CN106556756A - 一种贴片式电容与电阻的多位老化装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种贴片式电容与电阻的多位老化装置，包括由上至下依次层叠的上PCB板、下PCB板与底板，下PCB板与底板粘接固定；上PCB板与下PCB板分别设有一组矩形通孔，上PCB板与下PCB板的矩形通孔一一对应，下PCB板的厚度小于待测电容与电阻的厚度，矩形通孔的尺寸大于待测电容与电阻的尺寸，使待测电容与电阻能够水平掉落在矩形通孔内；上PCB板的每个矩形通孔左侧均印制有上电极引线，上电极引线汇集于上PCB板的引线区；下PCB板的每个矩形通孔沿横向的右侧均印制有下电极引线，下电极引线汇集于下PCB板的引线区；通过在上电极引线和下电极引线施加电压进行老化试验；本发明无需逐一地放置待测电容或者电阻，批量操作、效率高，且结构简单、使用方便。

Description

一种贴片式电容与电阻的多位老化装置
技术领域
本发明涉及电子元件老化试验设备，具体是一种贴片式电容与电阻的多位老化装置。
背景技术
电容与电阻是电子线路中最常用的电子元器件之一，贴片式电容与电阻因具有体积小、使用温度范围宽、寿命长等优点而得到了广泛的应用；器件在出厂前必须进行老化试验，由于贴片式电容与电阻体积小而且没有引线，在老化时必须逐一放置在老化试验夹具中，操作麻烦、效率低下，不能满足大规模生产的需要，因此急需一种适合贴片式电容与电阻老化试验的装置。
发明内容
本发明的目的在于提供一种贴片式电容与电阻的多位老化装置，该老化装置能够大批量地对贴片式电容与电阻进行老化试验，且结构简单、操作方便，效率高。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：
一种贴片式电容与电阻的多位老化装置，包括由上至下依次层叠的上PCB板、下PCB板与底板，下PCB板与底板粘接固定；所述上PCB板与下PCB板分别设有一组矩形通孔，上PCB板与下PCB板的矩形通孔一一对应，下PCB板的厚度小于待测电容与电阻的厚度，矩形通孔的尺寸大于待测电容与电阻的尺寸，使待测电容与电阻能够水平掉落在矩形通孔内；上PCB板的每个矩形通孔左侧均印制有上电极引线，上电极引线汇集于上PCB板的引线区；下PCB板的每个矩形通孔沿横向的右侧均印制有下电极引线，下电极引线汇集于下PCB板的引线区；所述上PCB板、下PCB板与底板的四角分别设有相对应的调节孔，调节孔内设有螺栓，螺栓与调节孔之间留有调节间隙。
进一步的，所述矩形通孔的宽度小于待测电容与电阻的长度，矩形通孔的长度大于待测电容与电阻的长度。
本发明的有益效果是，将待测的电容或者电阻批量地铺在上PCB板，晃动本老化装置，使待测电容或者电阻水平地掉落在矩形通孔内，然后上PCB板向右、下PCB板向左，使两块PCB板水平错开，待测电容或者电阻被卡在交错的矩形通孔间，通过螺栓将此位置的上PCB板与下PCB板固定，然后去除没有掉落在矩形通孔内的电容与电阻；此时，本老化装置的电容或者电阻的两个电极分别与上电极引线及下电极引线相连通，然后通过在上电极引线和下电极引线施加电压以及后续的加温工艺对待测电容或者电阻进行老化试验；本发明无需逐一地放置待测电容或者电阻，批量操作、效率高，且结构简单、使用方便。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明：
图1是本发明的结构示意图；
图2是本发明中下PCB板的示意图；
图3是图1的A-A剖视图；
图4是本发明中调节孔与螺栓的俯视放大示意图；
图5是本发明使用时上PCB板与下PCB板的错位局部放大示意图；
图6是本发明使用时待测贴片电容的放大状态示意图。
具体实施方式
结合图1～3所示，本发明提供一种贴片式电容与电阻的多位老化装置，包括由上至下依次层叠的上PCB板1、下PCB板2与底板3，下PCB板2与底板3粘接固定；上PCB板1设有一组上矩形通孔1a, 下PCB板2设有一组下矩形通孔2a，上矩形通孔1a与下矩形通孔2a一一对应，可以将所述矩形通孔分成若干区域；下PCB板2的厚度小于待测电容与电阻的厚度，矩形通孔的尺寸大于待测电容与电阻的尺寸，使待测电容与电阻能够水平掉落在矩形通孔内；为了使待测电容与电阻更容易地水平掉落在矩形通孔内，优选的，所述矩形通孔的宽度小于待测电容与电阻的长度，矩形通孔的长度大于待测电容与电阻的长度；上PCB板1的每个矩形通孔左侧均印制有上电极引线4，上电极引线4汇集于上PCB板的引线区1b；下PCB板2的每个矩形通孔沿横向的右侧均印制有下电极引线5，下电极引线5汇集于下PCB板的引线区2b；结合图4所示，上PCB板1、下PCB板2与底板3的四角分别设有相对应的调节孔6，调节孔6内设有螺栓7，螺栓7与调节孔6之间留有调节间隙。
结合图5与图6所示，本实施例以电容为例，将待测的电容批量地铺在上PCB板1的顶面，晃动本老化装置，使待测电容8水平地掉落在上矩形通孔1a与下矩形通孔2a内，底板3承载待测电容8；然后上PCB板1向右、下PCB板2向左，使两块PCB板水平错开，待测电容8被卡在交错的两个矩形通孔之间，然后拧紧螺栓7上的螺母，将此位置的上PCB板1与下PCB板2固定，之后去除没有掉落在矩形通孔内的电容；此时，电容8的两个电极分别与上电极引线4及下电极引线5相连通，然后通过在上电极引线4和下电极引线5施加电压以及后续的加温工艺对待测电容或者电阻进行老化试验；下PCB板2的厚度小于待测电容8的厚度，使得待测电容8的右侧电极能够与下电极引线5相连通、左侧电极能够与上电极引线4相连通；本发明无需逐一地放置待测电容或者电阻，批量操作、效率高，且结构简单、使用方便。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制；任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围情况下，都可利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案做出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同替换、等效变化及修饰，均仍属于本发明技术方案保护的范围内。

Claims (2)

1.一种贴片式电容与电阻的多位老化装置，其特征在于，包括由上至下依次层叠的上PCB板、下PCB板与底板，下PCB板与底板粘接固定；所述上PCB板与下PCB板分别设有一组矩形通孔，上PCB板与下PCB板的矩形通孔一一对应，下PCB板的厚度小于待测电容与电阻的厚度，矩形通孔的尺寸大于待测电容与电阻的尺寸，使待测电容与电阻能够水平掉落在矩形通孔内；上PCB板的每个矩形通孔左侧均印制有上电极引线，上电极引线汇集于上PCB板的引线区；下PCB板的每个矩形通孔沿横向的右侧均印制有下电极引线，下电极引线汇集于下PCB板的引线区；所述上PCB板、下PCB板与底板的四角分别设有相对应的调节孔，调节孔内设有螺栓，螺栓与调节孔之间留有调节间隙。
2.根据权利要求1所述的一种贴片式电容与电阻的多位老化装置，其特征在于，所述矩形通孔的宽度小于待测电容与电阻的长度，矩形通孔的长度大于待测电容与电阻的长度。
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