CN106802523B - 修复液晶面板显性横向线性不良的方法 - Google Patents
修复液晶面板显性横向线性不良的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN106802523B CN106802523B CN201710055779.0A CN201710055779A CN106802523B CN 106802523 B CN106802523 B CN 106802523B CN 201710055779 A CN201710055779 A CN 201710055779A CN 106802523 B CN106802523 B CN 106802523B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- characteristic curve
- line
- fault point
- horizontal line
- liquid crystal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136259—Repairing; Defects
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
Abstract
本发明公开了一种修复液晶面板显性横向线性不良的方法,包括六个步骤:一)鉴别网格粗;二)确定特征线;三)切除特征线并确认故障点查找方向;四)查找故障点;五)修复故障点;六)检查确认;本发明改变了一般的液晶面板镭射修复方法,采用了结合面板特性,在数以千计的显性横向线性不良(满屏/半屏间隔横线,也称网格粗)中快速锁定特征线,再快速查明异常故障点,并有效的将故障去除,以达到去除异常,使液晶面板正常显示。
Description
技术领域
本发明涉及LCM液晶面板电性不良的镭射修复领域,具体是一种修复液晶面板显性横向线性不良的方法。
背景技术
部分GOP设计的LCM液晶面板,在生产阶段,由于TFT镀膜工艺制程不良导致全屏或半屏间隔性横线,此类液晶面板显性横向线性不良也称为网格粗,目前一般直接作为报废处理;但是经过调查研究发现,相当大部分的网格粗可以修复,直接报废的处理方式过于浪费材料。
因此,为解决上述问题,需要提供一种快速修复液晶面板显性横向线性不良的方法。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:提供一种快速修复液晶面板显性横向线性不良的方法。
本发明所采用的技术方案是:提供一种修复液晶面板显性横向线性不良的方法,其特征在于,包括六个步骤,
一)鉴别网格粗:
1.将目标产品送电点亮测试;
2.在红绿蓝三色观察,全屏或高度不等处出现异常等间隔横线,间隔数量为2;
3.在下方(PCBA在上方)末端出现3~4条颜色不同的横线;
4.多重网格粗为在此类型的叠加;
5.呈现间隔横线,但间隔条数为5条,此类异常为非网格粗,通过更换首尾COF修复;
6.带状无间隔性横纹或有间隔性横线但伴随带状无间隔性横纹,此类异常为非网格粗,可称之为画面异常,不在此发明之内;
二)确定特征线:
1.通过红绿蓝不同颜色观察;
2.在下方(PCBA在上方)末端呈现3条颜色不同的横线;
3.在下方(PCBA在上方)末端向上数起,第二条线,就是特征线;
三)切除特征线并确认故障点查找方向:
1.显微镜5X,5X观察特征线;
2.显微镜逐级切换至5X,50X;
3.找到控制特征线的扫描线;
4.控制镭射机X,Y轴定位到该扫描线靠近信号线位置;
5.采用slit X 3um ,Y 8 um,能量85%,1064nm波长激光击打该信号线位置,切除该扫描线,至此特征线被切除;
6.切除特征线后,画面变成全屏仅剩半截横线,此半截横线即故障点查找方向;
四)查找故障点:
1.从半截横线一端开始,在显微镜10X,20X逐一像素查询;
2.找到故障点位置(圈内ITO蚀刻变形或者蚀刻异常处);
五)修复故障点:1.在故障点位置采用Slit X 8um,Y 2um,能量68%,1064nm波长激光击打故障点位置的Drain位置;
六)检查确认:修复故障点后,检测各色画面,全屏无异常,修复完毕。
上述步骤四和步骤五亦可分三种方法:
1.故障点故障表现为Com ITO与Gateline短路或者Gateline直接与commonline之Metalone短路,在故障点位置采用Slit X 8um,Y 2um,能量68%,1064nm波长激光击打故障点位置的Drain位置,切除短路处,使原有功能Gateline恢复正常;
2. 故障点故障表现为Gateline与Dataline短路,会出现全屏间隔横线伴随竖渐变线,在故障点位置采用Slit X 8um,Y 2um,能量68%,1064nm波长激光击打故障点位置的Drain位置,切除被确认的交叉点线路,使Gateling和Dataline信号各自恢复正常;
3.无法确认被查找到的故障点故障表现形式,则切断此半条扫描线故障点的来源端,再将末梢电路纵向进行短接,利用间隔的同组扫描线信号使半条扫描线正常显现。
采用以上方法后,本发明改变了一般的液晶面板镭射修复方法,采用了结合面板特性,在数以千计的显性横向线性不良中快速锁定特征线,再快速查明异常故障点,并有效的将故障去除,以达到去除异常,使液晶面板正常显示;修复快速方便,减少浪费。
附图说明
图1为本发明的方法步骤简图。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本发明做详细的说明。
如图1所示,一种修复液晶面板显性横向线性不良的方法,其特征在于,包括六个步骤,
一)鉴别网格粗:
1.将目标产品送电点亮测试;
2.在红绿蓝三色观察,全屏或高度不等处出现异常等间隔横线,间隔数量为2;
3.在下方(PCBA在上方)末端出现3~4条颜色不同的横线;
4.多重网格粗为在此类型的叠加;
5.呈现间隔横线,但间隔条数为5条,此类异常为非网格粗,通过更换首尾COF修复;
6.带状无间隔性横纹或有间隔性横线但伴随带状无间隔性横纹,此类异常为非网格粗,可称之为画面异常,不在此发明之内;
二)确定特征线:
1.通过红绿蓝不同颜色观察;
2.在下方(PCBA在上方)末端呈现3条颜色不同的横线;
3.在下方(PCBA在上方)末端向上数起,第二条线,就是特征线;
三)切除特征线并确认故障点查找方向:
1.显微镜5X,5X观察特征线;
2.显微镜逐级切换至5X,50X;
3.找到控制特征线的扫描线;
4.控制镭射机X,Y轴定位到该扫描线靠近信号线位置;
5.采用slit X 3um ,Y 8 um,能量85%,1064nm波长激光击打该信号线位置,切除该扫描线,至此特征线被切除;
6.切除特征线后,画面变成全屏仅剩半截横线,此半截横线即故障点查找方向;
四)查找故障点:
1.从半截横线一端开始,在显微镜10X,20X逐一像素查询;
2.找到故障点位置(圈内ITO蚀刻变形或者蚀刻异常处);
五)修复故障点:1.在故障点位置采用Slit X 8um,Y 2um,能量68%,1064nm波长激光击打故障点位置的Drain位置;
六)检查确认:修复故障点后,检测各色画面,全屏无异常,修复完毕。
上述步骤四和步骤五亦可分三种方法:
1.故障点故障表现为Com ITO与Gateline短路或者Gateline直接与commonline之Metalone短路,在故障点位置采用Slit X 8um,Y 2um,能量68%,1064nm波长激光击打故障点位置的Drain位置,切除短路处,使原有功能Gateline恢复正常;
2. 故障点故障表现为Gateline与Dataline短路,会出现全屏间隔横线伴随竖渐变线,在故障点位置采用Slit X 8um,Y 2um,能量68%,1064nm波长激光击打故障点位置的Drain位置,切除被确认的交叉点线路,使Gateling和Dataline信号各自恢复正常;
3.无法确认被查找到的故障点故障表现形式,则切断此半条扫描线故障点的来源端,再将末梢电路纵向进行短接,利用间隔的同组扫描线信号使半条扫描线正常显现。
本发明是利用GOP产品扫描侧模块集成于面板两侧,通过自带逻辑电路自行扫描和传递逐行交握信息的特性,面板内部任意一条扫描线由于两侧都有信号送入,故中间部分可断开而不受影响。
Claims (1)
1.一种修复液晶面板显性横向线性不良的方法,其特征在于,包括六个步骤,
一)鉴别网格粗:
(1).将目标产品送电点亮测试;
(2).在红绿蓝三色观察,全屏或高度不等处出现异常等间隔横线,间隔数量为2;
(3).在下方末端出现3~4条颜色不同的横线;
(4).多重网格粗为上述(2)、(3)的叠加;
(5).呈现间隔横线,但间隔条数为5条,此类异常为非网格粗,通过更换首尾COF修复;
(6).带状无间隔性横纹或有间隔性横线但伴随带状无间隔性横纹,此类异常为非网格粗,可称之为画面异常;
二)确定特征线:
(1).通过红绿蓝不同颜色观察;
(2).在下方末端呈现3条颜色不同的横线;
(3).在下方末端向上数起,第二条线,就是特征线;
三)切除特征线并确认故障点查找方向:
(1).显微镜5X,5X观察特征线;
(2).显微镜逐级切换至5X,50X;
(3).找到控制特征线的扫描线;
(4).控制镭射机X,Y轴定位到该扫描线靠近信号线位置;
(5).采用slit X 3um ,Y 8 um,能量85%,1064nm波长激光击打该信号线位置,切除该扫描线,至此特征线被切除;
(6).切除特征线后,画面变成全屏仅剩半截横线,此半截横线即故障点查找方向;
四)查找故障点:
(1).从半截横线一端开始,在显微镜10X,20X逐一像素查询;
(2).找到故障点位置;
五)修复故障点:在故障点位置采用Slit X 8um,Y 2um,能量68%,1064nm波长激光击打故障点位置的Drain位置;
六)检查确认:修复故障点后,检测各色画面,全屏无异常,修复完毕。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201710055779.0A CN106802523B (zh) | 2017-01-25 | 2017-01-25 | 修复液晶面板显性横向线性不良的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201710055779.0A CN106802523B (zh) | 2017-01-25 | 2017-01-25 | 修复液晶面板显性横向线性不良的方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN106802523A CN106802523A (zh) | 2017-06-06 |
CN106802523B true CN106802523B (zh) | 2019-10-29 |
Family
ID=58988221
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201710055779.0A Active CN106802523B (zh) | 2017-01-25 | 2017-01-25 | 修复液晶面板显性横向线性不良的方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN106802523B (zh) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004279639A (ja) * | 2003-03-14 | 2004-10-07 | Hitachi Displays Ltd | 表示装置とその製造方法 |
KR100477143B1 (ko) * | 1997-11-11 | 2005-08-01 | 삼성전자주식회사 | 액정표시장치의화소수리방법 |
CN1702429A (zh) * | 2004-05-28 | 2005-11-30 | Hoya株式会社 | 波纹缺陷检查掩模、波纹缺陷检查装置及方法、以及光掩模的制造方法 |
CN1996440A (zh) * | 2005-12-28 | 2007-07-11 | 上海广电Nec液晶显示器有限公司 | Tft阵列基板d断线的判断方法 |
CN104460068A (zh) * | 2014-12-30 | 2015-03-25 | 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 | 像素、包括该像素的显示装置及其断线修复方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100947534B1 (ko) * | 2003-07-15 | 2010-03-12 | 삼성전자주식회사 | 표시 장치 |
TWI337273B (en) * | 2006-06-19 | 2011-02-11 | Au Optronics Corp | Repair structrue and active device array substrate |
-
2017
- 2017-01-25 CN CN201710055779.0A patent/CN106802523B/zh active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100477143B1 (ko) * | 1997-11-11 | 2005-08-01 | 삼성전자주식회사 | 액정표시장치의화소수리방법 |
JP2004279639A (ja) * | 2003-03-14 | 2004-10-07 | Hitachi Displays Ltd | 表示装置とその製造方法 |
CN1702429A (zh) * | 2004-05-28 | 2005-11-30 | Hoya株式会社 | 波纹缺陷检查掩模、波纹缺陷检查装置及方法、以及光掩模的制造方法 |
CN1996440A (zh) * | 2005-12-28 | 2007-07-11 | 上海广电Nec液晶显示器有限公司 | Tft阵列基板d断线的判断方法 |
CN104460068A (zh) * | 2014-12-30 | 2015-03-25 | 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 | 像素、包括该像素的显示装置及其断线修复方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN106802523A (zh) | 2017-06-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101776808B (zh) | 一种液晶显示器阵列基板及其修补方法 | |
KR101500021B1 (ko) | 다수의 파장을 사용하는 레이저 절제 | |
CN101290408B (zh) | 一种薄膜晶体管显示器 | |
CN101598752B (zh) | 薄膜晶体管阵列电路缺陷修补的实时检测方法 | |
CN108646476B (zh) | 一种液晶面板的断线修复方法 | |
CN102722058A (zh) | 一种液晶阵列基板及其制造方法、修复方法 | |
CN102326193A (zh) | 显示装置及其制造方法 | |
CN107340659A (zh) | 一种显示面板、显示装置和显示面板的修复方法 | |
CN102289120B (zh) | Tft阵列基板、液晶显示面板及配线修补方法 | |
CN102629043B (zh) | 薄膜晶体管像素结构及其修复方法 | |
CN106802523B (zh) | 修复液晶面板显性横向线性不良的方法 | |
CN103353679A (zh) | 一种阵列基板、显示装置及阵列基板的修复方法 | |
CN105006215A (zh) | 主动元件阵列基板 | |
JP6476234B2 (ja) | 非接触型回路パターン検査修復装置 | |
CN108957804A (zh) | 一种阵列基板及其维修方法、显示面板和显示装置 | |
CN100498485C (zh) | 液晶显示器面板及其修补方法 | |
CN103676232A (zh) | 走线结构及该走线结构的断路修复方法、液晶面板 | |
CN102929050A (zh) | 阵列基板、面板和显示装置 | |
JP2008146978A (ja) | 欠陥修正方法及び欠陥修正装置 | |
CN106054416A (zh) | 一种液晶显示器薄膜晶体管结构 | |
CN202196246U (zh) | 一种tft阵列基板及液晶显示器 | |
JP2007156338A (ja) | ディスプレイパネルの修理方法 | |
CN100587575C (zh) | 液晶显示面板与其修补方法 | |
CN102654699A (zh) | 一种阵列基板及线缺陷维修方法 | |
CN208999694U (zh) | 一种tft-lcd显示屏亮线激光修复机 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
TA01 | Transfer of patent application right | ||
TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20190905 Address after: 518100 2nd and 5th Floors of Building B, Xijing Industrial Zone, Gushitang West Team, Xixiang, Baoan District, Shenzhen City, Guangdong Province Applicant after: Xingyuan Electronic Technology (Shenzhen) Co.,Ltd. Address before: 536000 Industrial Park, Beihai City, Guangxi Zhuang Autonomous Region, No. 3, District 4, Gaoke Road (Sanuo Intelligent Industrial Park D02) Applicant before: Beihai Yuan Yuan Electronic Technology Co., Ltd. |
|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |