CN106597705A - 液晶面板及其通电检测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种液晶面板的通电检测装置，液晶面板包括：对盒设置的彩膜基板和阵列基板，彩膜基板和阵列基板包括显示区以及位于显示区之外且包围显示区的非显示区，通电检测装置包括：第一检测垫、第二检测垫以及导电件，第一检测垫设置于彩膜基板的非显示区，第二检测垫设置于阵列基板的非显示区，导电件夹设于彩膜基板和阵列基板之间且与第一检测垫和第二检测垫分别接触。本发明还公开一种具有该通电检测装置的液晶面板。本发明通过设置通电检测装置能够实时监测电路回路中电流变化，从而可以判断阵列基板是否加上电压。这样在液晶配向时可及时获取阵列基板的电压状态，从而避免液晶配向紊乱而产生的液晶面板显示质量差等问题。

Description

液晶面板及其通电检测装置
技术领域
本发明属于液晶显示技术领域，具体地讲，涉及一种液晶面板及其通电检测装置。
背景技术
随着光电与半导体技术的演进，也带动了平板显示器(Flat Panel Display)的蓬勃发展，而在诸多平板显示器中，液晶显示器(Liquid Crystal Display，简称LCD)因具有高空间利用效率、低消耗功率、无辐射以及低电磁干扰等诸多优越特性，已被应用于生产生活的各个方面。
液晶显示器通常包括相对设置的液晶面板和背光模块，其中由于液晶面板无法发光，因此需要背光模块向液晶面板提供均匀的光线，以使液晶面板显示影像。液晶面板通常包括对盒组装的彩膜基板(CF基板)和阵列基板(Array基板)以及填充到二者之间的液晶。在液晶面板的液晶配向制程中，对彩膜基板和阵列基板加电压，液晶分子在电场作用下有序倾倒，保持电压不变，同时利用紫外光照射液晶，使液晶中添加的化学单体聚合，从而固定液晶分子，使其与基板形成预定倾角。
在现有技术中，对彩膜基板和阵列基板加电压的方式为：利用顶针(pin)与彩膜基板接触，彩膜基板通过导电件(诸如金球(Au Ball))与阵列基板连通，电流通过导电件导通到阵列基板上。然而在实际的制程中，由于制程误差，例如受金球位置精度影响、彩膜基板与阵列基板对盒不良，会导致金球压缩率偏小，导致电流导通不良。如无通电检测装置，则无法判断阵列基板是否加上电压。这样会导致液晶配向紊乱，从而产生液晶面板显示质量差等问题。
发明内容
为了解决上述技术问题，本发明的目的在于提供一种能够实时判断阵列基板的电压状态的液晶面板及其通电检测装置。
根据本发明的一方面，提供了一种液晶面板的通电检测装置，所述液晶面板包括：对盒设置的彩膜基板和阵列基板，所述彩膜基板和所述阵列基板包括显示区以及位于所述显示区之外且包围所述显示区的非显示区，所述通电检测装置包括：第一检测垫、第二检测垫以及导电件，所述第一检测垫设置于所述彩膜基板的非显示区，所述第二检测垫设置于所述阵列基板的非显示区，所述导电件夹设于所述彩膜基板和所述阵列基板之间且与所述第一检测垫和所述第二检测垫分别接触。
进一步地，在所述彩膜基板的显示区的相对两侧各设置至少一个所述第一检测垫，在所述阵列基板的显示区的相对两侧各设置至少一个所述第二检测垫，在所述阵列基板的显示区的相对两侧的所述第二检测垫通过设置于所述阵列基板的非显示区的金属线连通，位于所述显示区同一侧的彼此相对的所述第一检测垫和所述第二检测垫之间夹设所述导电件。
进一步地，在所述彩膜基板的显示区的一侧设置至少两个所述第一检测垫，在所述阵列基板的显示区的一侧各设置至少两个所述第二检测垫，所述第二检测垫之间通过设置于所述阵列基板的非显示区的金属线连通，所述第一检测垫与所述第二检测垫位于所述显示区的同一侧且一一彼此相对，彼此相对的所述第一检测垫和所述第二检测垫之间夹设所述导电件。
进一步地，所述金属线被设置为多重弯折形状，以增加所述金属线的电阻。
进一步地，所述导电件为金球或含有金球的胶材。
进一步地，所述第一检测垫的制作材料与所述彩膜基板的公共电极的制作材料相同。
进一步地，所述第一检测垫通过切割所述彩膜基板的位于非显示区的公共电极的一部分形成。
进一步地，所述第二检测垫采用金属材料或者透明的导电材料制成。
根据本发明的另一方面，还提供了一种液晶面板，其包括上述的通电检测装置。
进一步地，当对液晶面板进行通电检测时，通过检测由所述第一检测垫、所述第二检测垫和所述导电件构成的回路中的电流值来确定所述液晶面板通电是否正常。
本发明的有益效果：本发明通过设置通电检测装置，能够实时监测电路回路中电流变化，从而可以判断阵列基板是否加上电压。这样在液晶配向时可及时获取阵列基板的电压状态，从而避免液晶配向紊乱而产生的液晶面板显示质量差等问题。
附图说明
通过结合附图进行的以下描述，本发明的实施例的上述和其它方面、特点和优点将变得更加清楚，附图中：
图1是根据本发明的实施例的彩膜基板的平面图；
图2是根据本发明的实施例的阵列基板的平面图；
图3根据本发明的实施例的液晶面板的结构示意图；
图4是根据本发明的另一实施例的彩膜基板的平面图；
图5是根据本发明的另一实施例的阵列基板的平面图。
具体实施方式
以下，将参照附图来详细描述本发明的实施例。然而，可以以许多不同的形式来实施本发明，并且本发明不应该被解释为限制于这里阐述的具体实施例。相反，提供这些实施例是为了解释本发明的原理及其实际应用，从而使本领域的其他技术人员能够理解本发明的各种实施例和适合于特定预期应用的各种修改。
在附图中，为了清楚器件，夸大了层和区域的厚度。相同的标号在附图中始终表示相同的元件。
图1是根据本发明的实施例的彩膜基板的平面图。
参照图1，根据本发明的实施例的彩膜基板100包括：第一显示区110、第一非显示区120以及公共电极130，其中第一非显示区120位于第一显示区110之外，第一非显示区120包围第一显示区110且与第一显示区110衔接，公共电极130位于第一显示区110和第一非显示区120中。第一显示区110中一般具有黑色矩阵(未示出)、多个彩色光阻块(未示出)以及其他合适的元件。
图2是根据本发明的实施例的阵列基板的平面图。
参照图2，根据本发明的实施例的阵列基板200包括：第二显示区210、第二非显示区220，其中第二非显示区220位于第二显示区210之外，第二非显示区220包围第二显示区210且与第二显示区210衔接。第二显示区210中一般具有阵列排布的多个薄膜晶体管(TFT)以及其他合适的元件。
此外，根据本发明的实施例的阵列基板200还包括：通电垫230，该通电垫230设置于第二非显示区220中，且该通电垫与阵列基板200的在配向制程中用于接收由彩膜基板100流入的电流的导电元件(诸如阵列基板200上设置的公共电极或者像素电极)(未示出)连接。
图3根据本发明的实施例的液晶面板的结构示意图。
参照图1至图3，根据本发明的实施例的液晶面板包括：彩膜基板(或称CF基板)100、阵列基板(或称Array基板)200、通电检测装置300以及液晶层400。需要说明的是，第二显示区210和第一显示区110正对且具有相同的区域面积。
彩膜基板100和阵列基板200对盒设置。液晶层400设置于彩膜基板100和阵列基板200之间，液晶层400中包含有若干液晶分子。
通电检测装置300包括：第一检测垫310、第二检测垫320以及导电件330，第一检测垫310设置于彩膜基板100的第一非显示区120，第二检测垫320设置于阵列基板200的第二非显示区220，导电件330夹设于彩膜基板100和阵列基板200之间且与第一检测垫310和第二检测垫320分别接触。
具体地，参照图1，在第一显示区110的相对两侧分别设置两个第一检测垫310，即共四个第一检测垫310。其中两个位于第一显示区110的相对两侧的第一检测垫310位于第一非显示区120的上方，另外两个位于第一显示区110的相对两侧的第一检测垫310位于第一非显示区120的下方。需要说明的是，本发明并不对第一检测垫310的数量以及设置位置作具体限定。
在本实施例中，第一检测垫310的形成方式可例如是：采用激光将位于第一非显示区120的公共电极130的一部分进行切割，以使形成的第一检测垫310与其余的公共电极130彼此独立，但本发明并不限制于此。
参照图2，在第二显示区210的相对两侧分别设置两个第二检测垫320，即共四个第二检测垫320，其中每个第二检测垫320一侧设置有一个通电垫230。这里，两个位于第二显示区210的相对两侧的第二检测垫320位于第二非显示区220的上方，另外两个位于第二显示区210的相对两侧的第二检测垫320位于第二非显示区220的下方。需要说明的是，本发明并不对第二检测垫320的数量以及设置位置作具体限定。在彩膜基板100和阵列基板200对盒组装之后，位于第一显示区110(或第二显示区210)同一侧的第一检测垫310和第二检测垫320一一相对对应。
需要说明的是，可以利用金属材料同时形成第二检测垫320和薄膜晶体管的栅极或者源漏极，也可以利用透明导电材料(诸如ITO)同时形成第二检测垫320和连接薄膜晶体管的漏极的像素电极，但本发明并不限制于此。
进一步地，位于第二非显示区220的上方的两个第二检测垫320通过金属线340a连通，而位于第二非显示区220的下方的两个第二检测垫320通过金属线340b连通，其中金属线340a和金属线340b的电阻值为已知。
继续参照图2，在每个第二检测垫320上均设置一个导电件330。在本实施例中，导电件330优选为金球(Au Ball)，但本发明并不限制于此，例如导电件330也可以为含有金球的胶材或者其他合适的导电元件。当彩膜基板100和阵列基板200对盒设置之后，每个第二检测垫320其上设置的导电件330夹设于彩膜基板100和阵列基板200之间，并且每个第二检测垫320通过其上的导电件330与对应的第一检测垫310电导通。
参照图3，当对液晶面板进行通电检测时，通电针(Pin)P抵接接触左侧的第一检测垫310，左侧的第一检测垫310通过左侧的导电件330将电流导通至左侧的第二检测垫320，左侧的第二检测垫320通过其连接的金属线340a或金属线340b将电流导通至右侧的第二检测垫320，右侧的第二检测垫320通过右侧的导电件330而将电流导通至右侧的第一检测垫310，从而组成一个电路回路。由于所加电压值以及金属线340a或金属线340b的电阻值为已知，因此通过检测电路回路中的电流值是否稳定来判断导电件330与第一检测垫310和第二检测垫320的接触是否良好。
图4是根据本发明的另一实施例的彩膜基板的平面图。
参照图4，在根据本发明的另一实施例的彩膜基板100中，在第一显示区110的同一侧的上方和下方分别设置两个第一检测垫310，即共八个第一检测垫310。需要说明的是，本发明并不对第一检测垫310的数量以及设置位置作具体限定。
图5是根据本发明的另一实施例的阵列基板的平面图。
参照图5，在根据本发明的另一实施例的阵列基板200中，在第二显示区210的同一侧的上方和下方分别设置两个第二检测垫320，即共八个第二检测垫320。需要说明的是，本发明并不对第二检测垫320的数量以及设置位置作具体限定。在彩膜基板100和阵列基板200对盒组装之后，位于第一显示区110(或第二显示区210)同一侧的第一检测垫310和第二检测垫320一一相对对应。
进一步地，位于第二显示区210的左侧上方的两个第二检测垫320通过金属线340c连通，位于第二显示区210的左侧下方的两个第二检测垫320通过金属线340d连通，位于第二显示区210的右侧上方的两个第二检测垫320通过金属线340e连通，位于第二显示区210的右侧下方的两个第二检测垫320通过金属线340f连通，其中金属线340c、金属线340d、金属线340e和金属线340f的电阻值为已知。
在本实施例中，优选地，为了增加金属线340c、金属线340d、金属线340e和金属线340f的电阻值，金属线340c、金属线340d、金属线340e和金属线340f可被设置为弯折状态，但本发明并不限制于此。
当对液晶面板进行通电检测时，通电针(Pin)P抵接接触第一显示区110左侧上方的第一检测垫310，左侧上方的第一检测垫310通过第二显示区210左侧上方的导电件330将电流导通至第二显示区210左侧上方的第二检测垫320，第二显示区210左侧上方的第二检测垫320通过其连接的金属线340c将电流导通至第二显示区210左侧上方的另一第二检测垫320，第二显示区210左侧上方的另一第二检测垫320通过第二显示区210左侧上方的导电件330而将电流导通至第一显示区110左侧上方的另一第一检测垫310，从而组成一个电路回路。由于所加电压值以及金属线340c的电阻值为已知，因此通过检测电路回路中的电流值是否稳定来判断导电件330与第一检测垫310和第二检测垫320的接触是否良好。
在本发明的另一实施例中，通过在液晶面板的四个角落分别设置通电检测装置300，能够更加精确的检测液晶面板的彩膜基板和阵列基板的对盒是否出现偏移。
综上，通过设置通电检测装置，能够实时监测电路回路中电流变化，从而可以判断阵列基板是否加上电压。这样在液晶配向时可及时获取阵列基板的电压状态，从而避免液晶配向紊乱而产生的液晶面板显示质量差等问题。
虽然已经参照特定实施例示出并描述了本发明，但是本领域的技术人员将理解：在不脱离由权利要求及其等同物限定的本发明的精神和范围的情况下，可在此进行形式和细节上的各种变化。

Claims (10)

1.一种液晶面板的通电检测装置，所述液晶面板包括：对盒设置的彩膜基板和阵列基板，所述彩膜基板和所述阵列基板包括显示区以及位于所述显示区之外且包围所述显示区的非显示区，其特征在于，所述通电检测装置包括：第一检测垫、第二检测垫以及导电件，所述第一检测垫设置于所述彩膜基板的非显示区，所述第二检测垫设置于所述阵列基板的非显示区，所述导电件夹设于所述彩膜基板和所述阵列基板之间且与所述第一检测垫和所述第二检测垫分别接触。
2.根据权利要求1所述的通电检测装置，其特征在于，在所述彩膜基板的显示区的相对两侧各设置至少一个所述第一检测垫，在所述阵列基板的显示区的相对两侧各设置至少一个所述第二检测垫，在所述阵列基板的显示区的相对两侧的所述第二检测垫通过设置于所述阵列基板的非显示区的金属线连通，位于所述显示区同一侧的彼此相对的所述第一检测垫和所述第二检测垫之间夹设所述导电件。
3.根据权利要求1所述的通电检测装置，其特征在于，在所述彩膜基板的显示区的一侧设置至少两个所述第一检测垫，在所述阵列基板的显示区的一侧各设置至少两个所述第二检测垫，所述第二检测垫之间通过设置于所述阵列基板的非显示区的金属线连通，所述第一检测垫与所述第二检测垫位于所述显示区的同一侧且一一彼此相对，彼此相对的所述第一检测垫和所述第二检测垫之间夹设所述导电件。
4.根据权利要求3所述的通电检测装置，其特征在于，所述金属线被设置为多重弯折形状，以增加所述金属线的电阻。
5.根据权利要求1至4任一项所述的通电检测装置，其特征在于，所述导电件为金球或含有金球的胶材。
6.根据权利要求1至4任一项所述的通电检测装置，其特征在于，所述第一检测垫的制作材料与所述彩膜基板的公共电极的制作材料相同。
7.根据权利要求6所述的通电检测装置，其特征在于，所述第一检测垫通过切割所述彩膜基板的位于非显示区的公共电极的一部分形成。
8.根据权利要求1至4任一项所述的通电检测装置，其特征在于，所述第二检测垫采用金属材料或者透明的导电材料制成。
9.一种液晶面板，其特征在于，包括权利要求1至8任一项所述的通电检测装置。
10.根据权利要求9所述的液晶面板，其特征在于，当对液晶面板进行通电检测时，通过检测由所述第一检测垫、所述第二检测垫和所述导电件构成的回路中的电流值来确定所述液晶面板通电是否正常。
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