CN106963335A - 主观式检眼装置 - Google Patents

Abstract

主观式检眼装置具备主观式测定部和客观式测定部，主观式测定部主观地测定上述受检眼的光学特性，并具有：向受检眼投影视标光束的投光光学系统；具有被设置为左右一对的右眼用矫正光学系统以及左眼用矫正光学系统且配置于上述投光光学系统的光路中变更上述视标光束的光学特性的矫正光学系统；为包括上述右眼用矫正光学系统的右眼用光路和包括上述左眼用矫正光学系统的左眼用光路共有且将经上述矫正光学系统矫正后的上述视标光束向上述受检眼导光的光学部件，客观式测定部具有向上述受检眼的眼底射出测定光并接受来自上述眼底的反射光的测定光学系统，客观式测定部经由配置于上述测定光学系统的光路的上述光学部件客观地测定上述受检眼的光学特性。

Description

主观式检眼装置

技术领域

本发明涉及主观式检眼装置。

背景技术

主观式检眼装置例如主观地测定受检眼的光学特性。在日本专利公开公报特开平5-176893号所公开的主观式检眼装置中，例如，将能够进行屈光度调节的矫正光学系统单独配置在受检人的眼前。利用借助该矫正光学系统的投光，将检查视标的像形成在受检眼的眼底。检查人收到受检人的响应，进行矫正光学系统的调节直至受检人能适当地看到该视标为止，由此求出矫正值。检查人基于该矫正值测定受检眼的屈光力。另外，例如，在美国专利公报第3874774号所公开的主观式检眼装置中，经由矫正光学系统将检查视标的像形成在受检人的眼前。在该装置中，不将矫正光学系统配置于眼前地测定受检眼的屈光力。

当测定受检眼的光学特性时，如果使用在眼前配置装置的一部分的装置，则存在受检眼相对于在眼前配置的装置的一部分进行调节、致使测定精度降低的情况。因此，当测定受检眼的光学特性的情况下，优选如受检人在日常生活中观看事物那样的自然的状态(眼前不配置装置的一部分的开放状态)下、通过主观式测定来测定光学特性，或者通过客观式测定来测定光学特性。

发明内容

本发明的一个目的在于提供以下的主观式检眼装置。该主观式检眼装置能够进行自然状态下的主观式测定以及客观式测定，并能够高精度地进行测定。

另外，以往，在主观式检眼装置中，由于构成装置的各部件而产生光学像差。因此，对光学像差进行修正。然而，当主观地测定受检眼的光学特性时，光学像差会因测定条件(例如，眼屈光力、检查距离，辐辏角度)而变化。因此，如果以恒定的用于修正光学像差的修正量进行修正，则存在难以抑制光学像差的情况。

本发明的另一目的在于提供以下的主观式检眼装置。该主观式检眼装置能够抑制光学像差，并且，能够高精度地测定受检眼的光学特性。

另外，在主观式检眼装置中，在主观地测定受检眼的光学特性时，调整受检眼与主观式检眼装置的位置关系的动作(校准动作)较为重要。例如，如果未适当地进行校准动作，则当主观地测定受检眼的光学特性时，存在受检眼的光学特性的测定结果的精度降低的情况。另外，例如，存在受检眼与主观式检眼装置的位置关系的调整较为费时的情况。在这种情况下，在主观地测定受检眼的光学特性时，存在无法高效地进行校准动作的情况。

本发明的又一目的在于提供以下的主观式检眼装置。该主观式检眼装置在主观地测定受检眼的光学特性时，能够高精度地测定受检眼的光学特性。进而，该主观式检眼装置还能够高效地进行校准动作。

为了实现上述目的，本发明第1方式的主观式检眼装置具备：主观式测定部，其具有投光光学系统、矫正光学系统以及光学部件，并主观地测定受检眼的光学特性，其中，上述投光光学系统将视标光束向受检眼投影，上述矫正光学系统具有被设置为左右一对的右眼用矫正光学系统以及左眼用矫正光学系统，并配置于上述投光光学系统的光路中，变更上述视标光束的光学特性，上述光学部件为包括上述右眼用矫正光学系统的右眼用光路与包括上述左眼用矫正光学系统的左眼用光路共有，并将经上述矫正光学系统矫正后的上述视标光束向上述受检眼导光；以及客观式测定部，其具有向上述受检眼的眼底射出测定光，并接受来自上述眼底的反射光的测定光学系统，并经由配置于上述测定光学系统的光路的上述光学部件客观地测定上述受检眼的光学特性。

第2方式的主观式检眼装置在第1方式的主观式检眼装置基础上，上述主观式测定部中的从上述光学部件到上述受检眼之间的光轴与上述客观式测定部中的从上述光学部件到上述受检眼之间的光轴为同轴。

第3方式的主观式检眼装置在第1方式的主观式检眼装置基础上，上述光学部件包括凹面镜，上述主观式测定部通过由上述凹面镜将经上述矫正光学系统矫正后的上述视标光束向上述受检眼的方向反射，而向上述受检眼导光上述视标光束，并将经上述矫正光学系统矫正后的上述视标光束的像，以受检人检测的上述像的形成位置与上述受检眼的距离成为光学上规定的检查距离的方式向上述受检眼导光。

第4方式的主观式检眼装置在第1方式的主观式检眼装置基础上，还具备：偏移检测部，其检测相对于上述受检眼的、上述矫正光学系统的像的位置偏移；偏转部件，其配置于上述矫正光学系统与上述受检眼之间，分别设置，为左右一对；驱动部，其驱动上述偏转部件；修正部，其通过基于由上述偏移检测部检测的检测结果控制上述驱动部，使用于将上述矫正光学系统的像向上述受检眼导光的表观的光束偏转，由此光学地修正上述像的形成位置。

第5方式的主观式检眼装置在第1方式的主观式检眼装置基础上，还具备：修正设定部，其基于上述矫正光学系统的矫正度数设定用于修正在上述主观式测定部产生的光学像差的修正量；以及像差修正部，其基于由上述修正设定部设定的上述修正量，修正在上述主观式测定部产生的上述光学像差。

第6方式的主观式检眼装置在第1方式的主观式检眼装置基础上，还具备：控制部，其通过变更上述视标光束的像的形成位置而变更上述视标光束所产生的视标的呈现距离；修正设定部，其基于上述呈现距离设定用于修正在上述主观式测定部产生的光学像差的修正量；以及像差修正部，其基于由上述修正设定部设定的上述修正量，修正在上述主观式测定部产生的上述光学像差。

第7方式的主观式检眼装置在第1方式的主观式检眼装置基础上，还具备：辐辏角度变更部，其变更从上述右眼用光路以及上述左眼用光路射出的上述视标光束的辐辏角度；修正设定部，其基于上述辐辏角度设定用于修正在上述主观式测定部产生的光学像差的修正量；以及像差修正部，其基于由上述修正设定部设定的上述修正量，修正在上述主观式测定部产生的上述光学像差。

第8方式的主观式检眼装置在第5方式的主观式检眼装置基础上，还具备：判定部，其基于由上述客观式测定部取得的眼屈光力判定是否需要辅助光学部件；以及控制插拔部，其基于上述判定部的判定结果控制上述主观式测定部的光路中的、上述辅助光学部件的插入或拔出。

第9方式的主观式检眼装置在第5方式的主观式检眼装置基础上，还具备：判定部，其基于由上述客观式测定部取得的眼屈光力判定是否需要辅助光学部件；以及显示部，其将基于上述判定部的判定结果的报告信息显示于监视器。

第10方式的主观式检眼装置在第1方式的主观式检眼装置基础上，还具备：取得部，其取得客观地测定的上述受检眼的眼屈光力；以及设定部，其基于上述眼屈光力设定用于进行上述受检眼与上述主观式测定部的校准状态的判定的校准允许范围。

附图说明

图1为本实施方式的主观式检眼装置的外观图。

图2为用于对测定部的结构进行说明的图。

图3为从正面方向观察本实施方式的主观式检眼装置的内部的概略结构图。

图4为从侧面方向观察本实施方式的主观式检眼装置的内部的概略结构图。

图5为从上面方向观察本实施方式的主观式检眼装置的内部的概略结构图。

图6表示在远用距离呈现视标的情况的一例。

图7表示在近用距离呈现视标的情况的一例。

图8A以及图8B为用于对偏转镜的移动所产生的光轴间距离的变更进行说明的图。

图9表示显示由拍摄元件拍摄的前眼部图像的前眼部观察画面。

图10为用于对校准控制进行说明的图。

图11A～图11C为用于对校准允许范围的变更进行说明的图。

附图标记说明

1 主观式检眼装置

2 框体

3 呈现窗

4 监视器

5 颚托

6 基台

7 测定部

10 客观式测定光学系统

25 主观式测定光学系统

30 投光光学系统

45 第1标志投影光学系统

46 第2标志投影光学系统

50 观察光学系统

60 矫正光学系统

70 控制部

72 存储器

81 偏转镜

84 半透半反镜

85 凹面镜

90 修正光学系统

100 拍摄光学系统

在下面的详细说明中，出于说明的目的，为了提供对所公开的实施方式的彻底的理解，提出了许多具体的细节。然而，显然可以在没有这些具体细节的前提下实施一个或更多的实施方式。在其它的情况下，为了简化制图，示意性地示出了公知的结构和装置。

具体实施方式

在下面的详细描述中，为了便于解释，阐述了许多具体细节以提供一个深入了解所公开的实施例。不过显而易见，没有这些具体的细节的一个或多个实施例仍可被实施。此外，已知的结构和器件被示意性示出以简化附图。

以下，参照附图对典型的实施方式之一进行说明。此外，在以下的说明中，将主观式检眼装置1的进深方向(受检人在接受测定时的受检人的前后方向)设为Z方向。将与进深方向垂直(受检人在接受测定时的受检人的左右方向)的、平面上的水平方向设为X方向。进而，将铅垂方向(受检人在接受测定时的受检人的上下方向)设为Y方向。此外，以下标注于附图标记的R表示右眼用、L表示左眼用。

图1为本实施方式的主观式检眼装置1的外观图。本实施方式的主观式检眼装置1具备壳体2、呈现窗3、操作部(监视器)4、颚托5、基台6、以及拍摄光学系统100等。例如，壳体2在内部收纳部件。例如，在壳体2的内部具备右眼用测定部7R以及左眼用测定部7L(图1的虚线部。详情后述)。此外，在后文中，当无需区分右眼用测定部7R与左眼用测定部7L的情况下，存在将它们统一称为测定部7的情况。在本实施方式中，右眼用测定部7R与左眼用测定部7L具备相同的部件。即，主观式检眼装置1具有左右一对主观式测定部、左右一对客观式测定部。当然，右眼用测定部7R与左眼用测定部7L也可以至少有部分部件不同。

例如，呈现窗3被用于向受检人呈现视标。例如，来自右眼用测定部7R以及左眼用测定部7L的视标光束经由呈现窗3向作为受检眼的右眼ER以及左眼EL(参照图3)投影。此外，在后文中，存在当无需区分右眼ER与左眼EL的情况下，将它们统一称为受检眼E的情况。

例如，监视器(显示器)4为触控面板。即，在本实施方式中，监视器4作为操作部发挥功能。监视器4将与输入的操作指示相应的信号向后述的运算控制部70输出。当然，监视器4与操作部也可以分开设置。例如，在操作部中可以使用鼠标、控制手柄、键盘等操作部的至少任意一个。

例如，监视器4可以是搭载于主观式检眼装置1的主体的显示器，也可以是与主观式检眼装置1的主体连接的显示器。当然，监视器4也可以不是触控面板式。作为监视器4，例如，可以使用个人计算机(以下，称为“PC”。)的显示器。另外，作为监视器4，例如可以同时采用多个显示器。例如，在监视器4显示测定结果。

例如，颚托5被用于将受检眼E与主观式检眼装置1的距离保持为恒定，或者被用于抑制面部的大幅偏移。例如，在基台6固定颚托5以及壳体2。此外，在本实施方式中，为了将受检眼E与主观式检眼装置1的距离保持为恒定，使用颚托5。但是，用于将受检眼E与主观式检眼装置1的距离保持为恒定的结构并不局限于颚托5。作为用于将受检眼E与主观式检眼装置1的距离保持为恒定的结构，例如，可举出前额垫、脸托。

例如，拍摄光学系统100包括未图示的拍摄元件以及透镜。例如，拍摄光学系统100被用于拍摄受检眼的面部。

＜测定部＞

图2是用于对测定部7的结构进行说明的图。在本实施方式中，以左眼用测定部7L为例进行说明。在本实施方式中，右眼用测定部7R与左眼用测定部7L为相同的结构，因此省略说明。例如，左眼用测定部7L具备主观式测定光学系统25、客观式测定光学系统10、第1标志投影光学系统45、第2标志投影光学系统46以及观察光学系统50。

＜主观式测定光学系统＞

例如，主观式测定光学系统25被用作主观地测定受检眼的光学特性的主观式测定部的结构的一部分(详情后述)。例如，作为受检眼的光学特性，可举出眼屈光力、对比度灵敏度以及两眼视力功能(例如，斜视量以及立体视觉功能)。此外，在本实施方式中，作为一例，对测定受检眼的眼屈光力的主观式测定部进行说明。例如，主观式测定光学系统25包括投光光学系统(视标投光系)30、矫正光学系统60以及修正光学系统90。

例如，投光光学系统30将视标光束向受检眼E投影。例如，投光光学系统30具备显示器31、投光透镜33、投光透镜34、反射镜36、分色镜35、分色镜29以及物镜14。例如，从显示器31投影来的视标光束依次经由多个光学部件、即投光透镜33、投光透镜34、反射镜36、分色镜35、分色镜29以及物镜14向受检眼E投影。

例如，在显示器31显示朗多环视标等检查视标，或者显示用于使受检眼E固定目视的固视标(被用于后述的客观测定时等)。例如，来自显示器31的视标光束向受检眼E投影。例如，作为显示器31，使用LCD(Liquid Crystal Display)或有机EL(ElectroLuminescence)。在本实施方式中，以使用LCD作为显示器31的情况为例进行如下说明。

此外，在本实施方式中，作为投影视标光束的光源，使用显示器31。但是，该光源并不局限于显示器31。该光源只要构成为投影视标光束即可。例如，作为该光源，可以使用DMD(Digital Micromirror Device)。一般而言，DMD具有高的反射率，较亮。因此，同使用采用偏振光的显示器(液晶显示器)31的情况相比，能够维持视标光束的光量。另外，该光源例如可以是具有视标呈现用可见光源、具有固视标的视标板的结构。在这种情况下，例如，视标板为可旋转的圆盘板，具有多个视标。多个视标例如包括用于在后述的客观测定时，使受检眼E蒙上云雾的固视标、以及在主观测定时使用的视力检查用视标。例如，作为视力检查用视标，准备有针对每个视力值的视标(与视力值0.1、0.3、···、1.5对应的标志)。例如，通过马达等使视标板旋转，从而将视标在投光光学系统30的光轴L2上切换配置。由视标呈现用可见光源照明的视标的视标光束，经由从投光透镜33到分色镜29的光学部件射向受检眼E。

例如，矫正光学系统60具备散光矫正光学系统63以及驱动机构39。

例如，散光矫正光学系统63配置于投光透镜34与投光透镜33之间。例如，散光矫正光学系统63被用于根据受检眼的圆柱度数以及圆柱轴等矫正视标光束。例如，散光矫正光学系统63具备具有彼此相等的焦距的2片正的圆柱透镜61a、61b。圆柱透镜61a、61b分别通过旋转机构62a、62b的驱动以光轴L2为中心分别独立地旋转。此外，在本实施方式中，作为一例，示出具备2片正的圆柱透镜61a、61b的散光矫正光学系统63。但是，散光矫正光学系统63并不局限于此。散光矫正光学系统63只要构成为能够根据受检眼的圆柱度数以及圆柱轴等矫正视标光束即可。散光矫正光学系统63例如可以构成为使矫正透镜移出或移入投光光学系统30的光路。

例如，显示器31通过包含马达以及滑动机构的驱动机构39沿光轴L2的方向一体移动。例如，在主观测定时，通过显示器31移动，光学地改变相对于受检眼的、视标的呈现位置(呈现距离)。由此，视标光束根据受检眼的球面屈光力(球面度数)被矫正。即，球面度数的矫正光学系统包括能够移动的显示器31。另外，例如，在客观测定时，通过显示器31移动，使受检眼E蒙上云雾。此外，球面度数的矫正光学系统并不局限于上述的结构。例如，球面度数的矫正光学系统可以具有多个光学元件，并通过在光路中配置光学元件来矫正视标光束。另外，球面度数的矫正光学系统例如可以使配置于光路中的透镜沿光轴方向移动。

此外，在本实施方式中，作为一例，示出根据受检眼的球面度数、圆柱度数、以及圆柱轴矫正视标光束的矫正光学系统。但是，矫正光学系统并不局限于此。例如，可以设置根据受检眼的棱镜值矫正视标光束的矫正光学系统。通过设置根据棱镜值矫正视标光束的矫正光学系统，来矫正视标光束，使得即便受检人为斜视眼，也可将视标光束向受检眼投影。

此外，在本实施方式中，作为一例，示出分别设置圆柱度数以及圆柱轴的散光矫正光学系统63、球面度数的矫正光学系统(例如，驱动机构(驱动部)39)的结构。但是，并不局限于此，例如，只要具备根据受检眼的球面度数、圆柱度数以及圆柱轴矫正视标光束的矫正光学系统即可。例如，矫正光学系统可以是调制波面的光学系统。另外，例如，矫正光学系统也可以是根据受检眼的球面度数、圆柱度数以及圆柱轴等矫正视标光束的光学系统。在这种情况下，例如，矫正光学系统可以具备包括配置于相同圆周上的、多个光学元件(球面透镜、圆柱透镜、分散棱镜等)的透镜盘。在这种情况下，通过由驱动部(致动器等)旋转控制透镜盘，使检查人所希望的光学元件配置于光轴L2。

另外，通过由驱动部旋转控制配置于光轴L2的光学元件(例如，圆柱透镜、交叉圆柱透镜、旋转棱镜)，使光学元件以检查人所希望的旋转角度配置于光轴L2。配置于光轴L2的光学元件的切换等可以通过由检查人操作监视器4等的输入部(操作部)来进行。

透镜盘可以为一个，也可以为多个。当配置多个透镜盘的情况下，分别设置与各透镜盘对应的驱动部。例如，各透镜盘具备作为透镜盘组的开口(或者0D的透镜)以及多个光学元件。各透镜盘的代表的种类为具有度数不同的多个球面透镜的球面透镜盘、具有度数不同的多个圆柱透镜的圆柱透镜盘以及具有多个种类的辅助透镜的辅助透镜盘。在辅助透镜盘配置红滤光片/绿滤光片、棱镜、交叉圆柱透镜、偏光板、马氏杆透镜、以及自动交叉圆柱透镜的至少任意一个。另外，圆柱透镜被配置为能够通过驱动部以光轴L2为中心旋转。旋转棱镜以及交叉圆柱透镜也可以配置为能够通过驱动部以各光轴为中心旋转。

例如，修正光学系统90配置于物镜14与后述的偏转镜81(参照图3)之间。例如，修正光学系统90被用于修正在主观式测定部产生的光学像差。例如，修正光学系统90被用于修正光学像差中的像散。例如，修正光学系统90具备焦距相等的、2片正的圆柱透镜91a、91b。例如，修正光学系统90通过调节圆柱度数以及圆柱轴来修正像散。圆柱透镜91a、91b分别通过旋转机构92a、92b的驱动而分别独立地以光轴L3为中心旋转。此外，在本实施方式中，作为一例，修正光学系统90具备2片正的圆柱透镜91a、91b。但是，并不局限于此，修正光学系统90只要构成为能够矫正像散即可。例如，修正光学系统90可以构成为使修正透镜移出或移入光轴L3。此外，在本实施方式中，作为一例，修正光学系统90被配置为与矫正光学系统60分开的部件。但是，并不局限于此，矫正光学系统60也可以兼做修正光学系统90。在这种情况下，受检眼的、圆柱度数以及圆柱轴根据像散量被修正。即，以考虑(修正)像散量、并且根据受检眼的、圆柱度数圆柱轴矫正视标光束的方式驱动矫正光学系统60。这样，通过由矫正光学系统60兼做修正光学系统90，例如，无需复杂的控制，并且无需分体的、光学像差用的修正光学系统。因此，能够凭借简单的结构修正光学像差。

＜客观式测定光学系统＞

例如，客观式测定光学系统10被用作客观地测定受检眼的光学特性的客观式测定部的结构的一部分(详情后述)。例如，作为受检眼的光学特性，可举出眼屈光力、眼轴长以及角膜形状。此外，在本实施方式中，作为一例，对测定受检眼的眼屈光力的客观式测定部进行说明。

例如，客观式测定光学系统10具备投影光学系统10a、受光光学系统10b、以及修正光学系统90。例如，投影光学系统(投光光学系统)10a经由受检眼E的瞳孔中心部向受检眼E的眼底投影点状的测定标志。例如，受光光学系统10b将光被眼底反射后得到的眼底反射光经由瞳孔周边部取出作为环形的眼底反射像。受光光学系统10b二维拍摄元件22拍摄该环形的眼底反射像。

例如，投影光学系统10a包括配置于客观式测定光学系统10的光轴L1上的测定光源(光源)11、中继透镜12、孔镜13、棱镜15、驱动部(马达)23、分色镜35、分色镜29以及物镜14。例如，棱镜15为光束偏转部件。例如，驱动部23为使棱镜15以光轴L1为中心旋转驱动的旋转部。例如，光源11为与受检眼眼底共轭的关系。例如，孔镜13的孔部为与瞳孔共轭的关系。例如，棱镜15配置在从与受检眼E的瞳孔共轭的位置偏离的位置。例如，棱镜15使通过的光束相对于光轴L1偏心。此外，也可以代替棱镜15，转而将作为光束偏转部件的平行平面板倾斜地配置在光轴L1上。

例如，分色镜35在主观式测定光学系统25的光路与客观式测定光学系统10的光路通用。即，例如，分色镜35使主观式测定光学系统25的光轴L2与客观式测定光学系统10的光轴L1同轴。例如，作为光路分支部件的分色镜(偏振光分光器)29反射主观式测定光学系统25所产生的光束以及投影光学系统10a所产生的测定光，并导向受检眼。

例如，受光光学系统10b与投影光学系统10a共用投影光学系统10a的物镜14、分色镜29、分色镜35、棱镜15以及孔镜13。受光光学系统10b具备配置于孔镜13的反射方向的光路的中继透镜16和镜17、以及配置于镜17的反射方向的光路的受光光圈18、准直透镜19、环形透镜20和CCD等二维拍摄元件22(以下，记载为拍摄元件22)。例如，受光光圈18以及拍摄元件22为与受检眼的眼底共轭的关系。例如，环形透镜20具备形成为环形的透镜部、遮光部。遮光部为透镜部以外的区域。在遮光部进行遮光用的涂层。环形透镜20具有与受检眼的瞳孔为光学共轭的位置关系。例如，来自拍摄元件22的输出信号由运算控制部70(以下，控制部70)接收。

例如，分色镜29将来自投影光学系统10a的测定光被受检眼的眼底反射后得到的反射光(眼底反射光)向受光光学系统10b反射。另外，例如，分色镜29透射前眼部观察光以及校准光，并导向观察光学系统50。另外，例如，分色镜35将上述的眼底反射光向受光光学系统10b反射。

此外，客观式测定光学系统10的结构并不局限于上述的结构。客观式测定光学系统10也可以具有其他公知的结构。例如，客观式测定光学系统10可以从瞳孔周边部向眼底投影环形的测定标志。在这种情况下，在客观式测定光学系统10中，可以由二维拍摄元件22接收从瞳孔中心部取出的环形的眼底反射光。

此外，客观式测定光学系统10的结构并不局限于上述结构。客观式测定光学系统10只要是具有投光光学系统以及受光光学系统的测定光学系统即可。投光光学系统向受检眼的眼底投射测定光。受光光学系统通过受光元件接收测定光被眼底反射后取得的反射光。例如，眼屈光力测定光学系统也可以具备夏克-哈特曼传感器。当然，也可以利用其他的测定方式的装置(例如，投影狭缝的相位差方式的装置)。

例如，投影光学系统10a的光源11、受光光学系统10b的受光光圈18、准直透镜19、环形透镜20以及拍摄元件22能够沿光轴方向一体移动。在本实施方式中，例如，投影光学系统10a的光源11、受光光学系统10b的受光光圈18、准直透镜19、环形透镜20以及拍摄元件22通过驱动显示器31的驱动机构39一体地沿光轴L1的方向移动。即，显示器31、投影光学系统10a的光源11、受光光学系统10b的受光光圈18、准直透镜19、环形透镜20以及拍摄元件22作为驱动单元95同步且一体地移动。当然，这些部件也可以分别被另行驱动。

例如，驱动单元95使客观式测定光学系统10的一部分以外侧的环形光束在各经线方向上向拍摄元件22上入射的方式沿光轴方向移动。即，通过使客观式测定光学系统10的一部分根据受检眼的球面屈光误差(球面屈光力)沿光轴L1方向移动来修正球面屈光误差。进而，由此相对于受检眼眼底，光源11、受光光圈18以及拍摄元件22达到光学共轭。驱动机构39的移动位置由未图示的电位计检测。此外，孔镜13以及环形透镜20被配置为不受上述客观式测定光学系统10的一部分(活动单元)的移动量影响，以恒定的倍率与受检眼的瞳孔共轭。

在上述结构中，从光源11射出的测定光经由中继透镜12、孔镜13、棱镜15、分色镜35以及分色镜29、物镜14在受检眼的眼底上形成点状的点光源像。此时，通过围绕光轴旋转的棱镜15，孔镜13的孔部的瞳孔投影像(瞳孔上的投影光束)高速地偏心旋转。投影在眼底的点光源像被反射以及散射后从受检眼射出，由物镜14聚光。随后，该光经由分色镜29、分色镜35、高速旋转的棱镜15、孔镜13、中继透镜16、以及镜17再次聚光于受光光圈18的位置。聚光后的光通过准直透镜19以及环形透镜20，在拍摄元件22成像环形的像。

例如，棱镜15配置在投影光学系统10a与受光光学系统10b的共用光路。因此，来自眼底的反射光束通过与投影光学系统10a的光束通过的棱镜相同的棱镜15。因此，在棱镜15以后的光学系统中，以好似没有瞳孔上的、投影光束以及反射光束(受光光束)的偏心的方式实施逆扫描。

例如，客观式测定光学系统10的修正光学系统90兼做主观式测定光学系统25的修正光学系统90。当然，也可以另外设置在客观式测定光学系统10中使用的修正光学系统。

＜第1标志投影光学系统以及第2标志投影光学系统＞

在本实施方式中，第1标志投影光学系统45以及第2标志投影光学系统46配置在修正光学系统90与偏转镜81之间。当然，第1标志投影光学系统45以及第2标志投影光学系统46的配置位置并不局限于此。

在第1标志投影光学系统45中，以光轴L3为中心，在同心圆上间隔45度配置多个红外光源。多个红外光源被配置为隔着通过光轴L3的垂直平面呈左右对称。第1标志投影光学系统45产生用于向受检眼的角膜投影校准标志的近红外光。第2标志投影光学系统46配置在与第1标志投影光学系统45不同的位置，且具备6个红外光源。在这种情况下，第1标志投影光学系统45从左右方向向受检眼E的角膜投影无限远的标志。第2标志投影光学系统46从上下方向或倾斜方向向受检眼E的角膜投影有限远的标志。此外，图2中，为了简便，仅图示出第1标志投影光学系统45的一部分以及第2标志投影光学系统46的一部分。此外，第2标志投影光学系统46被用作照明受检眼的前眼部的前眼部照明。另外，第2标志投影光学系统46也可以被用作角膜形状测定用的标志。另外，第1标志投影光学系统45的光源以及第2标志投影光学系统46的光源并不局限于点状光源。这些光源例如也可以是环形光源或线状的光源。

＜观察光学系统＞

观察光学系统(拍摄光学系统)50共用主观式测定光学系统25以及客观式测定光学系统10、物镜14以及分色镜29。进而，观察光学系统50具备拍摄透镜51以及二维拍摄元件52。例如，二维拍摄元件52具有被配置在与受检眼的前眼部大致共轭的位置的拍摄面。例如，来自二维拍摄元件52的输出信号由控制部70接收。由此，受检眼的前眼部像由二维拍摄元件52拍摄，并显示在监视器4上。此外，该观察光学系统50兼做通过第1标志投影光学系统45以及第2标志投影光学系统46检测在受检眼的角膜形成的校准标志像的光学系统。通过控制部70检测校准标志像的位置。

＜主观式检眼装置内部结构＞

以下，对于主观式检眼装置1的内部结构进行说明。图3为从正面方向(图1的A方向)观察本实施方式的主观式检眼装置1的内部的概略结构图。图4为从侧面方向(图1的B方向)观察本实施方式的主观式检眼装置1的内部的概略结构图。图5为从上面方向(图1的C方向)观察本实施方式的主观式检眼装置1的内部的概略结构图。此外，在图3中，为了便于说明，省略半透半反镜84中的反射光的光轴。此外，在图4中，为了便于说明，示出左眼用测定部7L的光轴，另一方面省略右眼用测定部7R的光轴。进而，在图5中，为了便于说明，示出左眼用测定部7L的光轴，另一方面省略右眼用测定部7R的光轴。

例如，主观式检眼装置1具有主观式测定部、客观式测定部。例如，主观式测定部具备测定部7、偏转镜81、驱动部83、驱动部82、半透半反镜84以及凹面镜85。当然，主观式测定部的结构并不局限于上述结构。例如，客观式测定部具备测定部7、偏转镜81、半透半反镜84以及凹面镜85。当然，客观式测定部的结构并不局限于该结构。

此外，主观式检眼装置1具有右眼用驱动部9R以及左眼用驱动部9L。右眼用驱动部9R以及左眼用驱动部9L分别能够使右眼用测定部7R以及左眼用测定部7L沿X方向移动。例如，通过右眼用测定部7R以及左眼用测定部7L移动，从而变更偏转镜81与测定部7之间的距离。其结果，Z方向的视标光束的呈现位置变更。由此，能够将经矫正光学系统60矫正后的视标光束导向受检眼。即，能够调整在Z方向上的、矫正后的视标光束的位置，使得经矫正光学系统60矫正后的视标光束的像形成在受检眼的眼底。

例如，偏转镜81具有在左右分别设置的一对右眼用的偏转镜81R以及左眼用的偏转镜81L。例如，偏转镜81配置在矫正光学系统60与受检眼之间。即，矫正光学系统60具有设置为左右一对的右眼用矫正光学系统以及左眼用矫正光学系统。右眼用的偏转镜81R配置在右眼用矫正光学系统与右眼ER之间。左眼用的偏转镜81L配置在左眼用矫正光学系统与左眼EL之间。例如，偏转镜81优选为配置在瞳孔共轭位置。

例如，右眼用的偏转镜81R反射从右眼用测定部7R投影的光束，并导向右眼ER。另外，右眼用的偏转镜81R例如将光被右眼ER反射后得到的反射光反射，并导向右眼用测定部7R。例如，左眼用的偏转镜81L反射从左眼用测定部7L投影的光束，并导向左眼EL。另外，左眼用的偏转镜81L例如将光被左眼EL反射后得到的反射光进行反射，并导向左眼用测定部7L。此外，在本实施方式中，作为反射从测定部7投影的光束，并导向受检眼E的偏转部件的一例，示出偏转镜81。但是，偏转部件并不局限于偏转镜81。偏转部件只要是反射从测定部7投影的光束，并向受检眼E导光的部件即可。例如，作为其他偏转部件，可举出棱镜以及透镜等。

例如，驱动部83具备马达(驱动部)等。例如，驱动部83具有用于驱动右眼用的偏转镜81R的驱动部83R以及用于驱动左眼用的偏转镜81L的驱动部83L。例如，利用驱动部83的驱动，偏转镜81能够沿X方向移动。例如，通过右眼用的偏转镜81R以及左眼用的偏转镜81L移动，变更右眼用的偏转镜81R与左眼用的偏转镜81L之间的距离。由此，能够与受检眼的瞳孔间距离一致地，变更右眼用光路与左眼用光路之间的X方向的距离。

例如，驱动部82具备马达(驱动部)等。例如，驱动部82具有用于驱动右眼用的偏转镜81R的驱动部82R、用于驱动左眼用的偏转镜81L的驱动部82L。例如，通过驱动部82的驱动，偏转镜81旋转移动。例如，驱动部82使偏转镜81相对于水平方向(X方向)的旋转轴以及铅垂方向(Y方向)的旋转轴旋转。即，驱动部82使偏转镜81沿XY方向旋转。此外，偏转镜81的旋转方向也可以是水平方向或者铅垂方向。此外，也可以在右眼用光路与左眼用光路分别设置多个偏转镜。例如，可以在右眼用光路与左眼用光路分别设置2个偏转镜。例如，可以在右眼用光路设置2个偏转镜。在这种情况下，一个偏转镜可以沿X方向旋转，另一个偏转镜可以沿Y方向旋转。例如，通过偏转镜81旋转移动，能够将在受检眼的眼前形成的表观的光束偏转。由此，能够光学地修正由矫正光学系统60生成的像的形成位置。

例如，凹面镜85为右眼用测定部7R与左眼用测定部7L共有。例如，凹面镜85为包括右眼用矫正光学系统的右眼用光路与包括左眼用矫正光学系统的左眼用光路共有。即，凹面镜85被配置在均通过包括右眼用矫正光学系统的右眼用光路与包括左眼用矫正光学系统的左眼用光路的位置。当然，凹面镜85也可以为上述的两光路共有。可以在包括右眼用矫正光学系统的右眼用光路与包括左眼用矫正光学系统的左眼用光路分别设置凹面镜。例如，凹面镜85将通过矫正光学系统后的视标光束导向受检眼，将通过矫正光学系统后的视标光束的像形成在受检眼的眼前。此外，在本实施方式中，以使用凹面镜85的结构为例举例示出。但是，也可以代替凹面镜85转而使用各种光学部件。例如，作为光学部件，可以使用透镜或平面反射镜。

例如，凹面镜85被兼用于主观式测定部、客观式测定部。例如，从主观式测定光学系统25投影的视标光束经由凹面镜85向受检眼投影。另外，例如，从客观式测定光学系统10投影的测定光经由凹面镜85向受检眼投影。另外，例如，从客观式测定光学系统10投影的测定光的反射光经由凹面镜85导向客观式测定光学系统10的受光光学系统10b。此外，在本实施方式中，作为一例，示出从客观式测定光学系统10投影的测定光的反射光经由凹面镜85导向客观式测定光学系统10的受光光学系统10b的结构。但是，并不局限于此，从客观式测定光学系统10投影的测定光的反射光也可以不经由凹面镜85导向客观式测定光学系统10的受光光学系统10b。

更详细地说，例如，本实施方式中，主观式测定部中的、从凹面镜85到受检眼E之间的光轴与客观式测定部中的、从凹面镜85到受检眼E之间的光轴至少为同轴。此外，在本实施方式中，通过分色镜35将主观式测定光学系统25的光轴L2与客观式测定光学系统10的光轴L1合成。其结果，光轴L2与光轴L1为同轴。

以下，对于主观式测定部的光路进行说明。例如，主观式测定部利用凹面镜85将通过矫正光学系统60后的视标光束向受检眼方向反射，由此向受检眼引导视标光束。主观式测定部将通过矫正光学系统60后的视标光束的像形成在受检眼的眼前，使得受检人检测的像的形成位置与受检眼的距离在光学上达到规定的检查距离。即，凹面镜85将视标光束以大致成为平行光束的方式反射。因此，对于受检人而言，视标像看起来要比从受检眼E到显示器31的实际的距离更远。即，通过使用凹面镜85，能够对受检人呈现出视标光束的像(视标像)看起来处于与规定的检查距离相应的位置的视标像。

对主观式测定部的光路更详细地进行说明。此外，在以下的说明中，以左眼用光路为例示出。右眼用光路也具有与左眼用光路相同的结构。例如，在左眼用的主观式测定部中，从左眼用测定部7L的显示器32投影的视标光束，经由投光透镜33向散光矫正光学系统63入射。通过散光矫正光学系统63后的视标光束经由反射镜36、分色镜35、分色镜29、以及物镜14向修正光学系统90入射。通过修正光学系统90后的视标光束从左眼用测定部7L射出，向左眼用的偏转镜81L投影。从左眼用测定部7L射出并被左眼用的偏转镜81反射后的视标光束，通过半透半反镜84向凹面镜85反射。由凹面镜反射后的视标光束透过半透半反镜84，到达左眼EL。

由此，以左眼EL的眼镜装用位置(例如，距角膜顶点12mm左右)为基准，将经矫正光学系统60矫正后的视标像形成在左眼EL的眼底上。因此，散光矫正光学系统63好似配置在眼前，进而，由球面度数的矫正光学系统(在本实施方式中，驱动机构39驱动)进行的球面度数的调节也好似在眼前进行。受检人经由凹面镜85，能够在自然的状态下视准视标像。此外，在本实施方式中，右眼用光路也具有与左眼用光路相同的结构。以两受检眼ER、EL的眼镜装用位置(例如，距角膜顶点12mm左右)为基准，将经左右一对矫正光学系统60矫正后的视标像形成在两受检眼的眼底上。这样，受检人在自然平视的状态下，一边直视视标，一边进行对于检查人的响应。受检人被进行基于矫正光学系统60的矫正，直至能适当地看到检查视标为止。基于该矫正值，主观地测定受检眼的光学特性。

接着，对客观式测定部的光路进行说明。此外，在以下的说明中，以左眼用光路为例进行说明。右眼用光路也具有与左眼用光路相同的结构。例如，在左眼用的客观式测定部中，从客观式测定光学系统10中的投影光学系统10a的光源11射出的测定光，经由从中继透镜12到物镜14，向修正光学系统90射入。通过修正光学系统90后的测定光从左眼用测定部7L射出，并向左眼用的偏转镜81L投影。从左眼用测定部7L射出并被左眼用的偏转镜81反射后的测定光，通过半透半反镜84向凹面镜85反射。由凹面镜反射后的测定光透过半透半反镜84，到达左眼EL，在左眼EL的眼底上形成点状的点光源像。此时，通过围绕光轴旋转的棱镜15，使孔镜13的孔部所产生的瞳孔投影像(瞳孔上的投影光束)高速偏心旋转。

形成在左眼EL的眼底上的点光源像的光被左眼EL反射以及散射后，从左眼EL射出。该光经由测定光所通过的光路，由物镜14聚光。聚光后的光经由分色镜29、分色镜35、棱镜15、孔镜13、中继透镜16被镜17反射。来自镜17的反射光在受光光圈18的开口上再次聚光。聚光后的光在准直透镜19形成为大致平行光束(正视眼的情况)。该大致平行光束通过环形透镜20被作为环形光束取出。环形光束作为环形像由拍摄元件22受光。通过解析受光的环形像，能够客观地测定受检眼的光学特性。

这样，例如，本实施方式中的主观式检眼装置1将矫正光学系统的像形成在受检眼的眼前。并且，本实施方式中的主观式检眼装置1除了主观式测定部之外，还具有客观式测定部。由此，主观式检眼装置1无需在受检人的眼前配置矫正光学系统，能够在开放状态下进行主观测定以及客观测定。由此，能够在受检人处于日常生活中观看事物的自然状态下进行测定，因此能够良好地测定。另外，由于能够凭借一个装置进行主观测定光学特性以及客观测定光学特性，因此能够顺畅地测定受检眼的光学特性。

另外，例如，在本实施方式的主观式检眼装置1中，主观式测定部与客观式测定部共用光学部件。由此，能够削减部件，因此能够简单地构成主观式检眼装置1。另外，能够减少多余的空间，因此能够将主观式检眼装置1小型化。

例如，本实施方式中的主观式检眼装置1的、主观检查部中的从光学部件到受检眼之间的光轴与客观检查部中的从光学部件到受检眼之间的光轴为同轴。因此，在受检眼的测定时，通过调节一方的检查部，能够使另一方的检查部的调节也完成。因此，能够容易地进行测定时的检查部的调节。即，通过进行客观式测定部的调节，还能够容易地进行主观式测定部的调节。

例如，本实施方式中的主观式检眼装置1使用凹面镜85将视标光束形成为大致平行光束。因此，主观式测定部对受检人能够以处于与光学上规定的检查距离相应的位置(规定的检查位置)的方式呈现视标。因此，无需配置用于将视标实际呈现在规定的检查位置的部件等。由此，无需多余的部件以及空间，因此能够将主观式检眼装置1小型化。

＜控制部＞

例如，控制部70具备CPU(处理器)、RAM以及ROM。例如，控制部70的CPU司职主观式检眼装置1的各部件的控制。例如，RAM将各种信息临时存储。在控制部70的ROM存储有用于对主观式检眼装置1的动作进行控制的各种程序、用于进行各种检查的视标数据以及初始值等。此外，控制部70也可以具备多个CPU。

例如，在控制部70电连接有非易失性存储器(存储部)72、以及监视器(在本实施方式中，兼做操作部)4以及各种部件。非易失性存储器(以下，记为存储器)72为即便被切断电源的供给仍可保持存储内容的、非短暂性的存储介质。例如，可以使用硬盘驱动器、快闪只读存储器、OCT设备、以及以能够拆装的方式装配于主观式检眼装置1的USB存储器作为存储器72。例如，在存储器72中存储用于对主观式测定部以及客观式测定部进行控制的控制程序。

＜对于凹面镜的偏转角度的调节所产生的辐辏角度的变更＞

在本实施方式中，控制部70也可以控制在右眼用光路以及左眼用光路分别配置的光偏转部件(例如，偏转镜81R、81L)，将右眼用测定光轴L4R以及左眼用测定光轴L4L的偏转角度在水平方向上变更。例如，控制部(辐辏角度变更部)70可以通过变更相对于凹面镜85的、测定光轴L4R、L4L的入射角度，来变更从右眼用光路以及左眼用光路射出的视标光束的辐辏角度。由此，能够根据视标的呈现距离，适当地变更辐辏角度。

在这种情况下，通过测定光轴L4R、L4L的角度在水平方向(X方向)上变更，使右眼用测定光轴L4R与左眼用测定光轴L4L的交叉点C的位置变更(参照图6、图7)。来自右眼用测定部7R的视标光束以测定光轴L4R为主光线，向右眼ER投影。由此，右眼ER的视线方向与右眼用测定光轴L4R同轴。同样，来自左眼用测定部7L的视标光束以左眼用测定光轴L4L为主光线，向左眼EL投影。因此，左眼EL的视线方向与左眼用测定光轴L4L同轴。其结果，视标光束的辐辏角度被变更，从而左右眼的辐辏角度被变更。

更详细地说，例如，控制部70可以通过控制驱动部82，调节偏转镜81R、81L的反射角度来使测定光轴L4R、L4L的偏转角度移动(变更)。当然，并不局限于偏转镜81R、81L，也可以使用其他光偏转部件。

图6示出在远用距离呈现视标的情况的一例。例如，控制部70可以通过使测定光轴L4R、L4L以经过凹面镜85的焦点位置的方式偏转，来设定与远用距离对应的辐辏角度。此外，无需使光轴通过精确的焦点位置。辐辏角度只要是与远用距离对应的辐辏角度即可。

例如，经凹面镜85反射后的、测定光轴L4R、L4L为相互平行的关系，是与Z方向相同的方向。交叉点C形成在无限远或远用位置(例如，表观上相距受检眼5m的位置)。远用位置例如是在远用距离呈现视标的情况下的标志的呈现位置。在这种情况下，控制部70可以调节视标的呈现位置，在受检眼的远用位置使视标成像。其结果，表观上，相对于受检眼从远方呈现视标。进而，左右的视标光束被设置为与远用距离对应的辐辏角度。

图7示出在近用距离呈现视标的情况的一例。例如，控制部70可以使测定光轴L4R、L4L偏转，以便使测定光轴L4R(L4L)、测定部7R(7L)的测定光轴的夹角比远用距离小。由此，能够使辐辏角度(交叉点C)向近方变换。

例如，控制部70可以使测定光轴L4R、L4L偏转，以便即将被凹面镜85反射之前的测定光轴L4R、L4L处于相互平行的关系。经凹面镜85反射后的、测定光轴L4R、L4L通过凹面镜85的焦点位置，到达左右眼。由此，表观上，在凹面镜85的焦点位置形成交叉点C。在这种情况下，控制部70可以通过调节视标的呈现位置而在与交叉点C对应的近用位置使视标成像。其结果，表观上，相对于受检眼从近用位置呈现视标。进而，左右的视标光束被设置为与设定的近用距离对应的辐辏角度。近用位置例如是在近用距离呈现视标的情况下的标志的呈现位置。

当然，视标的呈现距离并不局限于上述的距离。换句话说，控制部70可以通过使测定光轴L4R、L4L偏转来变更相对于受检眼的交叉点C的位置，从而任意变更视标光束的辐辏角度。在这种情况下，光偏转部件的偏转角度(驱动角度)与视标呈现距离的对应关系可以预先设定，并存储于存储器72。具体地说，偏转镜81R、81L的反射角度与视标呈现距离可以预先对应建立。在这种情况下，对应表或者运算式等可以存储于存储器72。

例如，控制部70可以基于来自监视器(操作部)4的操作信号接收视标的呈现距离。进而，控制部70可以从存储器72取得与呈现距离对应的偏转角度。进而，控制部70能以具有与取得的偏转角度对应的角度的方式驱动光偏转部件。

据此，通过根据视标的呈现距离的变更、切换相对于凹面镜85的测定光轴L4R、L4L的偏转角度，能够进行在接近自然平视的状态下的视标呈现。其结果，能够得到良好的测定结果。

此外，在控制投光光学系统30、变更视标的呈现距离的情况下，控制部70可以通过变更矫正光学系统60的球面度数来变更视标的呈现距离。例如，在视标呈现于规定的近用距离(例如，33cm)的情况下，控制部70可以在以远用时(在远用距离呈现视标时)的矫正度数(通过远用时的客观屈光力测定或者远用时的视力测定所确定的远用矫正度数)的位置为基准，向近处靠近与近用距离对应的度数(例如，3.0D)的位置配置显示器31。

＜基于左右测定光轴间距离的变更所产生的PD调整＞

在本实施方式中，控制部70可以通过对在右眼用光路以及左眼用光路分别配置的光偏转部件(例如，偏转镜81R、81L)进行控制而将右眼用测定光轴L4R与左眼用测定光轴L4L之间的光轴间距离LPD在水平方向(X方向)上变更(参照图8)。在这种情况下，可以通过基于受检人的瞳孔间距离调节在水平方向上的各光偏转部件的位置，而将右眼用光路以及左眼用光路配置在与受检人的瞳孔间距离(左右眼距离)对应的位置。此外，受检人的瞳孔间距离可以通过由前述的两眼拍摄光学系统经由图像处理求出左右眼的距离而取得。或者可以从存储器72中取得由瞳距计等预先测定的受检人的瞳孔间距离的测定结果。

作为其结果，左右一对测定光学系统配置于与瞳孔间距离对应的位置。例如，左右一对主观式测定光学系统25的测定光轴配置在与瞳孔间距离对应的位置。由此，矫正光学系统60以及投光光学系统30等配置在与瞳孔间距离对应的位置。另外，例如，左右一对客观式测定光学系统10的测定光轴配置在与瞳孔间距离对应的位置。此外，光轴间距离LPD的调节例如可以在对受检眼进行校准动作前、进行客观测定前或者进行主观测定前自动地执行。或者，光轴间距离LPD的调节可以基于来自监视器4的操作信号执行。

此外，也可以通过如下作业变更测定光轴L4R、L4L的位置，即：通过沿水平方向驱动各光偏转部件的驱动部(例如，驱动部83)使测定光轴L4R、L4L的位置在水平方向(X方向)上变更。另外，关于变更光轴间距离LPD的具体的方法，例如，控制部70可以通过控制驱动部83来调节偏转镜81R、81L的水平方向的位置，从而移动测定光轴L4R、L4L的位置。当然，并不局限于偏转镜81R、81L，也可以使用其他的光偏转部件。

图8A以及图8B为用于对由偏转镜81的移动产生的光轴间距离LPD的变更进行说明的图。在本实施方式中，可以通过使偏转镜81沿X方向移动来变更LPD。例如，以使图8A所示的右眼用测定部7R与偏转镜81R之间的距离变短的方式(使偏转镜81R沿X方向接近右眼用测定部7R的方式)，移动偏转镜81R。另外，例如，以使测定部7L与偏转镜81L之间的距离变短的方式(使偏转镜81L沿X方向接近测定部7L的方式)移动偏转镜81L。由此，如图8B所示，偏转镜81移动。因此，图8A所示的光轴间距离LPD1变更为图8B所示的光轴间距离LPD2”。

关于上述的光轴间距离LPD的变更，水平方向上的光偏转部件的位置与瞳孔间距离PD的对应关系可以被预先设定，并存储于存储器72。具体地说，可以将偏转镜81R、81L的水平位置与瞳孔间距离预先对应建立。在这种情况下，可以将对应表或者运算式等存储于存储器72。

例如，控制部70可以从存储器72取得与通过瞳孔间距离测定部得出的受检眼的瞳孔间距离对应的、光偏转部件的水平位置(驱动位置)。进而，控制部70可以使光偏转部件移动至取得的水平位置。

＜像差修正＞

控制部(修正设定部)70可以设定用于修正在测定光学系统的光路(例如，左眼用光路、右眼用光路)产生的光学像差的修正量。进而，控制部70可以通过基于设定的修正量修正修正光学系统90，来修正在测定光学系统的光路产生的光学像差。此外，修正光学系统90中的像差修正量优选被设定为能够消除产生的光学像差的像差量。不过，只要是不妨碍检查的程度即可，像差修正量并不局限于此。此外，像差修正部也可以包括控制部70以及修正光学系统90。

作为在测定光学系统的光路产生的光学像差，例如主要考虑由凹面镜85产生的光束的像散。这样的像散可对主观式测定光学系统25以及客观式测定光学系统10的至少任一个产生影响。此外，像散为具有方向性的像差。像散的修正例如可以以消除像散的发生方向的方式进行。

＜与矫正度数相应的像差修正＞

光学像差的像差量有时根据凹面镜85上的、光束的反射位置或者反射面积(光束直径)的变化而改变。作为其一例，视标光束的反射面积根据矫正光学系统60的矫正度数的变化而变化。作为其结果，像差量发生变化。

换句话说，相对于凹面镜85的光束的聚光状态，根据在矫正光学系统60设定的矫正度数而不同。例如，当矫正度数为0D的情况下，视标光束从无限远以平行光束向凹面镜85入射。随着矫正度数向正侧增大，由于视标光束作为强扩散光束向凹面镜85入射，因此反射面积变大，像差变大。随着矫正度数向负侧增大，由于视标光束作为强会聚光束向凹面镜85入射，因此反射面积变小，像差变小。根据这种反射面积的差异，由凹面镜85带来的像散量不同。

因此，在本实施方式中，可以根据矫正光学系统60的矫正度数，改变修正光学系统90中的像差修正量。由此，与矫正度数无关，能够呈现像散减少的、像差较少的视标。因此，能够高精度地进行主观测定或者客观测定。

在这种情况下，可以预先制作将矫正度数和修正量对应建立的表，所述修正量与各矫正度数相应，用于修正凹面镜85所产生的像散。制作而成的表可以存储于存储器72。每个矫正度数的修正量例如可以通过光学模拟或者实验等求出。此外，无需一定使用表。可以将用于导出与各矫正度数相应的修正量的运算式存储于存储器72，并使用运算式求出修正量。

每个矫正度数的修正量也可以针对每个球面度数制作。进而，可以考虑各球面度数的、散光度数以及轴角度的差异，针对各球面度数的每个散光度数和/或球面度数的每个轴角度制作修正量。此外，根据本发明人的模拟，像散的变化量受到球面度数变化的极大影响。因此，考虑通过针对每个球面度数变更修正量(根据球面度数的变化变更修正量)来得到恒定的效果。此外，当针对每个矫正度数设定修正量的情况下，可以使修正量相对于每个矫正度数逐渐不同，例如，可以每规定的级别(例如，0～1.0D、1.0～2.0等1.0D级别)，设定恒定的修正量。即，修正量可以以级别为单位变更。

此外，当基于客观眼屈光力(球面度数S、散光度数C、散光轴角度A设定矫正光学系统60的矫正度数的情况下，控制部70可以从存储器72取得与对应于客观眼屈光力(客观屈光误差)的矫正度数相应的像差修正量，并基于取得的像差修正量控制修正光学系统90。

即，控制部70可以基于由客观式眼屈光力测定装置(例如，客观式测定光学系统10)得出的客观眼屈光力设定像差修正量。进而，控制部70可以通过基于所设定的像差修正量控制修正光学系统90来进行像差修正。

此外，当根据矫正度数设定像差修正量的情况下，无需一定将矫正度数的数值数据与像差修正量对应建立。例如，可以将与输入到监视器4的矫正度数相应的操作信号同像差修正量对应建立。或者，可以将矫正光学系统60的驱动信息(例如，显示器31的位置等)与像差修正量对应建立。或者，如上所述，可以将客观眼屈光力测定装置的测定结果与像差修正量对应建立。

此外，当变更视标的表观的呈现距离的情况下，产生前述的像散。在这种情况下，控制部70通过根据视标的呈现距离变更像差修正量，可与呈现距离的变化无关地呈现像差减少的视标。控制部70也可以根据由投光光学系统30在受检眼呈现的视标的呈现距离来变更修正光学系统90的像差修正量。在这种情况下，可以将视标呈现距离与像差修正量对应建立。或者，可以将投光光学系统30的驱动信息(例如，显示器31的位置等)与像差修正量对应建立。此外，当通过控制矫正光学系统60的矫正度数来变更视标的呈现距离的情况下，可以设定与被附加了视标的呈现距离的矫正度数相应的像差修正量。

此外，像差量根据凹面镜85上的光束的反射面积的变化而不同的例子并不局限于上述的例子。如果根据受检眼的眼屈光力的变化，由客观式测定光学系统10投影的来自眼底的测定光束的、在凹面镜85上的反射面积变化，则像差量变化。在这种情况下，存在客观式测定光学系统10的测定图像(例如，环形图像)失真的可能性。因此，可以根据由客观式测定光学系统10预先得到的客观眼屈光力，变更修正光学系统90的像差修正量。由此，得出像差减少的测定图像。作为结果，能够高精度地测定眼屈光力。此外，对于用于设定像差修正量的、表或者运算式等，由于可以采用与上述矫正度数相同的方法，因此省略特别的说明。此外，在客观眼屈光力以及矫正度数中可以使用相同的参数(SCA)。因此，当进行上述的修正的情况下，可以使用相同的表或者运算式。

＜与光偏转部件的、偏转角度或者位置相应的像差修正＞

另外，根据光偏转部件(例如，偏转镜81R、81L)的偏转角度以及光偏转部件的水平位置至少任一个的变化，凹面镜85上的光束(例如，视标光束、客观式测定光学系统10的测定光束)的反射位置发生变化。其结果，像差量变化。

因此，在本实施方式中，控制部70可以根据光偏转部件(例如，偏转镜81R、81L)的偏转角度以及光偏转部件的水平位置至少任一个的变更修正光学系统90的像差修正量。由此，例如，能够与光偏转部件的、偏转角度以及水平位置无关地，呈现像散减少的良好的视标。另外，能够与光偏转部件的、偏转角度以及水平位置无关地，取得像散减少的良好的测定图像。因此，能够高精度地进行主观测定或者客观测定。

在这种情况下，可以制作针对每个参数(偏转角度以及水平位置)预先设定用于修正凹面镜85所产生的像散的修正量的表。可以将制作而成的表存储于存储器72。修正量例如可以通过光学模拟或者实验等求出。无需一定使用表，也可以将用于导出像差修正量的运算式存储于存储器72，并使用运算式求出修正量。在这种情况下，可以使修正量根据各参数依次不同，例如，可以在参数的、规定的级别内设定恒定的修正量。即，可以每级别变更修正量。

此外，当根据光偏转部件的偏转角度设定像差修正量的情况下，可以不必将偏转角度的数值数据与像差修正量对应建立。也可以将光偏转部件的驱动角度信息(例如，驱动部82的驱动信号)与像差修正量对应建立。另外，如上所述，当根据视标呈现距离变更视标光束的辐辏角度的情况下，可以将辐辏角度与像差修正量对应建立。换句话说，控制部70可以根据由光偏转部件的驱动变更的视标光束的辐辏角度，变更修正光学系统90的像差修正量。另外，如上所述，当通过调节光偏转部件的偏转角度来调节相对于受检眼的、测定光轴L1R、L1L的位置(校准位置)的情况下，可以将受检眼的校准位置与像差修正量对应建立。

此外，当根据光偏转部件的位置设定像差修正量的情况下，无需一定将位置数据与像差修正量对应建立。也可以将光偏转部件的驱动位置信息(例如，驱动部82的驱动信号)与像差修正量对应建立。另外，如上所述，当通过光偏转部件的水平位置调节使一对测定光学系统与瞳孔间距离对应的情况下，可以将瞳孔间距离与像差修正量对应建立。换句话说，控制部70可以根据受检眼的瞳孔间距离变更修正光学系统90的像差修正量。

＜对于多个参数的对应＞

此外，前述的与矫正度数相应的像差修正例如可以在主观测定时，与和光偏转部件的、偏转角度或者位置相应的像差修正同时进行。在这种情况下，可以通过分别单独地取得各像差修正量并且将各像差修正量相加来设定像差修正量。与矫正度数相应的像差修正量根据光偏转部件的偏转角度以及位置的变化而变化。因此，更优选地，可以将用于导出最佳的像差修正量的表或者运算式等预先存储于存储器72，所述最佳的像差修正量从由矫正度数、光偏转部件的偏转角度以及光偏转部件的位置构成的3个参数中导出。在这种情况下，可以根据至少一个参数的变化变更修正光学系统90的像差修正量。

换句话说，当基于多个参数求出像差修正量的情况下，可以将用于从多个参数导出最佳的像差修正量的表或运算式等预先存储于存储器72。例如，同样，与客观眼屈光力相应的像差修正可以与客观测定时的、和光偏转部件的偏转角度或者位置相应的像差修正同时进行。在这种情况下，可以通过分别单独地取得各像差修正量并且将各像差修正量相加来设定像差修正量。与客观眼屈光力相应的像差修正量根据光偏转部件的偏转角度以及位置的变化而变化。因此，更优选地，可以将用于导出最佳的像差修正量的表或运算式等预先存储于存储器72，所述最佳的像差修正量从由客观眼屈光力、光偏转部件的偏转角度以及光偏转部件的位置构成的3个参数导出。在这种情况下，可以根据至少一个参数的变化变更修正光学系统90的像差修正量。

＜控制动作＞

以下，对于主观式检眼装置1的控制动作进行说明。检查人指示受检人以颚顶于颚托5，观察呈现窗3。检查人指示受检人固定目视显示于显示器31的固视标。随后，进行受检眼的校准(受检眼的位置的调节)。在由检查人选择校准开始开关后，控制部70开始自动校准。

例如，控制部70从由拍摄光学系统100拍摄到的面部图像检测左右的受检眼的瞳孔位置。例如，在检测到瞳孔位置后，控制部70对主观式检眼装置1进行控制，使前眼部像显示于监视器4。例如，控制部70分别驱动右眼用的偏转镜81R以及左眼用的偏转镜81L，使它们沿XY方向旋转。另外，例如，在检测到瞳孔位置后，控制部70可以使右眼用测定部7R以及左眼用测定部7L分别沿X方向移动。即，控制部70通过驱动偏转镜81来进行XY方向的校准，并通过驱动测定部7来进行Z方向的校准。

此外，在本实施方式中，作为一例，通过驱动偏转镜81以及测定部7来进行XYZ方向的校准。但是，并不局限于此，本发明的实施方式只要能够调节受检眼与主观式测定部以及客观式测定部的位置关系即可。即，本发明的实施方式只要能够进行XYZ方向的校准，以便将经矫正光学系统60矫正后的像形成在受检眼的眼底上即可。例如，可以设置能够相对于颚托5使主观式检眼装置1沿XYZ方向移动的部件，为了进行校准，使主观式检眼装置1进行移动。另外，例如，也可以仅通过偏转镜81进行XYZ方向的校准。在这种情况下，例如，可以设置用于使偏转镜81沿Z方向移动的部件，以便驱动偏转镜81旋转，并且变更偏转镜81与测定单元之间的距离。

图9示出显示由二维拍摄元件52拍摄的前眼部图像的前眼部观察画面。此外，在本实施方式中，对相对于两受检眼之中的、一方的受检眼的校准控制进行说明。此外，对于另一方的受检眼，同样进行以下说明中的控制。此外，例如，在校准控制中，可以将两受检眼显示于监视器4上，并在同一画面上，进行两受检眼的校准控制。另外，例如，可以在校准控制中，在监视器4上显示一方的受检眼，在一方的受检眼的校准控制完成后，将另一方的受检眼显示于监视器4上，进行另一方的受检眼的校准控制。另外，例如，也可以基于一方的受检眼的校准控制结果进行另一方的受检眼的校准控制。

例如，控制部(偏移检测部、修正部)70检测相对于受检眼的、矫正光学系统60的像的位置偏移。例如，控制部70通过基于检测结果控制驱动部来使用于将矫正光学系统60的像向受检眼导光的、表观的光束偏转。由此，控制部70光学地修正像的形成位置。这样，在本实施方式的主观式检眼装置1中，控制部70检测受检眼与矫正光学系统的位置偏移，光学地修正像的形成位置。由此，通过修正受检眼与矫正光学系统的位置偏移，能够在将受检眼配置于适当的位置的状态下使用装置。因此，能够高精度地进行测定。

更详细地说，例如，在校准时，点亮第1标志投影光学系统45以及第2标志投影光学系统46的光源。例如，控制部70检测呈环形投影的标志像Ma～Mh的、XY中心坐标(参照图9的十字标志)大致作为角膜顶点位置Mo。例如，为了进行校准状态的判定，设定XY方向的校准基准位置O1。例如，校准基准位置O1在本实施方式中，被设定为角膜顶点位置与主观式检眼装置1的光轴(经凹面镜85反射后的光束通过的光路的光轴)L4(L4R、L4L)一致的位置。例如，校准基准位置O1为在主观式检眼装置1中使用的校准基准位置。另外，例如，在以校准基准位置O1为中心的规定的区域设定用于判定校准适当与否的校准允许范围A1。

图10为用于对校准控制进行说明的图。例如，控制部70求出校准基准位置O1与角膜顶点位置Mo的校准偏位量Δd。控制部70通过驱动偏转镜81来进行XY方向的校准，以使校准偏位量Δd进入校准允许范围A1。

另外，控制部70通过求取(比较)无限远的标志像Ma、Me的像间隔a与有限远的标志像Mh、Mf的像间隔b的像比率(a/b)，而求出Z方向的校准偏位量Δd。当受检眼与主观式检眼装置1之间的动作距离(Z方向的距离)发生偏移的情况下，前述的无限远标志Ma、Me的间隔几乎无变化，另一方面，标志像Mh、Mf的像间隔发生变化。控制部70利用该特性求出相对于受检眼的动作距离方向的校准偏位量(详情参照日本专利公开公报特开平6-46999号)。

另外，对于Z方向，与XY方向相同，控制部70也求出Z方向的相对于校准基准位置的校准偏位量Δd。控制部70通过驱动控制测定部7，使得校准偏位量Δd进入Z方向的校准允许范围A1，从而进行Z方向的校准。

在此，当控制部70在XYZ方向的校准偏位量Δd进入了校准允许范围A1时，停止偏转镜81以及测定部7的驱动，并且输出校准完毕信号。此外，在校准完毕后，控制部70也随时检测校准偏位量Δd。控制部70在校准偏位量Δd超出校准允许范围A1的情况下，重新开始自动校准。即，控制部70进行使拍摄部(偏转镜81以及测定部7)追随于眼E的控制(跟踪)，使得校准偏位量Δd满足校准允许范围A1。

此外，在本实施方式中，示出控制部70自动地进行校准控制的例子。但是，校准的方法并不局限于此。例如，控制部70可以如下地进行校准。即，控制部70在监视器4上显示电子地表示校准基准位置的标志。检查人通过操作监视器4来调节校准基准位置与受检眼的位置关系。在这种情况下，例如控制部70可以在XYZ方向的校准完毕时，在监视器4上显示该信息。

另外，例如，检查人可以引导受检人直至校准状态适当(校准完毕)为止。在这种情况下，控制部70可以在角膜顶点位置进入校准允许范围内的情况下，判断为XYZ方向的校准完毕，并在监视器4上显示该信息。

＜客观测定＞

控制部70基于校准完毕信号的输出，发出用于开始客观式测定(客观测定)的触发信号。在发出用于开始客观测定的触发信号后，控制部70从客观式测定光学系统10射出测定光束。在这种情况下，各测定光束经由偏转镜81R、81L由凹面镜85反射，之后向受检眼的眼底投影。经眼底反射后的测定光，经由凹面镜85由偏转镜81R(81L)反射。随后，拍摄元件22接受测定光束，拍摄测定图像。

例如，在客观眼屈光力的测定中，可以首先进行眼屈光力的预备测定。通过基于预备测定的结果使显示器31沿光轴L2方向移动，可以向受检眼E蒙上云雾。即，显示器31可以相对于受检眼E进行一次向对焦位置的移动。随后，可以对被蒙上云雾的受检眼进行眼屈光力的测定。在本测定中，测定图像由拍摄元件22拍摄。来自拍摄元件22的输出信号被作为图像数据(测定图像)存储于存储器72。随后，控制部70通过对存储于存储器72的环形像进行图像解析而求出各经线方向的屈光力的值。控制部70通过对该屈光力实施规定的处理，而得出远用时的包含受检眼的S(球面度数)、C(散光度数)、A(散光轴角度)的客观眼屈光力(客观值)。得出的远用时的客观值被存储于存储器72。

在上述客观眼屈光力的测定中，控制部70可以通过控制修正光学系统90来修正在客观式测定光学系统10的光路产生的光学像差。在这种情况下，控制部70从存储器72取得与由客观式测定光学系统10测定的屈光度数相应的修正量。控制部70基于取得的像差修正量对修正光学系统90进行控制。

更具体地说，根据在预备测定中得出的眼屈光力设定修正量。基于设定的修正量，驱动修正光学系统90。由此，在由客观式测定光学系统10的光路产生的像差被修正的状态下，进行本测定。因此，能够高精度地测定客观眼屈光力。此外，在连续测定眼屈光力的情况(例如，进行多次本测定)下，可以基于各测定结果控制修正光学系统90。

此外，在上述说明中，测定远用时的客观眼屈光力。但是，并不局限于此，也可以测定在以近用距离呈现视标的状态下的眼屈光力亦即近用时的客观眼屈光力。此外，左右眼的客观眼屈光力可以被同时测定，也可以在不同的时机测定。

＜主观式测定＞

在客观屈光力测定完毕且监视器(在本实施方式中，兼做操作部)4被操作后，测定模式被切换为主观的远用视力测定模式(主观屈光力测定模式)。控制部70可以通过基于由远用时的客观屈光力测定得出的、受检眼的客观眼屈光力(球面度数S、散光度数C、散光轴角度A)驱动矫正光学系统60来矫正受检眼的屈光误差。

更具体地说，可以基于远用时的客观屈光力测定的球面度数S使显示器31沿光轴L2方向移动。其结果，得到与受检眼的球面度数相关的屈光误差被矫正的状态。另外，可以基于散光度数C以及散光轴角度A驱动散光矫正光学系统63。其结果，得到受检眼的与散光相关的屈光力误差被矫正的状态。

在视力测定模式中，控制部(修正设定部)70可以根据由矫正光学系统60矫正的矫正度数变更修正光学系统90产生的像差修正的量。例如，当基于来自监视器4的操作信号变更矫正光学系统60的矫正度数的情况下，控制部70可以根据被变更的矫正度数变更修正光学系统90所产生的像差修正的量。由此，即使在基于自动屈光计的测定结果的矫正度数发生变更的情况下，也会呈现像差减少的视标。即，控制部70可以基于矫正光学系统60的矫正度数设定用于修正在主观式测定部产生的光学像差的修正量。

另外，控制部70可以通过控制显示器31而在光轴L2上显示所需的视力值视标(例如，视力值0.8的视标)。当在受检眼呈现初始呈现视标后，检查人对受检人进行远用视力测定。在监视器4的规定的开关被按压后，切换呈现的视力值视标。

例如，检查人在受检人的回答为正确回答的情况下，将呈现的标志切换为高一级的视力值的视标。另一方面，在受检人的回答为错误回答的情况下，将呈现的标志切换为低一级的视力值的视标。换句话说，控制部70可以基于来自监视器4的视力值变更的信号来切换呈现的视标。

另外，检查人可以通过使用监视器4变更矫正光学系统60的矫正度数来求出在远用距离呈现标志的状态下的、受检眼的主观眼屈光力(远用主观值(球面度数S、散光度数C、散光轴角度A))。

此外，矫正光学系统60的矫正度数可以针对左右眼分别设定不同的度数，也可以在左右眼设定为相同的度数。此外，左右眼的主观眼屈光力可以同时被测定，也可以在不同的时机测定。此外，当在不同的时机测定左右眼的主观眼屈光力的情况下，可以不对非测定对象的一方的眼显示显示器31所产生的视标。或者，可以不对非测定对象的一方的眼进行矫正光学系统60所产生的模糊(例如，对客观值附加恒定的屈光度数)。

在求出远用主观值后，测定模式可以切换为主观的近用视力测定模式。在测定模式被切换为近用测定模式后，控制部70可以通过控制投光光学系统30来变更偏转镜81所产生的辐辏角，从而在近用位置呈现视标。此外，近用检查中的视标的呈现距离可以基于来自监视器4的操作信号任意地变更。其结果，视标的呈现距离能够从远用位置变更为近用位置。此外，通过在近用检查中变更视标的呈现距离(近用位置)，可以主观地求出加入度以及调节力。

在这种情况下，例如，控制部70可以从存储器72取得与视标的呈现距离相应的像差修正量，并基于取得的像差修正量控制修正光学系统90。另外，当视标的呈现距离被变更的情况下，控制部70可以根据被变更的视标呈现距离变更修正光学系统90所产生的像差修正的量。由此，即便在视标呈现距离发生变更的情况下，也会呈现像差减少的视标。在这种情况下，控制部70可以根据被附加了视标的呈现距离的矫正度数来变更像差修正量。

进而，控制部70可以通过根据视标的呈现位置的变更控制光偏转部件来变更左右的视标光束的辐辏角度。在这种情况下，例如，控制部70可以从存储器72取得与对应于辐辏角度的光偏转部件的偏转角度相应的像差修正量。控制部70可以基于取得的像差修正量控制修正光学系统90。另外，当视标光束的辐辏角度被变更的情况下，控制部70可以根据被变更的辐辏角度变更修正光学系统90所产生的像差修正的量。由此，即使在辐辏角度发生变更的情况下，也会呈现像差减少的视标。

在近用检查中，与远用检查相同，例如，检查人可以使用监视器4的规定的开关变更矫正光学系统60的矫正度数，测定视标呈现于近用距离的状态下的主观的眼屈光力(近用主观值)。在近用检查中，控制部70可以根据矫正度数的变更，来变更修正光学系统90的像差修正量。

如上所述，在客观检查以及主观检查中，可以通过变更像差修正量来良好地进行整体检查。此外，在上述说明中，在客观检查以及主观检查双方都进行像差修正。不过并不局限于此，也可以在客观检查以及主观检查的任一个中进行修正光学系统90所产生的像差量的变更。

此外，在上述说明中，设置有与矫正光学系统60不同的修正光学系统90。不过即使在矫正光学系统60兼做修正光学系统90的情况下，上述实施方式也能够适用。例如，作为修正光学系统90，可以使用散光矫正光学系统(散光修正光学系统)63。在这种情况下，例如，可以对作为矫正度数的散光度数以及轴角度附加像差修正量。即，控制部70(像差修正部)可以使用矫正光学系统60修正在主观式测定部产生的光学像差。

此外，在上述结构中，以在凹面镜85的光轴上配置测定光学系统的光轴的方式设计光学系统。由此，能够抑制由凹面镜85产生的像差。因此，前述的修正光学系统90所产生的像差修正的量较少便可。不过，本实施方式即使是在凹面镜85的轴外配置测定光学系统的光轴的结构，也可应用本实施方式。

＜辅助光学部件＞

此外，当受检眼为强度屈光异常眼的情况下，主观式测定光学系统25可以在其光路中配置辅助光学部件。辅助光学部件例如可以是透镜、棱镜、反射镜。在测定的受检眼的屈光度值大的情况下，存在仅仅依靠修正光学系统90无法修正光学像差的情况。因此，可以通过使用辅助光学部件来修正只依靠修正光学系统90无法修正的光学像差。其结果，能够高精度地进行测定。更详细地说，例如，在受检眼的屈光度值为13.0D的情况下，对受检人佩戴10.0D的辅助光学部件(例如，假框)。控制部70考虑辅助光学部件的矫正度数地修正在该状态下进行测定并取得的测定结果。例如，当测定结果为3.0D的情况下，控制部70修正测定结果，输出受检人的屈光度值为13.0D之类的结果。

在这种情况下，控制部(判定部)70可以基于由客观式测定部取得的眼屈光力进行判定是否需要辅助光学部件的判定处理。进而，控制部(插拔部)70可以基于判定处理的结果进行相对于主观式测定光学系统25的光路中、插入或拔出辅助光学部件的控制。由此，自动地进行辅助光学部件的插入或拔出，从而能够容易且高精度地进行测定。另外，辅助光学部件如本实施方式中的主观式检眼装置1那样，对于小型的装置尤其奏效。即，例如，当从凹面镜85到受检眼的距离小的情况下，矫正度数所产生的像差量的变化容易较大。因此，通过使用辅助光学部件来对只用修正光学系统90无法修正的光学像差进行修正更佳。

另外，并不局限于此，控制部(显示部)70可以将基于判定处理的结果的报告信息显示于监视器75。其中，主观式测定光学系统25可以在显示有需要辅助光学部件这样的报告信息的情况下，在其光路中由检查人配置辅助光学部件。在这种情况下，受检人可以安装辅助透镜。在这种情况下，可以向检查人报告辅助光学部件的必要性。因此，检查人能够容易地识别辅助光学部件的必要性。由此，能够防止检查人忘记使用辅助光学部件。

此外，在上述结构中，由测定光学系统的光路产生的光学像差通过修正光学系统90被光学修正。但是，并不局限于此，也可以进行其他的修正处理。例如，可以根据由测定光学系统的光路产生的光学像差修正客观式测定光学系统10的测定图像的像差。另外，也可以根据由测定光学系统的光路产生的光学像差修正客观式测定光学系统10的客观值。

此外，本实施方式中的关于像差修正的技术还可以应用于不具有客观式测定部的主观式检眼装置中。另外，本实施方式中的关于像差修正的技术例如也可以应用于不具有矫正光学系统和凹面镜85的主观式检眼装置中，其中矫正光学系统具有被设置为左右一对的右受检眼用矫正光学系统以及左受检眼用矫正光学系统，并且凹面镜85为包括右眼用矫正光学系统的右眼用光路与包括左眼用矫正光学系统的左眼用光路共有。即，本实施方式中的关于像差修正的技术可以应用于具备主观地测定受检眼的光学特性的主观式测定部的主观式检眼装置中。该主观检眼部具有：将视标光束向受检眼投影的投光光学系统、配置于投光光学系统的光路中并变更视标光束的光学特性的矫正光学系统、将经矫正光学系统矫正后的视标光束导向受检眼并将经矫正光学系统矫正后的视标光束的像形成在受检眼的眼前的光学部件。该主观式检眼装置可以具有：修正设定部，基于上述矫正光学系统的矫正度数设定用于修正在上述主观式测定部产生的光学像差的修正量；像差修正部，基于由上述修正设定部设定的上述修正量，修正在上述主观式测定部产生的上述光学像差。

＜校准允许范围的变更＞

控制部70可以基于眼屈光力设定用于进行校准状态的判定的校准允许范围。例如，控制部70基于由远用时的客观屈光力测定得出的受检眼的客观眼屈光力(球面度数S、散光度数C、散光轴角度A)设定用于进行主观眼屈光力测定时的、受检眼与主观式测定部的校准状态的判定的校准允许范围。即，例如，控制部(取得部、设定部(校准设定部))70可以取得客观地测定的受检眼E的眼屈光力。进而控制部70可以基于眼屈光力设定用于进行受检眼E与主观式测定部的校准状态的判定的校准允许范围。以下，对于XY方向的校准允许范围的设定进行说明。此外，Z方向的校准允许范围也被同样设定。

此外，在本实施方式中，作为一例，对于使用由主观式检眼装置1的客观式测定部取得的受检眼的客观眼屈光力变更校准允许范围的结构进行说明。但是，变更校准允许范围的结构并不局限于此。变更校准允许范围的结构例如可以接收并使用通过不同的客观测定装置取得的测定结果。

更详细地进行说明。例如，在本实施方式中，校准允许范围针对每个球面度数被制作。当然，校准允许范围只要基于眼屈光力设定即可。例如，可以考虑各球面度数的散光度数以及轴角度的差异，针对球面度数的、每个散光度数以及每个轴角度制作校准允许范围。

图11A～图11C为对于校准允许范围的变更进行说明的图。图11A示出屈光度值(D)为0D的情况下的校准允许范围。图11B示出屈光度值为2.0D的情况下的校准允许范围。图11C示出屈光度值为5.0D的情况下的校准允许范围。此外，例如，校准允许范围根据眼屈光力被设定。例如，校准允许范围预先通过模拟或实验等被计算以及设定。当然，校准允许范围也可以在校准控制的前后，根据眼屈光力计算以及设定。

例如，控制部70例如随着以0屈光度(0D)为基准，屈光度值从0D向正方向(正侧)或者负方向(负侧)增大，较小地设定校准允许范围。例如，图11B所示的屈光度值为2.0D的情况下的校准允许范围A2被设定为比图11A所示的屈光度值为0D的情况下的校准允许范围A1小。另外，例如，图11C所示的屈光度值为5.0D的情况下的校准允许范围A3被设定为比图11B所示的屈光度值为2.0D的情况下的校准允许范围A2更小。

例如，对于具有规定的光学特性的受检眼，与用以取得高精度的测定结果的适当的校准范围相比，较大地设定校准允许范围的情况下，主观地测定受检眼的光学特性时的测定结果的精度降低。另外，例如，对于具有规定的光学特性的受检眼，与用以取得高精度的测定结果的适当的校准范围相比，较小地设定校准允许范围的情况下，在主观地测定受检眼的光学特性时，不易进行校准动作。在本实施方式的主观式检眼装置1中，基于眼屈光力变更校准允许范围。由此，在主观地测定受检眼的光学特性时，能够高精度地测定受检眼的光学特性。另外，例如，在主观地测定受检眼的光学特性时，能够高效地进行校准动作。

例如，本实施方式中的主观式检眼装置1在以0屈光度为基准屈光度值、屈光度值从0屈光度向正方向或者负方向变大的情况下，减小校准允许范围。由此，能够抑制主观地测定受检眼的光学特性时的测定结果的精度降低。另外，例如，当以0屈光度为基准，屈光度值接近0屈光度的情况下，增大校准允许范围。由此，能够抑制在主观地测定受检眼的光学特性时校准动作难以进行。

此外，本实施方式中的主观式检眼装置1具备矫正光学系统60。矫正光学系统60具有被设置为左右一对的右受检眼用矫正光学系统以及左受检眼用矫正光学系统，并配置于投光光学系统30的光路中，变更视标光束的光学特性。另外，本实施方式中的主观式检眼装置1具备主观式测定部，所述主观式测定部具有为包括右眼用矫正部的右眼用光路和包括左眼用矫正部的左眼用光路共有的凹面镜85。该凹面镜85将通过矫正光学系统60的视标光束向受检眼导光，并将通过矫正光学系统60后的视标光束的像形成在受检眼的眼前。

在这样的本实施方式的主观式检眼装置中，基于眼屈光力变更校准允许范围尤为有效。例如，在以往的主观式测定部中，在受检眼的眼前设置矫正光学系统。当进行主观式测定时，受检人内窥矫正光学系统的检查窗。由于受检人内窥检查窗，因此受检眼的位置不会大幅偏移。因此，能够主观且高精度地测定受检眼的光学特性。然而，在本实施方式的主观式检眼装置1的主观式测定部中，不将矫正光学系统配置于眼前地测定受检眼的屈光力。在这样的装置中，受检眼的位置可能会发生大幅偏移。因此，要进行校准动作。因此，在不将矫正光学系统配置于眼的周边地测定受检眼的屈光力的主观式测定部中，尤其在主观地测定受检眼的光学特性时，优选高效地进行校准动作。另外，在具备不将矫正光学系统配置于眼前地测定受检眼的屈光力的主观式测定部的主观式检眼装置中，尤其在主观地测定受检眼的光学特性时，优选进行用于高精度地测定受检眼的光学特性的校准允许范围的设定。

此外，本实施方式中的主观式检眼装置1具备具有客观式测定光学系统10的客观式测定部。客观式测定光学系统10向受检眼的眼底射出测定光，并接受其反射光。客观式测定部客观地测定受检眼的光学特性。因此，在本实施方式的主观式检眼装置1中，控制部70能够基于由客观式测定部测定的测定结果，取得眼屈光力。因此，能够凭借一个装置变更校准允许范围。由此，本实施方式的主观式检眼装置1能够使用简单的结构，在主观地测定受检眼的光学特性时，高精度地测定受检眼的光学特性。另外，本实施方式的主观式检眼装置1能够使用简单的结构，在主观地测定受检眼的光学特性时，高效地进行校准动作。

此外，本实施方式中的关于校准允许范围的变更的技术还能够应用于不具备客观式测定部的主观式检眼装置中。另外，本实施方式中的关于校准允许范围的变更的技术，例如，能够应用于不具有矫正光学系统以及凹面镜85至少任一个的主观式检眼装置中，其中矫正光学系统具有被设置为左右一对的右受检眼用矫正光学系统以及左受检眼用矫正光学系统。即，本实施方式中的关于校准允许范围的变更的技术能够应用于以下的主观式检眼装置。该主观式检眼装置具备主观式测定部。该主观式测定部具有将视标光束向受检眼投影的投光光学系统和配置于投光光学系统的光路中且变更视标光束的光学特性的矫正光学系统，并主观地测定受检眼的光学特性。该主观式检眼装置也可以进一步具备：取得客观地被测定的上述受检眼的眼屈光力的取得部；设定部，基于上述眼屈光力设定用于进行上述受检眼与上述主观式测定部的校准状态的判定的校准允许范围。

此外，本发明的实施方式并不局限于本实施方式所述的装置。例如，可以将进行上述实施方式的功能的主观检眼软件(程序)经由网络或者各种存储介质等提供给系统或装置。进而该系统或装置的控制装置(例如，CPU)可以读取并执行上述的程序。

本发明的实施方式可以为以下的第1～第16的主观式检眼装置以及第1主观检眼程序。

第1主观式检眼装置为具备主观式测定部的主观式检眼装置，该主观式测定部具有投光光学系统、矫正光学系统以及光学部件，并主观地测定受检眼的光学特性，其中，上述投光光学系统向受检眼投影视标光束，上述矫正光学系统具有被设置为左右一对的右眼用矫正光学系统与左眼用矫正光学系统，并配置于上述投光光学系统的光路中，使上述视标光束的光学特性变化，上述光学部件为包括上述右眼用矫正光学系统的右眼用光路与包括上述左眼用矫正光学系统的左眼用光路共有，并将经上述矫正光学系统矫正后的上述视标光束向上述受检眼导光，该主观式检眼装置的特征在于，具备客观式测定部，其具有向上述受检眼的眼底射出测定光，并接受其反射光的测定光学系统，并且经由配置于上述测定光学系统的光路的上述光学部件，客观地测定上述受检眼的光学特性。

第2主观式检眼装置在第1主观式检眼装置的基础上，其特征在于，上述主观式测定部中的从上述光学部件到上述受检眼之间的光轴与上述客观式测定部中的从上述光学部件到上述受检眼之间的光轴为同轴。

第3主观式检眼装置在第1或第2主观式检眼装置的基础上，其特征在于，上述光学部件为凹面镜，上述主观式测定部通过由上述凹面镜将经上述矫正光学系统矫正后的上述视标光束向上述受检眼方向反射，而向上述受检眼导光上述视标光束，并以使经上述矫正光学系统矫正后的上述视标光束的像处于光学上规定的检查距离的方式进行上述受检眼的导光。

第4主观式检眼装置在第1～3任一个主观式检眼装置基础上，其特征在于，具备：偏移检测部，其检测相对于上述受检眼的上述矫正光学系统的像的位置偏移；偏转部件，其配置于上述矫正光学系统与上述受检眼之间，分别设置，为左右一对；驱动部，其驱动上述偏转部件；修正部，其通过基于由上述偏移检测部检测出的检测结果控制上述驱动部，使用于将上述矫正光学系统的像向上述受检眼导光的表观的光束偏转，由此光学地修正上述像的形成位置。

第5主观式检眼装置为具备主观式测定部的主观式检眼装置，该主观式测定部具有投光光学系统、矫正光学系统以及光学部件，并主观地测定上述受检眼的光学特性，其中，上述投光光学系统将视标光束向受检眼投影，上述矫正光学系统配置于上述投光光学系统的光路中，使上述视标光束的光学特性变化，上述光学部件将经上述矫正光学系统矫正后的上述视标光束向上述受检眼导光，上述主观式检眼装置的特征在于，具备：修正设定部，其基于上述矫正光学系统的矫正度数设定用于修正在上述主观式测定部产生的光学像差的修正量；修正部，其基于由上述修正设定部设定的上述修正量，修正在上述主观式测定部产生的上述光学像差。

第6主观式检眼装置为具备主观式测定部的主观式检眼装置，该主观式测定部具有投光光学系统、矫正光学系统以及光学部件，并主观地测定上述受检眼的光学特性，其中，上述投光光学系统将视标光束向受检眼投影，上述矫正光学系统配置于上述投光光学系统的光路中，使上述视标光束的光学特性变化，上述光学部件将经上述矫正光学系统矫正后的上述视标光束向上述受检眼导光，上述主观式检眼装置的特征在于，具备：控制部，其通过变更上述视标光束的像的形成位置而变更上述视标光束所产生的视标的呈现距离；修正设定部，其基于上述呈现距离设定用于修正在上述主观式测定部产生的光学像差的修正量；修正部，其基于由上述修正设定部设定的上述修正量，修正在上述主观式测定部产生的上述光学像差。

第7主观式检眼装置为具备主观式测定部的主观式检眼装置，该主观式测定部具有投光光学系统、矫正光学系统以及光学部件，并主观地测定上述受检眼的光学特性，其中，上述投光光学系统将视标光束向受检眼投影，上述矫正光学系统配置于上述投光光学系统的光路中，使上述视标光束的光学特性变化，上述光学部件将经上述矫正光学系统矫正后的上述视标光束向上述受检眼导光，上述主观式检眼装置的特征在于，具备：辐辏角度变更部，其变更从上述右眼用光路以及上述左眼用光路射出的上述视标光束的辐辏角度；修正设定部，其基于上述辐辏角度设定用于修正在上述主观式测定部产生的光学像差的修正量；以及修正部，其基于由上述修正设定部设定的上述修正量，修正在上述主观式测定部产生的上述光学像差。

第8主观式检眼装置在第5～第7任一个主观式检眼装置基础上，其特征在于，上述矫正光学系统兼做上述修正部。

第9主观式检眼装置在第5主观式检眼装置基础上，其特征在于，具备插拔部，其控制上述主观式测定部的光路中的辅助光学部件的插入或拔出。

第10主观式检眼装置在第9主观式检眼装置的基础上，其特征在于，具备：判定部，其基于由客观式测定部取得的眼屈光力判定是否需要辅助光学部件，上述插拔部基于上述判定部的判定结果控制上述主观式测定部的光路中的上述辅助光学部件的插入或拔出。

第11主观式检眼装置在第5主观式检眼装置基础上，其特征在于，具备：判定部，其基于由客观式测定部取得的眼屈光力判定是否需要辅助光学部件；以及显示部，其将基于上述判定部的判定结果的报告信息显示于监视器。

第12主观式检眼装置在第5～第11任一个主观式检眼装置基础上，其特征在于，上述矫正光学系统具有被设置为左右一对的右受检眼用矫正光学系统与左受检眼用矫正光学系统，上述光学部件为包括上述右眼用矫正光学系统的右眼用光路与包括上述左眼用矫正光学系统的左眼用光路共有。

第13主观式检眼装置为具备主观式测定部的主观式检眼装置，该主观式测定部具有将视标光束向受检眼投影的投光光学系统和处于上述投光光学系统的光路中使上述视标光束的光学特性变化的矫正光学系统，并主观地测定上述受检眼的光学特性，其特征在于，具备：取得部，取得客观地测定的上述受检眼的眼屈光力；设定部，基于上述眼屈光力设定用于进行上述受检眼与上述主观式测定部的校准状态的判定的校准允许范围。

第14主观式检眼装置在第13主观式检眼装置基础上，其特征在于，上述设定部设定为以0屈光度为基准、随着屈光度值从上述0屈光度向正方向或者负方向增大、而减小上述校准允许范围。

第15主观式检眼装置在第13或第14主观式检眼装置基础上，其特征在于，上述矫正光学系统具有被设置为左右一对的右受检眼用矫正光学系统与左受检眼用矫正光学系统，被配置在上述投光光学系统的光路中，且使上述视标光束的光学特性变化，上述主观式测定部具备光学部件，该光学部件为包括上述右眼用矫正光学系统的右眼用光路和包括上述左眼用矫正光学系统的左眼用光路共有，且将经上述矫正光学系统矫正后的上述视标光束向上述受检眼导光。

第16主观式检眼装置在第13～第15任意一个主观式检眼装置基础上，其特征在于，具备客观式测定部，该客观式测定部具有向受检眼的眼底射出测定光并接受其反射光的测定光学系统，并且客观地测定上述受检眼的光学特性，上述取得部基于由上述客观式测定部产生的测定结果取得上述受检眼的眼屈光力。

第1主观检眼程序，在主观式检眼装置中被使用，该主观式检眼装置具备主观式测定部，该主观式测定部具有将视标光束向受检眼投影的投光光学系统、处于上述投光光学系统的光路中且使上述视标光束的光学特性变化的矫正光学系统，并且主观地测定上述受检眼的光学特性，上述主观检眼程序的特征在于，使上述主观式检眼装置执行如下步骤：通过由上述主观式检眼装置的处理器执行而取得上述受检眼的眼屈光力的取得步骤、基于上述眼屈光力设定用于进行上述受检眼与上述主观式测定部的校准动作的校准允许范围的设定步骤。

为了进行例证与说明进行了上述的详细说明，不过基于上述说明是可以进行许多修改和变更的。在此，并不打算穷尽举出有关该主旨的各种描述。尽管关于该主旨叙述具体到结构特点和/或方法，但不应理解为权利要求中的主旨必须受到上述具体特征或方法的限定。换言之，如上公开的具体特征和方法为实施权利要求的一个示例。

出于示例和说明的目的已经给出了所述详细的说明。根据上面的教导，许多变形和改变都是可能的。所述的详细说明并非没有遗漏或者旨在限制在这里说明的主题。尽管已经通过文字以特有的结构特征和/或方法过程对所述主题进行了说明，但应当理解的是，权利要求书中所限定的主题不是必须限于所述的具体特征或者具体过程。更确切地说，将所述的具体特征和具体过程作为实施权利要求书的示例进行了说明。

Claims (10)

1.一种主观式检眼装置，其特征在于，具备：

主观式测定部，其具有投光光学系统、矫正光学系统以及光学部件，并主观地测定受检眼的光学特性，其中，上述投光光学系统将视标光束向受检眼投影，上述矫正光学系统具有被设置为左右一对的右眼用矫正光学系统以及左眼用矫正光学系统，并配置于上述投光光学系统的光路中，变更上述视标光束的光学特性，上述光学部件为包括上述右眼用矫正光学系统的右眼用光路与包括上述左眼用矫正光学系统的左眼用光路共有，并将经上述矫正光学系统矫正后的上述视标光束向上述受检眼导光；以及

客观式测定部，其具有向上述受检眼的眼底射出测定光，并接受来自上述眼底的反射光的测定光学系统，并且经由配置于上述测定光学系统的光路的上述光学部件客观地测定上述受检眼的光学特性。

2.根据权利要求1所述的主观式检眼装置，其特征在于，

上述主观式测定部中的从上述光学部件到上述受检眼之间的光轴与上述客观式测定部中的从上述光学部件到上述受检眼之间的光轴为同轴。

3.根据权利要求1或2所述的主观式检眼装置，其特征在于，

上述光学部件包括凹面镜，

上述主观式测定部通过由上述凹面镜将经上述矫正光学系统矫正后的上述视标光束向上述受检眼的方向反射，而向上述受检眼导光上述视标光束，并将经上述矫正光学系统矫正后的上述视标光束的像，以受检人检测的上述像的形成位置与上述受检眼的距离成为光学上规定的检查距离的方式向上述受检眼导光。

4.根据权利要求1所述的主观式检眼装置，其特征在于，还具备：

偏移检测部，其检测相对于上述受检眼的、上述矫正光学系统的像的位置偏移；

偏转部件，其配置于上述矫正光学系统与上述受检眼之间，分别设置，为左右一对；

驱动部，其驱动上述偏转部件；

修正部，其通过基于由上述偏移检测部检测的检测结果控制上述驱动部，使用于将上述矫正光学系统的像向上述受检眼导光的表观的光束偏转，由此光学地修正上述像的形成位置。

5.根据权利要求1所述的主观式检眼装置，其特征在于，还具备：

修正设定部，其基于上述矫正光学系统的矫正度数设定用于修正在上述主观式测定部产生的光学像差的修正量；以及

像差修正部，其基于由上述修正设定部设定的上述修正量，修正在上述主观式测定部产生的上述光学像差。

6.根据权利要求1所述的主观式检眼装置，其特征在于，还具备：

控制部，其通过变更上述视标光束的像的形成位置而变更上述视标光束所产生的视标的呈现距离；

修正设定部，其基于上述呈现距离设定用于修正在上述主观式测定部产生的光学像差的修正量；以及

像差修正部，其基于由上述修正设定部设定的上述修正量，修正在上述主观式测定部产生的上述光学像差。

7.根据权利要求1所述的主观式检眼装置，其特征在于，还具备：

辐辏角度变更部，其变更从上述右眼用光路以及上述左眼用光路射出的上述视标光束的辐辏角度；

修正设定部，其基于上述辐辏角度设定用于修正在上述主观式测定部产生的光学像差的修正量；以及

像差修正部，其基于由上述修正设定部设定的上述修正量，修正在上述主观式测定部产生的上述光学像差。

8.根据权利要求5所述的主观式检眼装置，其特征在于，还具备：

判定部，其基于由上述客观式测定部取得的眼屈光力，判定是否需要辅助光学部件；以及

插拔部，其基于上述判定部的判定结果，控制上述主观式测定部的光路中的、上述辅助光学部件的插入或拔出。

9.根据权利要求5所述的主观式检眼装置，其特征在于，还具备：

判定部，其基于由上述客观式测定部取得的眼屈光力，判定是否需要辅助光学部件；以及

显示部，其将基于上述判定部的判定结果的报告信息显示于监视器。

10.根据权利要求1所述的主观式检眼装置，其特征在于，还具备：

取得部，其取得客观地测定的上述受检眼的眼屈光力；以及

设定部，其基于上述眼屈光力，设定用于进行上述受检眼与上述主观式测定部的校准状态的判定的校准允许范围。