CN104639264B - 一种基站放大器测试方法、装置及系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种基站放大器测试方法、装置及系统，通过控制基站放大器的射频开关状态的切换使该基站放大器工作于不同的工作模式下，并分别记录上述基站放大器在不同的工作模式下对应的性能参数，当该性能参数均满足预设的各个门限值时，表明该基站放大器性能良好，结束测试过程。采用本发明技术方案，针对不同工作模式下的基站放大器分别进行测试，并根据不同工作模式下基站放大器中各个元器件性能参数的变化情况，分别得出每一个工作模式下基站放大器的测试结果，从而使测试结果更加准确。

Description

一种基站放大器测试方法、装置及系统

技术领域

本发明涉及测试领域，尤其涉及一种基站放大器测试方法、装置及系统。

背景技术

目前，基站放大器广泛应用于移动通信业务中，用于增大信号发射功率以及扩展信号覆盖范围。

随着移动通信的飞速发展，基站放大器拥有更高的特性，例如，在一个基站放大器中内置两个或两个以上的功率放大器的设计方案，能够有效提高基站放大器的信号输出功率，增加载波数量，且当该基站放大器中的一个功率放大器无法正常工作时，可以通过射频开关的切换控制本地的其他功率放大器处于工作状态，从而保障通讯不会中断。

相较于一般的射频电子设备，包含多个功率放大器的基站放大器结构更复杂，其工作时所产生的功耗也更大，因此，要求基站放大器具备更好的耐高温以及耐高功率负荷的特性。而更优的设备测试方法能够获得上述高性能的基站放大器。

目前，通常采用温度循环测试方法进行基站放大器的老化性能测试，即通过被测设备本身工作时的热耗来升高设备的温度，并通过被测设备本身散热风扇的作用降低设备的温度，采用反复加热和冷却被测设备的方法，使被测设备内部各个元器件材料产生交替的膨胀和收缩形变，这种反复的应力冲击会导致诸如焊接不良、表面裂纹等问题加剧，从而加速被测设备中各个元器件的缺陷暴露。与恒温老化相比较，温度循环测试方法不依靠老化房、老化箱等外部辅助装置，具有测试准确度高，耗时少，成本低的优点，得到了广泛的应用。

对于包含多个功率放大器的基站放大器，根据其本地射频开关的状态拥有多种不同的工作模式，而常用的温度循环测试方法中，仅监测基站放大器多种工作模式中一种工作模式下基站放大器的温度变化情况，而忽略了各种不同工作模式下基站放大器的性能参数的变化情况，从而造成测试结果不准确的问题。

发明内容

本发明实施例提供一种基站放大器的测试方法、装置及系统，用以解决现有技术中仅监测一种工作模式下基站放大器的温度变化情况，而忽略了各种不同工作模式下基站放大器的性能参数的变化情况，存在测试结果不准确的问题。

本发明实施例提供的具体技术方案如下：

一种基站放大器测试方法，应用于基站放大器温度循环测试系统中，所述测试系统包括信号采集装置，基站放大器，以及基站放大器测试装置，所述方法包括：

基站放大器测试装置建立与信号采集装置，基站放大器之间的连接关系；

所述基站放大器测试装置指示所述基站放大器控制本地的所有射频开关均处于任意一种射频开关状态，其中，所述基站放大器中包含至少一个射频开关，且一个射频开关控制两个功率放大器的导通与旁路，所述射频开关对应至少一种射频开关状态，当所述射频开关状态不同时，所述基站放大器中处于导通状态的功率放大器不同；

所述基站放大器测试装置按照预设周期分别读取信号采集装置中记录的每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度，直至判定所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的高温门限值，且所述所有射频开关状态对应的功率放大器的输出功率及其反射功率的差值均满足预设的功率差值门限值时，指示所述基站放大器关闭所述所有射频开关状态对应的所有功率放大器；

所述基站放大器测试装置按照预设周期分别读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度，直至判定所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的低温门限值，且所有所述射频开关状态均完成测试时，将测试次数加一；

当所述测试次数达到预设的门限值时，所述基站放大器测试装置终止所述测试过程。

较佳的，所述测试系统还包括信号发生装置；在预设的时长之后，所述基站放大器测试装置指示信号发生装置向所述基站放大器发送预设形式的测试信号，令所述基站放大器基于所述预设形式的测试信号发起测试过程；在所述测试过程开始之后，所述基站放大器测试装置按照预设周期分别读取信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率，反射功率以及温度。在预设的时长后，令信号发生装置发起测试过程，可以保证基站放大器中功率放大器的可靠开启，避免了由于功率放大器未完全开启所造成的测试结果不准确的问题。

较佳的，所述基站放大器测试装置指示所述基站放大器控制本地散热风扇的转速降低至最小转速门限值，并通知信号采集装置分别记录所述基站放大器中每一个射频开关状态对应功率放大器的输出功率、反射功率以及温度；所述基站放大器测试装置按照预设周期读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度。采用上述技术方案，统计每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率和反射功率，通过输出功率和反射功率的差值检测基站放大器中各个功率放大器及与其连接元器件的质量，当上述某一个功率放大器对应的差值不满足预设的功率差值门限值时，表明该功率放大器及与其连接元器件存在质量问题，从而增加了检测结果的可靠性，提高了故障定位精度。

较佳的，当任意一个功率放大器的输出功率及其反射功率的差值不满足预设的功率差值门限值时，终止所述测试过程。

较佳的，所述基站放大器测试装置指示所述基站放大器关闭所述所有射频开关状态对应的功率放大器之后：所述基站放大器测试装置指示所述基站放大器控制本地散热风扇的转速升高至最大转速门限值，并通知信号采集装置分别记录所述基站放大器中每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度；所述基站放大器测试装置按照预设周期读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度。采用上述技术方案，通过基站放大器中的散热风扇控制该基站放大器的温度，无须借助外部设备即可达到温度自循环的目的。

较佳的，在所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度达到预设的低温门限值或者预设的高温门限值之前，当检测到所述基站放大器发送的故障告警信息时，所述基站放大器测试装置终止所述测试过程。

较佳的，当确定存在至少一种所述射频开关状态未完成测试时，所述基站放大器测试装置指示所述基站放大器控制所述所有射频开关切换至所述至少一种射频开关状态中的任意一种射频开关状态。

一种基站放大器测试装置，应用于基站放大器温度循环测试系统中，所述测试系统包括信号采集装置，基站放大器，以及基站放大器测试装置，所述基站放大器测试装置包括：

连接建立单元，用于建立与信号采集装置，基站放大器之间的连接关系；

第一指示单元，用于指示所述基站放大器控制本地的所有射频开关均处于任意一种射频开关状态，其中，所述基站放大器中包含至少一个射频开关，且一个射频开关控制两个功率放大器的导通与旁路，所述射频开关对应至少一种射频开关状态，当所述射频开关状态不同时，所述基站放大器中处于导通状态的功率放大器不同；

第二指示单元，用于按照预设周期分别读取信号采集装置中记录的每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度，直至判定所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的高温门限值，且所述所有射频开关状态对应的功率放大器的输出功率及其反射功率的差值均满足预设的功率差值门限值时，指示所述基站放大器关闭所述所有射频开关状态对应的所有功率放大器；

第一处理单元，用于按照预设周期分别读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度，直至判定所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的低温门限值，且所有所述射频开关状态均完成测试时，将测试次数加一；

第二处理单元，用于当所述测试次数达到预设的门限值时，结束所述测试过程。

其中，所述第一指示单元，进一步用于：在预设的时长之后，指示信号发生装置向所述基站放大器发送预设形式的测试信号，令所述基站放大器基于所述预设形式的测试信号发起测试过程。

所述第二指示单元，具体用于：指示所述基站放大器控制本地散热风扇的转速降低至最小转速门限值，并通知所述测试系统中的信号采集装置分别记录所述基站放大器中每一个射频开关状态对应功率放大器的输出功率、反射功率以及温度；按照预设周期读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度。

所述第二指示单元，进一步用于：当任意一个功率放大器的输出功率及其反射功率的差值不满足预设的功率差值门限值时，终止所述测试过程。

所述第一处理单元，具体用于：指示所述基站放大器控制本地散热风扇的转速升高至最大转速门限值，并通知信号采集装置分别记录所述基站放大器中每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度；按照预设周期读取所述信号采集装置记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度。

所述基站放大器测试装置还包括检测单元，用于：在所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度达到预设的低温门限值或者预设的高温门限值之前，当检测到所述基站放大器发送的故障告警信息时，终止所述测试过程。

当确定存在至少一种所述射频开关状态未完成测试时，所述第二处理单元，进一步用于：指示所述基站放大器控制所述所有射频开关切换至所述至少一种射频开关状态中的任意一种射频开关状态。

一种基站放大器的测试系统，所述测试系统包括基站放大器测试装置，基站放大器，信号发生装置，信号采集装置，其中：

所述基站放大器测试装置，用于建立与信号采集装置，基站放大器之间的连接关系；指示所述基站放大器控制本地的所有射频开关均处于任意一种射频开关状态，其中，所述基站放大器中包含至少一个射频开关，且一个射频开关控制两个功率放大器的导通与旁路，所述射频开关对应至少一种射频开关状态，当所述射频开关状态不同时，所述基站放大器中处于导通状态的功率放大器不同；按照预设周期分别读取信号采集装置中记录的每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度，直至判定所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的高温门限值，且所述所有射频开关状态对应的功率放大器的输出功率及其反射功率的差值均满足预设的功率差值门限值时，指示所述基站放大器关闭所述所有射频开关状态对应的所有功率放大器；按照预设周期分别读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度，直至判定所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的低温门限值，且所有所述射频开关状态均完成测试时，将测试次数加一；当所述测试次数达到预设的门限值时，所述基站放大器测试装置结束所述测试过程；

所述基站放大器，用于根据所述基站放大器测试装置的指示控制本地的所有射频开关均处于任意一种射频开关状态，以及根据基站放大器测试装置的指示控制所述所有射频开关状态对应的各功率放大器处于开启状态或者处于关闭状态；

所述信号发生装置，用于根据所述基站放大器测试装置的指示向所述基站放大器发送测试信号，或者关闭信号输出；

所述信号采集装置，用于根据所述基站放大器测试装置的指示记录所述基站放大器的所有射频开关状态对应的功率放大器的输出功率，反射功率以及温度。

本发明实施例中，通过控制基站放大器的射频开关状态的切换使该基站放大器工作于不同的工作模式下，并分别记录上述基站放大器在不同工作模式下对应的性能参数，当该性能参数均满足预设的各个门限值时，表明该基站放大器性能良好，结束测试过程。采用本发明技术方案，针对不同工作模式下的基站放大器分别进行测试，并根据不同工作模式下基站放大器中各个元器件性能参数的变化情况，分别得出每一个工作模式下基站放大器的测试结果，从而使测试结果更加准确。

附图说明

图1为本发明实施例中基站放大器测试系统架构图；

图2为本发明实施例中对基站放大器就你行测试的详细流程图；

图3a、图3b为本发明实施例中具体应用场景下对基站放大器进行测试的详细流程图；

图4为本发明实施例中基站放大器测试装置的结构示意图。

具体实施方式

为了解决现有技术中仅监测任意一种工作模式下基站放大器的温度变化情况，而忽略了不同工作模式下基站放大器的性能参数的变化情况，存在测试结果不准确的问题。本发明实施例中，通过控制基站放大器的射频开关状态的切换使该基站放大器工作于不同的工作模式下，并分别记录上述基站放大器在不同的工作模式下对应的性能参数，当该性能参数均满足预设的各个门限值时，表明该基站放大器性能良好，结束测试过程。采用本发明技术方案，针对不同工作模式下的基站放大器分别进行测试，并根据不同工作模式下基站放大器中各个元器件性能参数的变化情况，分别得出每一个工作模式下基站放大器的测试结果，从而使测试结果更加准确。

参阅图1所示为本发明实施例中基站放大器测试系统架构图，其中，基站放大器测试装置（以下简称测试装置）与基站放大器，信号发生装置，信号采集装置相连接，用于监测基站放大器的运行状态，控制基站放大器工作模式的切换，控制信号发生装置输出测试信号，以及读取信号采集装置获取的基站放大器的性能参数。信号发生装置用于向基站放大器提供测试信号。信号采集装置用于获取基站放大器的性能参数。直流电源与基站放大器的电源输入接口连接，用于向基站放大器提供直流电。

下面结合附图对本发明优选的实施方式进行详细说明。

参阅图2所示，本发明实施例中，对基站放大器进行测试的详细流程为：

步骤200：测试装置建立与信号采集装置，基站放大器之间的连接关系。

基于图1所示的基站放大器测试系统架构图，测试过程开始后，测试装置检测本地与信号采集装置，以及本地与基站放大器之间的连接关系是否存在，若存在，则执行下述步骤；否则，输出相应的报警信息。

步骤210：测试装置指示基站放大器控制本地的所有射频开关均处于任意一种射频开关状态。

在上述基站放大器测试系统中，测试装置通过GPIB（General-Purpose InterfaceBus，通用接口总线）线缆或网线与信号发生装置以及信号采集装置相连接，通过串口线或网线与基站放大器相连接。信号发生装置包含多个信号输出端（信号输出端的数量与基站放大器中内置的功率放大器的数量相匹配），通过射频线缆与各功率放大器的信号输入端连接。

本发明实施例中，基站放大器中包含至少一个射频开关，一个射频开关控制两个功率放大器（分别为第一功率放大器和第二功率放大器）的通路或者旁路，其中，每一个射频开关状态均包括一种或者多种状态，射频开关的状态可以由用户根据自身需要预先设置，如仅测试当射频开关处于一种射频开关状态下的基站放大器的性能，又如，测试当射频开关处于两种不同的射频开关状态下的基站放大器的性能。较佳的，射频开关状态可以为三种不同的状态，分别为第一状态，第二状态和第三状态。当射频开关处于不同的射频开关状态时，对应的基站放大器的工作模式不同，即该基站放大器中处于导通状态的功率放大器不同。例如，当射频开关处于第一状态时，令所有射频开关控制的第一功率放大器为导通状态（即通路），可以通过相应指令使该所有射频开关控制的第一功率放大器处于开启状态；当射频开关处于第二状态时，令所有射频开关控制的第二功率放大器为导通状态，可以通过相应指令该第二功率放大器其处于开启状态；当射频开关处于第三状态时，令所有射频开关控制的第一功率放大器和第二功率放大器均为导通状态，可以通过相应指令使该第一功率放大器和第二功率放大器处于开启状态。较佳的，为了便于对基站放大器所处工作模式的控制，对每一个射频开关控制的功率放大器进行划分，如第一功率放大器为奇数功率放大器，第二功率放大器为偶数功率放大器，若基站放大器的射频开关可以切换三种不同的状态，则当基站放大器中的所有射频开关处于第一状态时，该基站放大器中所有奇数功率放大器处于导通状态；当基站放大器中的所有射频开关处于第二状态时，该基站放大器中所有偶数功率放大器处于导通状态；当基站放大器中的所有射频开关处于第三状态时，该基站放大器中所有的功率放大器均处于导通状态。其中，在该阶段，射频开关状态对应的功率放大器即为在射频开关控制下处于导通状态的功率放大器。

进一步的，当基站放大器中的所有射频开关均处于任意一种射频开关状态后，为了保证基站放大器中的射频开关切实完成切换，该基站放大器可以控制其本地所有的射频开关状态对应的功率放大器在预设开启时长后开启，该预设开启时长最短为1秒，较佳的，该预设开启时长为3秒。例如，在基站放大器中所有射频开关切换至第一状态3秒之后，开启该基站放大器中第一功率放大器。

步骤220：测试装置按照预设周期分别记录每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度，直至判定所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的高温门限值，且上述所有射频开关状态对应的功率放大器的输出功率及其反射功率的差值均满足预设的功率差值门限值时，指示基站放大器关闭上述所有射频开关状态对应的功率放大器。

其中，预设的功率差值门限值即为衡量功率放大器的输出功率以及反射功率之间差值是否符合射频开关状态对应的功率放大器处于打开或闭合条件的值，该值由测试人员预先设置，该预设的功率差值门限值最小为10dB，较佳的，该预设的功率差值门限值为12dB。

在上述基站放大器测试系统中，由信号采集装置获取基站放大器中的所有射频开关状态对应的功率放大器的性能参数，其中，该信号采集装置由频谱分析仪或功率计组成，其通过衰减器连接至基站放大器，信号采集装置获取的性能参数包括输出功率以及温度，上述性能参数包括功率放大器的输出功率，反射功率以及温度。

本发明实施例中，当基站放大器向本地的所有射频开关状态对应的功率放大器发送开启指令，指示上述功率放大器切换为开启状态后，基站放大器在达到预设的时长时，向信号发生装置发送测试开始指令，指示该信号发生装置向基站放大器发送预设形式的测试信号，令该基站放大器基于上述预设形式的测试信号发起测试过程。其中，上述预设的时长是基站放大器中所有射频开关状态对应的功率放大器自接收到上述上述指令至完全开启所预设的一个时间段，该预设的时长最短为10秒，较佳的，该预设的时长为15秒。并且，由于上述测试信号与基站放大器实际工作时的信号相同，因此上述预设形式的测试信号为根据基站放大器工作时的信号制式预先设置的信号，如预设形式的测试信号为GSM制式的信号，CDMA制式的信号等。

采用上述技术方案，在预设的时长后，令信号发生装置发起测试过程，可以保证基站放大器中功率放大器的可靠开启，避免了由于功率放大器未完全开启所造成的测试结果不准确的问题。

在测试过程开始后，测试装置向基站放大器发送转速控制消息，指示基站放大器控制本地散热风扇的转速降低至最小转速门限值；并向信号发生装置发送功率控制指令，指示信号发生装置根据自身输出电平的变化控制基站放大器的输出功率达到最大输出功率门限值，即由信号发生装置输出电平控制基站放大器的输出功率。其中，预设的功率门限值通常根据功率放大器的额定输出功率设定，在当前射频开关状态为一个功放导通时，设定预设的功率门限值=额定输出功率-3dB；在当前射频开关状态为两个功放同时导通时，设定预设的功率门限值=额定输出功率。当基站放大器测试系统开始上述测试过程的同时，信号采集装置获取上述基站放大器中每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度。

测试装置比较上述信号采集装置获取的输出功率、反射功率以及温度与预设的相关门限值，具体为：当判定基站放大器中的所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的高温门限值，且上述所有射频开关状态对应的功率放大器的输出功率及其反射功率的差值均满足预设的功率差值门限值（即任意一个射频开关状态对应的功率放大器均满足：输出功率-反射功率>功率差值门限值）时，测试装置令信号发生装置降低输出电平，且当该信号发生装置的输出电平降低预设的输出电平门限值时，关闭该信号发生装置，以及测试装置向基站放大器发送指令，令基站放大器关闭本地的所有射频开关状态对应的功率放大器。在上述过程中，当任意一个功率放大器的输出功率及其反射功率的差值不满足预设的功率差值门限值时，终止上述测试过程。其中，上述信号发生装置的输出电平降低的预设值通常为15dB。

此外，在上述测试过程中，当功率放大器的温度未达到预设的高温门限值时，基站放大器中的相关元器件会由于故障发出故障告警信息，当测试装置检测到上述故障告警信息时，终止上述测试过程。

采用上述技术方案，测试装置监测基站放大器的输出功率以及反射功率，并根据该输出功率以及反射功率的特性对该基站放大器中的各个元器件质量进行检测，从而在测试基站放大器整机的同时，兼顾基站放大器中各个元器件的质量，无须进一步增加各个元器件的测试过程，使测试结果更加全面，并且，当上述某一个功率放大器对应的输出功率与反射功率的差值不满足预设的门限值时，表明该功率放大器及与其连接元器件存在质量问题，从而增加了检测结果的可靠性，提高了故障定位精度。

步骤230：测试装置按照预设周期分别记录每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度，直至判定所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的低温门限值，且所有射频开关状态均完成测试时，将测试次数加一。

本发明实施例中，测试装置向基站放大器发送转速控制消息，指示上述基站放大器控制本地散热风扇的转速升高至最大转速门限值，并通知该信号采集装置获取上述基站放大器中每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度。其中，在该阶段，射频开关状态对应的功率放大器即为在射频开关控制下由导通状态切换至旁路状态的功率放大器。

测试装置比较上述信号采集装置获取的温度与预设的低温门限值，当判定基站放大器中的所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的低温门限值时，即记录射频开关状态，即记录射频开关处于第一状态，第二状态，或者第三状态。本发明实施例中，由于基站放大器中所有射频开关状态均相同，因此，较佳的，可以仅记录一个射频开关状态，以降低系统的处理时长。并且，测试装置无须在任意一个时刻均向信号采集装置获取相应的性能参数，在保证测试结果准确度的情况下，测试装置可以按照预设周期读取信号采集装置获取的相应的性能参数，以降低系统消耗。

当测试装置判断基站放大器本地的所有射频开关状态均完成测试时，将本地存储的测试次数加一。当测试装置判断基站放大器本地的存在至少一种射频开关状态未完成测试时，指示基站放大器的所有射频开关切换至上述至少一种射频开关状态中的任意一种射频开关状态，执行步骤210～步骤220，直至上述所有射频开关状态均完成测试。例如，射频开关状态可以为三种不同的状态，当完成射频开关状态为第一状态的基站放大器的测试过程后，将射频开关状态切换至第二状态；依次的，当完成射频开关状态为第二状态的基站放大器的测试过程时，将射频开关状态切换至第三状态；当完成射频开关状态为第三状态的基站放大器的测试过程时，所有射频开关状态均完成测试，将测试装置本地存储的测试次数加一。本发明实施例中，基站放大器的所有射频开关状态可以依次为第一状态，第二状态，第三状态，也可以不按照上述顺序随机选择，或者按照预设的测试顺序依次执行每一种射频开关状态的基站放大器的测试。

在基站放大器中有任意一个射频开关状态对应的功率放大器的温度未达到预设的低温门限值，且测试装置检测到所述基站放大器发生故障告警信息时，终止上述测试过程。

步骤240：当确定上述测试次数达到预设的门限值时，测试装置结束上述测试过程。

测试装置判断上述测试次数是否达到预设的门限值，若是，则结束上述测试流程，且上述基站放大器满足测试要求；否则，则返回步骤210，重复执行上述步骤210～240。

采用上述技术方案，使基站放大器中的所有射频开关状态分别为不同的状态，当在上述测试过程中，任意一个射频开关状态发生故障时，即可终止测试过程，实时获取故障原因，兼顾基站放大器多种工作模式下，各个元器件的工作情况，便于对故障的定位与排除。

本发明实施例中，在基站放大器的每一种不同的工作模式（对应于不同的射频开关状态），测试装置均采用上述测试过程检测该基站放大器的性能。

参阅图3a和3b所示，下面结合具体的应用场景，以基站放大器中仅包含一个射频开关，该射频开关控制第一功率放大器以及第二功率放大器，射频开关状态依次切换为第一状态，第二状态，第三状态为例，详细介绍进行基站放大器的测试流程：

步骤300：启动基站放大器测试系统，建立测试装置与基站放大器测试系统中各个装置的连接关系。

本发明实施例中，建立测试装置与基站放大器，信号发生装置，信号采集装置之间的连接，以保证基站放大器测试系统中各个装置之间的通信。

步骤301：测试装置指示基站放大器控制本地射频开关处于第一状态，令第一功率放大器导通，并在预设的开启时长后，令第一功率放大器开启。

本发明实施例中，在射频开关处于第一状态时，第一功率放大器导通，第二功率放大器处于旁路状态，即为不导通状态。

步骤302：测试装置在预设的时长后，指示信号发生装置向基站放大器发送预设形式的测试信号，并指示基站放大器控制本地散热风扇的转速降低至最小转速门限值，以及通知该信号采集装置获取上述基站放大器中第一功率放大器的输出功率、反射功率以及温度。

步骤303：测试装置向信号发生装置发送功率控制指令，指示信号发生装置控制基站放大器的输出功率达到最大输出功率门限值。

本发明实施例中，通过信号发生装置的输出电平控制基站放大器的输出功率。

步骤304：测试装置以预设周期读取信号采集装置中的第一功率放大器的输出功率、反射功率和温度。

步骤305：测试装置判断第一功率放大器的温度是否达到预设的高温门限值，且第一功率放大器的输出功率及其反射功率的差值是否满足预设的功率差值门限值，若是，则执行步骤306，否则，结束上述测试过程。

步骤306：测试装置关闭上述信号发生装置，并关闭第一功率放大器。

步骤307：测试装置指示上述基站放大器控制本地散热风扇的转速升高至最大转速门限值，并通知该信号采集装置获取上述第一功率放大器的温度。

步骤308：测试装置以预设周期读取信号采集装置获取的第一功率放大器的温度，并判断该温度是否到达预设的低温门限值，若是，则执行步骤309，否则，结束上述测试过程。

步骤309：测试装置将射频开关切换至第二状态，令第二功率放大器导通，并在预设的开启时长后，令第二功率放大器开启。

本发明实施例中，在射频开关处于第二状态时，第二功率放大器导通，第一功率放大器处于旁路状态，即为不导通状态。

步骤310：测试装置在预设的时长后，指示信号发生装置向基站放大器发送预设形式的测试信号，并指示基站放大器控制本地散热风扇的转速降低至最小转速门限值，以及通知该信号采集装置获取上述基站放大器中第二功率放大器的输出功率、反射功率以及温度。

步骤311：测试装置向信号发生装置发送功率控制指令，指示信号发生装置控制基站放大器的输出功率达到最大输出功率门限值。

步骤312：测试装置以预设周期读取信号采集装置获取的第二功率放大器的输出功率、反射功率以及温度。

步骤313：测试装置判断第二功率放大器的温度是否达到预设的高温门限值，且第二功率放大器的输出功率及其反射功率的差值是否满足预设的功率差值门限值，若是，则执行步骤314，否则，结束上述测试过程。

步骤314：测试装置关闭上述信号发生装置，并关闭第二功率放大器。

步骤315：测试装置指示上述基站放大器控制本地散热风扇的转速升高至最大转速门限值，并通知该信号采集装置获取上述第二功率放大器的温度。

步骤316：测试装置以预设周期读取信号采集装置获取的第二功率放大器的温度，并判断该温度是否到达预设的低温门限值，若是，则执行步骤317，否则，结束上述测试过程。

步骤317：测试装置将射频开关切换至第三状态，令第一功率放大器和第二功率放大器导通，并在预设的开启时长后，令第一功率放大器和第二功率放大器开启。

本发明实施例中，在射频开关处于第三状态时，第一功率放大器和第二功率放大器导通。

步骤318：测试装置在预设的时长后，指示信号发生装置向基站放大器发送预设形式的测试信号，并指示基站放大器控制本地散热风扇的转速降低至最小转速门限值，以及通知该信号采集装置中上述基站放大器中第一功率放大器和第二功率放大器的输出功率、反射功率和温度。

步骤319：测试装置向信号发生装置发送功率控制指令，指示信号发生装置控制基站放大器的输出功率达到最大输出功率门限值。

步骤320：测试装置以预设周期读取信号采集装置获取的第一功率放大器和第二功率放大器的输出功率、反射功率以及温度。

步骤321：测试装置判断第一功率放大器和第二功率放大器的温度是否均达到预设的高温门限值，且上述第一功率放大器和第二功率放大器的输出功率及其反射功率的差值是否均满足预设的功率差值门限值，若是，则执行步骤322，否则，结束上述测试过程。

步骤322：测试装置关闭上述信号发生装置，并关闭第一功率放大器和第二功率放大器。

步骤323：测试装置指示上述基站放大器控制本地散热风扇的转速升高至最大转速门限值，并通知该信号采集装置获取上述第一功率放大器和第二功率放大器的温度。

步骤324：测试装置以预设周期读取信号采集装置获取的第一功率放大器和第二功率放大器的温度，并判断上述第一功率放大器以及第二功率放大器的温度是否均到达预设的低温门限值，若是，则执行步骤325，否则，结束上述测试过程。

步骤325：测试装置将本地存储的测试次数加一，并判断该测试次数是否达到预设的门限值，若是，则测试结束，否则，返回步骤301。

由此可见，本发明实施例中，在一个测试周期中，测试装置按照预设周期读取待基站放大器的射频开关状态对应的功率放大器的温度、输出功率以及反射功率，当该温度未达到预设的高温门限值或低温门限值，或者输出功率与反射功率的差值不满足预设的功率差值门限值，或者检测到故障告警信息时，则终止测试过程；否则，进行下一次读取过程，并重复执行上述过程，直至测试过程完毕。

基于上述技术方案，参阅图4所示，本发明实施例中提供一种基站放大器测试装置，应用于基站放大器温度循环测试系统中，所述测试系统包括信号采集装置，基站放大器，以及基站放大器测试装置，基站放大器测试装置包括连接建立单元40，第一指示单元41，第二指示单元42，第一处理单元43，以及第二处理单元44，其中：

连接建立单元40，用于建立与信号采集装置，基站放大器之间的连接关系；

第一指示单元41，用于指示所述基站放大器控制本地的所有射频开关均处于任意一种射频开关状态，其中，所述基站放大器中包含至少一个射频开关，且一个射频开关控制两个功率放大器的导通与旁路，所述射频开关对应至少一种射频开关状态，当所述射频开关状态不同时，所述基站放大器中处于导通状态的功率放大器不同；

第二指示单元42，用于按照预设周期分别读取信号采集装置中记录的每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度，直至判定所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的高温门限值，且所述所有射频开关状态对应的功率放大器的输出功率及其反射功率的差值均满足预设的功率差值门限值时，指示所述基站放大器关闭所述所有射频开关状态对应的所有功率放大器；

第一处理单元43，用于预设周期分别读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度，直至判定所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的低温门限值，且所有所述射频开关状态均完成测试时，将测试次数加一；

第二处理单元44，用于当所述测试次数达到预设的门限值时，结束所述测试过程。

此外，所述基站放大器测试装置还包括检测单元45，用于：当检测到所述基站放大器发送的故障告警信息时，终止所述测试过程。

参阅图1所示，本发明还提供了一种基站放大器的测试系统，所述测试系统包括基站放大器测试装置10，信号发生装置11，基站放大器12，信号采集装置13，其中：

基站放大器测试装置10，用于建立与信号采集装置13，基站放大器12之间的连接关系；指示基站放大器12控制本地的所有射频开关均处于任意一种射频开关状态，其中，所述基站放大器中包含至少一个射频开关，且一个射频开关控制两个功率放大器的导通与旁路，所述射频开关对应至少一种射频开关状态，当所述射频开关状态不同时，基站放大器12中处于导通状态的功率放大器不同；按照预设周期分别读取信号采集装置13中记录的每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度，直至判定所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的高温门限值，且所述所有射频开关状态对应的功率放大器的输出功率及其反射功率的差值均满足预设的功率差值门限值时，指示基站放大器12关闭所述所有射频开关状态对应的所有功率放大器；按照预设周期分别读取所述信号采集装置13中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度，直至判定所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的低温门限值，且所有所述射频开关状态均完成测试时，将测试次数加一；当所述测试次数达到预设的门限值时，结束所述测试过程；

基站放大器12，用于根据基站放大器测试装置10的指示控制本地的所有射频开关均处于任意一种射频开关状态，以及根据基站放大器测试装置10的指示控制所述所有射频开关状态对应的功率放大器处于开启状态或者处于关闭状态；

所述信号发生装置11，用于根据基站放大器测试装置10的指示向基站放大器12发送测试信号，或者关闭信号输出；

所述信号采集装置13，用于根据基站放大器测试装置10的指示记录基站放大器12的所有射频开关状态对应的功率放大器的输出功率，反射功率以及温度。

综上所述，本发明实施例中，指示基站放大器控制本地的射频开关处于任意一种射频开关状态；分别记录上述射频开关状态对应的每一个功率放大器的输出功率、反射功率以及温度，当判定该射频开关状态对应的所有功率放大器的温度达到预设的高温门限值，且上述所有功率放大器的输出功率及其反射功率的差值满足预设的功率差值门限值时，指示基站放大器关闭射频开关状态对应的所有功率放大器；分别记录上述射频开关状态对应的每一个功率放大器的温度，当判定该射频开关状态对应的所有功率放大器的温度达到预设的低温门限值，且当确定所有射频开关状态均完成测试时，将测试次数加一，以及当该测试次数达到预设的门限值时，结束本次测试过程。采用本发明技术方案，针对不同工作模式下的基站放大器分别进行测试，并根据不同工作模式下基站放大器中各个元器件性能参数的变化情况，分别得出每一个工作模式下基站放大器的测试结果，从而使测试结果更加准确。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质（包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等）上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备（系统）、和计算机程序产品的流程图和／或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和／或方框图中的每一流程和／或方框、以及流程图和／或方框图中的流程和／或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本发明实施例进行各种改动和变型而不脱离本发明实施例的精神和范围。这样，倘若本发明实施例的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (11)

1.一种基站放大器测试方法，应用于基站放大器温度循环测试系统中，其特征在于，所述测试系统包括信号采集装置，基站放大器，以及基站放大器测试装置，所述方法包括：

基站放大器测试装置建立与信号采集装置，基站放大器之间的连接关系；

所述基站放大器测试装置指示所述基站放大器控制本地的所有射频开关均处于任意一种射频开关状态，其中，所述基站放大器中包含至少一个射频开关，且一个射频开关控制两个功率放大器的导通与旁路，所述射频开关对应至少一种射频开关状态，当所述射频开关状态不同时，所述基站放大器中处于导通状态的功率放大器不同；

所述基站放大器测试装置按照预设周期分别读取信号采集装置中记录的每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度，直至判定所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的高温门限值，且所述所有射频开关状态对应的功率放大器的输出功率及其反射功率的差值均满足预设的功率差值门限值时，指示所述基站放大器关闭所述所有射频开关状态对应的所有功率放大器；

所述基站放大器测试装置按照预设周期分别读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度，直至判定所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的低温门限值，且所有所述射频开关状态均完成测试时，将测试次数加一；

当所述测试次数达到预设的门限值时，所述基站放大器测试装置结束所述测试过程；

其中，所述基站放大器测试装置按照预设周期分别读取信号采集装置中记录的每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度，具体包括：

所述基站放大器测试装置指示所述基站放大器控制本地散热风扇的转速降低至最小转速门限值，并通知信号采集装置分别记录所述基站放大器中每一个射频开关状态对应功率放大器的输出功率、反射功率以及温度；

所述基站放大器测试装置按照预设周期读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度；

其中，所述基站放大器测试装置指示所述基站放大器关闭所述所有射频开关状态对应的所有功率放大器之后，按照预设周期分别读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度，具体包括：

所述基站放大器测试装置指示所述基站放大器控制本地散热风扇的转速升高至最大转速门限值，并通知信号采集装置分别记录所述基站放大器中每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度；

所述基站放大器测试装置按照预设周期读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试系统还包括信号发生装置；

所述基站放大器测试装置指示所述基站放大器控制本地的所有射频开关均处于任意一种射频开关状态，进一步包括：

在预设的时长之后，所述基站放大器测试装置指示信号发生装置向所述基站放大器发送预设形式的测试信号，令所述基站放大器基于所述预设形式的测试信号发起测试过程；

在所述测试过程开始之后，所述基站放大器测试装置分别读取信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率，反射功率以及温度。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，当任意一个功率放大器的输出功率及其反射功率的差值不满足预设的功率差值门限值时，进一步包括：

终止所述测试过程。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度达到预设的低温门限值或者预设的高温门限值之前，进一步包括：

当检测到所述基站放大器发送的故障告警信息时，所述基站放大器测试装置终止所述测试过程。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，当确定存在至少一种所述射频开关状态未完成测试时，进一步包括：

所述基站放大器测试装置指示所述基站放大器控制所述所有射频开关切换至所述至少一种射频开关状态中的任意一种射频开关状态。

6.一种基站放大器测试装置，应用于基站放大器温度循环测试系统中，其特征在于，所述测试系统包括信号采集装置，基站放大器，以及基站放大器测试装置，所述基站放大器测试装置包括：

连接建立单元，用于建立与信号采集装置，基站放大器之间的连接关系；

第一指示单元，用于指示所述基站放大器控制本地的所有射频开关均处于任意一种射频开关状态，其中，所述基站放大器中包含至少一个射频开关，且一个射频开关控制两个功率放大器的导通与旁路，所述射频开关对应至少一种射频开关状态，当所述射频开关状态不同时，所述基站放大器中处于导通状态的功率放大器不同；

第二指示单元，用于按照预设周期分别读取信号采集装置中记录的每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度，直至判定所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的高温门限值，且所述所有射频开关状态对应的功率放大器的输出功率及其反射功率的差值均满足预设的功率差值门限值时，指示所述基站放大器关闭所述所有射频开关状态对应的所有功率放大器；

第一处理单元，用于按照预设周期分别读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度，直至判定所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的低温门限值，且所有所述射频开关状态均完成测试时，将测试次数加一；

第二处理单元，用于当所述测试次数达到预设的门限值时，结束所述测试过程；

其中，所述第二指示单元，具体用于：

指示所述基站放大器控制本地散热风扇的转速降低至最小转速门限值，并通知所述测试系统中的信号采集装置分别记录所述基站放大器中每一个射频开关状态对应功率放大器的输出功率、反射功率以及温度；按照预设周期读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度；

其中，所述第一处理单元，具体用于：

指示所述基站放大器控制本地散热风扇的转速升高至最大转速门限值，并通知信号采集装置分别记录所述基站放大器中每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度；按照预设周期读取所述信号采集装置记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第一指示单元，进一步用于：

在预设的时长之后，指示信号发生装置向所述基站放大器发送预设形式的测试信号，令所述基站放大器基于所述预设形式的测试信号发起测试过程。

8.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第二指示单元，进一步用于：

当任意一个功率放大器的输出功率及其反射功率的差值不满足预设的功率差值门限值时，终止所述测试过程。

9.如权利要求6所述的装置，其特征在于，还包括检测单元，用于：

在所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度达到预设的低温门限值或者预设的高温门限值之前，当检测到所述基站放大器发送的故障告警信息时，终止所述测试过程。

10.如权利要求6所述的装置，其特征在于，当确定存在至少一种所述射频开关状态未完成测试时，所述第二处理单元，进一步用于：

指示所述基站放大器控制所述所有射频开关切换至所述至少一种射频开关状态中的任意一种射频开关状态。

11.一种基站放大器的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括基站放大器测试装置，基站放大器，信号发生装置，信号采集装置，其中：

所述基站放大器测试装置，用于建立与信号采集装置，基站放大器之间的连接关系；指示所述基站放大器控制本地的所有射频开关均处于任意一种射频开关状态，其中，所述基站放大器中包含至少一个射频开关，且一个射频开关控制两个功率放大器的导通与旁路，所述射频开关对应至少一种射频开关状态，当所述射频开关状态不同时，所述基站放大器中处于导通状态的功率放大器不同；按照预设周期分别读取信号采集装置中记录的每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度，直至判定所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的高温门限值，且所述所有射频开关状态对应的功率放大器的输出功率及其反射功率的差值均满足预设的功率差值门限值时，指示所述基站放大器关闭所述所有射频开关状态对应的所有功率放大器；按照预设周期分别读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度，直至判定所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的低温门限值，且所有所述射频开关状态均完成测试时，将测试次数加一；当所述测试次数达到预设的门限值时，结束所述测试过程；

所述基站放大器，用于根据所述基站放大器测试装置的指示控制本地的所有射频开关均处于任意一种射频开关状态，以及根据所述基站放大器测试装置的指示控制所述所有射频开关状态对应的功率放大器处于开启状态或者处于关闭状态；

所述信号发生装置，用于根据所述基站放大器测试装置的指示向所述基站放大器发送测试信号，或者关闭信号输出；

所述信号采集装置，用于根据所述基站放大器测试装置的指示记录所述基站放大器的所有射频开关状态对应的功率放大器的输出功率，反射功率以及温度；

其中，所述按照预设周期分别读取信号采集装置中记录的每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度，具体包括：

所述基站放大器测试装置指示所述基站放大器控制本地散热风扇的转速降低至最小转速门限值，并通知信号采集装置分别记录所述基站放大器中每一个射频开关状态对应功率放大器的输出功率、反射功率以及温度；

所述基站放大器测试装置按照预设周期读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度；

其中，所述指示所述基站放大器关闭所述所有射频开关状态对应的所有功率放大器之后，按照预设周期分别读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度，具体包括：

所述基站放大器测试装置指示所述基站放大器控制本地散热风扇的转速升高至最大转速门限值，并通知信号采集装置分别记录所述基站放大器中每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度；

所述基站放大器测试装置按照预设周期读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度。