根据美国ASTM标准，两触棒的间距L一般控制在75～200mm为宜，但最短不得小于75mm。
大型铸钢件检测时要进行分区，一般的要求是150mm×150mm区域30，分区要均匀否则会影响工件的磁化导致某些缺陷漏检。
现有技术中，触棒法磁化是使用一个触棒单独地感应周向磁场进行磁化，通过两次相互垂直方向的磁化后的磁化强度范围如图5所示，由于电极附近磁化电流密度过大，易产生非相关显示，所以触头周围存在25mm范围的检测无效区域，且磁化有效宽度为1/4极距，从两个方向检测的重叠区域为磁化有效区31，面积仅为75mm×75mm。
这种方法在实际操作时，由于每个分区内只有相互垂直的两次磁化且触点附近存在一定范围的磁化无效区域，导致每个分区内的磁化有效范围较小，工作效率低，磁化有效区域没有重叠。
同时，连接探伤机和触棒的电缆线通常采用密度很大的金属铜芯线，长时间托举触棒很消耗操作人员体力，劳动强度大，磁化操作不方便。
发明内容
有必要提出一种轻便的、操作效率高的触棒磁粉探伤装置。
还有必要提出一种扩大一次检测的有效区域、提高劳动效率、无漏检的触棒磁粉探伤方法。
一种触棒磁粉探伤装置，包括手柄、连接于手柄上的两个触棒、同轴铝合金电缆，所述两个触棒设置在手柄的下方，两个触棒的一端与手柄固定连接，且两个触棒均与所述同轴铝合金电缆电性连接，两个触棒的另一端用于与工件的表面接触，以对工件进行探伤检测，所述同轴铝合金电缆的一端用于与磁粉探伤设备连接，同轴铝合金电缆的另一端与两个触棒电性连接，所述同轴铝合金电缆包括内部设置正极电流电缆和负极电流电缆，所述正极电流电缆和负极电流电缆分别连接两个触棒。
一种触棒磁粉探伤方法，包括以下步骤：
方形分区框划分：在工件表面划分200mm*200mm的方形分区框，以将工件表面划分为若干方形分区框；
标识触点：在每一个方形分区框的两个对边上分别表示第一触点A1和第二触点A2，在另外两个对边上分别表示第三触点A3和第四触点A4，所述第一触点A1、第二触点A2分别位于一个边的1/3和2/3的位置，第三触点A3、第四触点A4分别位于一个边的1/3和2/3的位置；
极距调整：准备两个触棒磁粉探伤装置，调整每一个触棒磁粉探伤装置的两个触棒之间的极距为200mm,其中，触棒磁粉探伤装置包括手柄、连接于手柄上的两个触棒、同轴铝合金电缆，所述两个触棒设置在手柄的下方，两个触棒的一端与手柄固定连接，且两个触棒均与所述同轴铝合金电缆电性连接，两个触棒的另一端用于与工件的表面接触，以对工件进行探伤检测，所述同轴铝合金电缆的一端用于与磁粉探伤设备连接，同轴铝合金电缆的另一端与两个触棒电性连接，所述同轴铝合金电缆包括内部设置正极电流电缆和负极电流电缆，所述正极电流电缆和负极电流电缆分别连接两个触棒；
喷洒磁悬液：将磁悬液均匀喷洒在若干方形分区框的表面上；
第一次磁化探伤：首先对第一个方形分区框进行磁化探伤检测，操作人员两个手分别握住两个触棒磁粉探伤装置的两个手柄，将一个触棒磁粉探伤装置的两个触棒的端部分别放置在两个第一触点A1上，将另一个触棒磁粉探伤装置的两个触棒的端部分别放置在两个第二触点A2上，启动磁粉探伤设备，完成一次磁化探伤；
第二次磁化探伤：然后，操作人员两个手分别握住上述两个触棒磁粉探伤装置的两个手柄，将一个触棒磁粉探伤装置的两个触棒的端部分别放置在两个第三触点A3上，将另一个触棒磁粉探伤装置的两个触棒的端部分别放置在两个第四触点A4上，启动磁粉探伤设备，完成二次磁化探伤；
依次对每一个方形分区框进行上述的第一次磁化及第二次磁化，以完成对整个工件表面的磁化探伤。
本发明的触棒磁粉探伤装置及触棒磁粉探伤方法可以同时实现同一方向的两次操作四次磁化探伤操作，劳动效率是现有技术的两倍，磁化区域形成有效重叠，磁化有效区域扩大为150mm×150mm。
附图说明
图1为所述触棒磁粉探伤装置的结构示意图。
图2为本发明所述的触棒磁粉探伤方法的方形分区框的划分示意图。
图3为图2中采用本发明方法检测的每个方形分区框内的有效磁化区、重叠带、无效磁化区的示意图。
图4为图2中采用本发明方法检测的一个方形分区框的示意图。
图5为现有技术中的触棒磁粉探伤方法的示意图。
图中：触棒磁粉探伤装置10、手柄11、触棒12、同轴铝合金电缆13、极间距调节刻度盘14、椭圆面15、方形分区框20、第一触点A1、第二触点A2、第一有效磁化区21、第二有效磁化区22、第三触点A3、第四触点A4、第三有效磁化区23、第四有效磁化区24、有效磁化区25、重叠带26、第五触点A5、第六触点A6、无效磁化区27、区域30、磁化有效区31。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
参见图1，本发明实施例提供了一种触棒磁粉探伤装置10，包括手柄11、连接于手柄11上的两个触棒12、同轴铝合金电缆13，两个触棒12设置在手柄11的下方，两个触棒12的一端与手柄11固定连接，且两个触棒12均与同轴铝合金电缆13电性连接，两个触棒12的另一端用于与工件的表面接触，以对工件进行探伤检测，同轴铝合金电缆13的一端用于与磁粉探伤设备连接，同轴铝合金电缆13的另一端与两个触棒12电性连接，同轴铝合金电缆13包括内部设置正极电流电缆和负极电流电缆，正极电流电缆和负极电流电缆分别连接两个触棒12。
进一步，还在两个触棒12的一端设置用于调节两个触棒12之间距离的极间距调节刻度盘14。通过调整极间距调节刻度盘14，来实现两个触棒12之间的距离在75mm至200mm之间调整。
进一步，每一个触棒12的端部为椭圆面15，以增大了触棒12与工件的接触面积，进而避免磁化过程中的打火。
参见图2至图4，本发明实施例还提供了一种触棒磁粉探伤方法，包括以下步骤：
方形分区框划分：在工件表面划分200mm*200mm的方形分区框20，以将工件表面划分为若干方形分区框20；
标识触点：在每一个方形分区框20的两个对边上分别表示第一触点A1和第二触点A2，在另外两个对边上分别表示第三触点A3和第四触点A4，第一触点A1、第二触点A2分别位于一个边的1/3和2/3的位置，第三触点A3、第四触点A4分别位于一个边的1/3和2/3的位置；
极距调整：准备两个触棒磁粉探伤装置10，调整每一个触棒磁粉探伤装置10的两个触棒12之间的极距为200mm, 其中，该触棒磁粉探伤装置10，包括手柄11、连接于手柄11上的两个触棒12、同轴铝合金电缆13，两个触棒12设置在手柄11的下方，两个触棒12的一端与手柄11固定连接，且两个触棒12均与同轴铝合金电缆13电性连接，两个触棒12的另一端用于与工件的表面接触，以对工件进行探伤检测，同轴铝合金电缆13的一端用于与磁粉探伤设备连接，同轴铝合金电缆13的另一端与两个触棒12电性连接，同轴铝合金电缆13包括内部设置正极电流电缆和负极电流电缆，正极电流电缆和负极电流电缆分别连接两个触棒12；
喷洒磁悬液：将磁悬液均匀喷洒在若干方形分区框20的表面上；
第一次磁化探伤：首先对第一个方形分区框20进行磁化探伤检测，操作人员两个手分别握住两个触棒磁粉探伤装置10的两个手柄11，将一个触棒磁粉探伤装置10的两个触棒12的端部分别放置在两个第一触点A1上，将另一个触棒12磁粉探伤装置10的两个触棒12的端部分别放置在两个第二触点A2上，启动磁粉探伤设备，完成一次磁化探伤；此步骤中，对第一触点A1、第二触点A2的检测可同时进行，即一个操作人员两个手分别握紧两个触棒磁粉探伤装置10同时操作。
一次磁化探伤后，在该方形分区框20内形成以A1-A1为中心线两侧1/4极距长度的有效磁化区，即，在A1-A1为中心线两侧各50mm的第一有效磁化区21，同理，也在A2-A2为中心线两侧各50mm的第二有效磁化区22，第一有效磁化区21和第二有效磁化区22具有30mm的第一重叠带。
第二次磁化探伤：然后，操作人员两个手分别握住上述两个触棒磁粉探伤装置10的两个手柄11，将一个触棒磁粉探伤装置10的两个触棒12的端部分别放置在两个第三触点A3上，将另一个触棒磁粉探伤装置10的两个触棒12的端部分别放置在两个第四触点A4上，启动磁粉探伤设备，完成二次磁化探伤；
二次磁化探伤后，在该方形分区框20内形成以A3-A3为中心线两侧1/4极距长度的有效磁化区，即，在A3-A3为中心线两侧各50mm的第三有效磁化区23，同理，也在A4-A4为中心线两侧各50mm的第四有效磁化区24，第三有效磁化区23和第四有效磁化区24具有30mm的第二重叠带。
经过两次磁化探伤后，在该方形分区框20内形成了150mm×150mm的有效磁化区25，对比于现有技术，不仅增大了有效磁化区，还获得了30mm的重叠带26。
依次对每一个方形分区框20进行上述的第一次磁化及第二次磁化，以完成对整个工件表面的磁化探伤。
进一步，在“标识触点”的步骤中，还将相邻的两个方形分区框20之间的连接顶点标识为第五触点A5和第六触点A6，在“第二次磁化探伤”步骤之后，还包括三次磁化探伤步骤，三次磁化探伤为：操作人员手握上述一个触棒磁粉探伤装置10的一个手柄11，将一个触棒12的端部放置在第五触点A5上，将另一个触棒12的端部放置在第六触点A6上，启动磁粉探伤设备，完成三次磁化探伤。
根据美国ASTM标准，由于电极附近磁化电流密度过大，易产生非相关显示，所以触头周围存在25mm范围的检测无效区域，这样，在A1、A2、A3、A4、A5、A6周围均存在25mm的检测无效区，所以在两个相邻的方形分区框20均完成一次磁化探伤和二次磁化探伤后，在这两个方形分区框20之间仍然存在50mm的无效磁化区27，即为漏检区，在此无效磁化区27内的工件的缺陷无法显示，所以需要在此对该此无效区进行磁化探伤。
进一步，还在两个触棒12的一端设置用于调节两个触棒12之间距离的极间距调节刻度盘14。通过调整极间距调节刻度盘14，来实现两个触棒12之间的距离在75mm至200mm之间调整。
进一步，每一个触棒12的端部为椭圆面15，以增大了触棒12与工件的接触面积，进而避免磁化过程中的打火。
本发明实施例方法中的步骤可以根据实际需要进行顺序调整、合并和删减。
本发明实施例装置中的模块或单元可以根据实际需要进行合并、划分和删减。
以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分流程，并依本发明权利要求所作的等同变化，仍属于发明所涵盖的范围。
Claims (7)
1.一种触棒磁粉探伤装置，其特征在于：包括手柄、连接于手柄上的两个触棒、同轴铝合金电缆，所述两个触棒设置在手柄的下方，两个触棒的一端与手柄固定连接，且两个触棒均与所述同轴铝合金电缆电性连接，两个触棒的另一端用于与工件的表面接触，以对工件进行探伤检测，所述同轴铝合金电缆的一端用于与磁粉探伤设备连接，同轴铝合金电缆的另一端与两个触棒电性连接，所述同轴铝合金电缆包括内部设置正极电流电缆和负极电流电缆，所述正极电流电缆和负极电流电缆分别连接两个触棒。
2.如权利要求1所述的触棒磁粉探伤装置，其特征在于：还在两个触棒的一端设置用于调节两个触棒之间距离的极间距调节刻度盘,通过调整极间距调节刻度盘，来实现两个触棒之间的距离在75mm至200mm之间调整。
3.如权利要求2所述的触棒磁粉探伤装置，其特征在于：所述每一个触棒的端部为椭圆面，以增大了触棒与工件的接触面积，进而避免磁化过程中的打火。
4.一种触棒磁粉探伤方法，其特征在于包括以下步骤：
方形分区框划分：在工件表面划分200mm*200mm的方形分区框，以将工件表面划分为若干方形分区框；
标识触点：在每一个方形分区框的两个对边上分别表示第一触点A1和第二触点A2，在另外两个对边上分别表示第三触点A3和第四触点A4，所述第一触点A1、第二触点A2分别位于一个边的1/3和2/3的位置，第三触点A3、第四触点A4分别位于一个边的1/3和2/3的位置；
极距调整：准备两个触棒磁粉探伤装置，调整每一个触棒磁粉探伤装置的两个触棒之间的极距为200mm，其中，触棒磁粉探伤装置包括手柄、连接于手柄上的两个触棒、同轴铝合金电缆，所述两个触棒设置在手柄的下方，两个触棒的一端与手柄固定连接，且两个触棒均与所述同轴铝合金电缆电性连接，两个触棒的另一端用于与工件的表面接触，以对工件进行探伤检测，所述同轴铝合金电缆的一端用于与磁粉探伤设备连接，同轴铝合金电缆的另一端与两个触棒电性连接，所述同轴铝合金电缆包括内部设置正极电流电缆和负极电流电缆，所述正极电流电缆和负极电流电缆分别连接两个触棒；
喷洒磁悬液：将磁悬液均匀喷洒在若干方形分区框的表面上；
第一次磁化探伤：首先对第一个方形分区框进行磁化探伤检测，操作人员两个手分别握住两个触棒磁粉探伤装置的两个手柄，将一个触棒磁粉探伤装置的两个触棒的端部分别放置在两个第一触点A1上，将另一个触棒磁粉探伤装置的两个触棒的端部分别放置在两个第二触点A2上，启动磁粉探伤设备，完成一次磁化探伤；
第二次磁化探伤：然后，操作人员两个手分别握住上述两个触棒磁粉探伤装置的两个手柄，将一个触棒磁粉探伤装置的两个触棒的端部分别放置在两个第三触点A3上，将另一个触棒磁粉探伤装置的两个触棒的端部分别放置在两个第四触点A4上，启动磁粉探伤设备，完成二次磁化探伤；
依次对每一个方形分区框进行上述的第一次磁化及第二次磁化，以完成对整个工件表面的磁化探伤。
5.如权利要求4所述的触棒磁粉探伤方法，其特征在于还包括以下步骤：在所述“标识触点”的步骤中，还将相邻的两个方形分区框之间的连接顶点标识为第五触点A5和第六触点A6，在所述“第二次磁化探伤”步骤之后，还包括三次磁化探伤步骤，所述三次磁化探伤为：操作人员手握上述一个触棒磁粉探伤装置的一个手柄，将一个触棒的端部放置在第五触点A5上，将另一个触棒的端部放置在第六触点A6上，启动磁粉探伤设备，完成三次磁化探伤。
6.如权利要求4所述的触棒磁粉探伤方法，其特征在于：还在两个触棒的一端设置用于调节两个触棒之间距离的极间距调节刻度盘,通过调整极间距调节刻度盘，来实现两个触棒之间的距离在75mm至200mm之间调整。
7.如权利要求4所述的触棒磁粉探伤方法，其特征在于：所述每一个触棒的端部为椭圆面，以增大了触棒与工件的接触面积，进而避免磁化过程中的打火。
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