CN202837385U - 一种过零检测电路 - Google Patents

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秦吉芳
洪浩
王伟峰
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Abstract

本实用新型公开了一种过零检测电路，其包括：电阻R7、电阻R8、电阻R9、光耦PC1和内设切断电路单元的MCU，所述电阻R7和电阻R8并联且分别通过光耦PC1的1号和2号接入口接入光耦PC1中，电阻R9通过光耦PC1的4号接入口接入光耦PC1中，MCU的一端子通过光耦PC1的4号接入口接入光耦PC1中，光耦PC1的3号端口接地。本实用新型提供的过零检测电路，不仅能够正确检测输出电压，还能够自行诊断是否有异常，可避免因过零检测电路异常导致整个系统不稳定或安全隐患，具有极强的实用价值，可广泛推广应用。

Description

一种过零检测电路
技术领域
本实用新型涉及一种过零检测电路，具体说，是涉及一种既能够正确检测过零点、又能够自行诊断是否有异常的过零检测电路。
背景技术
在一些交流调压或交流控制系统中，需要知道交流电的过零点，以便以此为基准，对交流电的通、断进行控制，以便得到想要的输出，过零点的可靠性对控制的品质有着直接的影响，如果过零检测回路出现异常，就会直接影响到输出，情况严重的会对设备或系统造成安全隐患，但目前没有一种既能够正确检测到过零点，又能够自行诊断是否有异常的过零检测电路的相关技术报道，现有技术不能对过零检测电路的安全进行有效防护，引起后续系统的不稳定性。
实用新型内容
针对现有技术存在的上述问题，本实用新型的目的是提供一种既能够正确检测过零点、又能够自行诊断是否有异常的过零检测电路。
为实现上述实用新型目的，本实用新型采取的技术方案如下：
一种过零检测电路，包括：电阻R7、电阻R8、电阻R9、光耦PC1和内设切断电路单元的MCU（MCU是微程序控制器Microprogrammed Control Unit的英文缩写），所述电阻R7和电阻R8并联且分别通过光耦PC1的1号和2号接入口接入光耦PC1中，电阻R9通过光耦PC1的4号接入口接入光耦PC1中，MCU的一端子通过光耦PC1的4号接入口接入光耦PC1中，光耦PC1的3号端口接地。
作为一种优选方案，光耦PC1输出高、低电平的频率是50HZ，占空比为50%。
作为进一步优选方案，高电平输出时间为10ms，低电平输出时间也为10ms。
本实用新型的工作过程如下：
当过零检测电路开始运行后，MCU将实时采集光耦PC1的输出状态，并计算高低电平输出时间和低电平输出时间是否均为10ms；若该状态维持10ms后发生状态转换，则对转换后的状态进行计时，反之则说明发生故障；MCU对刚发生状态转换后的电路继续进行状态是否维持10ms后发生状态转换的判断，如果是，则进行正常处理，反之则说明发生故障；对故障进行故障处理后结束。
与现有技术相比，本实用新型提供的过零检测电路，不仅能够正确检测过零点，还能够自行诊断是否有异常，可避免因过零检测电路的异常导致整个系统不稳定或安全隐患，具有极强的实用价值，可广泛推广应用。
附图说明
图1是本实用新型提供的一种过零检测电路的结构示意图；
图2是本实用新型提供的过零检测电路的工作流程示意图。
具体实施方式
下面结合附图及其实施例对本实用新型进一步详细地说明：
如图1所示：本实用新型提供的一种过零检测电路，包括：电阻R7、电阻R8、电阻R9、光耦PC1和内设切断电路单元的MCU，所述电阻R7和电阻R8并联且分别通过光耦PC1的1号和2号接入口接入光耦PC1中，电阻R9通过光耦PC1的4号接入口接入光耦PC1中，MCU的一端子通过光耦PC1的4号接入口接入光耦PC1中，光耦PC1的3号端口接地。
作为一种优选方案，光耦PC1输出高、低电平的频率是50HZ，占空比为50%；即：高电平输出时间为10ms，低电平输出时间也为10ms。
如图2所示，本实用新型的工作过程如下：
当过零检测电路开始运行后，MCU将实时采集光耦PC1的输出状态，并计算高低电平输出时间和低电平输出时间是否均为10ms；若该状态维持10ms后发生状态转换，则对转换后的状态进行计时，反之则说明发生故障；MCU对刚发生状态转换后的电路继续进行状态是否维持10ms后发生状态转换的判断，如果是，则进行正常处理，反之则说明发生故障；对故障进行故障处理后结束。
综上所述可见：本实用新型提供的过零检测电路，不仅能够正确检测输出电压，还能够自行诊断是否有异常，可避免因过零检测电路的异常导致整个系统不稳定或安全隐患，具有极强的实用价值，可广泛推广应用。
最后有必要在此说明的是：上述内容只用于对本实用新型的技术方案作进一步详细说明，不能理解为对本实用新型保护范围的限制，本领域的技术人员根据本实用新型的上述内容作出的一些非本质的改进和调整均属于本实用新型的保护范围。

Claims (2)

1.一种过零检测电路，其特征在于，包括：电阻R7、电阻R8、电阻R9、光耦PC1和内设切断电路单元的MCU，所述电阻R7和电阻R8并联且分别通过光耦PC1的1号和2号接入口接入光耦PC1中，电阻R9通过光耦PC1的4号接入口接入光耦PC1中，MCU的一端子通过光耦PC1的4号接入口接入光耦PC1中，光耦PC1的3号端口接地。
2.根据权利要求1所述的过零检测电路，其特征在于：光耦PC1输出高、低电平的频率是50HZ，占空比为50%。
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