CN106710636A - 一种ssd产品的测试系统 - Google Patents

一种ssd产品的测试系统 Download PDF

Info

Publication number
CN106710636A
CN106710636A CN201611249699.0A CN201611249699A CN106710636A CN 106710636 A CN106710636 A CN 106710636A CN 201611249699 A CN201611249699 A CN 201611249699A CN 106710636 A CN106710636 A CN 106710636A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
ssd
main control
control server
board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201611249699.0A
Other languages
English (en)
Inventor
付世伟
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ramaxel Technology Shenzhen Co Ltd
Original Assignee
Ramaxel Technology Shenzhen Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ramaxel Technology Shenzhen Co Ltd filed Critical Ramaxel Technology Shenzhen Co Ltd
Priority to CN201611249699.0A priority Critical patent/CN106710636A/zh
Publication of CN106710636A publication Critical patent/CN106710636A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
    • G11C2029/5606Error catch memory

Landscapes

  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)

Abstract

本发明公开了一种SSD产品的测试系统,其特征在于测试板主动从主控服务器中下载或者主控服务器主动下发给测试板测试所需的测试用例,测试板根据测试用例要求测试该测试板上的SSD产品,测试过程中读取SSD产品的SMART信息,并将SMART信息记录在测试日志中,并生成以产品序列号与测试PASS/FAIL的测试结论日志,上传到主控服务器,在主控服务器根据各个测试板上传的测试日志即可获得各个SSD产品的测试结果。通过对SSD产品测试系统进行优化,特别是增加对测试过程中的SMART信息进行采集,通过详细的分析SMART信息可获得准确的测试结果以及测试发生问题的具体位置,且系统与老化测试进行结合,集成度高,配置灵活。

Description

一种SSD产品的测试系统
技术领域
本发明涉及半导体器件测试领域,尤其涉及SSD产品的测试系统。
背景技术
目前业界对于SSD产品的测试大部分都是通过如下方式进行的,一般都是通过在高温高压条件下,以固定的数据类型和数据大小对SSD进行重复的读写操作,通过检测每一圈的读写测试结果:记录每一圈写入数据和读出数据错误;检测SSD的读写过程中产生坏块数,统计产生坏块数超过规定的标准的数据;记录每一圈的读写时间,统计超过规定的标准读写时间值的数据。测试完成后擦除产品内的数据,结束测试。这种测试方式存在以下问题:测试中未对SSD产品的状态进行监控,不能定位到具体的错误原因;目前不能对SSD产品出现坏块的位置进行定位;未对SSD产品进行上下电测试,以检验SSD产品正常开关机响应状况是否良好。
发明内容
针对以上缺陷,本发明目的在于如何提升SSD产品的测试的覆盖面和可靠性。
为了实现上述目的,本发明提供了一种SSD产品的测试系统,其特征在于包括主控服务器和老化柜,所述老化柜上设有多个测试板,所述测试板与主控服务器直接相连接或通过交换机相连接,所述测试板设有安装待测试SSD产品的卡槽或接口,所述测试板主动从主控服务器中下载或者主控服务器主动下发给测试板测试所需的测试用例,测试板根据测试用例要求测试该测试板上的SSD产品,测试过程中读取SSD产品的SMART信息,并将SMART信息记录在测试日志中,并生成以产品序列号与测试PASS/FAIL的结论日志,上传到主控服务器,在主控服务器根据各个测试板上传的测试结论日志即可获得各个SSD产品的测试结果。
所述的SSD产品的测试系统,其特征在于所述的老化柜还包括温控系统,主控服务器还与温控系统相连接,在进行测试用例测试的同时,控制温控系统控制老化柜处于不同的温度环境和湿度环境。
所述的SSD产品的测试系统,其特征在于所述主控服务器上还包括测试用例集,所述测试用例集由多个由脚本文件构成的测试流程程序文件构成。
所述的SSD产品的测试系统,其特征在于所述主控服务器上还包括图形化测试用例编辑模块,用户通过图形化界面选择测试项、测试顺序、时间间隔和测试次数,用户选择完成后主控服务器自动根据用户的选择自动生成测试脚本文件作为一个测试用例。
本发明通过对SSD产品测试系统进行优化,特别是增加对测试过程中的SMART信息进行采集,通过详细的分析SMART信息可获得准确的测试结果以及测试发生问题的具体位置,且系统与老化测试进行结合,集成度高,配置灵活。
附图说明
图1是一个SSD产品测试示例的流程图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
SSD产品的测试系统,包括主控服务器和老化柜,老化柜上设有多个测试板,测试板与主控服务器直接相连接或通过交换机相连接,测试板设有安装待测试SSD产品的卡槽或接口,测试板主动从主控服务器中下载或者主控服务器主动下发给测试板测试所需的测试用例,测试板根据测试用例要求测试该测试板上的SSD产品,测试过程中读取SSD产品的SMART信息,SMART是Self-Monitoring Analysis and Reporting Technology自动检测分析及报告技术的简写,它能对硬盘的磁头单元、硬盘温度、盘片表面介质材料、马达及其驱动系统、硬盘内部电路等进行监测,通过对其分析可及时并预报硬盘可能发生的问题。并将SMART信息记录在测试日志中,并生成以产品序列号SN与测试PASS/FAIL的测试结论日志,上传到主控服务器,在主控服务器根据各个测试板上传的测试结论日志即可获得各个SSD产品的测试结果。主控服务器还与温控系统相连接,在进行测试用例测试的同时,控制温控系统控制老化柜处于不同的温度环境和湿度环境。可控制系统在按照测试测试用例的要求测试硬盘的同时进行高温老化设计。
图1是一个SSD产品测试示例的流程图。将待测试的SSD产品连接到老化柜的测试板上后,关闭老化柜门,控制测试板上电,测试板通过网络连接从主控服务器中获取测试用例,根据测试用例要求控制SSD产品进行测试;假设本测试用例要求进行一个循环测试,要求SSD产品进行大量的读写测试:控制擦除所有Block进行读写操作,每圈SMART信息检查并保存,记录每圈测试时间,在做完要求的读写测试次数后,通过串口控制对测试板整体做上下电的操作,测试完成后对所有Block进行安全擦除操作,清除SMART信息,控制SSD产品进入立即待机,结束本测试用例。
以上所揭露的仅为本发明一种实施例而已,当然不能以此来限定本之权利范围,本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分流程,并依本发明权利要求所作的等同变化,仍属于本发明所涵盖的范围。

Claims (4)

1.一种SSD产品的测试系统,其特征在于包括主控服务器和老化柜,所述老化柜上设有多个测试板,所述测试板与主控服务器直接相连接或通过交换机相连接,所述测试板设有安装待测试SSD产品的卡槽或接口,所述测试板主动从主控服务器中下载或者主控服务器主动下发给测试板测试所需的测试用例,测试板根据测试用例要求测试该测试板上的SSD产品,测试过程中读取SSD产品的SMART信息,并将SMART信息记录在测试日志中,并生成以产品序列号与测试PASS/FAIL的结论日志,上传到主控服务器,在主控服务器根据各个测试板上传的测试结论日志即可获得各个SSD产品的测试结果。
2.根据权利要求1所述的SSD产品的测试系统,其特征在于所述的老化柜还包括温控系统,主控服务器还与温控系统相连接,在进行测试用例测试的同时,控制温控系统控制老化柜处于不同的温度环境和湿度环境。
3.根据权利要求2所述的SSD产品的测试系统,其特征在于所述主控服务器上还包括测试用例集,所述测试用例集由多个由脚本文件构成的测试流程程序文件构成。
4.根据权利要求3所述的SSD产品的测试系统,其特征在于所述主控服务器上还包括图形化测试用例编辑模块,用户通过图形化界面选择测试项、测试顺序、时间间隔和测试次数,用户选择完成后主控服务器自动根据用户的选择自动生成测试脚本文件作为一个测试用例。
CN201611249699.0A 2016-12-29 2016-12-29 一种ssd产品的测试系统 Pending CN106710636A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611249699.0A CN106710636A (zh) 2016-12-29 2016-12-29 一种ssd产品的测试系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611249699.0A CN106710636A (zh) 2016-12-29 2016-12-29 一种ssd产品的测试系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN106710636A true CN106710636A (zh) 2017-05-24

Family

ID=58904965

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201611249699.0A Pending CN106710636A (zh) 2016-12-29 2016-12-29 一种ssd产品的测试系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106710636A (zh)

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107783907A (zh) * 2017-11-06 2018-03-09 郑州云海信息技术有限公司 基于系统稳定性测试的获取nvme盘信息的方法及系统
CN108806761A (zh) * 2018-06-04 2018-11-13 深圳忆联信息系统有限公司 一种ssd功能测试方法、系统及计算机存储介质
CN109213644A (zh) * 2018-07-09 2019-01-15 上海斐讯数据通信技术有限公司 一种移动硬盘老化测试自动化测试方法及系统
CN109240883A (zh) * 2018-08-30 2019-01-18 郑州云海信息技术有限公司 定位smart报错硬盘的方法、系统、设备及存储介质
CN109947634A (zh) * 2019-02-27 2019-06-28 Oppo广东移动通信有限公司 用于电子装置的测试结果的录入方法及电子装置
CN110109786A (zh) * 2019-04-18 2019-08-09 东莞记忆存储科技有限公司 Smart信息测试方法、装置、计算机设备及存储介质
CN110111836A (zh) * 2019-05-15 2019-08-09 东莞记忆存储科技有限公司 基于固态硬盘温升性能的标准化测试方法和系统
CN110277134A (zh) * 2019-06-27 2019-09-24 鸿秦(北京)科技有限公司 一种自动化批量测试固态硬盘的系统
CN110415756A (zh) * 2019-07-31 2019-11-05 东莞记忆存储科技有限公司 一种测试ssd标签信息的方法及其装置
CN110556155A (zh) * 2018-06-04 2019-12-10 记忆科技(深圳)有限公司 无盘启动的ssd产品测试方法、装置及计算机设备
CN110554936A (zh) * 2018-06-04 2019-12-10 记忆科技(深圳)有限公司 一种ssd测试方法及系统
CN111081309A (zh) * 2019-12-16 2020-04-28 湖南磐石科技有限公司 固态硬盘测试系统
CN111209152A (zh) * 2020-01-10 2020-05-29 记忆科技(深圳)有限公司 Dram芯片老化测试设备、方法、计算机设备及存储介质
CN113270136A (zh) * 2021-06-01 2021-08-17 湖南博匠信息科技有限公司 测试Nand-flash坏块的控制方法及控制系统

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1503168A (zh) * 2002-11-22 2004-06-09 深圳市中兴通讯股份有限公司 一种系统产品的自动化测试方法
CN101858956A (zh) * 2010-05-27 2010-10-13 北京新润泰思特测控技术有限公司 老化测试系统
CN103578568A (zh) * 2012-07-24 2014-02-12 苏州捷泰科信息技术有限公司 固态硬盘的性能测试方法及装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1503168A (zh) * 2002-11-22 2004-06-09 深圳市中兴通讯股份有限公司 一种系统产品的自动化测试方法
CN101858956A (zh) * 2010-05-27 2010-10-13 北京新润泰思特测控技术有限公司 老化测试系统
CN103578568A (zh) * 2012-07-24 2014-02-12 苏州捷泰科信息技术有限公司 固态硬盘的性能测试方法及装置

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107783907A (zh) * 2017-11-06 2018-03-09 郑州云海信息技术有限公司 基于系统稳定性测试的获取nvme盘信息的方法及系统
CN108806761A (zh) * 2018-06-04 2018-11-13 深圳忆联信息系统有限公司 一种ssd功能测试方法、系统及计算机存储介质
CN110556155A (zh) * 2018-06-04 2019-12-10 记忆科技(深圳)有限公司 无盘启动的ssd产品测试方法、装置及计算机设备
CN110554936A (zh) * 2018-06-04 2019-12-10 记忆科技(深圳)有限公司 一种ssd测试方法及系统
CN109213644A (zh) * 2018-07-09 2019-01-15 上海斐讯数据通信技术有限公司 一种移动硬盘老化测试自动化测试方法及系统
CN109240883A (zh) * 2018-08-30 2019-01-18 郑州云海信息技术有限公司 定位smart报错硬盘的方法、系统、设备及存储介质
CN109947634A (zh) * 2019-02-27 2019-06-28 Oppo广东移动通信有限公司 用于电子装置的测试结果的录入方法及电子装置
CN110109786A (zh) * 2019-04-18 2019-08-09 东莞记忆存储科技有限公司 Smart信息测试方法、装置、计算机设备及存储介质
CN110111836B (zh) * 2019-05-15 2021-06-08 东莞记忆存储科技有限公司 基于固态硬盘温升性能的标准化测试方法和系统
CN110111836A (zh) * 2019-05-15 2019-08-09 东莞记忆存储科技有限公司 基于固态硬盘温升性能的标准化测试方法和系统
CN110277134A (zh) * 2019-06-27 2019-09-24 鸿秦(北京)科技有限公司 一种自动化批量测试固态硬盘的系统
CN110415756A (zh) * 2019-07-31 2019-11-05 东莞记忆存储科技有限公司 一种测试ssd标签信息的方法及其装置
CN110415756B (zh) * 2019-07-31 2021-06-08 东莞记忆存储科技有限公司 一种测试ssd标签信息的方法及其装置
CN111081309A (zh) * 2019-12-16 2020-04-28 湖南磐石科技有限公司 固态硬盘测试系统
CN111209152A (zh) * 2020-01-10 2020-05-29 记忆科技(深圳)有限公司 Dram芯片老化测试设备、方法、计算机设备及存储介质
CN111209152B (zh) * 2020-01-10 2023-08-08 记忆科技(深圳)有限公司 Dram芯片老化测试设备、方法、计算机设备及存储介质
CN113270136A (zh) * 2021-06-01 2021-08-17 湖南博匠信息科技有限公司 测试Nand-flash坏块的控制方法及控制系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106710636A (zh) 一种ssd产品的测试系统
CN108922641B (zh) 高温堆核电站保护系统的定期试验装置和方法
CN104092835B (zh) 一种移动终端功耗异常检测方法和装置
CN104731701B (zh) 测试系统及执行测试任务的方法和装置
CN103376380A (zh) 一种测试系统及方法
US8249821B2 (en) Testing system and method for fan module
CN111081309B (zh) 固态硬盘测试系统
CN109240865A (zh) 一种aep内存的ac测试方法、装置、终端及存储介质
CN101738550A (zh) 电子装置测试装置及测试方法
CN104639264B (zh) 一种基站放大器测试方法、装置及系统
CN104536863A (zh) 一种应用程序的测试方法及装置
CN106547653A (zh) 计算机系统故障状态检测方法、装置及系统
CN107367671A (zh) 基于物联网标识的gis局部放电带电检测与数据管理平台
CN115083510B (zh) 固态硬盘测试方法、装置、存储介质、电源及电子设备
CN105159814B (zh) 温度监控方法和装置
CN109491847A (zh) 一种服务器高低温可靠性测试方法及装置
CN112233718B (zh) 存储单元的故障定位分析方法、装置、存储介质和终端
CN107907838A (zh) 一种冗余电源模块测试系统及方法
CN102222517B (zh) 丛集硬盘自动化测试方法及其系统
CN108363375B (zh) 一种电机控制器自动测试实现方法及系统
CN106649011A (zh) 一种服务器设备的检测方法和装置
CN115422091A (zh) 一种固件调试方法及装置、电子设备、存储介质
CN112486785B (zh) 一种服务器定位宕机阶段的方法、系统、终端及存储介质
CN114626053A (zh) 一种国密认证的测试方法及装置、国密认证程序及系统
CN114283876A (zh) Ddr信号质量的测试方法、测试装置与测试设备

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20170524

RJ01 Rejection of invention patent application after publication