CN106991931B - 显示面板及其膜层检测系统 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种显示面板，包括：基板；第一膜层，其为透光膜层，所述第一膜层形成在所述基板上；第二膜层，其为透光膜层，所述第二膜层形成在所述第一膜层上，所述第二膜层的第一侧边缘位于所述第一膜层的内侧且与所述第一膜层的同侧边缘形成间距；其中，位于所述第二膜层所述第一侧边缘外的所述第一膜层处的第一实测透光率与所述第二膜层处的第二实测透光率相异。本发明实施例还公开了一种显示面板的膜层检测系统。采用本发明，具有可快速检测各个膜层是否符合要求、节省成本的优点。

Description

显示面板及其膜层检测系统

技术领域

本发明属于显示技术领域，具体地讲，涉及一种显示面板及其膜层检测系统。

背景技术

现在的显示面板，例如液晶显示面板或者有机发光二极管显示面板，在形成各个膜层时，无法检测形成的膜层是否符合要求，需要在形成显示面板后，通过复杂的手段才能检测出各个膜层是否符合要求，浪费了人力和物力，提高了成本，而且此种检测的准确性需待提升。

发明内容

本发明实施例所要解决的技术问题在于，提供一种显示面板及其膜层检测系统。可快速检测各个膜层是否符合要求、节省成本。

为了解决上述技术问题，本发明第一方面实施例提供了一种显示面板，包括：

基板；

第一膜层，其为透光膜层，所述第一膜层形成在所述基板上；

第二膜层，其为透光膜层，所述第二膜层形成在所述第一膜层上，所述第二膜层的第一侧边缘位于所述第一膜层的内侧且与所述第一膜层的同侧边缘形成间距；其中，

位于所述第二膜层所述第一侧边缘外的所述第一膜层处的第一实测透光率与所述第二膜层处的第二实测透光率相异。

在本发明第一方面一实施例中，所述第一膜层包含的膜层数量为多层，所述第二膜层包含的膜层数量为多层，所述第一膜层内相邻膜层之间在第一侧边缘形成间距，所述第二膜层内相邻膜层之间在第一侧边缘形成间距。

在本发明第一方面一实施例中，所述第一膜层为缓冲层、栅极绝缘层、层间绝缘层、第一平坦层、共通电极层或第二绝缘层，所述第二膜层为栅极绝缘层、层间绝缘层、第一平坦层、共通电极层、第二绝缘层或像素电极层。

在本发明第一方面一实施例中，所述基板为阵列基板，所述阵列基板上设有不透光基准层，所述显示面板还包括滤光片基板，所述阵列基板与所述滤光片基板组立在一起，所述滤光片基板上设有黑色矩阵，所述不透光金属层和所述黑色矩阵之间设有透光的间隙。

在本发明第一方面一实施例中，所述显示面板还包括第三膜层，所述第三膜层为透光膜层，所述第三膜层形成在所述第二膜层上，所述第三膜层的第二侧边缘位于所述第二膜层的内侧且与所述第二膜层的同侧边缘形成间距，位于所述第三膜层第二侧边缘外的所述第二膜层处的透光率与所述第三膜层处的透光率相异，所述第一侧和所述第二侧位于基板的同一侧。

本发明第二方面实施例提供了一种显示面板的膜层检测系统，包括：

显示面板，其为上述的显示面板；

光发射器，其位于所述显示面板的一侧，其用于发射检测光，所述检测光分别穿过位于所述第二膜层所述第一侧边缘外的所述第一膜层处和所述第二膜层处；

光接收器，其位于所述显示面板的另一侧，所述光接收器用于接收所述光发射器发射的所述检测光；

处理单元，其与所述光接收器相连，根据所述光接收器接收的所述检测光所述处理单元获得位于所述第二膜层所述第一侧边缘外的所述第一膜层处的所述第一实测透光率和所述第二膜层处的所述第二实测透光率。

在本发明第二方面一实施例中，所述膜层检测系统还包括判断单元，所述判断单元预存位于所述第二膜层所述第一侧边缘外的所述第一膜层处的第一标准透光率、所述第二膜层处的第二标准透光率，根据所述第一标准透光率、所述第一实测透光率、第二标准透光率、所述第二实测透光率所述判断判断所述第一膜层、所述第二膜层是否符合要求。

在本发明第二方面一实施例中，所述光发射器还分别向不透光基准层和黑色矩阵发射所述检测光，根据所述光接收器接收的所述检测光所述膜层检测系统获得光基准层与所述黑色矩阵之间间隙的间距。

在本发明第二方面一实施例中，所述光发射器发射的所述检测光用于获得光基准层与所述黑色矩阵之间间隙的间距时所述光发射器移动的预设步长范围是0.1μm-0.5μm。

在本发明第二方面一实施例中，所述光发射器发射的所述检测光用于获得所述第一实测透光率、所述第二实测透光率时所述光发射器移动的预设步长范围是0.5μm-20μm。

实施本发明实施例，具有如下有益效果：

1、由于所述第二膜层形成在所述第一膜层上，所述第二膜层的第一侧边缘位于第一膜层的内侧且与第一膜层的同侧边缘形成间距，位于第二膜层第一侧边缘外的第一膜层处的第一实测透光率与第二膜层处的第二实测透光率相异。从而，通过所述第一实测透光率、所述第二实测透光率以及两者的差异，有助于监控显示面板制造过程第一膜层和第二膜层制程的变化以及其特性的变化，可以实现快速检测，降低了成本，而且对此种显示面板进行膜层检测比较准确。而且，可以在显示面板完全制造前进行检测，有利于节省不良分析时间和提升分析效率，方便对不符合要求的膜层进行修复，有利于提升产品的良率。

2、由于所述阵列基板上设有不透光基准层，所述显示面板还包括滤光片基板，所述阵列基板与所述滤光片基板组立在一起，所述滤光片基板上设有黑色矩阵，所述不透光金属层和所述黑色矩阵之间设有透光的间隙，从而可以比较准确的测量阵列基板与滤光片基板的偏移，精度比较高，也方便阵列基板和滤光片基板组立的校正。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明第一实施例显示面板的部分剖视图；

图2是本发明第一实施例显示面板的透光率示意图；

图3是本发明第一实施例显示面板的不透光基准层与黑色矩阵在水平面的投影图；

图4是本发明第一实施例显示面板的不透光基准层与黑色矩阵的透光率示意图；

图5是本发明第一实施例显示面板的膜层检测系统的示意图；

图6是本发明第二实施例显示面板的部分剖视图；

图7是本发明第三实施例显示面板的部分剖视图；

图8是本发明第三实施例显示面板的透光率示意图；

附图标号说明：

110-基板；121-第一膜层；122-第二膜层；141-第一台阶；150-不透光基准层；160-黑色矩阵；170-其它层/空白；210-光发射器；220-光接收器；342-第二台阶；323-第三膜层；424-第四膜层；425-第五膜层；426-第六膜层；427-第七膜层；443-第三台阶；444-第四台阶；445-第五台阶；446-第六台阶。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本申请说明书、权利要求书和附图中出现的术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。此外，术语“第一”、“第二”和“第三”等是用于区别不同的对象，而并非用于描述特定的顺序。

本发明实施例提供一种显示面板，所述显示面板为LTPS显示面板，当然，在本发明的其他实施例中，所述显示面板还可以是其他普通的显示面板。在本实施例中，所述LTPS显示面板例如为LTPS型液晶显示面板、LTPS型有机发光二极管显示面板或者其他LTPS型显示面板，在本实施例中所述显示面板为LTPS型液晶显示面板，请参见图1，所述显示面板包括基板110、第一膜层121和第二膜层122。

在本实施例中，所述基板110为阵列基板，所述阵列基板为玻璃基板110，在本发明的其他实施例中，所述阵列基板还可以为其他柔性基板，例如所述柔性基板的材料为聚酰亚胺(PI)、聚碳酸酯(PC)、聚醚砜(PES)、聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)、聚萘二甲酸乙二醇酯(PEN)、多芳基化合物(PAR)或玻璃纤维增强塑料(FRP)等。

在本实施例中，所述第一膜层121直接形成在所述基板110上，也即所述第一膜层121与所述基板110之间没有间隔其他透光膜层，当然，在本发明的其他实施例中，所述第一膜层也可以间接形成在所述基板上，也即所述第一膜层与所述基板之间间隔其他透光膜层。在本实施例中，所述第一膜层121为透光膜层，所述第一膜层121只包含一层膜，所述第一膜层121可以为缓冲层、栅极绝缘层、层间绝缘层、第一平坦层、共通电极层或第二绝缘层，在此处，所述第一膜层121为缓冲层。另外，在本发明的其他实施例中，所述第一膜层包含的膜层数量还可以为多层，所述第一膜层内相邻膜层之间在第一侧边缘形成间距，也即第一膜层内相邻膜层之间在左侧边缘形成台阶，例如第一膜层包含的膜层数量为两层、三层或者更多层，例如所述第一膜层包含缓冲层和栅极绝缘层，所述缓冲层在第一侧边缘与所述栅极绝缘层在第一侧边缘形成间距。另外，在本发明的其他实施例中，所述第一膜层内相邻膜层之间在第一侧边缘平齐。

在本实施例中，所述第二膜层122直接形成在所述第一膜层121上，也即所述第二膜层122与所述第一膜层121之间没有间隔其他透光膜层，当然，在本发明的其他实施例中，所述第二膜层也可以间接形成在所述第一膜层上，也即所述第二膜层与所述第一膜层之间间隔其他透光膜层。在本实施例中，所述第二膜层122只包含一层膜，所述第二膜层122可以为栅极绝缘层、层间绝缘层、第一平坦层、共通电极层、第二绝缘层或像素电极层，在此处，所述第一膜层121为栅极绝缘层。另外，在本发明的其他实施例中，所述第二膜层包含的膜层数量还可以为多层，所述第二膜层内相邻膜层之间在第一侧边缘形成间距，也即第二膜层内相邻膜层之间在左侧边缘形成台阶，例如第二膜层包含的膜层数量为两层、三层或者更多层，例如所述第二膜层包含栅极绝缘层、层间绝缘层，所述栅极绝缘层在第一侧边缘与所述层间绝缘层在第一侧边缘形成间距。另外，在本发明的其他实施例中，所述第一膜层内相邻多层膜层之间在第一侧边缘平齐。

在本实施例中，请继续参见图1，所述第二膜层122的第一侧边缘位于第一膜层121的内侧，所述第一侧在图示中为左侧，也即所述第二膜层122的左侧边缘位于第一膜层121的内侧，也即所述第二膜层122的左侧边缘位于第一膜层121的上方且位于所述第一膜层121的左侧边缘的右侧；所述第二膜层122的第一侧边缘与第一膜层121的第一侧边缘形成间距，在本实施例中，所述间距与所述第二膜层122的左侧部分形成第一台阶141，所述第一台阶141在纵向方向上由所述第二膜层122的厚度形成。

在本实施例中，位于所述第二膜层122第一侧边缘外的第一膜层121处的第一实测透光率与第二膜层122处的第二实测透光率相异。具体说来，在本实施例中，位于所述第二膜层122第一侧边缘外的第一膜层121处是指第二膜层122左侧边缘外的第一膜层121处，也即第一膜层121在左侧超出第二膜层122的部分，第一实测透光率是指第一膜层121不与第二膜层122重叠处的透光率，所述第二膜层122处是指第一膜层121和第二膜层122重叠处。由于第二膜层122处具有第一膜层121和第二膜层122，从而第一实测透光率与第二实测透光率不同，具体为第一实测透光率大于第二实测透光率，请参见图2，其中图2左侧的图是符合要求的第一膜层121和第二膜层122的透光率，图2右侧的图中第二膜层122的透光率不符合要求，也即第二膜层122的特性不符合要求。另外，在本发明的其他实施例中，位于所述第二膜层第一侧边缘外的第一膜层处的特性和所述第二膜层处的特性是通过透光率来表征，但本发明不限于此，还可以与透光率相近的指标来表征，例如亮度等，也落入本发明的范围。

在本实施例中，由于所述第二膜层122形成在所述第一膜层121上，所述第二膜层122的第一侧边缘位于第一膜层121的内侧且与第一膜层121的同侧边缘形成间距，位于第二膜层122第一侧边缘外的第一膜层121处的第一实测透光率与第二膜层122处的第二实测透光率相异。从而，通过所述第一实测透光率、所述第二实测透光率以及两者的差异，有助于监控显示面板制造过程第一膜层121和第二膜层122制程的变化以及其特性的变化，可以实现快速检测，降低了成本，而且对此种显示面板进行膜层检测比较准确。而且，可以在显示面板完全制造前进行检测，有利于节省不良分析时间和提升分析效率，方便对不符合要求的膜层进行修复，有利于提升产品的良率。

在本实施例中，请继续参见图1，所述第一膜层121与所述第二膜层122相邻，也即所述第二膜层122直接形成在所述第一膜层121的上表面上，但本发明不限于此，在本发明的其他实施例中，所述第二膜层和所述第一膜层可以不相邻，所述第二膜层和所述第一膜层还可以间隔其他透光膜层。

在本实施例中，所述显示面板可以是切割后的小板，也即是我们平常看到的17寸的显示面板、19寸的显示面板、5寸的显示面板等，也可以是未切割前的大板，所述大板经过切割后可以形成多个小板。对膜层特性的检测可以在小板上进行，也可以在大板上进行。

在本实施例中，请参见图3，所述阵列基板上还设有不透光基准层150，所述不透光基准层150例如为栅极线、源极线、栅极、漏极、源极等金属层或者其他新形成的不透光层，所述显示面板还包括滤光片基板，所述滤光片基板与所述阵列基板相对设置并组立在一起，所述滤光片基板上设有黑色矩阵160，所述黑色矩阵160也不透光，所述不透光金属层和所述黑色矩阵160之间设有透光的间隙，所述的透光的间隙处可以有其他各种各样的透光膜层，在图3中所述间隙处和黑色矩阵160外面的区域是其它层/空白170。从而，当从显示面板一侧发射光，另一侧接收光，可以测的黑色矩阵160与不透光基准层150之间间隙的距离，通过该距离与标准距离进行对比，从而可以获得阵列基板与滤光片基板在组立时是否有偏移，请参见图4(膜层按图3箭头方向排列)，在图4左侧的图中所述阵列基板与滤光片基板在组立时符合要求，在图4右侧的图中所述黑色矩阵160相对所述不透光基准层150向右侧进行了偏移，从而从图4右侧的图中可以明显的看出所述阵列基板与滤光片基板在组立时有了偏移。此种方式可以快速测量阵列基板与滤光片基板组立时的偏移，测量比较准确。而且，如果阵列基板与滤光片基板在组立时存在偏移，还可以计算出偏移值，方便阵列基板和滤光片基板组立的校正。在本实施例中，所述不透光基准层150和所述黑色矩阵160可以是被切割后的小板上本身具有的膜层，但本发明不限于此，所述不透光基准层150和所述黑色矩阵160也可以是新形成的膜层，当是新形成的膜层时，所述不透光基准层150和所述黑色矩阵160可以是形成在被切割后的小板的标示区，也可以是形成在未切割前的大板的标识区。

在本实施例中，所述黑色矩阵160与所述不透光基准层150在水平面的投影时所述黑色矩阵160围绕所述不透光基准层150，也即在基准层的上下左右四个方向都有黑色矩阵160，从而可以计算得到两个横向偏移值和两个纵向偏移值，通过对两个横向偏移值作平均可以得到阵列基板与滤光片基板横向平均偏移值，通过对两个纵向偏移值作平均可以得到阵列基板与滤光片基板纵向平均偏移值，通过此种方式计算偏移值，测量更加准确。另外，在本发明的其他实施例中，所述黑色矩阵与所述不透光基准层在水平面的投影时所述黑色矩阵在横向上还可以位于基准层的一侧，在纵向上也可以位于基准层的一侧。

另外，在本发明的其他实施例中，所述基板还可以为滤光片基板，所述第一膜层、第二膜层形成在所述滤光片基板上。具体说来，所述第一膜层形成在所述滤光片基板上，所述第二膜层形成在所述第一膜层上。在此处，所述第一膜层可以为基色层或者保护层，所述基色层为R、G、B色阻层，所述第二膜层为第二平坦层。另外，在本发明的其他实施例中，所述第二膜层还可以为共通电极层。

另外，本发明实施例还提供一种显示面板的膜层检测系统，请参见图5，包括显示面板、光发射器210、光接收器220和处理单元，所述显示面板为上述实施例的显示面板，所述光发射器210位于显示面板的一侧，其用于发射检测光。所述光接收器220位于所述显示面板的另一侧，其用于接收光发射器210发射的检测光，从所述光发射器210发出的所述检测光经过所述显示面板到达所述光接收器220。所述处理单元与所述光接收器220相连，根据所述光接收器220接收的检测光所述处理单元获得位于第二膜层122第一侧边缘外的第一膜层121处的第一实测透光率、第二膜层122处的第二实测透光率。另外，在本发明的其他实施例中，所述显示面板还可以是后面第二实施例、第三实施例的显示面板。

具体说来，在本实施例中，所述光发射器210位于图示中显示面板的下侧，所述光接收器220位于图示中显示面板的上侧，所述光发射器210从图示的左端向右移动，或者反过来，从光发射器210发出的所述检测光在刚开始时经由基板110、第一膜层121后被所述光接收器220接收，当然，所述检测光还可以经过其他透光膜层，当光发射器210移动一段时间后，从光发射器210发出的所述检测光会经由基板110、第一膜层121、第二膜层122后被所述光接收器220接收，当然，所述检测光还可以经过其他透光膜层，由于处理单元与光接收器220连接，所述处理单元可以根据所述光接收器220接收的检测光获得位于第二膜层122第一侧边缘外的第一膜层121处的第一实测透光率、第二膜层122处的第二实测透光率。在此处，所述第一实测透光率大于所述第二实测透光率。请参见图2，从而根据第一实测透光率、第二实测透光率以及两者的差异获得第一膜层121、第二膜层122的特性是否符合要求。

另外，在本实施例中，所述检测系统还包括判断单元，所述判断单元预存位于第二膜层122第一侧边缘外的第一膜层121处的第一标准透光率、第二膜层122处的第二标准透光率，根据所述第一标准透光率、第一实测透光率、第二标准透光率、第二实测透光率所述判断判断所述第一膜层121、第二膜层122是否符合要求，从而可以自动获得第一膜层121、第二膜层122是否符合要求。另外，在本发明的其他实施例，还可以通过手动计算获得第一膜层、第二膜层是否符合要求。

在本实施例中，所述光发射器210发射的检测光用于获得第一实测透光率、第二实测透光率时所述光发射器210移动的预设步长范围是0.5μm-20μm，例如为0.5μm、1μm、5μm、10μm、15μm、20μm等。

在本实施例中，所述光发射器210还分别向不透光基准层150和黑色矩阵160发射检测光，根据所述光接收器220接收的检测光所述膜层检测系统获得光基准层与所述黑色矩阵160之间间隙的间距，从而，请参见图4，根据该间距可以获得所述滤光片基板和所述阵列基板对位是否符合要求。

在本实施例中，所述光发射器210发射的检测光用于获得光基准层与所述黑色矩阵160之间间隙的间距时所述光发射器210移动的预设步长范围是0.1μm-0.5μm，例如为0.1μm、0.2μm、0.3μm、0.4μm、0.5μm等，从而可以比较精确的获得所述滤光片基板与所述阵列基板之间偏移，从而进一步可以满足测量超高像素密度(PPI)产品阵列基板与滤光片基板组立时的偏移，从而可以将滤光片基板与所述阵列基板之间的偏移量测精确到0.1μm、0.2μm、0.3μm、0.4μm等。

第二实施例

图6为本发明第二实施例提供的一种显示面板，图6的结构与图1的结构相似，因此相同的元件符号代表相同的元件，本实施例与第一实施例的主要不同点为基板上还设有第三膜层。

请参见图6，在本实施例中，所述第三膜层323是透光膜层，所述第三膜层323直接形成在所述第二膜层122上，也即所述第三膜层323与所述第二膜层122之间没有间隔其他透光膜层，也即所述第三膜层323与所述第二膜层122邻接，当然，在本发明的其他实施例中，所述第三膜层也可以间接形成在所述第二膜层上，也即所述第三膜层与所述第二膜层之间间隔其他透光膜层。在本实施例中，所述第三膜层323只包含一层膜，所述第三膜层323可以为层间绝缘层、第一平坦层、共通电极层、第二绝缘层或像素电极层，在此处，所述第三膜层323为层间绝缘层。另外，在本发明的其他实施例中，所述第三膜层包含的膜层数量还可以为多层，例如第三膜层包含的膜层数量为两层、三层或者更多层，例如所述第三膜层包含层间绝缘层、第一平坦层，所述层间绝缘层在第二侧边缘与所述第一平坦层在第二侧边缘平齐。

在本实施例中，所述第三膜层323的第二侧边缘位于第二膜层122的内侧，请继续参见图6，所述第二侧与所述第一侧一样，也为左侧，当然，在本发明的其他实施例中，所述第二侧还可以与第一侧不同，例如所述第二侧可以为右侧、上侧或下侧等。所述第三膜层323的第二侧边缘与第二膜层122的第二侧边缘形成间距，在本实施例中，所述间距与所述第三膜层323的左侧部分形成第二台阶342，所述第二台阶342在纵向方向上由所述第三膜层323的厚度形成。

在本实施例中，位于所述第三膜层323第二侧边缘外的第二膜层122处的第三实测透光率与第二膜层122处的第二实测透光率相异。具体说来，在本实施例中，位于所述第三膜层323第二侧边缘外的第二膜层122处是指第三膜层323左侧边缘外的第二膜层122处，也即第二膜层122在左侧超出第三膜层323的部分，第二实测透光率是指第一膜层121、第二膜层122重叠处的透光率，所述第三膜层323处是指第一膜层121、第二膜层122、第三膜层323重叠处，第三实测透光率是指第一膜层121、第二膜层122、第三膜层323重叠处的透光率。由于第三膜层323处具有第一膜层121、第二膜层122和第三膜层323，从而第二实测透光率与第三实测透光率不同，具体为第二实测透光率大于第三实测透光率。

第三实施例

图7为本发明第三实施例提供的一种显示面板，图7的结构与图6的结构相似，因此相同的元件符号代表相同的元件，本实施例与第二实施例的主要不同点为基板上还设有第四-第七膜层。

请参见图7，所述显示面板除了包括第一-第三膜层323外，还包括透光的第四膜层424、第五膜层425、第六膜层426、第七膜层427，所述第四膜层424直接位于所述第三膜层323上面，所述第五膜层425直接位于第四膜层424上面，所述第六膜层426直接位于第五膜层425上面，所述第七膜层427直接位于第六膜层426上面。在本实施例中，所述第一膜层121是缓冲层，所述第二膜层122是栅极绝缘层，所述第三膜层323是层间绝缘层，所述第四膜层424是第一平坦层，所述第五膜层425是共通电极层，所述第六膜层426是第二绝缘层，所述第七膜层427是像素电极层。

所述第四膜层424的第三侧边缘位于第三膜层323的内侧且与第三膜层323的同侧边缘形成间距，在本实施例中，所述第三侧为图示中的左侧，所述间距与所述第四膜层424的左侧部分形成第三台阶443，所述第三台阶443在纵向方向上由所述第四膜层424的厚度形成。所述第五膜层425的第四侧边缘位于第四膜层424的内侧且与第四膜层424的同侧边缘形成间距，在本实施例中，所述第四侧为图示中的左侧，所述间距与所述第五膜层425的左侧部分形成第四台阶444，所述第四台阶444在纵向方向上由所述第五膜层425的厚度形成。所述第六膜层426的第五侧边缘位于第五膜层425的内侧且与第五膜层425的同侧边缘形成间距，在本实施例中，所述第五侧为图示中的左侧，所述间距与所述第六膜层426的左侧部分形成第五台阶445，所述第五台阶445在纵向方向上由所述第六膜层426的厚度形成。所述第七膜层427的第六侧边缘位于第六膜层426的内侧且与第六膜层426的同侧边缘形成间距，在本实施例中，所述第六侧为图示中的左侧，所述间距与所述第七膜层427的左侧部分形成第六台阶446，所述第六台阶446在纵向方向上由所述第七膜层427的厚度形成。另外，在本发明的其他实施例中，所述第三侧、第四侧、第五侧、第六侧不限为左侧，还可以为右侧、上侧、下侧或者其他侧。

在本实施例中，位于所述第二膜层122第一侧边缘外的第一膜层121处的第一实测透光率与第二膜层122处的第二实测透光率不同，位于所述第三膜层323第二侧边缘外的第二膜层122处的第二实测透光率与第三膜层323处的第三实测透光率不同，位于所述第四膜层424第三侧边缘外的第三膜层323处的第三实测透光率与第四膜层424处的第四实测透光率不同，位于所述第五膜层425第四侧边缘外的第四膜层424处的第四实测透光率与第五膜层425处的第五实测透光率不同，位于所述第六膜层426第五侧边缘外的第五膜层425处的第五实测透光率与第六膜层426处的第六实测透光率不同，位于所述第七膜层427第六侧边缘外的第六膜层426处的第六实测透光率与第七膜层427处的第七实测透光率不同，具体为第一实测透光率、第二实测透光率、第三实测透光率、第四实测透光率、第五实测透光率、第六实测透光率、第七实测透光率逐步降低。请参见图8，其中图8左侧的图是符合要求的第一膜层121-第七膜层427的透光率，图8右侧的图中第六膜层426的透光率不符合要求，也即第六膜层426的特性不符合要求。

需要说明的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。对于装置实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

通过上述实施例的描述，本发明具有以下优点：

由于所述第二膜层形成在所述第一膜层上，所述第二膜层的第一侧边缘位于第一膜层的内侧且与第一膜层的同侧边缘形成间距，位于第二膜层第一侧边缘外的第一膜层处的第一实测透光率与第二膜层处的第二实测透光率相异。从而，通过所述第一实测透光率、所述第二实测透光率以及两者的差异，有助于监控显示面板制造过程第一膜层和第二膜层制程的变化以及其特性的变化，可以实现快速检测，降低了成本，而且对此种显示面板进行膜层检测比较准确。而且，可以在显示面板完全制造前进行检测，有利于节省不良分析时间和提升分析效率，方便对不符合要求的膜层进行修复，有利于提升产品的良率。

以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明权利要求所作的等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：

基板；

第一膜层，其为透光膜层，所述第一膜层形成在所述基板上；

第二膜层，其为透光膜层，所述第二膜层形成在所述第一膜层上，所述第二膜层的第一侧边缘位于所述第一膜层的内侧且与所述第一膜层的同侧边缘形成间距；其中，

位于所述第二膜层的所述第一侧边缘外的所述第一膜层处的第一实测透光率与所述第二膜层处的第二实测透光率相异。

2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一膜层包含的膜层数量为多层，所述第二膜层包含的膜层数量为多层,所述第一膜层内相邻膜层之间在第一侧的边缘形成间距，所述第二膜层内相邻膜层之间在第一侧边缘形成间距。

3.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一膜层为缓冲层、栅极绝缘层、层间绝缘层、第一平坦层、共通电极层或第二绝缘层，所述第二膜层为栅极绝缘层、层间绝缘层、第一平坦层、共通电极层、第二绝缘层或像素电极层。

4.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述基板为阵列基板，所述阵列基板上设有不透光基准层，所述显示面板还包括滤光片基板，所述阵列基板与所述滤光片基板组立在一起，所述滤光片基板上设有黑色矩阵，所述不透光基准层和所述黑色矩阵之间设有透光的间隙。

5.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括第三膜层，所述第三膜层为透光膜层，所述第三膜层形成在所述第二膜层上，所述第三膜层的第二侧边缘位于所述第二膜层的内侧且与所述第二膜层的同侧边缘形成间距，位于所述第三膜层第二侧边缘外的所述第二膜层处的透光率与所述第三膜层处的透光率相异，所述第一侧和所述第二侧位于基板的同一侧。

6.一种显示面板的膜层检测系统，其特征在于，包括：

显示面板，其为权利要求1-5任意一项所述的显示面板；

光发射器，其位于所述显示面板的一侧，其用于发射检测光，所述检测光分别穿过位于所述第二膜层所述第一侧边缘外的所述第一膜层处和所述第二膜层处；

光接收器，其位于所述显示面板的另一侧，所述光接收器用于接收所述光发射器发射的所述检测光；

处理单元，其与所述光接收器相连，根据所述光接收器接收的所述检测光获得位于所述第二膜层所述第一侧边缘外的所述第一膜层处的所述第一实测透光率和所述第二膜层处的所述第二实测透光率。

7.如权利要求6所述的显示面板的膜层检测系统，其特征在于，所述膜层检测系统还包括判断单元，所述判断单元预存位于所述第二膜层所述第一侧边缘外的所述第一膜层处的第一标准透光率、所述第二膜层处的第二标准透光率，根据所述第一标准透光率、所述第一实测透光率、第二标准透光率、所述第二实测透光率判断所述第一膜层、所述第二膜层是否符合要求。

8.如权利要求6所述的显示面板的膜层检测系统，其特征在于，所述光发射器还分别向不透光基准层和黑色矩阵发射所述检测光，根据所述光接收器接收的所述检测光所述膜层检测系统获得不透光基准层与所述黑色矩阵之间间隙的间距。

9.如权利要求8所述的显示面板的膜层检测系统，其特征在于，所述光发射器发射的所述检测光用于获得不透光基准层与所述黑色矩阵之间间隙的间距时所述光发射器移动的预设步长范围是0.1μm-0.5μm。

10.如权利要求6所述的显示面板的膜层检测系统，其特征在于，所述光发射器发射的所述检测光用于获得所述第一实测透光率、所述第二实测透光率时所述光发射器移动的预设步长范围是0.5μm-20μm。