CN106558346A - 一种基于raim构架的固态硬盘寿命计算的方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算的方法及装置。其中，方法包括通过获取RAIM构架中各eMMC芯片的已用寿命计算得到其剩余寿命，进一步确定最小剩余寿命，对RAIM构架中n片eMMC的剩余寿命与最小剩余寿命的乘积取类似均方根平均值，即利用公式来实现对固态硬盘寿命的计算。本申请的技术方案实现了RAIM构架下的固态硬盘寿命的计算，避免了因固态硬盘寿命用尽时写入的数据丢失，一定程度上可保证固态硬盘存储的稳定性。此外，本发明实施例还提供了相应的实现装置，进一步使得所述方法更具有实用性，所述装置具有相应的优点。

Description

一种基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算的方法及装置

技术领域

本发明涉及存储技术领域，特别是涉及一种基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算的方法及装置。

背景技术

随着计算机技术的飞速发展和数字化时代的到来，在日常生活、科学研究以及公司业务中频繁使用数字化和网络化技术，使得数据呈现爆炸式增长，而数据的产生往往是需要承载或记录的，这就迫使存储技术快速发展以满足对数据信息的存储要求。

SSD(Solid State Drives，固态硬盘)，也叫固盘，是用固态电子存储芯片阵列制成的硬盘，由控制单元和存储单元(FLASH芯片、DRAM芯片)组成。固态硬盘的存储介质分为两种，一种是采用闪存(FLASH芯片)作为存储介质，另外一种是采用DRAM作为存储介质。由于其存储和读写速度快、延迟小、启动快、不产生的磁盘碎片、噪音小、不易发生机械故障、工作温度范围宽和抗震动效果极好的优势将逐渐成为主流的存储设备。但是，固盘的存储单元闪存具有擦写次数限制的问题，如何能直观的显示SSD的寿命成为大众的焦点。

EMMC(Embeded MultiMedia Card)为内嵌式存储器标准规格，主要是针对手机和移动嵌入式产品为主。eMMC是一种嵌入式非易失性存储器系统，由闪存和闪存控制器两部分组成，并采用统一闪存接口管理闪存。闪存Flash的制程和技术变化很快，特别是TLC技术制程下降到20nm阶段后，对Flash的管理是个巨大挑战，使用eMMC产品，主芯片厂商和客户就无需关注Flash内部的制成和产品变化，只要通过eMMC的标准接口来管理闪存就可以了。这样可以大大的降低产品开发的难度和加快产品上市时间，保证产品的稳定性和一致性。

对于组成eMMC的Flash，每个芯片都有擦除次数上限，每个芯片的寿命直接决定着SSD的寿命。现有技术中，只存在对单颗eMMC的SSD(普通SSD)寿命的计算方法，而对于基于EMMC的RAIM(Redundant Array of Independent Modules，独立冗余单元阵列模型)构架的SSD寿命计算的方法还没有，而由于基于eMMC的RAIM SSD应用越来越多，所以计算该种构架下SSD的寿命是本领域亟待解决的问题。

发明内容

本发明实施例的目的是提供一种固态硬盘寿命计算的方法及装置，得到基于RAIM构架下的SSD寿命计算的方法。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供以下技术方案：

本发明实施例一方面提供了一种固态硬盘寿命计算的方法，包括：

获取RAIM中各eMMC芯片的已用寿命；

根据所述各eMMC芯片的已用寿命计算各所述芯片的剩余寿命；

在各所述eMMC芯片的所述剩余寿命中确定最小剩余寿命；

利用公式计算固态硬盘的寿命，

式中，H_SSD为所述固态硬盘的寿命，H_i为各所述eMMC芯片的所述剩余寿命，H_Min为所述最小剩余寿命，n为所述eMMC芯片的个数。

优选的，在所述利用公式计算固态硬盘的寿命之后还包括：

确定寿命调整参数C_τ；

根据所述寿命调整参数C_τ得到修正后的公式以用于计算固态硬盘寿命。

优选的，所述确定寿命调整参数C_τ为：

当所述固态硬盘的寿命H_SSD为100％时，利用公式确定寿命调整参数C_τ。

优选的，在所述计算固态硬盘的寿命之后，还包括：

将计算得到的所述固态硬盘的寿命进行显示。

优选的，在将计算得到的所述固态硬盘的寿命进行显示之后还包括：

当所述固态硬盘的寿命值不大于5％时，向用户进行报警提示。

本发明实施例另一方面提供了一种固态硬盘寿命计算的装置，包括：

获取模块，用于获取RAIM中各eMMC芯片的已用寿命；

计算剩余寿命模块，用于根据所述各eMMC芯片的已用寿命计算各所述芯片的剩余寿命；

确定最小寿命模块，在各所述eMMC芯片的所述剩余寿命中确定最小剩余寿命；

寿命计算模块，用于利用公式计算固态硬盘的寿命，

式中，H_SSD为所述固态硬盘的寿命，H_i为各所述eMMC芯片的所述剩余寿命，H_Min为所述最小剩余寿命，n为所述eMMC芯片的个数。

优选的，还包括：

第二计算模块，用于根据修正后的公式对所述固态硬盘的寿命进计算。

优选的，所述第二计算模块包括：

参数计算单元，用于确定寿命调整参数C_τ；

计算寿命单元，用于根据所述寿命调整参数C_τ得到修正后的公式以用于计算固态硬盘寿命。

优选的，还包括：

显示模块，用于将计算得到的所述固态硬盘的寿命进行显示。

优选的，还包括：

报警模块，用于当所述固态硬盘的寿命值不大于5％时，向用户进行报警提示。

本发明实施例提供了一种基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算的方法，通过获取RAIM构架中各eMMC芯片的已用寿命计算得到其剩余寿命，进一步确定最小剩余寿命，对RAIM构架中n片eMMC的剩余寿命与最小剩余寿命的乘积取类似均方根平均值，即利用公式来实现对固态硬盘寿命的计算。

本申请的技术方案实现了RAIM构架下的固态硬盘寿命的计算，通过计算得到固态硬盘的寿命值，可实时监测当前固态硬盘的寿命使用状况，在固态硬盘的寿命即将用尽时，就不再写入任何数据并及时的将之前的写入的数据迁移，避免了因固态硬盘寿命用尽时写入的数据和存储的数据丢失，一定程度上可保证固态硬盘存储数据的稳定性。此外，本发明实施例还针对一种基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算的方法提供了相应的实现装置，进一步使得所述方法更具有实用性，所述装置具有相应的优点。

附图说明

为了更清楚的说明本发明实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一个示例性应用场景的框架示意图；

图2为本发明实施例提供的一种基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算方法的流程示意图；

图3为本发明实施例提供的另一种基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算方法的流程示意图；

图4为本发明实施例提供的理想情况下SSD寿命的仿真图；

图5为本发明实施例提供的极限情况下的SSD寿命的仿真图；

图6为本发明实施例提供的eMMC的阵列图；

图7为本发明实施例提供的一种基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算装置的结构图；

图8为本发明实施例提供的另一种基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算装置的结构图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”“第四”等是用于区别不同的对象，而不是用于描述特定的顺序。此外术语“包括”和“具有”以及他们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可包括没有列出的步骤或单元。

本申请的发明人经过研究发现，现有技术中关于SSD寿命计算方法的都是针对于单颗eMMC的SSD，即普通的SSD。而基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算的方法并没有，而及时获取SSD寿命对于数据存储的稳定性是必要的。鉴于此，本申请通过获取RAIM构架中各eMMC芯片的已用寿命计算得到其剩余寿命，进一步确定最小剩余寿命，对RAIM构架中n片eMMC的剩余寿命与最小剩余寿命的乘积取类似均方根平均值来计算固态硬盘的寿命。从而实现了RAIM构架下的固态硬盘寿命的计算，避免了因固态硬盘寿命用尽时写入的数据丢失，一定程度上可保证固态硬盘存储的稳定性。

基于上述本发明实施例的技术方案，本申请实施例的应用场景之一，可以通过客户端101与用户之间的交互来实现。如图1所示，在这一应用场景中，客户端101使用SSD作为存储设备，用户通过客户端101将数据写入SSD。当用户有大量数据要写入SSD时，必须经过对SSD进行多次擦除然后在写入，但是SSD的闪存的擦除次数有限，当其达到上限后，该SSD的寿命就结束。为了保证用户写入数据的稳定性，需实时监测当前SSD的寿命状况。客户端通过获取RAIM构架中各eMMC芯片的已用寿命计算得到其剩余寿命，进一步确定最小剩余寿命，对RAIM构架中n片eMMC的剩余寿命与最小剩余寿命的乘积取类似均方根平均值来实现对固态硬盘寿命的计算。

需要注意的是，上述应用场景仅是为了便于理解本申请的思想和原理而示出，本申请的实施方式在此方面不受任何限制。相反，本申请的实施方式可以应用于适用的任何场景。

在介绍了本发明实施例的技术方案后，下面详细的说明本申请的各种非限制性实施方式。

实施例一：

首先参见图2，图2为本发明实施例提供的一种基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算方法的流程示意图，本发明实施例可包括以下内容：

S201：获取RAIM中各eMMC芯片的已用寿命。

可通过设置传感器读取各eMMC芯片的已用寿命，优选的，可将各eMMC芯片的已用寿命以表结构的形式记录并实时更新，当然，也可使用图片、文档、网页等形式记录或保存，可根据实际情况做选择，本实施例并不对此做限定。

eMMC的已用寿命用F表示，优选的，可通过用数值Flag来表示当前eMMC已用寿命，已用寿命与数值的对应关系如表1所示.

表1

其中：Flag表示Emmc读取的表示寿命的数值，F则是其对应的已用寿命；

0：记为null，代表该标志未定义；

1：记为0％，代表eMMC寿命已损耗0％-10％；

2：记为10％，代表eMMC寿命已损耗10％-20％；

3-A依次类推；

B：记为100％，代表eMMC已完全损耗完，不可再用。

S202：根据所述各eMMC芯片的已用寿命计算各所述芯片的剩余寿命。

通过S201获取的已用寿命H，可通过H＝100％-F计算得到，

其中：F为0％-100％的任意百分值。

相应的，各eMMC芯片已用寿命可以表结构的形式记录并实时更新，当然，也可使用图片、文档、网页等形式记录或保存，可根据实际情况做选择，本实施例并不对此做限定。

S203：在各所述eMMC芯片的所述剩余寿命中确定最小剩余寿命。

因为SSD寿命决定于每一个eMMC芯片的寿命，当其中一个芯片的寿命终结时，该SSD的寿命也就终结，可见，eMMC中寿命最小的对SSD的寿命影响最大。故在对RAIM构架下n个eMMC芯片用算术平均值求SSD的寿命时，应该考虑通过各所述eMMC芯片的所述剩余寿命中确定最小剩余寿命，即：

S204：利用公式计算固态硬盘的寿命，

式中，H_SSD为所述固态硬盘的寿命，H_i为各所述eMMC芯片的所述剩余寿命，H_Min为所述最小剩余寿命，n为所述eMMC芯片的个数。

对于求平均值，例如算术平均值、均方根平均值以及加权平均值，可结合matlab程序进行验证并确定，经测试发现，采用算术平均值求平均值比较简单，而且比较精确一些。

需要说明的是，S202根据所述各eMMC芯片的已用寿命计算各所述芯片的剩余寿命可不用刻意去求其具体的值，对于H_i可直接用100％-F_i代替；相应的S203在各所述eMMC芯片的所述剩余寿命中确定最小剩余寿命H_Min即为已用寿命中最大的那块eMMC芯片。所以，对应的，SSD寿命计算公式为：

由上可知，本发明实施例通过获取RAIM构架中各eMMC芯片的已用寿命计算得到其剩余寿命，进一步确定最小剩余寿命，对RAIM构架中n片eMMC的剩余寿命与最小剩余寿命的乘积取类似均方根平均值，实现了RAIM构架下的固态硬盘寿命的计算，通过计算得到固态硬盘的寿命值，可实时监测当前固态硬盘的寿命使用健康状况，在固态硬盘的寿命即将用尽时，就不在写入任何数据并及时的将之前的写入的数据迁移，避免了因固态硬盘寿命用尽时写入的数据和存储的数据丢失，一定程度上可保证固态硬盘存储数据的稳定性。

考虑在实际操作过程中，为了更方便的使用该方法，以及考虑到寿命计算结果的进一步精确，基于上述实施例做了部分改进。

实施例二：

参见图3，图3为本发明实施例提供的另一种基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算方法的流程示意图，本发明实施例例如可应用于存储阵列包含SSD的服务器，具体的可包括以下内容：

S301-S304：具体的与实施例一的S201-S204所描述一致，此处不再赘述。

S305：计算寿命调整参数C_τ。

经过对上述公式的仿真，算术平均的实际曲线初始寿命不为100％，并且曲线弧度大，并不能很好地表达SSD寿命。但理论上，SSD初始的寿命为100％，故应该存在一个参数，对上述计算公式进行调整。

S306：根据所述寿命调整参数C_τ得到修正后的公式。

假设存在常数Cτ，对于上述SSD寿命计算公式，可实现其初始寿命为100％，故求该常数过程如下:

H_SSD＝100％；

Cτ＝C；

得到修正后的公式为：

(修正公式)

需要说明的是，理论情况下，SSD寿命与eMMC数据写入量反比例函数关系，随着数据写入量的增多，SSD寿命逐步减少：

H_SSD＝100％-T/K(理想公式)

式中，K是SSD总共可写入数据量，T是SSD已经写入数据的量。

由上所述，关于SSD寿命计算公式有理想公式，一般公式以及修正公式，对于三者关于计算寿命的准确度，可通过MATLAB软件设计程序进行仿真来验证。

假设有7片eMMC，运用软件取eMMC磨损值F(％)共Time＝11次，当然，上述eMMC片数和磨损值皆是为下面举例验证而假设，实际实现过程中，并不受限于此。

根据公式和数据编写matlab程序，可采用在两种情况来模拟理想寿命、简单寿命计算和修正后的寿命计算的仿真结果，如图4和图5所示，曲线a为利用一般公式编写程序模拟出的SSD寿命；曲线b为利用修正公式编写程序模拟出的SSD寿命；曲线c为利用理想公式编写程序模拟出的SSD寿命，图中X轴假定为参看SSD寿命的次序，Y轴表示SSD剩余寿命，具体验证过程如下：

如图4所示为理想情况下的SSD寿命：

理想情况下，SSD中的eMMC在每次相同写入量后磨损程度相同，在此设每次取值时磨损值F以8.2％递增；且eMMC3首次磨损程度最大，故其磨损值首先达到极限100％，磨损数据可如表2所示。

表2 单位：％

根据S201中对F的定义，将上述表中数值对照S201表F值进行标准化，结果如表3所示。

表3 单位：％

如图5所示为极限情况下的SSD寿命：

极限情况下，SSD中的eMMC在同一时间既有轻微磨损的(如eMMC0)又有磨损速度快的(如eMMC3)，且其磨损值F随取值次数变化无规律可循，磨损数据可如表4所示。

表4 单位：％

综上所述，由图4和图5可知：

无论理想情况还是极限情况，实际曲线a和理想曲线c之间差距较大；

理想情况下，修正曲线b则很好地贴近了理想曲线c；

极限情况下，虽然修正曲线b有一定程度的波动，但仍是在理想曲线c周围小范围变化。

鉴于此，经过调整常数修正过的修正曲线直观的显示了SSD的寿命变化，可达到客观表达SSD寿命的要求，同时也可满足SSD生产厂商和SSD用户的日常需求。

S307：将计算得到的所述固态硬盘的寿命进行显示。

对得到的寿命值进行显示，可通过液晶屏进行显示，也可语音进行显示，当然，并不限于这两种方法。

可以显示具体的值，如SSD寿命为58％，也可显示与数值代表文字提示信息或语音提示信息。优选的，采用文字提示信息可是使用户更直观的得到当前SSD寿命状况，有更好的用户体验。例如，提示信息可为优、良好、较好、一般、差、寿命即将用尽以及寿命已经用尽等等，当然，实际操作中，可采用其他提示信息。

可根据计算得到的所述寿命值所在的预设范围匹配与所述预设范围匹配相对应的文字提示信息或语音提示信息，将所述提示信息进行显示。例如，与上述例子提示信息对应的预设范围可为100％-85％、85％-60％、60％-40％、40％-15％、15％-5％、5％-1％或1％-0％。

举例来说，当检测到当前寿命为48％，经过判断，在预设范围60％-40％，说明该SSD的寿命用了将近一半，故提示信息可为较好。

S308：当检测到当前固态硬盘的寿命值不大于5％时，向用户进行报警提示。

对于当前固态硬盘的寿命值不大于5％时，即该SSD的寿命处于即将用尽的时候，可进行蜂鸣器报警提示或设置报警灯进行提示，提示用户注意替换SSD或者不再写入数据或者转移数据。当然，进行提示的方式有很多，可以采用任何一种可以起到提示作用的方法都可以采用，本实施例并不做任何限定。

需要说明的是，S307与S308的顺序可以互换，也可以同时执行，本实施例并不做任何限定。

由上可知，本发明实施例在实施例一的基础，通过对SSD寿命进行初始化得到寿命调整参数，对寿命计算公式进行修正，更加准确的计算RAIM构架下的固态硬盘的寿命；此外，还提供将计算得到的寿命进行显示，让用户更直观的获取当前SSD的寿命健康状况；进一步的，当当前SSD的寿命不足5％时进行提示，用户可以更直观进行预判断，避免用户忘记检查当前SSD寿命健康状况时写入数据，进一步的保证固态硬盘存储数据的稳定性。

本发明实施例还针对基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算的方法提供了相应的实现装置，进一步使得所述方法更具有实用性。下面对本发明实施例提供的基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算的装置进行介绍，下文描述的基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算的装置与上文描述的基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算的方法可相互对应参照。

针对实施例一和实施例二提供的SSD寿命计算方法，本申请还提供了一种可延长SSD寿命的方法，以图6中的eMMC阵列为例介绍，具体方法为：

对第0列中的eMMC0-eMMC9这10片eMMC依次写入预先设定的Stripe size(条带宽度)的数据，循环N次，直至每片eMMC按顺序写满Block size，Block size＝N*Stripe size；

对第1、2……n列数据按照第0列写入数据的方法依次进行写入数据，至第n列写满Block size的数据，返回第0列接着写，直至待写入数据写完。

例如，预先设定Stripe size为16k，每片eMMC的Block size为512k，那么写入的时候为从eMMC0到eMMC9单次依次写入16k的数据，写完一次，若还有待写入的数据，就接着开始下一轮写入。这样循环32次直至该列的每一片eMMC都写满512K，换到下一列写入数据。

需要说明的是，上述从第0列的第1片开始写入数据只是作为示例为了本领域的技术人员更好的理解本方案，实际操作中，只要从当前未写满的eMMC开始写入，按照一列单次写入，循环写满每片eMMC，然后按照上述方法在写入下一列，即满足均衡写入即可。

该方法基于磨损均衡算法，对于单次写入每片eMMC的数据量进行灵活修改，以避开运行的busy时间，提高SSD的读写速度。在写入数据时，遵循均匀写入的原则，一定程度上避免了各eMMC磨损程度的参差不齐，保证了各eMMC芯片的磨损均衡性，从而避免因单片eMMC磨损太重而导致整个SSD寿命终结，有效的延长了SSD的寿命。

实施例三：

参见图7，图7为本发明实施例提供的一种基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算装置的结构图，该装置可包括：

获取模块701，用于获取RAIM中各eMMC芯片的已用寿命。

计算剩余寿命模块702，用于根据所述各eMMC芯片的已用寿命计算各所述芯片的剩余寿命。

确定最小寿命模块703，在各所述eMMC芯片的所述剩余寿命中确定最小剩余寿命。

寿命计算模块704，用于利用公式计算固态硬盘的寿命，

式中，HSSD为所述固态硬盘的寿命，H_i为各所述eMMC芯片的所述剩余寿命，H_Min为所述最小剩余寿命，n为所述eMMC芯片的个数。

本发明实施例所述固态硬盘数据迁移装置的各功能模块的功能可根据上述方法实施例中的方法具体实现，其具体实现过程可以参照上述方法实施例的相关描述，此处不再赘述。

由上可知，本发明实施例通过获取RAIM构架中各eMMC芯片的已用寿命计算得到其剩余寿命，进一步确定最小剩余寿命，对RAIM构架中n片eMMC的剩余寿命与最小剩余寿命的乘积取类似均方根平均值，实现了RAIM构架下的固态硬盘寿命的计算，通过计算得到固态硬盘的寿命值，可实时监测当前固态硬盘的寿命使用健康状况，在固态硬盘的寿命即将用尽时，就不在写入任何数据并及时的将之前的写入的数据迁移，避免了因固态硬盘寿命用尽时写入的数据和存储的数据丢失，一定程度上可保证固态硬盘存储数据的稳定性。

实施例四：

此外，在实际操作中，考虑到应用时方便操作以及对寿命计算结果的进一步精确，对上述实施例做了进一步的修改，请参见图8，图8为本发明实施例提供的一种固态硬盘数据迁移装置的结构图。

在实施例三基本功能模块的基础上，还可以包括：

第二计算模块805，用于根据修正后的公式对所述固态硬盘的寿命进计算。

所述第二计算模块805可包括：

参数计算单元8051，用于确定寿命调整参数C_τ；

计算寿命单元8052，用于根据所述寿命调整参数C_τ得到修正后的公式以用于计算固态硬盘寿命。

可选的，在本实施例的一些实施方式中，所述装置例如还可以包括：

显示模块806，用于将计算得到的所述固态硬盘的寿命进行显示。

可选的，在本实施例的另一些实施方式中，所述装置例如还可以包括：

报警模块807，用于当所述固态硬盘的寿命值不大于5％时，向用户进行报警提示。

本发明实施例所述固态硬盘数据迁移装置的各功能模块的功能可根据上述方法实施例中的方法具体实现，其具体实现过程可以参照上述方法实施例的相关描述，此处不再赘述。此外，相同功能模块的说明请参照实施例三，此处不再赘述。

由上可知，本发明实施例在实施例三的基础，通过对SSD寿命进行初始化得到寿命调整参数，对寿命计算公式进行修正，更加准确的计算RAIM构架下的固态硬盘的寿命；此外，还提供将计算得到的寿命进行显示，让用户更直观的获取当前SSD的寿命健康状况；进一步的，当当前SSD的寿命不足5％时进行提示，用户可以更直观进行预判断，避免用户忘记检查当前SSD寿命健康状况时写入数据，进一步的保证固态硬盘存储数据的稳定性。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用于使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。

以上对本发明所提供的一种基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算方法以及装置进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。

Claims (10)

1.一种基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算的方法，其特征在于，包括：

获取RAIM中各eMMC芯片的已用寿命；

根据所述各eMMC芯片的已用寿命计算各所述芯片的剩余寿命；

在各所述eMMC芯片的所述剩余寿命中确定最小剩余寿命；

利用公式计算固态硬盘的寿命，

式中，H_SSD为所述固态硬盘的寿命，H_i为各所述eMMC芯片的所述剩余寿命，H_Min为所述最小剩余寿命，n为所述eMMC芯片的个数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述利用公式计算固态硬盘的寿命之后还包括：

确定寿命调整参数C_τ；

根据所述寿命调整参数C_τ得到修正后的公式以计算固态硬盘寿命。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定寿命调整参数C_τ为：

当所述固态硬盘的寿命H_SSD为100％时，利用公式确定寿命调整参数C_τ。

4.根据权利要求1至3任意一项所述的方法，其特征在于，在所述计算固态硬盘的寿命之后，还包括：

将计算得到的所述固态硬盘的寿命进行显示。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在将计算得到的所述固态硬盘的寿命进行显示之后还包括：

当所述固态硬盘的寿命值不大于5％时，向用户进行报警提示。

6.一种基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算的装置，其特征在于，包括:

获取模块，用于获取RAIM中各eMMC芯片的已用寿命；

计算剩余寿命模块，用于根据所述各eMMC芯片的已用寿命计算各所述芯片的剩余寿命；

确定最小寿命模块，在各所述eMMC芯片的所述剩余寿命中确定最小剩余寿命；

寿命计算模块，用于利用公式计算固态硬盘的寿命，

式中，H_SSD为所述固态硬盘的寿命，H_i为各所述eMMC芯片的所述剩余寿命，H_Min为所述最小剩余寿命，n为所述eMMC芯片的个数。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，还包括：

第二计算模块，用于根据修正后的公式对所述固态硬盘的寿命进计算。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第二计算模块包括：

参数计算单元，用于确定寿命调整参数C_τ；

计算寿命单元，用于根据所述寿命调整参数C_τ得到修正后的公式以用于计算固态硬盘寿命。

9.根据权利要求6至8任意一项所述的装置，其特征在于，还包括：

显示模块，用于将计算得到的所述固态硬盘的寿命进行显示。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，还包括：

报警模块，用于当所述固态硬盘的寿命值不大于5％时，向用户进行报警提示。