CN106656113A - 一种cmos差分调制脉冲检波电路及方法 - Google Patents

一种cmos差分调制脉冲检波电路及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106656113A
CN106656113A CN201611052769.3A CN201611052769A CN106656113A CN 106656113 A CN106656113 A CN 106656113A CN 201611052769 A CN201611052769 A CN 201611052769A CN 106656113 A CN106656113 A CN 106656113A
Authority
CN
China
Prior art keywords
signal
differential
circuit
detection circuit
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201611052769.3A
Other languages
English (en)
Inventor
方然
王驰
门涛
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beijing Institute of Radio Measurement
Original Assignee
Beijing Institute of Radio Measurement
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beijing Institute of Radio Measurement filed Critical Beijing Institute of Radio Measurement
Priority to CN201611052769.3A priority Critical patent/CN106656113A/zh
Publication of CN106656113A publication Critical patent/CN106656113A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/01Shaping pulses
    • H03K5/02Shaping pulses by amplifying
    • H03K5/023Shaping pulses by amplifying using field effect transistors
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/153Arrangements in which a pulse is delivered at the instant when a predetermined characteristic of an input signal is present or at a fixed time interval after this instant
    • H03K5/1532Peak detectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Abstract

本发明涉及一种CMOS差分调制脉冲检波电路及方法,涉及CMOS差分调制脉冲检波领域。目的在于解决现有CMOS工艺中调制脉冲检波电路失真大、速度低以及精度低的问题。所述检波电路包括差分放大器、失调消除电路、峰值检测电路、比较器、施密特触发器和缓冲电路,检波过程为:对输入的差分调制脉冲信号进行放大;消除对输入的差分调制脉冲信号进行放大后产生的失调电压;检测差分调制脉冲信号的高峰值和低峰值;对峰值检测后的信号进行边沿整形;消除边沿整形后的信号输出的毛刺;对脉冲信号的输出提供驱动力。本发明适用于对调制脉冲进行检波。

Description

一种CMOS差分调制脉冲检波电路及方法
技术领域
本发明涉及集成电路领域,尤其涉及CMOS差分调制脉冲检波领域。
背景技术
时间同步是雷达、通信等系统中的关键问题,取得时间同步最直观的方法就是对调制脉冲信号进行包络检波,进一步检测出脉冲信号的前沿。目前,包络检波常用峰值检测电路实现,需要输出信号快速跟随输入信号的峰值变化,提供给下一级处理。
图1给出了传统的调制脉冲检波电路,包含一个比较器、一个二极管、一个电容和一个缓冲器。为了提高系统集成度和兼容性,电路需要采用CMOS工艺实现。传统的检波电路的性能较差,输出电压无法真实反映输入信号的包络变化规律,容易出现较大失真,无法满足时间同步精度需求。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种CMOS差分调制脉冲检波电路,目的在于解决现有CMOS工艺中调制脉冲检波电路失真大、速度低以及精度低的问题。
本发明解决上述技术问题的技术方案如下:一种CMOS差分调制脉冲检波电路,所述检波电路包括差分放大器、失调消除电路、峰值检测电路、比较器、施密特触发器和缓冲电路,所述差分放大器的差分信号输入端接收差分调制脉冲信号,差分放大器的差分信号输出端与失调消除电路的差分信号输入端和峰值检测电路的差分信号输入端连接,峰值检测电路的峰值检测信号输出端与比较器的峰值检测信号输入端连接,比较器的比较信号输出端与施密特触发器的比较信号输入端连接,施密特触发器的触发信号输出端与缓冲电路的触发信号输入端连接,缓冲电路的缓冲信号输出端输出检波后的脉冲信号。
进一步,所述差分放大器采用差分共源放大电路实现,用于对输入的差分调制脉冲信号进行放大。
进一步,所述失调消除电路包括RC低通滤波电路,所述差分调制脉冲信号经过RC低通滤波后进入差分放大器,失调消除电路的输出端连接差分放大器的输入端形成负反馈,用于消除差分放大器放大后产生的失调电压。
进一步,所述峰值检测电路包括高峰值检测电路和低峰值检测电路,用于检测差分调制脉冲信号的其中一个的高峰值和另一个的低峰值。
进一步,所述比较器采用差分输入、单端输出的开环放大器结构实现,将峰值检测后的信号进行边沿整形。
进一步,所述施密特触发器用于消除边沿整形后的信号输出的毛刺。
进一步,所述缓冲电路采用反向器链结构实现,为输出脉冲信号提供驱动能力。
本发明的有益效果是:本发明采用差分放大器和失调消除电路结构,有效消除共模干扰,消除放大器失调对检波的影响,提高了检波精度;峰值检测电路分别检测高、低峰值,提高了信号摆幅和检波精度。
为了解决上述技术问题,本发明还提出了一种CMOS差分调制脉冲检波方法,所述方法包括:
S1、对输入的差分调制脉冲信号进行放大;
S2、消除对输入的差分调制脉冲信号进行放大后产生的失调电压;
S3、检测差分调制脉冲信号的高峰值和低峰值;
S4、对峰值检测后的信号进行边沿整形;
S5、消除边沿整形后的信号输出的毛刺;
S6、对脉冲信号的输出提供驱动力。
附图说明
图1为现有的调制脉冲检波电路的原理示意图;
图2为本发明实施例所述的CMOS差分调制脉冲检波电路的原理示意图;
图3为本发明实施例所述的差分放大器的电路图;
图4为本发明实施例所述的失调消除电路的电路图;
图5为本发明实施例所述的峰值检测电路的电路图;
图6为本发明实施例所述的比较器的电路图;
图7为本发明实施例所述的施密特触发器的电路图;
图8为本发明实施例所述的缓冲电路的电路图;
图9为本发明实施例所述的CMOS差分调制脉冲检波方法的流程图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述,所举实例只用于解释本发明,并非用于限定本发明的范围。
实施例1
如图2所示,本实施例提出一种CMOS差分调制脉冲检波电路,所述检波电路包括差分放大器、失调消除电路、峰值检测电路、比较器、施密特触发器和缓冲电路,所述差分放大器的差分信号输入端接收差分调制脉冲信号,差分放大器的差分信号输出端与失调消除电路的差分信号输入端和峰值检测电路的差分信号输入端连接,峰值检测电路的峰值检测信号输出端与比较器的峰值检测信号输入端连接,比较器的比较信号输出端与施密特触发器的比较信号输入端连接,施密特触发器的触发信号输出端与缓冲电路的触发信号输入端连接,缓冲电路的缓冲信号输出端输出检波后的脉冲信号。
差分放大器采用NMOS差分共源放大电路实现,如图3所示,用于对输入的差分调制脉冲信号进行放大。
失调消除电路包括RC低通滤波电路,如图4所示,所述差分调制脉冲信号经过RC低通滤波后进入差分放大器,失调消除电路的输出端连接差分放大器的输入端形成负反馈,用于消除差分放大器放大后产生的失调电压。
峰值检测电路包括高峰值检测电路和低峰值检测电路,如图5所示,用于检测差分调制脉冲信号的其中一个的高峰值和另一个的低峰值。
比较器采用差分输入、单端输出的开环放大器结构实现,如图6所示,将峰值检测后的信号进行边沿整形。
施密特触发器的电路结构如图7所示,用于消除边沿整形后的信号输出的毛刺。
缓冲电路采用反向器链结构实现,如图8所示,为输出脉冲信号提供驱动能力。
实施例2
如图9所示,本实施例提出一种CMOS差分调制脉冲检波方法,所述方法包括:
S1、对输入的差分调制脉冲信号进行放大;
S2、消除对输入的差分调制脉冲信号进行放大后产生的失调电压;
S3、检测差分调制脉冲信号的高峰值和低峰值;
S4、对峰值检测后的信号进行边沿整形;
S5、消除边沿整形后的信号输出的毛刺;
S6、对脉冲信号的输出提供驱动力。
本发明采用差分放大器和失调消除电路结构,有效消除共模干扰,消除放大器失调对检波的影响,提高了检波精度;峰值检测电路分别检测高、低峰值,提高了信号摆幅和检波精度。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种CMOS差分调制脉冲检波电路,其特征在于,所述检波电路包括差分放大器、失调消除电路、峰值检测电路、比较器、施密特触发器和缓冲电路,所述差分放大器的差分信号输入端接收差分调制脉冲信号,差分放大器的差分信号输出端与失调消除电路的差分信号输入端和峰值检测电路的差分信号输入端连接,峰值检测电路的峰值检测信号输出端与比较器的峰值检测信号输入端连接,比较器的比较信号输出端与施密特触发器的比较信号输入端连接,施密特触发器的触发信号输出端与缓冲电路的触发信号输入端连接,缓冲电路的缓冲信号输出端输出检波后的脉冲信号。
2.根据权利要求1所述的一种CMOS差分调制脉冲检波电路,其特征在于,所述差分放大器采用差分共源放大电路实现,用于对输入的差分调制脉冲信号进行放大。
3.根据权利要求1所述的一种CMOS差分调制脉冲检波电路,其特征在于,所述失调消除电路包括RC低通滤波电路,所述差分调制脉冲信号经过RC低通滤波后进入差分放大器,失调消除电路的输出端连接差分放大器的输入端形成负反馈,用于消除差分放大器放大后产生的失调电压。
4.根据权利要求1所述的一种CMOS差分调制脉冲检波电路,其特征在于,所述峰值检测电路包括高峰值检测电路和低峰值检测电路,用于检测差分调制脉冲信号的其中一个的高峰值和另一个的低峰值。
5.根据权利要求1所述的一种CMOS差分调制脉冲检波电路,其特征在于,所述比较器采用差分输入、单端输出的开环放大器结构实现,将峰值检测后的信号进行边沿整形。
6.根据权利要求1所述的一种CMOS差分调制脉冲检波电路,其特征在于,所述施密特触发器用于消除边沿整形后的信号输出的毛刺。
7.根据权利要求1所述的一种CMOS差分调制脉冲检波电路,其特征在于,所述缓冲电路采用反向器链结构实现,为输出脉冲信号提供驱动能力。
8.一种CMOS差分调制脉冲检波方法,其特征在于,所述方法包括:
S1、对输入的差分调制脉冲信号进行放大;
S2、消除对输入的差分调制脉冲信号进行放大后产生的失调电压;
S3、检测差分调制脉冲信号的高峰值和低峰值;
S4、对峰值检测后的信号进行边沿整形;
S5、消除边沿整形后的信号输出的毛刺;
S6、对脉冲信号的输出提供驱动力。
CN201611052769.3A 2016-11-24 2016-11-24 一种cmos差分调制脉冲检波电路及方法 Pending CN106656113A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611052769.3A CN106656113A (zh) 2016-11-24 2016-11-24 一种cmos差分调制脉冲检波电路及方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611052769.3A CN106656113A (zh) 2016-11-24 2016-11-24 一种cmos差分调制脉冲检波电路及方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN106656113A true CN106656113A (zh) 2017-05-10

Family

ID=58811649

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201611052769.3A Pending CN106656113A (zh) 2016-11-24 2016-11-24 一种cmos差分调制脉冲检波电路及方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106656113A (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108111168A (zh) * 2017-11-23 2018-06-01 中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所 一种改进型发动机燃油流量传感器信号采集电路
CN109861761A (zh) * 2019-03-01 2019-06-07 电子科技大学 一种基于峰值采样的cmos高速光接收电路
CN113472348A (zh) * 2021-06-11 2021-10-01 苏州瀚宸科技有限公司 一种抖动容限可调的无参考时钟频率检测电路

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1104820A (zh) * 1993-07-16 1995-07-05 普列斯半导体有限公司 检波器
WO2000072441A1 (en) * 1999-05-24 2000-11-30 Level One Communications, Inc. Automatic gain control and offset correction
CN1930452A (zh) * 2004-01-06 2007-03-14 霍尼韦尔国际公司 峰值检测电路
CN101674055A (zh) * 2009-10-16 2010-03-17 上海博为光电科技有限公司 自适应突发信号接收再生放大器
CN101788598A (zh) * 2009-11-25 2010-07-28 天津南大强芯半导体芯片设计有限公司 一种电压峰值检测电路及其工作方法
CN102055420A (zh) * 2009-11-10 2011-05-11 夏普株式会社 检波电路及高频电路
CN102187575A (zh) * 2008-10-15 2011-09-14 Nxp股份有限公司 低压自校准cmos峰值检测器
CN103297005A (zh) * 2012-03-02 2013-09-11 中国科学院微电子研究所 峰值检波电路

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1104820A (zh) * 1993-07-16 1995-07-05 普列斯半导体有限公司 检波器
WO2000072441A1 (en) * 1999-05-24 2000-11-30 Level One Communications, Inc. Automatic gain control and offset correction
CN1930452A (zh) * 2004-01-06 2007-03-14 霍尼韦尔国际公司 峰值检测电路
CN102187575A (zh) * 2008-10-15 2011-09-14 Nxp股份有限公司 低压自校准cmos峰值检测器
CN101674055A (zh) * 2009-10-16 2010-03-17 上海博为光电科技有限公司 自适应突发信号接收再生放大器
CN102055420A (zh) * 2009-11-10 2011-05-11 夏普株式会社 检波电路及高频电路
CN101788598A (zh) * 2009-11-25 2010-07-28 天津南大强芯半导体芯片设计有限公司 一种电压峰值检测电路及其工作方法
CN103297005A (zh) * 2012-03-02 2013-09-11 中国科学院微电子研究所 峰值检波电路

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108111168A (zh) * 2017-11-23 2018-06-01 中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所 一种改进型发动机燃油流量传感器信号采集电路
CN108111168B (zh) * 2017-11-23 2021-04-20 中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所 一种改进型发动机燃油流量传感器信号采集电路
CN109861761A (zh) * 2019-03-01 2019-06-07 电子科技大学 一种基于峰值采样的cmos高速光接收电路
CN109861761B (zh) * 2019-03-01 2021-04-23 电子科技大学 一种基于峰值采样的cmos高速光接收电路
CN113472348A (zh) * 2021-06-11 2021-10-01 苏州瀚宸科技有限公司 一种抖动容限可调的无参考时钟频率检测电路

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8502584B1 (en) Capacitive isolation receiver circuitry
CN106656113A (zh) 一种cmos差分调制脉冲检波电路及方法
US9287863B2 (en) Switch driving circuit
US9197237B2 (en) Loss of signal detection for high-speed serial links
WO2008070349A3 (en) High speed preamplifier circuit, detection electronics, and radiation detection systems therefrom
WO2011099598A1 (ja) 光信号断検出回路および光受信器
CN102394570B (zh) 一种单片集成窄脉冲峰值保持电路
CN103684434A (zh) 基于边沿线性化技术的25Gbps数据时钟恢复电路
CN104777470A (zh) 一种扩展脉冲激光近程动态增益范围电路
CN107632298A (zh) 一种应用于脉冲式激光雷达系统的高灵敏度接收电路
US20050200421A1 (en) Transimpedance amplifier with differential peak detector
CN107112985A (zh) 一种用于检测信号丢失的系统和方法
CN108809278A (zh) 一种窄脉冲峰值采样保持电路
CN102629856A (zh) 低电压差分信号接收器
CN103929139A (zh) 高精度自动增益控制的光接收机的跨阻前置放大器
US10333472B2 (en) Optical receiver
CN109143251B (zh) 基于差分信号的脉冲激光测距时刻鉴别器
US20140079106A1 (en) System And Method To Actively Drive The Common Mode Voltage Of A Receiver Termination Network
CN102957414B (zh) 增强型模拟信号的传输方法及电路
CN102647164B (zh) 一种超低功耗医用设备的自动增益控制环路
CN106233644B (zh) 突发信号接收电路
CN206892340U (zh) 基于激光雷达的时刻鉴别装置及激光雷达
US5088106A (en) Phase shift circuit and repeater using the same
JPH02246604A (ja) 多段差動増幅器のオフセット調整回路
CN208849744U (zh) 一种窄脉冲峰值采样保持电路

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20170510