CN105006215A - 主动元件阵列基板 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种主动元件阵列基板，包括基板、像素阵列、多条信号线、驱动装置、第一修补线、多条第二修补线以及第三修补线。驱动装置、第一修补线、第二修补线以及第三修补线配置于周边电路区内。驱动装置与信号线电连接。第一修补线与驱动装置电连接。第一修补线与信号线的一端交迭形成多个第一预修补点。第一修补线与多条第二修补线的一端交迭形成多个第二预修补点。第三修补线与信号线的一端交迭形成多个第三预修补点。第三修补线与第二修补线的一端交迭形成多个第四预修补点。

Description

主动元件阵列基板

技术领域

本发明是有关于一种主动元件阵列基板，且特别是有关于一种具有修补线的主动元件阵列基板。

背景技术

近年来，虽然平面显示器技术已趋成熟，但显示面板的组成元件，如主动元件阵列基板，在制造过程之中难免会产生一些瑕疵(defect)。当用以传递信号至像素的信号线发生开路瑕疵时，位于发生开路瑕疵处另一侧的像素会无法接收到信号而形成线缺陷，因而导致显示面板呈现画面异常的状况。在考量制造成本的情况下，一般会对线缺陷进行修补，而修补的方法为通过单一条修补线将修补信号从信号线的另一端提供，从而解决位于开路瑕疵处另一侧的像素单元无法接收到信号的问题。

然而，开路瑕疵可能发生在任何一条信号线上，而各信号线在主动元件阵列基板上分布的位置不同，故修补信号的传递路径会随着开路瑕疵位在不同的位置而不同，即修补后的修补线的阻抗值会不同。而当修补后的修补线的阻抗值过大或过小时，即修补信号传递至信号线的另一端后与原信号不匹配，将使得显示面板会有淡线的异常显示。

发明内容

本发明提供一种主动元件阵列基板，其可提供良好的修补信号以避免发生阻抗不匹配的问题。

本发明的主动元件阵列基板，包括基板、像素阵列、多条信号线、驱动装置、第一修补线、多条第二修补线以及第三修补线。基板具有显示区与周边电路区。像素阵列配置于显示区内。多条信号线与像素阵列电连接，且每一信号线从显示区延伸至周边电路区。驱动装置配置于周边电路区内，且与信号线电连接。第一修补线配置于周边电路区内，且与驱动装置电连接，其中第一修补线与信号线的一端交迭以形成多个第一预修补点。多条第二修补线配置于周边电路区内，其中第一修补线与第二修补线的一端交迭以形成多个第二预修补点。第三修补线配置于周边电路区内，其中第三修补线与信号线的一端交迭以形成多个第三预修补点。第三修补线与第二修补线的一端交迭以形成多个第四预修补点。

本发明的主动元件阵列基板，包括基板、像素阵列、多条信号线、驱动装置、第一修补线、多条第二修补线以及第三修补线。基板具有显示区与周边电路区。像素阵列配置于显示区内。多条信号线与像素阵列电连接，且每一信号线从显示区延伸至周边电路区，其中信号线中的一者具有开路瑕疵。驱动装置配置于周边电路区内，且与信号线电连接。第一修补线配置于周边电路区内，且与驱动装置电连接，其中第一修补线与信号线的一端交迭，且第一修补线与具有开路瑕疵的信号线的交迭处具有第一熔接点。多条第二修补线配置于周边电路区内，其中第一修补线与第二修补线的一端交迭，且第一修补线与第二修补线的交迭处具有至少一第二熔接点。第三修补线配置于周边电路区内，其中第三修补线与信号线的一端交迭，且第三修补线与具有开路瑕疵的信号线的交迭处具有第三熔接点。第三修补线与第二修补线的一端交迭，且第三修补线与第二修补线的交迭处具有至少一第四熔接点，以使得第一修补线、第二修补线中的至少一第二修补线以及第三修补线与具有开路瑕疵的信号线电连接。

基于上述，本发明的主动元件阵列基板配置有修补线，当修补信号线发生开路瑕疵时，则发生开路瑕疵的信号线、第一修补线、第二修补线以及第三修补线可彼此熔接，以使修补信号可经由发生开路瑕疵的信号线的另一端提供至像素电极，其中熔接第二修补线的条数可依据开路瑕疵在主动元件阵列基板上发生的位置决定，即可按照所需要的阻抗值来调整熔接第二修补线的条数，以使主动元件阵列基板中的信号线的阻抗值相匹配。如此一来，本发明的主动元件阵列基板可提供良好的修补信号，以使此主动元件阵列基板后续组装成显示面板后具有良好的显示品质。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。

附图说明

图1是本发明的第一实施例的主动元件阵列基板的架构示意图；

图2与图3为图1的主动元件阵列基板面临不同数据线受损情况下进行修补时的架构示意图；

图4是本发明的第二实施例的主动元件阵列基板的架构示意图；

图5与图6为图4的主动元件阵列基板面临不同数据线受损情况下进行修补时的架构示意图。

附图标记

10、20：主动元件阵列基板  163、263：第三预修补点

100：基板                 164、264：第四预修补点

102：显示区               I、II、III、IV：区域

104：周边电路区           D：漏极

120：像素阵列             E：像素电极

132：数据线               G：栅极

134：扫描线               L1、W1：第一熔接点

140：数据线驱动装置       L2、W2：第二熔接点

142：扫描线驱动装置       L3、W3：第三熔接点

151、251：第一修补线      L4、W4：第四熔接点

152、252：第二修补线      P1、P2、P3、P4：开路瑕疵

153、253：第三修补线      S：源极

161、261：第一预修补点    T：主动元件

162、262：第二预修补点    U：像素单元

具体实施方式

图1是本发明的第一实施例的主动元件阵列基板的架构示意图。请参考图1，主动元件阵列基板10包括基板100、像素阵列120、多条信号线(在此，信号线为数据线132)、多条扫描线134、驱动装置(在此，驱动装置为数据线驱动装置140)、扫描线驱动装置142、第一修补线151、多条第二修补线152以及第三修补线153。

详细来说，基板100具有显示区102与周边电路区104。每一数据线132以及每一扫描线134从显示区102延伸至周边电路区104。数据线驱动装置140配置于周边电路区104内，且与数据线132电连接。扫描驱动装置142配置于周边电路区104内，且与扫描线134电连接。第一修补线151配置于周边电路区104内，且与数据线驱动装置140电连接，其中第一修补线151与每一数据线132的一端交迭以形成多个第一预修补点161。多条第二修补线152配置于周边电路区104内，其中第一修补线151与每一第二修补线152的一端交迭以形成多个第二预修补点162。第三修补线153配置于周边电路区104内，其中第三修补线153与每一数据线132的一端交迭以形成多个第三预修补点163，以及第三修补线153与每一第二修补线152的一端交迭以形成多个第四预修补点164。此时，数据线132、第一修补线151、第二修补线152以及第三修补线153彼此无电性相连。

如图1中所示，第一修补线151以及第三修补线153是以数量分别为一条为例说明。如此一来，一条第一修补线151以及一条第三修补线153可对应一条数据线132进行修补。当然，本发明并不限定于此。在其他实施例中，第一修补线151、第三修补线153可分别为两条、三条或其他可能的数量。当第一修补线151与第三修补线153皆为两条的情况下，则可对应两条数据线132进行修补。当第一修补线151与第三修补线153皆为三条的情况下，则可对应三条数据线132进行修补。换句话说，可修补的数据线132的数量可通过第一修补线151与第三修补线153的数量来决定。此外，如图1中所示，本实施例的第二修补线152是以数量为四条为例说明，且四条第二修补线152是对应于一条第一修补线151以及一条第三修补线153。当然，本发明并不限定于此。在其他实施例中，第二修补线152可为两条、三条、五条或其他可能的数量。

除上述之外，像素阵列120配置于显示区102内，数据线132以及扫描线134与像素阵列120电连接。详细来说，像素阵列120包括多个像素单元U，每一像素单元U包括主动元件T以及与主动元件T电连接的像素电极E。主动元件T包括栅极G、源极S以及漏极D，且像素电极E通过漏极D与主动元件T电连接。每一像素单元U对应连接一条数据线132以及一条扫描线134，其中栅极G与扫描线134连接，且数据线132与源极S连接。对其中一条数据线132而言，当数据线驱动装置140提供一数据信号于数据线132的一端，数据信号会依序传递至同一条数据线132的另一端，并且通过搭配扫描线134提供的扫描信号，数据信号会依序传递至排列于同一条数据线132上的像素单元U，且数据信号可经由主动元件T传递至像素电极E。如此一来，当主动元件阵列基板10后续组装成显示面板后，则可显示画面。

多条第二修补线152是由单一金属材料所形成，可例如是与数据线132选用相同的金属材料。如此一来，在不增加新的工艺步骤的情况下，即可于制作数据线132的同时将多条第二修补线152实现于基板100上。另一方面，第一修补线151以及第三修补线153可以与扫描线134选用相同的金属材料。如此一来，在不增加新的工艺步骤的情况下，即可于制作扫描线134的同时将第一修补线151以及第三修补线153实现于基板100上。

应用前述的主动元件阵列基板10，针对受损的数据线132的修补方法举例说明如下。图2与图3为图1的主动元件阵列基板面临不同数据线受损情况下进行修补时的架构示意图。

首先，请参考图2，当主动元件阵列基板10的数据线132发生开路瑕疵P1时，通过使发生开路瑕疵P1的数据线132、第一修补线151、第二修补线152以及第三修补线153彼此电性相连，可形成一完整的修补信号传递路径(如粗线箭头所示)，以使得数据信号得以传递至位在开路瑕疵P1另一侧的像素单元U。

详细来说，如图2所示，发生开路瑕疵P1的数据线132、第一修补线151、第二修补线152以及第三修补线153彼此电性相连可通过熔接发生开路瑕疵P1的数据线132所对应的第一预修补点161、第二预修补点162、第三预修补点163以及第四预修补点164来实现。更详细来说，对第一修补线151与具有开路瑕疵P1的数据线132的交迭处的第一预修补点161进行熔接可形成第一熔接点L1，以使第一修补线151与具有开路瑕疵P1的数据线132电性相连；对第一修补线151与第二修补线152的交迭处的第二预修补点162进行熔接可形成第二熔接点L2，以使第一修补线151与第二修补线152电性相连；对第三修补线153与具有开路瑕疵P1的数据线132的交迭处的第三预修补点163进行熔接可形成第三熔接点L3，以使第三修补线153与具有开路瑕疵P1的数据线132电性相连；以及对第三修补线153与第二修补线152的交迭处的第四预修补点164进行熔接可形成第四熔接点L4，以使第三修补线153与第二修补线152电性相连。如此一来，数据信号得以传递至具有开路瑕疵P1的数据线132所对应的所有像素单元U，以驱动该些像素单元U正常作动。

在本实施例中，主动元件阵列基板10通过具有多条第二修补线152，使得其可根据发生开路瑕疵P1的数据线132所在的位置来调整熔接第二修补线152的条数以调整整体第二修补线152的阻抗值，藉此主动元件阵列基板10能够提供良好的修补信号并达成有效的修补效果。详细而言，如图2中所示，第二修补线152的数量为四条，因此像素阵列120于显示区102中分布的区域可以区分为区域I、区域II、区域III以及区域IV等四个区域，其中区域I、II、III、IV的划分是依修补信号的传递路径长短，即修补后的修补线所需要的阻抗值大小来决定。

更详细而言，相较于区域II、区域III以及区域IV，当开路瑕疵发生于区域I时，修补信号的传递路径较短，故通过熔接一条第二修补线152(即形成相对应的一个第二熔接点L2以及一个第四熔接点L4)，就可使得修补后的发生开路瑕疵P1的数据线132具有与其他数据线132相匹配的阻抗值。如此一来，修补信号传递至发生开路瑕疵P1的数据线132的另一端后可与原信号匹配而不会产生线缺陷。而相较于区域I、区域II以及区域III，当开路瑕疵发生于区域IV时，修补信号的传递路径较长，故可通过熔接四条第二修补线152(即形成相对应的四个第二熔接点L2以及四个第四熔接点L4)来降低整体第二修补线152的阻抗值。如此一来，修补后的发生开路瑕疵P1的数据线132能够具有与其他数据线132相匹配的阻抗值，而避免产生线缺陷。同样地，相较于区域I，当开路瑕疵发生于区域II时，修补信号的传递路径较长，故可熔接两条第二修补线152(即形成相对应的两个第二熔接点L2以及两个第四熔接点L4)来获得良好的修补信号。同样地，相较于区域II，当开路瑕疵发生于区域III时，修补信号的传递路径较长，故可熔接三条第二修补线152(即形成相对应的三个第二熔接点L2以及三个第四熔接点L4)来获得良好的修补信号。

具体来说，请再次参照图2，当开路瑕疵P1发生于区域IV时，通过熔接发生开路瑕疵P1的数据线132所对应的一个第一预修补点161、四个第二预修补点162、一个第三预修补点163以及四个第四预修补点164以形成一个第一熔接点L1、四个第二熔接点L2、一个第三熔接点L3以及四个第四熔接点L4，可使得修补信号能够传递至发生开路瑕疵P1的数据线132的另一端并与原信号相匹配。也就是说，通过使用一条第一修补线151、四条第二修补线152与一条第三修补线153来修补受损的数据线132而与该数据线132连接后，能避免第一修补线151、第二修补线152与第三修补线153因阻抗值过大而影响修补信号的传递。如此一来，当主动元件阵列基板10后续组装成显示面板后，可提供良好的显示画面。

另外，请参照图3，当开路瑕疵P2发生于区域I时，通过熔接发生开路瑕疵P2的数据线132所对应的一个第一预修补点161、一个第二预修补点162、一个第三预修补点163以及一个第四预修补点164以形成一个第一熔接点L1、一个第二熔接点L2、一个第三熔接点L3以及一个第四熔接点L4，可使得修补信号能够传递至发生开路瑕疵P2的数据线132的另一端并与原信号相匹配。也就是说，通过使用一条第一修补线151、一条第二修补线152与一条第三修补线153来修补受损的数据线132而与该数据线132连接后，能避免第一修补线151、第二修补线152与第三修补线153因阻抗值过小而影响修补信号的传递。如此一来，当主动元件阵列基板10后续组装成显示面板后，可提供良好的显示画面。

当然，本发明并不以图2以及图3中所绘者为限，也就是说，本发明并不限定区域的数量以及区域划分的方式。在其他实施例中，像素阵列120于显示区102中所划分的区域可依据第二修补线152的条数及修补信号传递路径的长短作选择。

另外，由于主动元件阵列基板10可根据所需要的阻抗值来调整第二修补线152被熔接的数量以有效达成修补的效果，故主动元件阵列基板10可适用于在进行修补时易因阻抗不平均而造成线缺陷的大尺寸显示面板中。

基于上述第一实施例可知，当主动元件阵列基板10中的数据线132发生开路瑕疵时，则可通过发生开路瑕疵的数据线132、第一修补线151、第二修补线152以及第三修补线153彼此电性相连，使数据信号得以传递至开路瑕疵处另一侧的像素单元U。再者，由于一条第一修补线151以及一条第三修补线153是对应多条第二修补线152交迭，故可依据修补后的修补线所需要的阻抗值来调整熔接第二修补线152的条数，以使主动元件阵列基板10中的数据线132的阻抗值相匹配。如此一来，主动元件阵列基板10后续组装成显示面板后具有良好的显示品质。

另外，在图1至图3的第一实施例中，信号线为数据线132，而与信号线电连接的驱动装置为数据线驱动装置140，但本发明并不限于此。在其他实施例中，信号线也可以是扫描线，而驱动装置则可以是扫描线驱动装置。以下，将参照图4至图6进行详细说明。

图4是本发明的第二实施例的主动元件阵列基板的架构示意图。请同时参考图4及图1，本实施例的主动元件阵列基板20与第一实施例中的主动元件阵列基板10相似，二者主要差别之处主要在于：修补线的配置方式不相同。因此，在图4的主动元件阵列基板20与图1的主动元件阵列基板10中，使用相同或相似的标号来表示相同或相似的元件，且相关说明皆可参照前文。以下，将仅针对两者之间的主要差异进行说明。

第一修补线251配置于周边电路区104内，且与扫描线驱动装置142电连接，其中第一修补线251与每一扫描线134的一端交迭以形成多个第一预修补点261。多条第二修补线252配置于周边电路区104内，其中第一修补线251与每一第二修补线252的一端交迭以形成多个第二预修补点262。第三修补线253配置于周边电路区104内，其中第三修补线253与每一扫描线134的一端交迭以形成多个第三预修补点263，以及第三修补线253与每一第二修补线252的一端交迭以形成多个第四预修补点264。此时，扫描线134、第一修补线251、第二修补线252以及第三修补线253彼此无电性相连。

如图4中所示，第一修补线251以及第三修补线253是以数量分别为一条为例说明。如此一来，一条第一修补线251以及一条第三修补线253可对应一条扫描线134进行修补。当然，本发明并不限定于此。在其他实施例中，第一修补线251、第三修补线253可分别为两条、三条或其他可能的数量。当第一修补线251与第三修补线253皆为两条的情况下，则可对应两条扫描线134进行修补。当第一修补线251与第三修补线253皆为三条的情况下，则可对应三条扫描线134进行修补。换句话说，可修补的扫描线134的数量可通过第一修补线251与第三修补线253的数量来决定。此外，如图4中所示，本实施例的第二修补线252是以数量为四条为例说明，且四条第二修补线252是对应于一条第一修补线251以及一条第三修补线253。当然，本发明并不限定于此。在其他实施例中，第二修补线252可为两条、三条、五条或其他可能的数量。

多条第二修补线252是由单一金属材料所形成，且例如与扫描线134选用相同的金属材料，如此一来，在不增加新的工艺步骤的情况下，即可于制作扫描线134的同时将多条第二修补线252实现于基板100上。另一方面，第一修补线251以及一第三修补线253可以与数据线132选用相同的金属材料。如此一来，在不增加新的工艺步骤的情况下，即可于制作数据线132的同时将第一修补线251以及一第三修补线253实现于基板100上。

应用前述的主动元件阵列基板20，针对受损的扫描线134的修补方法举例说明如下。图5与图6为图4的主动元件阵列基板面临不同扫描线受损情况下进行修补时的架构示意图。

首先，请参考图5，当主动元件阵列基板20的扫描线134发生开路瑕疵P3时，通过使发生开路瑕疵P3的扫描线134、第一修补线251、第二修补线252以及第三修补线253彼此电性相连，可形成一完整的修补信号传递路径(如粗线箭头所示)，以使得扫描信号得以传递至位在开路瑕疵P3另一侧的像素单元U。

详细来说，如图5所示，发生开路瑕疵P3的扫描线134、第一修补线251、第二修补线252以及第三修补线253彼此电性相连可通过熔接发生开路瑕疵P3的扫描线134所对应的第一预修补点261、第二预修补点262、第三预修补点263以及第四预修补点264来实现。更详细来说，对第一修补线251与具有开路瑕疵P3的扫描线134的交迭处的第一预修补点261进行熔接可形成第一熔接点W1，以使第一修补线251与具有开路瑕疵P3的扫描线134电性相连；对第一修补线251与第二修补线252的交迭处的第二预修补点262进行熔接可形成第二熔接点W2，以使第一修补线251与第二修补线252电性相连；对第三修补线253与具有开路瑕疵P3的扫描线134的交迭处的第三预修补点263进行熔接可形成第三熔接点W3，以使第三修补线253与具有开路瑕疵P3的数据线132电性相连；以及对第三修补线253与第二修补线252的交迭处的第四预修补点264进行熔接可形成第四熔接点W4，以使第三修补线253与第二修补线252电性相连。如此一来，扫描信号得以传递至具有开路瑕疵P3的扫描线134所对应的所有像素单元U，以驱动该些像素单元U正常作动。

在本实施例中，主动元件阵列基板20通过具有多条第二修补线252，使得其可根据发生开路瑕疵P3的扫描线134所在的位置来调整熔接第二修补线252的条数以调整整体第二修补线252的阻抗值，藉此主动元件阵列基板20能够提供良好的修补信号并达成有效的修补效果。详细而言，如图5中所示，第二修补线252的数量为四条，因此像素阵列120于显示区102中分布的区域可以区分为区域I、区域II、区域III以及区域IV等四个区域，其中区域I、II、III、IV的划分是依修补信号的传递路径长短，即修补后的修补线所需要的阻抗值大小来决定。

更详细而言，相较于区域II、区域III以及区域IV，当开路瑕疵发生于区域I时，修补信号的传递路径较短，故通过熔接一条第二修补线252(即形成相对应的一个第二熔接点W2以及一个第四熔接点W4)，就可使得修补后的发生开路瑕疵P3的扫描线134具有与其他扫描线134相匹配的阻抗值。如此一来，修补信号传递至发生开路瑕疵P3的扫描线134的另一端后可与原信号匹配而不会产生线缺陷。而相较于区域I、区域II以及区域III，当开路瑕疵发生于区域IV时，修补信号的传递路径较长，故可通过熔接四条第二修补线252(即形成相对应的四个第二熔接点W2以及四个第四熔接点W4)来降低整体第二修补线252的阻抗值。如此一来，修补后的发生开路瑕疵P3的扫描线134能够具有与其他扫描线134相匹配的阻抗值，而避免产生线缺陷。同样地，相较于区域I，当开路瑕疵发生于区域II时，修补信号的传递路径较长，故可熔接两条第二修补线252(即形成相对应的两个第二熔接点W2以及两个第四熔接点W4)来获得良好的修补信号。同样地，相较于区域II，当开路瑕疵发生于区域III时，修补信号的传递路径较长，故可熔接三条第二修补线252(即形成相对应的三个第二熔接点W2以及三个第四熔接点W4)来获得良好的修补信号。

具体来说，请再次参照图5，当开路瑕疵P3发生于区域IV时，通过熔接发生开路瑕疵P3的扫描线134所对应的一个第一预修补点261、四个第二预修补点262、一个第三预修补点263以及四个第四预修补点264以形成一个第一熔接点W1、四个第二熔接点W2、一个第三熔接点W3以及四个第四熔接点W4，可使得修补信号能够传递至发生开路瑕疵P3的扫描线134的另一端并与原信号相匹配。也就是说，通过使用一条第一修补线251、四条第二修补线252与一条第三修补线253来修补受损的扫描线134而与该扫描线134连接后，能避免第一修补线251、第二修补线252与第三修补线253因阻抗值过大而影响修补信号的传递。如此一来，当主动元件阵列基板20后续组装成显示面板后，可提供良好的显示画面。

另外，请参照图6，当开路瑕疵P4发生于区域I时，通过熔接发生开路瑕疵P4的扫描线134所对应的一个第一预修补点261、一个第二预修补点262、一个第三预修补点263以及一个第四预修补点264以形成一个第一熔接点W1、一个第二熔接点W2、一个第三熔接点W3以及一个第四熔接点W4，可使得修补信号能够传递至发生开路瑕疵P4的扫描线134的另一端并与原信号相匹配。也就是说，通过使用一条第一修补线251、一条第二修补线252与一条第三修补线253来修补受损的扫描线134而与该扫描线134连接后，能避免第一修补线251、第二修补线252与第三修补线253因阻抗值过小而影响修补信号的传递。如此一来，当主动元件阵列基板20后续组装成显示面板后，可提供良好的显示画面。

当然，本发明并不以图5以及图6中所绘者为限，也就是说，本发明并不限定区域的数量以及区域划分的方式。在其他实施例中，像素阵列120于显示区102中所划分的区域可依据第二修补线252的条数及修补信号传递路径的长短作选择。

另外，由于主动元件阵列基板20可根据所需要的阻抗值来调整第二修补线252被熔接的数量以有效达成修补的效果，故主动元件阵列基板20可适用于在进行修补时易因阻抗不平均而造成线缺陷的大尺寸显示面板中。

基于上述第二实施例可知，当主动元件阵列基板20中的扫描线134发生开路瑕疵时，则可通过发生开路瑕疵的扫描线134、第一修补线251、第二修补线252以及第三修补线253彼此电性相连，使扫描信号得以传递至开路瑕疵处另一侧像素单元U。再者，由于一条第一修补线251以及一条第三修补线253是对应多条第二修补线252交迭，故可依据修补后的修补线所需要的阻抗值来调整熔接第二修补线252的条数，以使主动元件阵列基板20中的扫描线134的阻抗值相匹配。如此一来，主动元件阵列基板20后续组装成显示面板后具有良好的显示品质。

另外一提的是，前述的第一实施例仅绘示了一组修补线(即一条第一修补线251、多条第二修补线252以及一条第三修补线253)以及第二实施例也仅绘示了一组修补线(即一条第一修补线251、多条第二修补线252以及一条第三修补线253)，但本发明并不限于此。在其他实施例中，本领域的技术人员在参照前述第一及第二实施例之后，理应能理解主动元件阵列基板中也可以同时配置两组以上的修补线，使得当主动元件阵列基板内的任一信号线发生开路瑕疵时其仍能提供良好的修补信号。

综上所述，本发明的主动元件阵列基板在无发生开路瑕疵的情况下，可正常显示画面。另一方面，当于信号线发生开路瑕疵时，由于具有开路瑕疵的信号线、第一修补线、第二修补线以及第三修补线彼此交迭，故可依据修补后的修补线所需要的阻抗值来调整熔接第二修补线的条数，以使主动元件阵列基板中的信号线的阻抗值相匹配。如此一来，主动元件阵列基板后续组装成显示面板后具有良好的显示品质。

虽然本发明已以实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，故本发明的保护范围当视权利要求书的范围所界定的为准。

Claims (9)

1.一种主动元件阵列基板，其特征在于，所述的主动元件阵列基板包括：

一基板，具有一显示区与一周边电路区；

一像素阵列，配置于所述显示区内；

多条信号线，与所述像素阵列电连接，且每一信号线从所述显示区延伸至所述周边电路区；

一驱动装置，配置于所述周边电路区内，且与所述多条信号线电连接；

一第一修补线，配置于所述周边电路区内，且与所述驱动装置电连接，其中所述第一修补线与所述多条信号线的一端交迭以形成多个第一预修补点；

多条第二修补线，配置于所述周边电路区内，其中所述第一修补线与所述多条第二修补线的一端交迭以形成多个第二预修补点；以及

一第三修补线，配置于所述周边电路区内，其中所述第三修补线与所述多条信号线的一端交迭以形成多个第三预修补点，以及所述第三修补线与所述多条第二修补线的一端交迭以形成多个第四预修补点。

2.根据权利要求1所述的主动元件阵列基板，其特征在于，所述多条第二修补线由单一金属材料所形成。

3.根据权利要求1所述的主动元件阵列基板，其特征在于，所述驱动装置为数据线驱动器，所述多条信号线为数据线。

4.根据权利要求1所述的主动元件阵列基板，其特征在于，所述驱动装置为扫描线驱动器，所述多条信号线为扫描线。

5.一种主动元件阵列基板，其特征在于，所述的主动元件阵列基板包括：

一基板，具有一显示区与一周边电路区；

一像素阵列，配置于所述显示区内；

多条信号线，与所述像素阵列电连接，且每一信号线从所述显示区延伸至所述周边电路区，其中所述多条信号线中的一者具有一开路瑕疵；

一驱动装置，配置于所述周边电路区内，且与所述多条信号线电连接；

一第一修补线，配置于所述周边电路区内，且与所述驱动装置电连接，其中所述第一修补线与所述多条信号线的一端交迭，且所述第一修补线与具有所述开路瑕疵的信号线的交迭处具有一第一熔接点；

多条第二修补线，配置于所述周边电路区内，其中所述第一修补线与所述多条第二修补线的一端交迭，且所述第一修补线与所述多条第二修补线的交迭处具有至少一第二熔接点；以及

一第三修补线，配置于所述周边电路区内，其中所述第三修补线与所述多条信号线的一端交迭，且所述第三修补线与具有所述开路瑕疵的信号线的交迭处具有一第三熔接点，以及所述第三修补线与所述多条第二修补线的一端交迭，且所述第三修补线与所述多条第二修补线的交迭处具有至少一第四熔接点，以使得所述第一修补线、所述多条第二修补线中的至少一第二修补线以及所述第三修补线与具有所述开路瑕疵的信号线电连接。

6.根据权利要求5所述的主动元件阵列基板，其特征在于，所述多条第二修补线由单一金属材料所形成。

7.根据权利要求5所述的主动元件阵列基板，其特征在于，所述驱动装置为数据线驱动器，所述多条信号线为数据线。

8.根据权利要求5所述的主动元件阵列基板，其特征在于，所述驱动装置为扫描线驱动器，所述多条信号线为扫描线。

9.根据权利要求5所述的主动元件阵列基板，其特征在于，所述第一修补线与所述多条第二修补线的交迭处具有多个第二熔接点，以及所述第三修补线与所述多条第二修补线的交迭处具有多个第四熔接点。