CN109406988B - 一种模拟ic测试异常过冲快速定位分析系统及方法 - Google Patents

一种模拟ic测试异常过冲快速定位分析系统及方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统及方法，属于IC测试领域，系统包括：模拟IC测试机台、测试夹具、示波器、数字IO板卡，所述测试夹具中放置有待测IC芯片；模拟IC测试机台与测试夹具双向连接，测试夹具的波形输出端与示波器连接，示波器的trigger输出端与数字IO板卡连接，数字IO板卡输出端与模拟IC测试机台连接，构成一个可快速定位芯片发生异常过冲位置的系统。本发明能够克服现有技术中无法统计待测芯片发生异常过冲的总次数，并能够快速定位待测IC芯片发生异常过冲的位置，大大提升了IC芯片测试效率，节约了时间和人力成本。

Description

一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统及方法
技术领域
本发明涉及IC测试领域，尤其涉及一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统及方法。
背景技术
模拟IC测试过程中，测试工程师通常借助示波器观测芯片引脚产生的异常过冲现象。但是，当前测试工程师在模拟IC测试过程中，由于测试脚本组的运行速度很快，单行指令的运行时间为ns级，示波器需设置为单次扫描状态，只能被触发一次、准确捕获当前的波形。因此，测试工程师通过此调试手段只可知道是否发生异常过冲，而不能评估发生过多少次，更不能知道是测试脚本组运行至何处时发生的异常过冲。测试脚本组运行过程中，测试工程师需单步运行相应的测试脚本组，以此定位是那些参数设置导致的过冲现象。
随着芯片设计越来越复杂，芯片具有越来越多的测试引脚，待测测试项也越来越多，导致测试脚本组变得复杂。综合以上因素，测试工程师需耗费大量时间调试测试脚本组，解决异常过冲问题。因此，如何快速定位异常过冲发生的位置对解决测试效率具有越来越重要的现实意义。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术中无法快速定位IC芯片产生异常过冲位置且无法统计IC芯片发生异常过冲次数的问题而造成的人力和时间成本的浪费，提供一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统及方法。
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统包括：
模拟IC测试机台、测试夹具、示波器、数字IO板卡，待测IC芯片放置于测试夹具中；模拟IC测试机台与测试夹具双向连接，测试夹具的波形输出端与示波器连接，示波器的trigger输出端与数字IO板卡连接，数字IO板卡输出端与模拟IC测试机台连接，构成了一个可快速定位芯片发生异常过冲位置的系统。
具体地，模拟IC测试机台通过排线与测试夹具双向连接，且待测IC芯片放置于测试夹具中，即模拟IC测试机台与待测IC芯片的双向连接，模拟测试机台向待测试的IC测试芯片发送控制信号，待测IC测试芯片向模拟IC测试机台反馈芯片每个引脚的的信号变化。
具体地，数字IO板卡输入端通过ch0通道与示波器AUX输出端连接，用于接受示波器输出的trigger信号。
具体地，测试夹具输出端通过探头与示波器连接，即待测芯片的相应引脚输出端通过探头与示波器连接，用于观测在测试脚本组运行过程中相应引脚信号的波形变化。
具体地，示波器运行在连续触发模式，用于检测多个异常过冲信号，能够实时反馈是测试脚本运行在何处发生了异常过冲。
具体地，数字IO板卡输出端通过USB电缆与模拟IC自动化测试机台连接，数字IO板卡将统计的IC测试芯片发生异常过冲的次数传输到模拟IC测试机台。
本发明还包括基于一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统的方法，方法包括以下步骤：
将待测IC芯片放置于测试夹具中，模拟IC自动化测试机台根据包括至少一个测试脚本模块的测试脚本组对待测IC芯片的性能指标进行测试；
示波器运行在连续触发模式，采集测试夹具输出的信号，当其采集到的数据超过设定的触发门限的信号时，输出一个trigger信号至数字IO板卡；
数字IO板卡接受来自示波器的trigger信号，自动统计出现异常过冲的次数并将此数据发送到模拟IC自动化测试机台；
模拟IC自动化测试机台自动生成报告，统计测试脚本组发生异常过冲次数；
更优地，一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析方法还包括：对数字IO板卡的功能进行封装，测试脚本组通过函数的方式对相应的功能进行调用，其中，封装的函数包括：(1)Device->Start()，代表开始启用数字IO板卡计数器功能，统计接收的过冲信号次数；(2)Device->Check Value()，检测当前位置总共发生过多少次过冲以及前一次检测代码处和当前检测处之间发生过多少次异常过冲；(3)Device->Stop()；停止数字IO板卡的计数功能，释放资源；
修改测试脚本组，在测试脚本组的开始位置插入Device->Start()封装函数，在测试脚本组的结束位置插入Device->Stop()封装函数，并在测试脚本模块的后方插入Device->Check Value()封装函数。
具体地，测试脚本组测试的是待测IC芯片引脚的电流、电压参数。
具体地，报告是log文件、excel文件的任意一种。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
(1)示波器运行在连续触发模式输出trigger信号,能够快速定位IC芯片产生异常过冲的位置并统计IC芯片发生异常过冲的次数，从而大大提升了IC芯片测试效率；
(2)使用封装函数对待测IC芯片进行测试，测试脚本可以连续运行，不需要单步运行测试脚本，大大节约了时间和人力成本。
附图说明
图1为本发明系统框图；
图2为本发明实施例2的流程图；
图3为本发明实施例2修改调试脚本插入封装功能函数示意图；
图4为本发明实施例2测试报告log文档记录图；
图5为本发明实施例2测试报告excel文档记录图。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面结合附图进一步详细描述本发明的技术方案，应当理解，此处所描述的实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。
实施例1一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统
本发明一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统应用于IC测试领域，能够快速定位IC芯片产生异常过冲的位置并统计IC芯片发生异常过冲的次数，进一步地，如图1所示，在实施例1中，一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统，包括：
模拟IC测试机台、测试夹具、示波器、数字IO板卡，待测IC芯片放置于测试夹具中；模拟IC测试机台与测试夹具双向连接，测试夹具的波形输出端与示波器输入端连接，示波器的trigger输出端与数字IO板卡输入端连接，数字IO板卡输出端与模拟IC测试机台输入端连接，构成了一个可快速定位芯片发生异常过冲位置的系统。
进一步地，模拟IC测试机台通过排线与测试夹具双向连接，且待测IC芯片放置于测试夹具中，即模拟IC测试机台与待测IC芯片的双向连接，模拟测试机台向待测试的IC测试芯片发送控制信号，待测IC测试芯片向模拟IC测试机台反馈芯片每个引脚的的信号变化。
进一步地，数字IO板卡输入端通过ch0通道与示波器AUX输出端连接，用于接受示波器输出的trigger信号。
进一步地，测试夹具输出端通过探头与示波器的输入端连接，即待测芯片的相应引脚输出端通过探头与示波器输入端连接，用于观测在测试脚本组运行过程中相应引脚信号的波形变化。
进一步地，示波器运行在连续触发模式，用于检测多个异常过冲信号，能够实时反馈是测试脚本运行在何处发生了异常过冲。
进一步地，数字IO板卡输出端通过USB电缆与模拟IC自动化测试机台输入端连接，数字IO板卡将统计的IC测试芯片发生异常过冲的次数传输到模拟IC测试机台。
实施例2一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析方法
本实施例采用实施例1中的系统，如图2所示，一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析方法，包括：
S01：将待测IC芯片放置于测试夹具中，模拟IC自动化测试机台根据包括至少一个测试脚本模块的测试脚本组对待测IC芯片的性能指标进行测试；
S02：示波器运行在连续触发模式，采集测试夹具输出的信号，当其采集到的数据超过设定的触发门限的信号时，输出一个trigger信号至数字IO板卡；
S03：数字IO板卡接受来自示波器的trigger信号，自动统计出现异常过冲的次数并将此数据发送到模拟IC自动化测试机台；
S04：模拟IC自动化测试机台自动生成报告，统计测试脚本组发生异常过冲次数；
进一步地，步骤S04还包括，所述报告可以统计测试脚本组中IC芯片发生异常过冲的总次数，也可统计测试脚本组中每个测试脚本模块IC芯片是否发生异常过冲以及发生异常过冲的次数。
更优地，一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析方法还包括：
对数字IO板卡的功能进行封装，测试脚本组通过函数的方式对相应的功能进行调用，其中，封装的函数包括：(1)Device->Start()，代表开始启用数字IO板卡计数器功能，统计接收的过冲信号次数；(2)Device->Check Value()，检测当前位置总共发生过多少次过冲以及前一次检测代码处和当前检测处之间发生过多少次异常过冲；(3)Device->Stop()；停止数字IO板卡的计数功能，释放资源。
更优地，该步骤可以在步骤S02前完成；
更优地，测试脚本组通过函数的方式对相应的功能进行调用的子步骤如图3所示，修改测试脚本组，在测试脚本组的开始位置插入Device->Start()封装函数，在测试脚本组的结束位置插入Device->Stop()封装函数，并在测试脚本模块的后方插入Device->Check Value()封装函数，以此来定位是在那些测试脚本模块进行测试时，IC芯片发生了异常过冲的现象以及发生异常过冲的次数。
进一步地，测试脚本组测试的是待测IC芯片引脚的电流、电压参数。
进一步地，报告是log文件、excel文件的任意一种。
其中，如图4所示，log报告文件中，log报告文件记载了Lkg_SYS_6V测试脚本模块选择数字IO板卡ch0通道进行数据通信，在2018/06/01 17:47:43时，检测到2个新的异常过冲信号，当前测试脚本组共检测到2个异常过冲信号；LKG_BATT_INT_6V测试脚本模块选择数字IO板卡ch0通道进行数据通信，在2018/06/01 17:50:00时，检测到1个新的异常过冲信号，当前测试脚本组共检测到3个异常过冲信号；LKG_BATT_4V测试脚本模块选择数字IO板卡ch0通道进行数据通信，在2018/06/01 17:50:20时，检测到1个新的异常过冲信号，当前测试脚本组共检测到4个异常过冲信号；LKG_BATT_6V测试脚本模块选择数字IO板卡ch0通道进行数据通信，在2018/06/01 17:51:04时，检测到1个新的异常过冲信号，当前测试脚本组共检测到5个异常过冲信号；VBATT_RCH_default_R测试脚本模块选择数字IO板卡ch0通道进行数据通信，在2018/06/01 17:52:09时，检测到1个新的异常过冲信号，当前测试脚本组共检测到6个异常过冲信号；Lkg_BATT_FETDISH_6V测试脚本模块选择数字IO板卡ch0通道进行数据通信，在2018/06/01 17:52:23时，检测到1个新的异常过冲信号，当前测试脚本组共检测到7个异常过冲信号，所有测试脚本组一共检测了269个信号值。
如图5所示，是报告的Excel文件形式，其记载的具体内容可以参照log形式的文件。
以上具体实施方式是对本实用发明的详细说明，不能认定本发明的具体实施方式只局限于这些说明，对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演和替代，都应当视为属于本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统，其特征在于，包括：模拟IC测试机台、测试夹具、示波器、数字IO板卡，待测IC芯片放置于测试夹具中；模拟IC测试机台与测试夹具双向连接，测试夹具的波形输出端与示波器连接，示波器的trigger输出端与数字IO板卡连接，数字IO板卡输出端与模拟IC测试机台连接；
所述一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统使用时还包括以下步骤：
将待测IC芯片放置于测试夹具中，模拟IC测试机台根据包括至少一个测试脚本模块的测试脚本组对待测IC芯片的性能指标进行测试；
示波器运行在连续触发模式，采集测试夹具输出的信号，当其采集到的数据超过设定的触发门限的信号时，输出一个trigger信号至数字IO板卡；
数字IO板卡接受来自示波器的trigger信号，自动统计出现异常过冲的次数并将此数据发送到模拟IC测试机台；
模拟IC测试机台自动生成报告，统计测试脚本组发生异常过冲次数。
2.根据权利要求1中所述的一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统，其特征在于，所述模拟IC测试机台通过排线与测试夹具双向连接，即模拟IC测试机台与待测IC芯片双向连接。
3.根据权利要求1所述的一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统，其特征在于，所述数字IO板卡输入端通过ch0通道与示波器AUX输出端连接。
4.根据权利要求1所述的一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统，其特征在于，所述测试夹具输出端通过探头与示波器连接，即待测IC芯片的相应引脚输出端通过探头与示波器连接。
5.根据权利要求1所述的一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统，其特征在于，所述数字IO板卡输出端通过USB电缆与模拟IC测试机台连接。
6.根据权利要求1所述的一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统，其特征在于，所述系统使用时还包括以下步骤：
对数字IO板卡的功能进行封装，测试脚本组通过函数的方式对相应的功能进行调用，其中，封装的函数包括：（1）Device-> Start()，代表开始启用数字IO板卡计数器功能，统计接收的过冲信号次数；（2）Device-> Check Value()，检测当前位置总共发生过多少次过冲以及前一次检测代码处和当前检测处之间发生过多少次异常过冲；（3）Device-> Stop()；停止数字IO板卡的计数功能，释放资源；
修改测试脚本组，在测试脚本组的开始位置插入Device-> Start()封装函数，在测试脚本组的结束位置插入Device-> Stop()封装函数，并在测试脚本模块的后方插入Device->Check Value()封装函数。
7.根据权利要求1所述的一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统，其特征在于，所述测试脚本组测试的是待测IC芯片引脚的电流参数和电压参数。
8.根据权利要求1所述的一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统，其特征在于，所述报告是log文件、excel文件的任意一种。
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