CN107005046B - 一种热插拔保护电路 - Google Patents

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Abstract

一种热插拔保护电路，所述电路包括：热插拔电路(110)、热插拔检测电路(120)和N阱产生电路(130)，其中，所述热插拔检测电路(120)，用于检测所述热插拔电路(110)是否发生了热插拔，并向所述N阱产生电路(130)反馈检测结果；所述N阱产生电路(130)，用于接收所述热插拔检测电路(120)反馈的检测结果，并根据所述检测结果输出控制信号，用以保护所述热插拔电路(110)。所述热插拔保护电路能够避免热插拔电路(110)发生热插拔时导致主机或周边设备烧毁的问题。

Description

一种热插拔保护电路
技术领域
本发明涉及热插拔技术领域，尤其涉及一种热插拔保护电路。
背景技术
热插拔(Hot-swap)即“带电插拔”，是指能够在不关闭系统，不切断电源的情况下插入或拔除支持热插拔的周边设备，不会导致主机或周边设备烧毁并且能够实时侦测及使用新的设备。
然而，当电源没有正常上电，而热插拔电路的pad端已经有信号或电压时，则pad端的信号或电压会导通到电源上，继而发生热插拔，导致主机或周边设备烧毁。
发明内容
本发明的目的是提供一种热插拔保护电路，通过热插拔检测电路检测热插拔电路是否发生了热插拔，并向所述N阱产生电路反馈检测结果，使得N阱产生电路根据热插拔检测电路反馈的检测结果输出控制信号，用以保护热插拔电路，从而能够避免热插拔电路发生热插拔时导致主机或周边设备烧毁的问题。
为实现上述目的，本发明提供了一种热插拔保护电路，所述电路包括：热插拔电路、热插拔检测电路和N阱产生电路，其中，
所述热插拔检测电路，用于检测所述热插拔电路是否发生了热插拔，并向所述N阱产生电路反馈检测结果；
所述N阱产生电路，用于接收所述热插拔检测电路反馈的检测结果，并根据所述检测结果输出控制信号，用以保护所述热插拔电路。
优化地，所述热插拔检测电路具体用于：
检测所述热插拔电路的pad端的电平是否为高电平，同时检测所述热插拔电路的电源端是否为低电平，并当所述热插拔检测电路检测到所述pad端的电平为高电平，且所述电源端为低电平时，向所述N阱产生电路反馈所述检测结果为所述热插拔电路发生了热插拔。
优化地，当所述热插拔电路为低压差分信号(LVDS)电路时，所述热插拔检测电路包括第一热插拔检测电路和第二热插拔检测电路，其中，
所述第一热插拔检测电路，用于检测所述LVDS电路中的第一热插拔电路的第一pad端的电平是否为高电平，同时检测所述第一热插拔电路的电源端是否为低电平，并向所述N阱产生电路反馈第一检测结果；
所述第二热插拔检测电路，用于检测所述LVDS电路中的第二热插拔电路的第二pad端的电平是否为高电平，同时检测所述第二热插拔电路的电源端是否为低电平，并向所述N阱产生电路反馈第二检测结果；
所述N阱产生电路，用于接收所述第一检测结果和所述第二检测结果，并根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出控制信号，用以保护所述LVDS电路。
进一步优化地，当所述第一热插拔检测电路检测到所述第一pad端的电平为高电平，所述第一热插拔电路的电源端为低电平，且所述第二热插拔检测电路检测到所述第二pad端的电平为低电平时，向所述N阱产生电路反馈所述第一检测结果为所述第一热插拔电路发生了热插拔，所述第二检测结果为所述第二热插拔电路未发生热插拔；
所述N阱产生电路，用于接收所述第一检测结果和所述第二检测结果，并根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出第一控制信号，用以保护所述第一热插拔电路。
进一步优化地，当所述第一热插拔检测电路检测到所述第一pad端的电平为低电平，且所述第二热插拔检测电路检测到所述第二pad端的电平为高电平，所述第二热插拔电路的电源端为低电平时，向所述N阱产生电路反馈所述第一检测结果为所述第一热插拔电路未发生热插拔，所述第二检测结果为所述第二热插拔电路发生了热插拔；
所述N阱产生电路，用于接收所述第一检测结果和所述第二检测结果，并根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出第二控制信号，用以保护所述第二热插拔电路。
进一步优化地，当所述第一热插拔检测电路检测到所述第一pad端的电平为高电平，所述第一热插拔电路的电源端为低电平，且所述第二热插拔检测电路检测到所述第二pad端的电平为高电平，所述第二热插拔电路的电源端为低电平时，向所述N阱产生电路反馈所述第一检测结果为所述第一热插拔电路发生了热插拔，所述第二检测结果为所述第二热插拔电路发生了热插拔；
所述N阱产生电路，用于接收所述第一检测结果和所述第二检测结果，并根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出第三控制信号，用以保护所述第一热插拔电路和所述第二热插拔电路之一。
更进一步优化地，当所述第一pad端的电平高于所述第二pad端的电平时，所述N阱产生电路具体用于：根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出所述第三控制信号，用以保护所述第一热插拔电路。
更进一步优化地，当所述第二pad端的电平高于所述第一pad端的电平时，所述N阱产生电路具体用于：根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出所述第三控制信号，用以保护所述第二热插拔电路。
进一步优化地，当所述第一热插拔检测电路检测到所述第一pad端的电平为低电平，且所述第二热插拔检测电路检测到所述第二pad端的电平为低电平时，向所述N阱产生电路反馈所述第一检测结果为所述第一热插拔电路未发生热插拔，所述第二检测结果为所述第二热插拔电路未发生热插拔；
所述N阱产生电路，用于接收所述第一检测结果和所述第二检测结果，并根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出第四控制信号，用以导通所述热插拔电路的电源。
基于上述技术方案，本发明实施例提供的一种热插拔保护电路，通过热插拔检测电路检测热插拔电路是否发生了热插拔，并向所述N阱产生电路反馈检测结果，使得N阱产生电路根据热插拔检测电路反馈的检测结果输出控制信号，用以保护热插拔电路，从而能够避免热插拔电路发生热插拔时导致主机或周边设备烧毁的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为根据本发明实施例提供的一种热插拔保护电路的示意性结构图；
图2为根据本发明另一实施例提供的一种热插拔保护电路的示意性结构图；
图3为根据本发明实施例提供的一种热插拔保护电路包括的N阱产生电路的示意性结构图；
图4为根据本发明实施例提供的一种热插拔保护电路包括的热插拔检测电路的示意性结构图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都应属于本发明保护的范围。
图1是根据本发明实施例的热插拔保护电路100的结构性示意图。如图1所示的热插拔保护电路100包括：热插拔电路110、热插拔检测电路120和N阱产生电路130，其中，
热插拔检测电路120，用于检测热插拔电路110是否发生了热插拔，并向N阱产生电路130反馈检测结果；
N阱产生电路130，用于接收热插拔检测电路120反馈的检测结果，并根据所述检测结果输出控制信号，用以保护热插拔电路110。
具体的，在本发明实施例中，热插拔检测电路120可以通过检测热插拔电路110的pad端的电平来确定热插拔电路110是否发生了热插拔，当热插拔检测电路120确定热插拔电路110发生了热插拔时，向N阱产生电路130反馈热插拔电路110发生了热插拔的检测结果，N阱产生电路130接收并根据该检测结果输出用以保护热插拔电路110的控制信号nwell；当热插拔检测电路120确定热插拔电路110没有发生热插拔时，向N阱产生电路130反馈热插拔电路110未发生热插拔的检测结果，N阱产生电路130接收并根据该检测结果输出用以导通热插拔电路110的电源power的控制信号nwell。
因此，本发明实施例提供的一种热插拔保护电路，通过热插拔检测电路检测热插拔电路是否发生了热插拔，并向所述N阱产生电路反馈检测结果，使得N阱产生电路根据热插拔检测电路反馈的检测结果输出控制信号，用以保护热插拔电路，从而能够避免热插拔电路发生热插拔时导致主机或周边设备烧毁的问题。
优选地，作为本发明的一个实施例，热插拔检测电路120具体用于：
检测热插拔电路110的pad端的电平是否为高电平，同时检测热插拔电路110的电源端是否为低电平，并当热插拔检测电路120检测到所述pad端的电平为高电平，且所述电源端为低电平时，向N阱产生电路130反馈所述检测结果为所述热插拔电路110发生了热插拔，以便N阱产生电路130根据所述检测结果输出用以保护热插拔电路110的控制信号。
进一步优选地，作为本发明的另一个实施例，如图2所示，当热插拔电路为低压差分信号(Low-Voltage Differential Signaling，LVDS)电路时，由于该LVDS电路包括2只I0，所以，热插拔检测电路包括第一热插拔检测电路121和第二热插拔检测电路122，其中，
第一热插拔检测电路121，用于检测LVDS电路中的第一热插拔电路111的第一pad端是否为高电平，同时检测所述第一热插拔电路111的电源端是否为低电平，并向N阱产生电路130反馈第一检测结果；
第二热插拔检测电路122，用于检测LVDS电路中的第二热插拔电路112的第二pad端的电平是否为高电平，同时检测所述第二热插拔电路112的电源端是否为低电平，并向N阱产生电路130反馈第二检测结果；
N阱产生电路130，用于接收第一热插拔电路111反馈的所述第一检测结果和第二热插拔电路112反馈的所述第二检测结果，并根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出控制信号，用以保护所述LVDS电路。
具体的，在本发明实施例中，第一热插拔检测电路121用于检测第一热插拔电路111的pad0端的电平是否为高电平，同时检测所述第一热插拔电路111的电源端power是否为低电平，并向N阱产生电路130反馈检测结果，第二热插拔检测电路122用于检测第二热插拔电路112的pad1端的电平是否为高电平，同时检测所述第一热插拔电路112的电源端power是否为低电平，并向N阱产生电路130反馈检测结果，N阱产生电路130接收并根据检测结果输出用以保护所述LVDS电路的控制信号nwell。
因此，本发明实施例提供的一种热插拔保护电路，通过热插拔检测电路检测热插拔电路是否发生了热插拔，并向所述N阱产生电路反馈检测结果，使得N阱产生电路根据热插拔检测电路反馈的检测结果输出控制信号，用以保护热插拔电路，从而能够避免热插拔电路发生热插拔时导致主机或周边设备烧毁的问题。
需要说明的是，在本发明实施例中，N阱产生电路130的示意性结构图可以如图3所示。
具体的，在本发明实施例中，当所述第一热插拔检测电路121检测到所述第一pad端的电平为高电平，所述第一热插拔电路111的电源端power为低电平，且所述第二热插拔检测电路122检测到所述第二pad端的电平为低电平时，向所述N阱产生电路130反馈所述第一检测结果为所述第一热插拔电路111发生了热插拔，所述第二检测结果为所述第二热插拔电路112未发生热插拔；所述N阱产生电路130，用于接收所述第一检测结果和所述第二检测结果，并根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出用以保护所述第一热插拔电路111的第一控制信号。
也就是说，当第一热插拔检测电路121检测到第一pad端的电平为高电平，所述第一热插拔电路111的电源端power为低电平时，如图3中所示的pad0_hot端的输出为1，相反的，pad0_hot_B端的输出为0，则可以说明第一热插拔电路111发生了热插拔。同理，第二热插拔检测电路122检测到第二pad端的电平为低电平时，如图3中所示的pad1_hot端的输出为0，相反的，pad1_hot_B端的输出为1，则可以说明第一热插拔电路112未发生热插拔，则N阱产生电路130可以根据第一热插拔检测电路121和第二热插拔检测电路122反馈的检测结果确定输出用以保护第一热插拔电路111的控制信号。
当所述第一热插拔检测电路121检测到所述第一pad端的电平为低电平，且所述第二热插拔检测电路122检测到所述第二pad端的电平为高电平，所述第二热插拔电路112的电源端power为低电平时，向所述N阱产生电路130反馈所述第一检测结果为所述第一热插拔电路111未发生热插拔，所述第二检测结果为所述第二热插拔电路112发生了热插拔；所述N阱产生电路130，用于接收所述第一检测结果和所述第二检测结果，并根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出用以保护所述第二热插拔电路112的第二控制信号。
也就是说，当第一热插拔检测电路121检测到第一pad端的电平为低电平时，如图3中所示的pad0_hot端的输出为0，相反的，pad0_hot_B端的输出为1，则可以说明第一热插拔电路111未发生热插拔。同理，第二热插拔检测电路122检测到第二pad端的电平为高电平，所述第二热插拔电路112的电源端power为低电平时，如图3中所示的pad1_hot端的输出为1，相反的，pad1_hot_B端的输出为0，则可以说明第一热插拔电路112发生了热插拔，则N阱产生电路130可以根据第一热插拔检测电路121和第二热插拔检测电路122反馈的检测结果确定输出用以保护第二热插拔电路112的控制信号。
当所述第一热插拔检测电路检测到所述第一pad端的电平为低电平，且所述第二热插拔检测电路检测到所述第二pad端的电平为低电平时，向所述N阱产生电路反馈所述第一检测结果为所述第一热插拔电路未发生热插拔，所述第二检测结果为所述第二热插拔电路未发生热插拔；所述N阱产生电路，用于接收所述第一检测结果和所述第二检测结果，并根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出用以导通所述热插拔电路的电源的第四控制信号。
也就是说，当第一热插拔检测电路121检测到第一pad端的电平为低电平时，如图3中所示的pad0_hot端的输出为0，相反的，pad0_hot_B端的输出为1，则可以说明第一热插拔电路111未发生热插拔。同理，第二热插拔检测电路122检测到第二pad端的电平为低电平时，如图3中所示的pad1_hot端的输出为0，相反的，pad1_hot_B端的输出为1，则可以说明第一热插拔电路112未发生热插拔，则N阱产生电路130可以根据第一热插拔检测电路121和第二热插拔检测电路122反馈的检测结果确定输出用以导通热插拔电路110的电源power的控制信号。
当所述第一热插拔检测电路检测到所述第一pad端的电平为高电平，所述第一热插拔电路111的电源端power为低电平，且所述第二热插拔检测电路检测到所述第二pad端的电平为高电平，所述第二热插拔电路112的电源端power为低电平时，向所述N阱产生电路反馈所述第一检测结果为所述第一热插拔电路发生了热插拔，所述第二检测结果为所述第二热插拔电路发生了热插拔；所述N阱产生电路，用于接收所述第一检测结果和所述第二检测结果，并根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出用以保护所述第一热插拔电路和所述第二热插拔电路之一的第三控制信号。
也就是说，当第一热插拔检测电路121检测到第一pad端的电平为高电平，所述第一热插拔电路111的电源端power为低电平时，如图3中所示的pad0_hot端的输出为1，相反的，pad0_hot_B端的输出为0，则可以说明第一热插拔电路111发生了热插拔。同理，第二热插拔检测电路122检测到第二pad_hot端的电平为高电平，所述第二热插拔电路112的电源端power为低电平时，如图3中所示的pad1_hot端的输出为1，相反的，pad1_hot_B端的输出为0，则可以说明第一热插拔电路112发生了热插拔，则N阱产生电路130可以根据第一热插拔检测电路121和第二热插拔检测电路122反馈的检测结果确定输出用以保护第一热插拔电路111的控制信号，或输出用以保护第二热插拔电路112的控制信号。
进一步优化地，在本发明实施例中，当所述第一pad端的电平高于所述第二pad端的电平时，所述N阱产生电路130具体用于根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出用以保护所述第一热插拔电路的所述第三控制信号。当所述第二pad端的电平高于所述第一pad端的电平时，所述N阱产生电路130具体用于根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出用以保护所述第二热插拔电路的所述第三控制信号。
也就是说，在本分明实施例中，当第一pad端的电平高于第二pad端的电平时，N阱产生电路130输出的控制信号用以保护第一热插拔电路111；当第二pad端的电平高于第一pad端的电平时，N阱产生电路130输出的控制信号用以保护第二热插拔电路112。
因此，本发明实施例提供的一种热插拔保护电路，通过热插拔检测电路检测热插拔电路是否发生了热插拔，并向所述N阱产生电路反馈检测结果，使得N阱产生电路根据热插拔检测电路反馈的检测结果输出控制信号，用以保护热插拔电路，从而能够避免热插拔电路发生热插拔时导致主机或周边设备烧毁的问题。
专业人员应该还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，以上所述的具体实施方式，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所以应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施方式而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种热插拔保护电路，其特征在于，所述电路包括：热插拔电路、热插拔检测电路和N阱产生电路，其中，
所述热插拔检测电路，用于检测所述热插拔电路是否发生了热插拔，并向所述N阱产生电路反馈检测结果；
所述N阱产生电路，用于接收所述热插拔检测电路反馈的检测结果，并根据所述检测结果输出控制信号，用以保护所述热插拔电路；
所述热插拔检测电路，用于：检测所述热插拔电路的pad端的电平是否为高电平，同时检测所述热插拔电路的电源端是否为低电平，并当所述热插拔检测电路检测到所述pad端的电平为高电平，且所述电源端为低电平时，向所述N阱产生电路反馈所述检测结果为所述热插拔电路发生了热插拔；
当所述热插拔电路为低压差分信号LVDS电路时，所述热插拔检测电路包括第一热插拔检测电路和第二热插拔检测电路，其中，
所述第一热插拔检测电路，用于检测所述LVDS电路中的第一热插拔电路的第一pad端的电平是否为高电平，同时检测所述第一热插拔电路的电源端是否为低电平，并向所述N阱产生电路反馈第一检测结果；
所述第二热插拔检测电路，用于检测所述LVDS电路中的第二热插拔电路的第二pad端的电平是否为高电平，同时检测所述第二热插拔电路的电源端是否为低电平，并向所述N阱产生电路反馈第二检测结果；
所述N阱产生电路，用于接收所述第一检测结果和所述第二检测结果，并根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出控制信号，用以保护所述LVDS电路。
2.根据权利要求1所述的热插拔保护电路，其特征在于，当所述第一热插拔检测电路检测到所述第一pad端的电平为高电平,所述第一热插拔电路的电源端为低电平，且所述第二热插拔检测电路检测到所述第二pad端的电平为低电平时，向所述N阱产生电路反馈所述第一检测结果为所述第一热插拔电路发生了热插拔，所述第二检测结果为所述第二热插拔电路未发生热插拔；
所述N阱产生电路，用于接收所述第一检测结果和所述第二检测结果，并根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出第一控制信号，用以保护所述第一热插拔电路。
3.根据权利要求1所述的热插拔保护电路，其特征在于，当所述第一热插拔检测电路检测到所述第一pad端的电平为低电平，且所述第二热插拔检测电路检测到所述第二pad端的电平为高电平，所述第二热插拔电路的电源端为低电平时，向所述N阱产生电路反馈所述第一检测结果为所述第一热插拔电路未发生热插拔，所述第二检测结果为所述第二热插拔电路发生了热插拔；
所述N阱产生电路，用于接收所述第一检测结果和所述第二检测结果，并根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出第二控制信号，用以保护所述第二热插拔电路。
4.根据权利要求1所述的热插拔保护电路，其特征在于，当所述第一热插拔检测电路检测到所述第一pad端的电平为高电平，所述第一热插拔电路的电源端为低电平，且所述第二热插拔检测电路检测到所述第二pad端的电平为高电平，所述第二热插拔电路的电源端为低电平时，向所述N阱产生电路反馈所述第一检测结果为所述第一热插拔电路发生了热插拔，所述第二检测结果为所述第二热插拔电路发生了热插拔；
所述N阱产生电路，用于接收所述第一检测结果和所述第二检测结果，并根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出第三控制信号，用以保护所述第一热插拔电路和所述第二热插拔电路之一。
5.根据权利要求4所述的热插拔保护电路，当所述第一pad端的电平高于所述第二pad端的电平时，所述N阱产生电路具体用于：根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出所述第三控制信号，用以保护所述第一热插拔电路。
6.根据权利要求4所述的热插拔保护电路，当所述第二pad端的电平高于所述第一pad端的电平时，所述N阱产生电路具体用于：根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出所述第三控制信号，用以保护所述第二热插拔电路。
7.根据权利要求1所述的热插拔保护电路，其特征在于，当所述第一热插拔检测电路检测到所述第一pad端的电平为低电平，且所述第二热插拔检测电路检测到所述第二pad端的电平为低电平时，向所述N阱产生电路反馈所述第一检测结果为所述第一热插拔电路未发生热插拔，所述第二检测结果为所述第二热插拔电路未发生热插拔；
所述N阱产生电路，用于接收所述第一检测结果和所述第二检测结果，并根据所述第一检测结果和所述第二检测结果输出第四控制信号，用以导通所述热插拔电路的电源。
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