CN106597980A - 电子设备在测试过程中的传送控制 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种电子设备在测试过程中的传送控制,用于解决现有电子设备测试过程采用人工操作而致使加工效率不高,且容易出错的问题,其包括一种基于多传送带的电子设备传送控制方法、装置及一种PLC控制器,其主要技术思想为通过合理数量的传送带设计,来对应不同的测试需求,具体可以为由第一传送带对应待测试的需求传送、第二传送带对应测试结果为OK的需求传送及第三传送带对应测试结果为NG的需求传送,不同需求传送对应一个传送带进行独立传送,进而保证了整个测试效率的最大化,而且还可以实现对电子设备载盘的自动分类传送,利于现场管理。
Description
技术领域
本发明涉及自动化技术在电子设备加工技术领域的应用,特别是涉及一种电子设备在测试过程中的传送控制。
背景技术
在电子设备组装加工工序中,例如电子设备为笔记本电脑,需要在所述笔记本电脑出厂前进行系统或预置软件的下载或者进行相应的数据测试。现有对这个工序的做法为:由人工将需要数据下载的笔记本放入一数据下载/测试工位中,并将所述笔记本电脑与数据下载服务器或者数据测试服务器进行连接,然后启动一预先设置好的下载程序或测试程序进行自动下载或自动测试,并在完成后进行提示,然后由工人再将数据下载或测试完成的笔记本电脑取出,以此完成整个工序。
上述做法具有一定的局限性,如果需要测试的电子设备数量庞大时,上述人工操作的方式显然无法应对,即便增加操作工人,其效率也不高,且容易出错。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种电子设备在测试过程中的传送控制,用于解决现有电子设备测试过程采用人工操作而致使加工效率不高,且容易出错的问题。
为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供以下技术方案:
一种基于多传送带的电子设备传送控制方法,用于一电子设备自动测试过程中,所述电子设备传送控制方法包括:侦测一电子设备载盘沿一第一传送带至一第一位置时,一控制系统启动所述第一传送带之所述第一位置旁一第一升降台,将所述电子设备载盘抬升至一第二位置,等待一取放系统进行抓取;接收一第一指令,所述控制系统启动一第二传送带之一第三位置旁一第二升降台,将所述电子设备载盘放置于一第四位置,所述电子设备载盘由所述取放系统从一机柜测试系统抽出,并放置于所述第三位置处,或者接收一第二指令,所述控制系统启动一第三传送带之一第五位置旁一第三升降台,将所述电子设备载盘放置于一第六位置,所述电子设备载盘由所述取放系统从一机柜测试系统抽出,并放置于所述第五位置处。
优选地,所述第一位置为待测传送带上之升降位。
优选地,所述第二位置为待测传送带上之待取位。
优选地,所述第一指令为测试OK指令。
优选地,所述第三位置为测试OK传送带之待取位。
优选地,所述第四位置为测试OK传送带之升降位。
优选地,所述第二指令为测试NG指令。
优选地,所述第五位置为测试NG传送带之待取位。
优选地,所述第六位置为测试NG传送带之升降位。
根据本发明的另一方面,还提供了一种基于多传送带的电子设备传送控制装置,应用于一电子设备自动测试过程中,包括:第一传送控制模块,用于侦测一电子设备载盘沿一第一传送带至一第一位置时,一控制系统启动所述第一传送带之所述第一位置旁一第一升降台,将所述电子设备载盘抬升至一第二位置,等待一取放系统进行抓取;第二传送控制模块,用于接收一第一指令,所述控制系统启动一第二传送带之一第三位置旁一第二升降台,将所述电子设备载盘放置于一第四位置,所述电子设备载盘由所述取放系统从一机柜测试系统抽出,并放置于所述第三位置处;以及第三传送控制模块,用于接收一第二指令,所述控制系统启动一第三传送带之一第五位置旁一第三升降台,将所述电子设备载盘放置于一第六位置,所述电子设备载盘由所述取放系统从一机柜测试系统抽出,并放置于所述第五位置处。
根据本发明的又一方面,还提供了一种PLC控制器,应用于一电子设备自动测试过程中,包括:一存储器,用于储存处理器可执行指令;一处理器,配置为执行以下处理器可执行指令:侦测一电子设备载盘沿一第一传送带至一第一位置时,启动所述第一传送带之所述第一位置旁一第一升降台,将所述电子设备载盘抬升至一第二位置,等待一取放系统进行抓取;或者,接收一第一指令,启动一第二传送带之所述第三位置旁一第二升降台,将所述电子设备载盘放置于一第四位置,所述电子设备载盘由所述取放系统从一机柜测试系统抽出,并放置于所述第三位置处,或者,接收一第二指令,启动一第三传送带之所述第五位置旁一第三升降台,将所述电子设备载盘放置于一第六位置,所述电子设备载盘由所述取放系统从一机柜测试系统抽出,并放置于所述第五位置处。
如上所述,本发明具有以下有益效果:本发明通过合理的传送带设计,来对应不同的测试需求,包括待测试的需求传送、测试结果为OK的需求传送及测试结果为NG的需求传送,不同需求传送对应一个传送带进行独立传送,进而保证了整个测试效率的最大化,而且还可以实现对电子设备载盘的自动分类传送,利于现场管理。
附图说明
图1显示为本发明提供的一种基于多传送带的电子设备传送控制方法的流程图。
图2显示为电子设备自动测试过程中所涉及的系统架构原理图。
图3显示为本发明提供的一种基于多传送带的电子设备传送控制装置的原理图。
图4显示为本发明提供的一种PLC控制器的原理图。
附图标号说明
1 第一传送带
2 第二传送带
3 第三传送带
4 升降台
5 电子设备载盘
6 取放系统
7 侦测系统
8 控制系统
9 机柜测试系统
91 机架
92 适配位
93 插接器
94 测试服务器
10 电子设备传送控制装置
101 第一传送控制模块
102 第二传送控制模块
103 第三传送控制模块
11 PLC控制器
111 存储器
112 处理器
S101~S102-2 步骤
具体实施方式
以下由特定的具体实施例说明本发明的实施方式,熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点及功效。
须知,本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等,均仅用以配合说明书所揭示的内容,以供熟悉此技术的人士了解与阅读,并非用以限定本发明可实施的限定条件,故不具技术上的实质意义,任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整,在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下,均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。同时,本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语,亦仅为便于叙述的明了,而非用以限定本发明可实施的范围,其相对关系的改变或调整,在无实质变更技术内容下,当亦视为本发明可实施的范畴。
见图1,本实施例提供一种基于多传送带的电子设备传送控制方法,用于一电子设备自动测试过程中,如图所示,以下将对所述电子设备传送控制方法进行详细的说明与描述。
S101,侦测一电子设备载盘沿一第一传送带至一第一位置时,一控制系统启动所述第一传送带之所述第一位置旁一第一升降台,将所述电子设备载盘抬升至一第二位置,等待一取放系统进行抓取。
上述步骤S101是对需要进行测试的电子设备载盘进行输送,简单来说,上述步骤是对电子设备执行测试前的传送控制,所有需要进行测试的电子设备载盘都由第一传送带进行传送。
在具体实施中,结合图2,给出了在电子设备自动测试过程所涉及的系统架构,如图所示,电子设备自动测试过程中包括机柜测试系统9,在机柜测试系统9一侧设置有多条传送带,例如,图2中的第一传送带1、第二传送带2及第三传送带3;
此外,在每条传送带上设置有至少一升降台4,例如,所述升降台可以包括第一升降台、第二升降台及第三升降台,电子设备载盘5通过上述各传送待来进行传送,在传送带上方还设置有取放系统6,用于将传送带上的电子设备载盘5抓取至机柜测试系统9之机架91上的适配位92中进行测试,以及用于将机柜测试系统9之机架91上的适配位92中的电子设备载盘5抽取并放置于所述传送带上;
另外,每个适配位中均设置插接器93,所述插接器93连接于测试服务器94,取放系统6会将电子设备载盘上的连接器与所述插接器93适配连接,以此来将电子设备与测试服务器94连接,以执行相应的测试;
最后,所述系统构架中还包括控制系统8,所述控制系统与上述测试服务器94交互通信,所述控制系统8还分别连接与侦测系统7和取放系统6,所述侦测系统7至少连接于各条传送带上的各升降台4,以此来对各升降台进行控制。
需要理解的是,上述系统架构仅为了给出本实施例提供的电子设备传送控制方法在实施过程中所涉及的外部设备或系统,并非用于限制本发明的保护范围,且在本实施例中对于现有技术的贡献在于各流水线的设计,至于上述系统架构至如何实现并非本发明所要限制的。
在一实施例中,第一传送带可以为一待测传送带。
其中,电子设备载盘是一个载有一电子设备的载具,将电子设备固设于一载具上,所述载具可以为一载盘,通过这种载盘结构可以适用各种电子设备进行测试,并不仅限于某一特定电子设备。
其中,上述第一升降台安装在第一传送带的第一位置,当然,这里的第一位置可以根据具体要求进行设计,无论升降台位于哪一位置,只要侦测到第一传送带上的电子设备载盘运动至所述位置,控制系统就会启动所述第一升降台将所述电子设备载盘抬升至第二位置,为取放系统抓取所述电子设备载盘进行测试做准备。
在具体实施中,结合上述描述,所述第一位置可以具体为待测传送带上之升降位,所述第二位置为待测传送带上之待取位。
具体地,位于待取位的电子设备载盘被所述取放系统抓取后,所述控制系统会控制所述第一升降台返回升降位,如此往复下去,来实现对第一传送待上的电子设备载盘的连续传送。
需要理解的是,在具体应用中,第一传送待上并不止于一个第一升降台,可以布设多个,这样如果电子设备载盘处于第二位置期间有其它的电子设备载盘通过所述第一位置时,不会做停留,而是继续流入下一个空闲的升降梯,以此来保证高效的电子设备载盘传送。
其中,侦测电子设备载盘是否到达第一位置可以通过一侦测体统来进行侦测,所述侦测体统可以具体为一感应设备,例如所述感应设备可以为一传感器。具体地,所述侦测体统与控制系统连接,控制系统可以根据侦测系统的反馈来控制第一升降台执行顶起或降落的动作。
在具体实施中,上述取放系统可以为一机器手臂,本发明并不限制取放系统的具体实现形式,在本发明中也不涉及对取放系统的改进。
S102-1,接收一第一指令,所述控制系统启动一第二传送带之一第三位置旁一第二升降台,将所述电子设备载盘放置于一第四位置,所述电子设备载盘由所述取放系统从一机柜测试系统抽出,并放置于所述第三位置处,或者
S102-2,接收一第二指令,所述控制系统启动一第三传送带之一第五位置旁一第三升降台,将所述电子设备载盘放置于一第六位置,所述电子设备载盘由所述取放系统从一机柜测试系统抽出,并放置于所述第五位置处。
上述步骤S102-1和S102-2是对电子设备载盘执行完测试后的传送控制,结合上述步骤S101可知,电子设备载盘执行测试前后的传送路径(即传送带)是不一致的,这样可以保证传送的效率最大化。
其中,第一指令或第二指令可以为由机柜测试系统中的一测试服务器发出,具体地,第一指令可以为一测试OK指令。
例如,可以是在电子设备载盘成功执行完测试后,由所述测试服务器发出的一测试OK指令。
在具体实施中,第二传送带可以作为一测试OK传送带,即专门用于传送测试OK的电子设备载盘;而第三传送带可以作为一测试NG传送带,用于专门传送测试NG的电子设备载盘。
其中,上述第三位置可以为测试OK传送带之待取位,上述第四位置为测试OK传送带之升降位。当第二升降台处于所述待取位时,用于接收电子设备载盘,之后再将电子设备载盘放置升降位,以此来将电子设备载盘放入测试OK传送带上送出,即第二传送带。
同理,上述第五位置可以为测试NG传送带之待取位,上述第六位置为测试NG传送带之升降位。当第三升降台处于所述待取位时,用于接收电子设备载盘,之后再将电子设备载盘放置升降位,以此来将电子设备载盘放入测试NG传送带上送出,即第三传送带。
通过上述第二传送带作为测试OK传送带,第三传送带作为测试NG传送带,以此来对应不同指令下电子设备载盘传送,可以对测试的电子设备载盘进行有序的分类,测试结果不同的电子设备载盘被分开传送,这样既保证了传送效率,也保证了对电子设备载盘的有序分类。
根据本发明的另一方面,基于上述电子设备传送控制方法,本实施例还提供了一种基于多传送带的电子设备传送控制装置,应用于一电子设备自动测试过程中,见图3,所述电子设备传送控制装置10包括:第一传送控制模块101,用于侦测一电子设备载盘沿一第一传送带至一第一位置时,一控制系统启动所述第一传送带之所述第一位置旁一第一升降台,将所述电子设备载盘抬升至一第二位置,等待一取放系统进行抓取;第二传送控制模块102,用于接收一第一指令,所述控制系统启动一第二传送带之所述第三位置旁一第二升降台,将所述电子设备载盘放置于一第四位置,所述电子设备载盘由所述取放系统从一机柜测试系统抽出,并放置于所述第三位置处;以及第三传送控制模块103,用于接收一第二指令,所述控制系统启动一第三传送带之第五位置旁一第三升降台,将所述电子设备载盘放置于一第六位置,所述电子设备载盘由所述取放系统从一机柜测试系统抽出,并放置于所述第五位置处。
由于本实施例提供的电子设备传送控制装置与上述实施例中的电子设备传送控制方法是相对应的,其所要解决的技术问题和所采取的技术方案原理是一致,故重复之处不做赘述。
根据本发明的另一方面,在实际应用中,电子设备自动测试过程可以由一PLC(Programmable Logic Controller)控制器来进行控制,故基于上述实施例提供的电子设备传送控制方法,可以将其实现过程以处理器可执行指令的形式写入PLC控制器中的存储器中,进而由PLC控制器来实现本发明提供的方法。
具体地,见图,提供了一种PLC控制器11,包括:一存储器111,用于储存处理器可执行指令;一处理器112,配置为执行以下处理器可执行指令:侦测一电子设备载盘沿一第一传送带至一第一位置时,启动所述第一传送带之所述第一位置旁一第一升降台,将所述电子设备载盘抬升至一第二位置,等待一取放系统进行抓取;或者,接收一第一指令,启动一第二传送带之一第三位置旁一第二升降台,将所述电子设备载盘放置于一第四位置,所述电子设备载盘由所述取放系统从一机柜测试系统抽出,并放置于所述第三位置处,或者,接收一第二指令,启动一第三传送带之一第五位置旁一第三升降台,将所述电子设备载盘放置于一第六位置,所述电子设备载盘由所述取放系统从一机柜测试系统抽出,并放置于所述第五位置处。
在实际应用中,可以将所述PLC控制器与取放系统、机柜测试系统、侦测系统以及传送带上的升降台进行连接,并根据上述实施提供的方案来实现本发明所要达到的目的。
综上所述,本发明通过合理的传送带设计,来对应不同的测试需求,包括待测试的需求传送、测试结果为OK的需求传送及测试结果为NG的需求传送,不同需求传送对应一个传送带进行独立传送,进而保证了整个测试效率的最大化,而且还可以实现对电子设备载盘的自动分类传送,利于现场管理。所以,本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效,而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下,对上述实施例进行修饰或改变。因此,举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变,仍应由本发明的权利要求所涵盖。
Claims (11)
1.一种基于多传送带的电子设备传送控制方法,用于一电子设备自动测试过程中,其特征在于,所述电子设备传送控制方法包括:
侦测一电子设备载盘沿一第一传送带至一第一位置时,一控制系统启动所述第一传送带之所述第一位置旁一第一升降台,将所述电子设备载盘抬升至一第二位置,等待一取放系统进行抓取;
接收一第一指令,所述控制系统启动一第二传送带之一第三位置旁一第二升降台,将所述电子设备载盘放置于一第四位置,所述电子设备载盘由所述取放系统从一机柜测试系统抽出,并放置于所述第三位置处,或者
接收一第二指令,所述控制系统启动一第三传送带之一第五位置旁一第三升降台,将所述电子设备载盘放置于一第六位置,所述电子设备载盘由所述取放系统从一机柜测试系统抽出,并放置于所述第五位置处。
2.根据权利要求1所述的基于多传送带的电子设备传送控制方法,其特征在于:所述第一位置为待测传送带上之升降位。
3.根据权利要求2所述的基于多传送带的电子设备传送控制方法,其特征在于:所述第二位置为待测传送带上之待取位。
4.根据权利要求1所述的基于多传送带的电子设备传送控制方法,其特征在于:所述第一指令为测试OK指令。
5.根据权利要求4所述的基于多传送带的电子设备传送控制方法,其特征在于:所述第三位置为测试OK传送带之待取位。
6.根据权利要求5所述的基于多传送带的电子设备传送控制方法,其特征在于:所述第四位置为测试OK传送带之升降位。
7.根据权利要求1所述的基于多传送带的电子设备传送控制方法,其特征在于:所述第二指令为测试NG指令。
8.根据权利要求7所述的基于多传送带的电子设备传送控制方法,其特征在于:所述第五位置为测试NG传送带之待取位。
9.根据权利要求8所述的基于多传送带的电子设备传送控制方法,其特征在于:所述第六位置为测试NG传送带之升降位。
10.一种基于多传送带的电子设备传送控制装置,应用于一电子设备自动测试过程中,其特征在于,包括:
第一传送控制模块,用于侦测一电子设备载盘沿一第一传送带至一第一位置时,一控制系统启动所述第一传送带之所述第一位置旁一第一升降台,将所述电子设备载盘抬升至一第二位置,等待一取放系统进行抓取;
第二传送控制模块,用于接收一第一指令,所述控制系统启动一第二传送带之一第三位置旁一第二升降台,将所述电子设备载盘放置于一第四位置,所述电子设备载盘由所述取放系统从一机柜测试系统抽出,并放置于所述第三位置处;以及
第三传送控制模块,用于接收一第二指令,所述控制系统启动一第三传送带之一第五位置旁一第三升降台,将所述电子设备载盘放置于一第六位置,所述电子设备载盘由所述取放系统从一机柜测试系统抽出,并放置于所述第五位置处。
11.一种PLC控制器,应用于一电子设备自动测试过程中,其特征在于,包括:
一存储器,用于储存处理器可执行指令;
一处理器,配置为执行以下处理器可执行指令:侦测一电子设备载盘沿一第一传送带至一第一位置时,启动所述第一传送带之所述第一位置旁一第一升降台,将所述电子设备载盘抬升至一第二位置,等待一取放系统进行抓取;或者,接收一第一指令,启动一第二传送带之一第三位置旁一第二升降台,将所述电子设备载盘放置于一第四位置,所述电子设备载盘由所述取放系统从一机柜测试系统抽出,并放置于所述第三位置处,或者,接收一第二指令,启动一第三传送带之一第五位置旁一第三升降台,将所述电子设备载盘放置于一第六位置,所述电子设备载盘由所述取放系统从一机柜测试系统抽出,并放置于所述第五位置处。
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Legal Events
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---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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