CN106796162A - 通过使用威布尔回归识别测量过程谐波而达成轮胎均匀性改进 - Google Patents

通过使用威布尔回归识别测量过程谐波而达成轮胎均匀性改进 Download PDF

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CN106796162A CN201480081663.9A CN201480081663A CN106796162A CN 106796162 A CN106796162 A CN 106796162A CN 201480081663 A CN201480081663 A CN 201480081663A CN 106796162 A CN106796162 A CN 106796162A
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W·D·马夫布伊
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Abstract

本发明提供用于改进轮胎均匀性的方法和系统。更确切地说，可针对多个轮胎的集合中的每一轮胎，获得均匀性参数的量值。与所述轮胎集合相关联的所述量值可根据可能性分布函数(例如，威布尔分布函数)进行变换，以获得经变换量值集合。可至少部分地基于所述经变换量值，估计与可能性分布函数相关联的参数。与所述可能性分布函数相关联的参数可用于确定指示可归因于测量过程谐波的均匀性测量值的测量误差的数据。指示所述测量误差的所述数据可用于校正轮胎所获得的均匀性测量值，并用于至少部分地基于所述经校正测量值，修改轮胎制造。

Description

通过使用威布尔回归识别测量过程谐波而达成轮胎均匀性 改进
技术领域
本发明涉及轮胎均匀性，且更确切地说，涉及通过使用威布尔回归识别由一个或多个测量过程谐波导致的测量误差来改进轮胎的均匀性。
背景技术
在轮胎的某些可量化特性中，轮胎非均匀性与相对于轮胎的旋转轴线的对称性(或缺乏对称性)有关。不幸的是，常规轮胎成型方法有很大机率会产生轮胎不均匀性。在轮胎旋转期间，存在于轮胎结构中的不均匀性在车轮轴线处产生周期性变化的力。当这些力变化作为明显的振动传送到车辆以及车辆乘员时，轮胎非均匀性是非常重要的。这些力通过车辆的悬架传送并且可以在座位以及车辆的方向盘上感觉到，或者作为噪声在乘客室中传送。传送到车辆乘员的振动的量已经被分类为轮胎的“乘坐舒适”或“舒适”。
轮胎均匀性参数或属性一般被分类为尺寸或几何变化(径向偏心和横向偏心)、质量方差，以及滚动力变化(径向力变化、横向力变化以及切向力变化，有时也称为纵向或前后力变化)。均匀性测量机器通常通过测量在轮胎围绕其轴线旋转时在轮胎周围的多个点处的力来计算上述和其它均匀性特性以产生均匀性波形。
许多不同因素可对轮胎中的均匀性特性的存在产生贡献。轮胎中的均匀性分散度可由轮胎谐波效应和过程谐波效应引起。轮胎谐波效应或“轮胎谐波”具有与轮胎圆周一致(例如，在轮胎圆周内拟合整数次数)的变化周期。轮胎谐波可归因于胎面接头宽度、成型鼓的失圆度、硫化机效应和其它效应。
过程谐波效应或“过程谐波”具有不与轮胎圆周一致(例如，在轮胎圆周内不拟合整数次数)的变化周期。过程谐波大体上涉及过程要素而非轮胎圆周。过程谐波效应可(例如)由均匀性测量机器本身归因于用以在均匀性测量期间负载轮胎的行走轮的不均匀性致使。过程谐波的表现可取决于过程谐波相对于轮胎圆周的引入速率而在不同轮胎间改变。
发明内容
本发明的实施例的方面和优点将在以下描述中部分地阐述，或可从所述描述得知，或可通过实践所述实施例得知。
本发明的一个实例方面针对一种用于改进轮胎均匀性的方法。所述方法包含由一个或多个计算装置获得针对多个测试轮胎的集合所测量的均匀性参数的量值集合。每一量值与所述测试轮胎集合中的测试轮胎中的一个相关联。所述方法进一步包含由一个或多个计算装置变换量值集合以产生经变换量值集合，并由一个或多个计算装置根据经变换量值估计可能性分布(例如，威布尔分布)的一个或多个参数。所述方法进一步包含由一个或多个计算装置至少部分地基于可能性分布的一个或多个参数，确定指示可归因于测量过程谐波的测量误差的数据。所述方法进一步包含至少部分地基于指示测量误差的数据，修改轮胎制造。
本发明的另一实例方面针对一种用于改进轮胎均匀性的系统。所述系统可包含均匀性测量机器，所述均匀性测量机器经配置以获得多个轮胎的集合的均匀性参数的均匀性测量值。所述系统可进一步包含与均匀性测量机器通信的一个或多个计算装置。一个或多个计算装置可包含计算机可读指令，所述计算机可读指令在由一个或多个处理器执行时使一个或多个处理器执行本文中所揭示的用于改进轮胎均匀性的方法中的任一个的一个或多个方面。
参考以下描述以及所附权利要求书将更好地理解各种实施例的这些和其它特征、方面和优点。并入在本说明书中并且构成本说明书的一部分的附图说明了本发明的实施例，并且与所述描述一起用于解释相关原理。
附图说明
在说明书中阐述针对于所属领域的一般技术人员的实施例的详细论述，其参考附图做出，在附图中：
图1(a)描绘针对五个代表性轮胎的与轮胎效应相关联的均匀性波形。
图1(b)描绘与测量过程效应相关联的均匀性波形。
图1(c)描绘针对五个代表性轮胎所测量的且组合轮胎效应和过程效应两者的复合均匀性波形。
图2描绘根据本发明的实例方面的用于改进轮胎均匀性的实例方法的流程图；
图3描绘根据本发明的实例方面的用于变换量值以获得经变换量值集合的实例方法的流程图；
图4描绘根据本发明的实例方面的实例经变换量值集合；
图5描绘根据本发明的实例方面的用于至少部分地基于经变换量值来确定可能性分布的一个或多个参数的实例方法的流程图；以及
图6描绘根据本发明的实例方面的用于改进轮胎均匀性的实例系统。
具体实施方式
现在将详细参考实施例，在图式中说明所述实施例中的一个或多个实例。每一实例是以解释本发明而非限制本发明的方式提供。实际上，对于所属领域的技术人员将显而易见的是，可以在不脱离本发明的范围或精神的前提下对实施例进行各种修改和变化。例如，说明或描述为一个实施例的一部分的特征可以与另一实施例一起使用以产生再一实施例。因此，希望本发明的各方面涵盖此类修改和变化。
综述
本发明的实例方面针对用于改进轮胎均匀性的方法和系统。更确切地说，可分析多个均匀性测量以识别对产生于测量过程谐波的均匀性测量值的贡献。测量过程谐波可为与获取轮胎的均匀性测量值相关联的过程谐波效应，例如与在用均匀性测量机器获取均匀性测量值期间使用的一个或多个过程元件(例如，行走轮)相关联的过程谐波效应。测量过程谐波可仅由均匀性测量值的所述获取产生，且可不有助于实际的轮胎不均匀性。一经识别，指示可归因于测量过程谐波的测量误差的数据就可用于校正轮胎所获得的均匀性测量值。接着可至少部分地基于经校正测量值，修改轮胎制造以改进轮胎均匀性。
更确切地说，可通过获得轮胎的一个或多个旋转的多个离散数据点处的多个均匀性测量值，分析均匀性参数。在离散数据点处执行的多个均匀性测量可共同地表示为均匀性波形。均匀性参数可为(例如)径向偏心、径向力变化、横向偏心、横向力变化、静态平衡、切向力变化或其它合适的均匀性参数。均匀性测量值可表示为轮胎集合中的每一轮胎的均匀性概要数据。例如，均匀性概要数据可包含所关注的均匀性参数的一个或多个谐波(例如，傅里叶谐波)的量值和/或相角，例如径向力变化的第一谐波。
均匀性测量可具有来自轮胎谐波和过程谐波两者的贡献。轮胎谐波具有在轮胎圆周内拟合整数次数的周期。典型的轮胎谐波可归因于胎面接头宽度、成型鼓的失圆度、压力效应和其它效应。过程谐波具有在轮胎圆周内不拟合整数次数的周期。典型的过程谐波可以例如在半成品(例如，胎面带)的制备过程中由归因于挤压机控制系统的厚度变化或由可以使较软产品的形状变形的辊导致。
过程谐波可在各种参数方面来表达或识别，所述参数包含但不限于相对于轮胎尺寸(例如，轮胎圆周、半径、直径、围绕轮胎的数据点的离散数目或类似者)的引入速率(例如，频率或周期)。引入速率还可表达为谐波数目(例如，1.25、0.8等)。当考虑总数为p的候选过程效应时，每一过程效应的引入速率可以在其相应谐波数目hp方面界定。
测量过程谐波是可归因于轮胎的均匀性测量值的获取但并不有助于实际轮胎不均匀性的过程谐波。测量过程谐波可为由于用于测量轮胎均匀性自身的过程组件而在均匀性测量内出现的效应。例如，可通过在均匀性测量机器中旋转轮胎一个或多个转数，获得均匀性测量值。在获取均匀性测量值期间，可用行走轮负载轮胎。行走轮的目的是模拟轮胎沿着表面滚动以用于测量均匀性参数，例如径向力变化、横向力变化和/或切向力变化。行走轮的不均匀性自身可在轮胎所获得的均匀性测量值中显现。然而，行走轮的不均匀性并不有助于轮胎的实际不均匀性。
图1(a)到1(c)提供测量过程谐波可如何添加到现有轮胎谐波中以产生横跨多个轮胎的均匀性变化的图形表示。在图1(a)中，所述图形表示针对五个相应的测试轮胎的与轮胎效应相关联的均匀性波形。均匀性波形可以是(例如)径向力变化波形或其它合适的均匀性波形。注意，与每一轮胎的轮胎效应相关联的均匀性波形大体上类似。图1(a)的均匀性波形可由数个不同轮胎谐波组成，所述轮胎谐波中的每一个在由个别的测试轮胎的圆周(即LT)界定的周期内拟合整数倍。
图1(b)表示可影响轮胎的均匀性分散的示例性测量过程效应的模型。如图所示，测量过程效应具有在由轮胎圆周LT界定的周期内不拟合整数倍的周期LP。对于图1(b)中所描绘的实例，测量过程效应具有大致为轮胎圆周LT 1.5倍的周期Lp。测量过程效应具有量值(例如，峰峰振幅)AP。
图1(c)表示所循序观测的(即，所测量的)轮胎的复合均匀性波形。如图1(c)中所展示，显而易见的是，测量过程效应到轮胎效应的添加可使所测量均匀性波形内(或其特定谐波组件，例如，径向力变化的第一谐波)的最大所观测值对不同的轮胎来说是不同的，即使所有轮胎谐波横跨多个轮胎保持一致。测量过程效应贡献到所观测波形的所估计量值可用于更好地分析均匀性测量值和/或用于校正轮胎制造过程的各种方面。
根据本发明的实例方面，可通过校正测量过程谐波的均匀性测量值，改进轮胎均匀性。更确切地说，可针对多个轮胎的集合中的每一轮胎，获得均匀性参数的量值。与轮胎集合相关联的量值可根据可能性分布函数(例如，威布尔分布函数)进行变换，以获得经变换量值集合。可至少部分地基于经变换量值，估计与可能性分布函数(例如，威布尔分布)相关联的参数。与可能性分布函数相关联的参数可接着用于确定指示可归因于测量过程谐波的均匀性测量值的测量误差(例如，方差)的数据。指示测量误差的数据可用于校正轮胎所获得的均匀性测量值，并用于至少部分地基于经校正测量值，修改轮胎制造。
例如，在一个实例实施方案中，经变换量值集合可具有一般线性分布。如本文所使用，术语“一般线性”指代在完全线性关系的30％内。可针对一般线性分布使用(例如)回归分析，估计最佳拟合线。可根据最佳拟合线，例如最佳拟合线的斜率和截距，估计与线性分布相关联的参数。
斜率和截距可用于估计威布尔分布的一个或多个参数。威布尔分布是可具有各种参数的可能性分布，所述参数包含形状参数和尺度参数。形状参数可指示威布尔分布的形状，而尺度参数可指示威布尔分布的范围。斜率和截距可用于估计威布尔分布的形状参数和尺度参数。更确切地说，可至少部分地基于斜率，估计威布尔分布的形状参数。可至少部分地基于截距，估计尺度参数。
可至少部分地基于威布尔分布的形状参数和/或尺度参数，确定指示测量误差的数据。例如，可识别所估计形状参数和基线威布尔分布的形状参数之间的差。基线威布尔分布可与轮胎集合的量值的预期分布相关联。形状参数之间差可用于估计指示测量误差的数据(例如，可归因于测量误差的方差)。
可通过至少部分地基于指示可归因于测量过程谐波的测量误差来校正均匀性测量值，修改轮胎制造。通过清洁可仅归因于测量均匀性的任何效应的测量值，经校正均匀性测量值可提供轮胎的均匀性的更精确表示。使用经校正均匀性测量值可产生较高均匀性良率和对轮胎均匀性的改进的过程控制。
用于改进轮胎均匀性的实例方法
图2描绘根据本发明的实例方面的用于改进轮胎均匀性的实例方法(200)的流程图。出于说明和讨论的目的，图2描绘以特定次序执行的步骤。所属领域的一般技术人员使用本文中所提供的揭示内容将理解，可在不偏离本发明的范围的情况下以各种方式省略、重排、扩充、调整和/或修改本文中所揭示的方法中的任一个。
在(202)处，所述方法包含获得一个或多个轮胎的集合中的每一轮胎的所测量均匀性参数的量值。所测量均匀性参数可对应于任何合适的均匀性参数。例如，均匀性测量值可对应于(例如)均匀性参数，如径向力变化(RFV)、横向力变化(LFV)、切向力变化(TFV)、其一个或多个谐波和其它参数。
量值集合中的每一量值可从每一轮胎的所测量均匀性参数导出。例如，可针对围绕轮胎的多个离散数据点(例如，128个数据点)使用均匀性测量机器获得均匀性参数的均匀性测量值。均匀性测量值可对应于均匀性波形。可使用傅里叶分解，将均匀性波形分解成各种谐波(例如，第1谐波、第2谐波等)。每一谐波可与量值(例如，峰峰振幅)和/或相角相关联。相角可指示围绕轮胎的方位角的谐波的峰值的位置。在某些实施例中，不需要相角信息来识别指示可归因于根据本发明的实例方面的一个或多个测量过程谐波的测量误差的数据。
在一个实施例中，量值可以事先从所测量均匀性参数导出并存储在存储器中。获得所观测量值可包含存取存储于存储器中的所观测量值。在另一实施例中，获得所观测量值可包含结合利用均匀性测量机器测量均匀性参数，根据所测量均匀性参数计算所观测量值。
轮胎集合中轮胎的数目可经选择以提供用于识别可归因于根据本发明的实例方面的测量过程谐波的测量误差的适当样本。例如，在一个特定实施方案中，轮胎的数目可在10到100个轮胎的范围内。可从存储于(例如)存储器装置中的针对测试轮胎的集合所获得的历史均匀性数据的数据库存取均匀性测量值或可使用测试轮胎的集合以物理方式测量均匀性测量值。
在(204)处，所述方法包含变换量值以获得经变换量值集合。可根据可能性分布函数(例如威布尔分布函数)变换量值，使得可以根据经变换量值估计可能性分布函数的参数。参看威布尔可能性分布论述本发明的各方面。所属领域的一般技术人员使用本文所提供的揭示内容将理解，在不偏离本发明的范围的前提下可使用其它合适的可能性分布实施本发明的各方面。
图3描绘根据本发明的实例方面的用于变换量值以获得经变换量值集合的实例方法(300)的流程图。在(302)处，确定量值集合的排序次序。例如，可将量值集合从最小量值排序到最大量值，其中较高量值被指派较高的排序次序。表1提供与10个轮胎的集合相关联的径向力变化的量值集合的实例排序次序。
表1
排序次序 量值 排序次序 量值
1 1.45 6 7.57
2 3.52 7 10.45
3 5.11 8 12.16
4 5.82 9 14.12
5 6.79 10 17.54
在(304)处，至少部分地基于排序次序，将分位数指派给每一量值。在一个实施例中，量值的分位数可被定义如下：
q＝(s-0.1)/n
其中q是量值的分位数，s是量值集合中的量值的排序次序，n是量值集合中的量值数目n。对本变换的其它修改是可能的。
在(306)处，根据分布函数变换每一量值的分位数以产生经变换分位数。在一个示例实施例中，根据如下可能性分布变换分位数：
qt＝log(log(1/(1-q)))
其中qt是经变换分位数，且q是分位数。
在(308)处，每一量值被变换为经变换量值。例如，可针对每一量值获得每一经变换量值，如下：
mt＝logm
其中mt是经变换量值，且m是量值。本文中论述的全部对数可为自然对数或其它合适的对数。
在(310)处，基于经变换分位数，确定经变换量值的经变换排序次序。例如，可至少部分地基于与经变换量值相关联的经变换分位数，对经变换量值进行排序。表2提供对应于在表1中提供的量值的经变换量值集合的实例经变换排序次序。
表2
经变换分位数 经变换量值 经变换分位数 经变换量值
-2.36 0.37 -0.11 2.02
-1.56 1.26 0.16 2.35
-1.07 1.63 0.45 2.50
-0.7 1.76 0.79 2.65
-0.4 1.91 1.53 2.86
根据本发明的实例方面的经变换量值集合可具有一般线性关系。例如，图4描绘表2的经变换量值的分布400。图4绘制沿着横坐标的经变换分位数和沿着纵坐标的经变换量值。如图4中所展示，经变换量值的分布400具有一般线性关系。线性关系的特性可用于识别与可能性分布相关联的一个或多个参数。
返回参看图2的(206)处，可至少部分地基于经变换量值，估计可能性分布(例如，威布尔分布)的一个或多个参数。例如，可至少部分地基于经变换量值，估计与威布尔分布相关联的尺度参数和形状参数。
图5描绘根据本发明的实例方面的用于至少部分地基于经变换量值估计威布尔分布的参数的实例方法(500)的流程图。在(502)处，存取经变换量值集合。例如，可存取图4中描绘的经变换量值400的分布400。在图5的(504)处，针对经变换量值使用(例如)回归分析，确定最佳拟合线。图4描绘确定的(例如)经变换量值的分布400的实例最佳拟合线410。
在图5的(506)处，识别最佳拟合线的斜率和截距(例如，y截距)可至少部分地基于斜率和截距，估计威布尔分布的参数。更确切地说，在图5的(508)处，可至少部分地基于最佳拟合线的斜率，识别威布尔分布的形状参数。在一个实例实施方案中，形状参数等于最佳拟合线的斜率。在(510)处，可至少部分地基于最佳拟合线的斜率和截距，估计威布尔分布的尺度参数。在一个实例实施方案中，尺度参数识别如下：
其中α是尺度参数。
返回参看图2的(208)处，方法(200)包含估计至少部分地基于与可能性分布相关联的参数，可归因于测量过程谐波的测量误差。更确切地说，与可能性分布相关联的所估计参数从与基线分布相关联的参数的预期基线集合的偏离可指示量值的测量误差。例如，与轮胎均匀性相关联的基线威布尔分布可具有基线形状参数和基线尺度参数。根据本发明的实例方面所估计的形状参数可与基线形状参数比较以确定可归因于测量过程谐波的测量误差的存在。
在一个特定实施方案中，可通过识别与测量误差相关联的方差，量化可归因于测量过程谐波的测量误差。可基于经变换量值的分布的形状参数中的偏置之间的关系，识别与测量误差相关联的方差。使用本关系，可至少部分地基于形状参数计算方差，如下：
其中σu是可归因于测量误差的方差，σw是可归因于量值的基线威布尔分布的方差，β是所估计形状参数。
可归因于测量误差的方差可用于确定与测量过程谐波相关联的一个或多个参数，例如测量过程谐波的量值和频率(例如，谐波数目)。例如，可至少部分地基于方差，使用(例如)将方差与测量过程谐波的量值和/或频率关联的查找表或模型，识别与测量过程谐波相关联的一个或多个参数。
在(210)处，可至少部分地基于测量误差，修改轮胎制造以改进轮胎均匀性。例如，可使用针对测量过程谐波识别的一个或多个参数，校正一个或多个轮胎的均匀性测量值。例如，可调整均匀性测量值的分布以至少部分地基于可归因于测量过程谐波的方差，确定经校正方差。
接着可至少部分地基于经校正均匀性测量值，修改轮胎制造。例如，可通过至少部分地基于经校正均匀性测量值，对轮胎进行排序和/或分级来修改轮胎制造。作为另一实例，可通过基于经校正均匀性测量值确定对校正性动作(例如，磨削、烧蚀等)的需要来修改轮胎制造。作为又一实例，可根据经校正均匀性测量值识别轮胎谐波和其它过程谐波，以将信息提供到生产系统，从而用于过程控制和改进活动。
用于改进轮胎均匀性的实例系统
现参看图6，说明用于实施上述方法的实例系统组件的示意性概述。根据多个相应的制造过程构造实例轮胎600。此类轮胎成型过程可(例如)包含应用各种橡胶化合物和/或其它合适的材料的层以形成轮胎胎体、提供轮胎带部分以及胎面部分以形成轮胎顶点块、将生胎定位在硫化机中，以及硫化成品生胎等。此类相应的过程元件表示为图6中的602a、602b、……、602n并且进行组合以形成实例轮胎600。应了解，可以通过各种过程602a到602n的一次反复构造一批多个轮胎。
仍参看图6，提供测量机器604以获得轮胎600的均匀性测量值。均匀性测量机器604可经配置以测量均匀性参数，例如径向力变化、横向力变化、切向力变化、径向偏心、横向偏心和轮胎600的其它均匀性参数。均匀性测量机器604还可包含用以负载轮胎以在轮胎600旋转时获得力测量值的行走轮。
尽管出于易于说明和清晰目的，图6中仅展示一个计算机和处理器，但可将由测量机器604获得的测量结果转发，使得其在可分别含有一个或多个处理器608的一个或多个计算装置606处被接收。处理器608可经配置以接收来自输入装置614的输入数据或存储在存储器612中的数据。处理器608接着可根据所揭示的方法分析此类测量值，并且经由输出装置616向用户提供可使用的输出(例如数据)或者向过程控制器618提供信号。均匀性分析可以替代地由一个或多个服务器610或横跨多个计算和处理装置实施。
可提供各种存储器/媒体元件612a、612b、612c(统称为“612”)作为一个或多个种类的非暂时性计算机可读媒体的单个或多个部分，包含(但不限于)RAM、ROM、硬盘驱动器、闪存驱动器、光学媒体、磁性媒体或其它存储器装置。图6的计算/处理装置可适于充当专用机器，所述专用机器通过存取存储在存储器/媒体元件中的一个或多个中的以计算机可读形式呈现的软件指令来提供所需功能性。当使用软件时，任何合适的程序设计、脚本或其它类型的语言或语言的组合可用以实施本文中含有的教示。
在一个实施方案中，处理器608可执行存储在存储器元件612a、612b和612c中的一个或多个中的计算机可读指令以使所述处理器执行操作。操作可包含识别可归因于本文中所揭示的根据本发明的实例方面的一个或多个测量过程谐波的测量误差。
模拟结果
根据具有形状参数2.0和尺度参数8.0的威布尔分布，产生模拟量值集合。接着，模拟数据与具有均值0.0和标准差0.5的随机常态噪声折衷，以模拟测量误差。根据本发明的实例方面变换量值，并且使用回归分析确定经变换量值的最佳拟合线。确定最佳拟合线的斜率和截距。斜率和截距用于估计威布尔分布的形状参数2.17和威布尔分布的尺度参数8.45。形状参数2.17从量值的原始威布尔分布的形状参数2.0的偏离指示测量误差的存在。
实例结果
根据本发明的实例方面变换多个轮胎的量值集合，并且使用回归分析确定经变换量值的最佳拟合线。确定最佳拟合线的斜率和截距。斜率和截距用于估计威布尔分布的形状参数2.48和威布尔分布的尺度参数4.05。依据根据本发明的实例方面的威布尔分布，测量方差σu被估计为0.711。
尽管已经相对于本发明的特定实例实施例详细地描述了本发明，但所属领域的技术人员应了解，在理解前述内容的基础上可易于对此类实施例进行更改、制得此类实施例的变体以及等效物。因此，本发明的范围是作为实例而非作为限制，并且本发明并不排除将此类修改、变化和/或添加包含到本发明中，这对所属领域的一般技术人员将是显而易见的。

Claims (15)

1.一种改进轮胎均匀性的方法，其包括：
由一个或多个计算装置获得针对多个轮胎的集合所测量的均匀性参数的量值集合，每一量值与所述轮胎集合中的测试轮胎中的一个相关联；
由所述一个或多个计算装置变换所述量值集合以产生经变换量值集合；
由所述一个或多个计算装置根据所述经变换量值估计可能性分布的一个或多个参数；
由所述一个或多个计算装置至少部分地基于所述可能性分布的所述一个或多个参数，确定指示可归因于测量过程谐波的测量误差的数据；以及
至少部分地基于指示所述测量误差的所述数据，修改轮胎制造。
2.根据权利要求1所述的方法，其中所述可能性分布是威布尔分布。
3.根据权利要求1所述的方法，其中由所述一个或多个计算装置变换所述量值集合以产生经变换量值集合包括：
确定所述量值集合的排序次序；
至少部分地基于所述量值集合的所述排序次序，将分位数指派给每一量值；
根据所述可能性分布，变换每一量值的所述分位数以产生经变换分位数；
变换每一量值以产生每一经变换分位数的经变换量值；
至少部分地基于每一经变换量值的所述经变换分位数，确定经变换排序次序。
4.根据权利要求3所述的方法，其中根据如下的所述可能性分布，变换每一量值的所述分位数：
qt＝log(log(1/(1-q)))
其中qt是所述经变换分位数，且q是所述分位数；以及
每一经变换量值从每一量值获得，如下：
nt＝log m
其中mt是所述经变换量值，且m是所述量值。
5.根据权利要求1所述的方法，其中所述经变换量值与一般线性分布相关联。
6.根据权利要求5所述的方法，其中由所述一个或多个计算装置估计可能性分布的一个或多个参数包括：
估计所述一般线性分布的最佳拟合线的斜率和截距；以及
至少部分地基于所述斜率和所述截距，确定威布尔分布的所述一个或多个参数。
7.根据权利要求6所述的方法，其中所述威布尔分布的所述一个或多个参数包括所述威布尔分布的形状参数和尺度参数。
8.根据权利要求7所述的方法，其中至少部分地基于所述最佳拟合线的所述斜率，估计所述形状参数，并且至少部分地基于所述最佳拟合线的所述截距，估计所述尺度参数。
9.根据权利要求8所述的方法，其中指示所述测量误差的所述数据包括可归因于所述测量过程谐波的方差。
10.根据权利要求8所述的方法，其中至少部分地基于所述威布尔分布的所述形状参数，估计可归因于所述测量过程谐波的所述方差。
11.根据权利要求1所述的方法，其中至少部分地基于指示所述测量误差的所述数据修改轮胎制造包括至少部分地基于指示所述测量误差的所述数据，校正一个或多个轮胎的均匀性测量值，以确定所述一个或多个轮胎的经校正均匀性测量值。
12.根据权利要求11所述的方法，其中修改轮胎制造包括至少部分地基于所述经校正均匀性测量值，对所述一个或多个轮胎进行排序或分级。
13.根据权利要求11所述的方法，其中修改轮胎制造包括分析所述一个或多个轮胎的所述经校正均匀性测量值以识别一个或多个过程谐波或轮胎谐波。
14.根据权利要求1所述的方法，其中所述均匀性参数包括以下中的一个或多个：低速和高速径向力变化、切向力变化、径向偏心、横向偏心、质量方差、锥度、角度效应和其一个或多个谐波。
15.一种用于改进轮胎均匀性的系统，其包括：
均匀性测量机器，所述均匀性测量机器经配置以获得多个轮胎的集合的均匀性参数的均匀性测量值；
一个或多个计算装置，其与所述均匀性测量机器通信，所述一个或多个计算装置包括存储在一个或多个存储器装置中的计算机可读指令，所述计算机可读指令在由一个或多个处理器执行时使所述一个或多个处理器执行根据前述权利要求所述的方法中的任一个。
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