CN106537085B - 用于测量玻璃制品厚度的方法和系统 - Google Patents

用于测量玻璃制品厚度的方法和系统 Download PDF

Info

Publication number
CN106537085B
CN106537085B CN201580040843.7A CN201580040843A CN106537085B CN 106537085 B CN106537085 B CN 106537085B CN 201580040843 A CN201580040843 A CN 201580040843A CN 106537085 B CN106537085 B CN 106537085B
Authority
CN
China
Prior art keywords
light
glass article
edge
intensity
glass
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201580040843.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106537085A (zh
Inventor
C·P·安
S-M·李
J·P·特赖斯
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Corning Inc
Original Assignee
Corning Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Corning Inc filed Critical Corning Inc
Publication of CN106537085A publication Critical patent/CN106537085A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106537085B publication Critical patent/CN106537085B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0616—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0616—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating
    • G01B11/0658—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating with measurement of emissivity or reradiation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/2433—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures for measuring outlines by shadow casting
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02—Testing optical properties
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02—Testing optical properties
    • G01M11/0285—Testing optical properties by measuring material or chromatic transmission properties
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/08—Testing mechanical properties
    • G01M11/081—Testing mechanical properties by using a contact-less detection method, i.e. with a camera
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00—Severing cooled glass
    • C03B33/02—Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor
    • C03B33/023—Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor the sheet or ribbon being in a horizontal position
    • C03B33/037—Controlling or regulating
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00—Severing cooled glass
    • C03B33/07—Cutting armoured, multi-layered, coated or laminated, glass products
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00—Severing cooled glass
    • C03B33/07—Cutting armoured, multi-layered, coated or laminated, glass products
    • C03B33/076—Laminated glass comprising interlayers

Abstract

一种方法，包括将光引入玻璃制品，从而使得所述引入光的至少一部分从所述玻璃制品的边缘出射。检测从所述玻璃制品的边缘出射的所述光。所述出射光的强度分布是所述出射光的与轴向位置相关的强度。确定所述强度分布的第一强度边界以及所述强度分布的第二强度边界。基于所述第一强度边界与所述第二强度边界之间的轴向距离，确定所述玻璃制品的层的厚度。

Description

用于测量玻璃制品厚度的方法和系统
背景技术
本申请要求于2014年6月4日提交的美国申请第62/007,560号的优先权权益，所述美国申请的内容通过引用以其全文结合在此。
1.技术领域
本公开涉及玻璃制品，并且更具体地涉及用于测量玻璃制品厚度的装置和方法。
2.技术背景
可以使用各种不同的工艺来形成玻璃片。可以切断玻璃片以由此分离玻璃窗格。可以进一步(例如，在切割或模制工艺过程中)加工玻璃窗格以形成成形的玻璃制品。
发明内容
本文公开了用于测量玻璃制品的一个或多个层的厚度的方法和系统。
本文公开了用于测量玻璃制品的厚度的方法和系统。
本文公开了一种方法，所述方法包括：将光引入玻璃制品，从而使得所述引入光的至少一部分从所述玻璃制品的边缘出射。检测从所述玻璃制品的所述边缘出射的所述光。所述出射光的强度分布包括所述出射光的与轴向位置相关(as a function of)的强度。确定所述强度分布的第一强度边界以及所述强度分布的第二强度边界。基于所述第一强度边界与所述第二强度边界之间的轴向距离，确定所述玻璃制品的层的厚度。
本文还公开了一种方法，所述方法包括：(a)将光引入玻璃制品；(b)检测从所述玻璃制品的边缘出射的光；以及(c)确定所述出射光的强度分布的强度边界的轴向位置。所述出射光的所述强度分布包括所述出射光的与轴向位置相关的强度。沿着所述玻璃制品的所述边缘在多个不同的横向位置处重复步骤(b)和(c)，以确定与所述不同的横向位置相对应的多个强度边界的轴向位置。基于所述多个强度边界，确定玻璃制品的相邻第一层与第二层之间的层边界。
本文还公开了一种方法，所述方法包括检测从玻璃制品的边缘出射的光。基于所述出射光的第一强度边界与第二强度边界之间的距离，确定所述玻璃制品的层的厚度。
本文还公开了一种系统，所述系统包括：被配置成用于将光引入玻璃制品的光源。光检测器被配置成用于检测从所述玻璃制品的边缘出射的光。所述出射光的强度分布包括所述出射光的与轴向位置相关的强度。处理单元被配置成用于确定所述强度分布的第一强度边界以及所述强度分布的第二强度边界，并且用于基于所述第一强度边界与所述第二强度边界之间的轴向距离确定所述玻璃制品的层的厚度。
附加特征和优点将在以下详细描述中予以阐明，并且将部分地从所述描述中对本领域技术人员而言变得容易明显或通过实践本文所描述的实施例而被认知，包括以下详细说明书、权利要求书以及附图。
应理解的是，前述概括描述和以下详细描述都仅是示例性的，并且旨在为理解权利要求书的本质和特征提供概述或框架。附图被包括以提供进一步的理解并且被结合在本说明书中并构成本说明书的一部分。附图展示了一个或多个实施例，并且与说明书一起用于解释各个实施例的原理和操作。
附图说明
图1是玻璃结构的一个示例性实施例的示意性截面图。
图2是厚度测量系统的一个示例性实施例的正视图。
图3是图2的厚度测量系统的侧视图。
图4是图2至图3的厚度测量系统的框图。
图5是强度图像的一个示例性实施例。
图6是对应于图5的强度图像的强度分布的图形表示。
图7是玻璃制品的一个示例性实施例的每一层的厚度分布的图形表示。
图8是厚度测量系统的另一个示例性实施例的侧视图。
图9是厚度测量系统的另一个示例性实施例的侧视图。
具体实施方式
现将详细参照示例性实施例，所述实施例在附图中展示。只要可能，贯穿附图将使用相同的参考号来指代相同或相似的部分。附图中的部件不一定是按比例的，而是将重点放在说明示例性实施例的原理上。
在各实施例中，玻璃制品至少包括第一层和第二层。例如，第一层包括芯层，并且第二层包括与芯层相邻的一个或多个包层。第一层和/或第二层是包括玻璃、玻璃陶瓷或其组合的玻璃层。在一些实施例中，第一层和/或第二层是透明玻璃层。
在各实施例中，厚度测量系统用于测量玻璃制品的至少一个层的厚度。由光源将光引入玻璃制品中。光传播穿过玻璃制品并且所述光的至少一部分从玻璃制品的边缘出射。由光检测器检测从玻璃制品的边缘出射的光。由处理单元分析所述检测光的强度分布以确定多个强度边界，并且基于多个强度边界确定玻璃制品的至少一个层的厚度。
图1是玻璃结构的一个示例性实施例的示意性截面图。所述玻璃结构包括包含多个玻璃层的层压玻璃结构。玻璃制品包括所述玻璃结构。在一些实施例中，玻璃制品包括包含所述玻璃结构的玻璃片100。因此，玻璃片100包括包含多个玻璃层的层压片。所述层压片可以基本上是如图1所示的平面或非平面。玻璃片100包括布置在第一包层104与第二包层106之间的芯层102。在一些实施例中，第一包层104和第二包层106是如图1所示的外部层。在其他实施例中，第一包层和/或第二包层是布置在芯层与外部层之间的中间层。
芯层102包括第一主表面以及与第一主表面相反的第二主表面。在一些实施例中，第一包层104与芯层102的第一主表面融合。另外地或替代性地，第二包层106与芯层102的第二主表面融合。在这种实施例中，在第一包层104与芯层102之间和/或在第二包层106与芯层102之间的交界面不含任何粘合材料，如，例如，粘合剂、涂层或者添加的或被配置成用于将各包层粘附至芯层的任何非玻璃材料。因此，第一包层104和/或第二包层106与芯层102直接融合或者与芯层102直接相邻。在一些实施例中，玻璃片包括布置在芯层与第一包层之间和/或在芯层与第二包层之间的一个或多个中间层。例如，中间层包括在芯层与包层的交界面处形成的中间玻璃层和/或漫射层(例如，通过将芯层和包层的一个或多个部件扩散至漫射层中)。在一些实施例中，玻璃片100包括玻璃-玻璃压层(例如，原位融合的多层玻璃-玻璃压层)，其中，直接相邻的玻璃层之间的交界面是玻璃-玻璃交界面。
在一些实施例中，芯层102包括第一玻璃组分，并且第一和/或第二包层104和106包括不同于第一玻璃组分的第二玻璃组分。例如，在图1所示的实施例中，芯层102包括第一玻璃组分，并且第一包层104和第二包层106各自包括第二玻璃组分。在其他实施例中，第一包层包括第二玻璃组分，并且第二包层包括不同于第一玻璃组分和/或第二玻璃组分的第三玻璃组分。
在一些实施例中，芯层102的第一玻璃组分的折射率不同于第一包层104和/或第二包层106的第二玻璃组分的折射率。例如，第一玻璃组分的折射率与第二玻璃组分的折射率相差至少约0.001。芯层102与第一包层104和/或第二包层106之间的折射率差异使得玻璃片100充当波导(例如，平面波导)。因此，如本文所述，光可被引入玻璃片100并且从玻璃片的边缘出射。
在一些实施例中，如本文所述，从玻璃片100的边缘出射的光的强度在轴向方向上是不均匀的。例如，随着光传播穿过玻璃片100，光倾向于集中在包括具有较高折射率的玻璃组分的层中。在一些实施例中，第一玻璃组分比第二玻璃组分具有更高的折射率。因此，传播穿过玻璃片100的光倾向于集中在芯层102中，并且如本文所述，从芯层的边缘出射的光的强度高于从第一包层104和/或第二包层106的边缘出射的光的强度。在其他实施例中，第二玻璃组分比第一玻璃组分具有更高的折射率。因此，传播穿过玻璃片的光倾向于集中在第一包层和/或第二包层中，并且从第一包层和/或第二包层的边缘出射的光的强度高于从芯层的边缘出射的光的强度。如本文所述，从芯层、第一包层和/或第二包层的边缘出射的光之间的强度差异可以用于确定所述层的厚度。
在一些实施例中，玻璃片100包括至少约0.05mm、至少约0.1mm、至少约0.2mm或者至少约0.3mm的厚度。另外地或替代性地，玻璃片100包括至多约3mm、至多约2mm、至多约1.5mm、至多约1mm、至多约0.7mm或至多约0.5mm的厚度。在一些实施例中，芯层102的厚度与玻璃片100的厚度之比至少约0.8、至少约0.85、至少约0.9或至少约0.95。在一些实施例中，第二层(例如，第一包层104与第二包层106中的每一层)的厚度从约0.01mm至约0.3mm。
尽管图1中所示的玻璃片100包括三个层，但是本公开包括其他的实施例。在其他实施例中，玻璃片可以包括确定数量的层，如一层、两层、四层或多层。不同的层可以包括相同或不同的玻璃组分。
尽管参照玻璃片100描述了玻璃制品，但是本公开包括其他的实施例。在其他实施例中，玻璃制品包括包含非平面三维形状的成形玻璃制品。例如，可以通过使用合适的再成形工艺使玻璃片(如玻璃片100)成形而形成成形的玻璃制品。基于如在此参照玻璃片100所描述的玻璃制品的边缘处从不同层出射的光的强度差异，可以确定玻璃制品的不同玻璃层的厚度。
使用合适的工艺(如例如熔融拉制、下拉制、槽拉制、上拉制或浮法工艺)可以形成玻璃片100。在一些实施例中，使用熔融拉制工艺形成玻璃片100。例如，使用如美国专利号4,214,886中所描述的配置的溢流分配器形成玻璃片100，所述专利通过引用以其全文结合在此。
图2和图3分别是厚度测量系统200的一个示例性实施例的主视图和侧视图，所述厚度测量系统可以用于测量玻璃制品(如，例如，玻璃片100)的一个或多个层的厚度；并且图4是厚度测量系统200的框图。厚度测量系统200包括被配置成用于将光引入玻璃片的光源210。光传播穿过玻璃片并且所述光的至少一部分从玻璃片的边缘出射。厚度测量系统200包括被配置成用于检测从玻璃片的边缘出射的光以及用于生成所述检测光的强度图像的光检测器220。在一些实施例中，厚度测量系统200包括被配置成用于分析所述检测光的强度图像的处理单元230。例如，如本文所述，处理单元230被配置成用于基于强度图像确定所述检测光的强度分布和/或用于确定强度分布的一个或多个强度边界。
光源210包括合适的光元件，如，例如，激光器、发光二极管(LED)、有机发光二极管(OLED)、荧光灯、白炽灯或其组合。在一些实施例中，光源210发射白光(例如，包括从约390nm至约700nm的波长的光)，所述光源与发射其他波长的光的光源相比，可以帮助降低光源成本。另外地或替代性地，光源210发射非校准或者漫射光，所述光源与发射校准光的光源(例如，激光器)相比，可以帮助降低光源成本。
在图2至图3所示的实施例中，光源210包括细长光条。例如，光条在横向方向上延伸以沿着玻璃片的宽度将光引入玻璃片100。光条可以包括沿着光条的宽度布置的多个光元件。
在一些实施例中，厚度测量系统200包括漫射器240。例如，如图2至图3所示，漫射器240定位在光源210与玻璃片100之间。漫射器240可以与光源210分离或与光源210形成一体。例如，漫射器可以包括定位在光源的前表面处的滤片或透镜。漫射器240被配置成用于对由光源210引入玻璃片100中的光进行漫射。例如，漫射器240包括散射穿过漫射器的光的透镜或滤片。漫射器240包括合适的漫射材料，如，例如，熔融石英磨砂玻璃、全息漫射器材料、光成形漫射器材料、磨砂聚碳酸酯或其组合。漫射器240漫射或散射由光源210发射的光，从而使得引入玻璃片100中的光包括漫射光。以任意角度将漫射光引入玻璃片100。在一些实施例中，以均匀分布的角度将漫射光引入玻璃片100。例如，漫射光的强度在横向方向和/或轴向方向上基本上均匀。将漫射光引入玻璃片100可以增加玻璃片100的各层之间的光跃迁。例如，将漫射光引入玻璃片100可以帮助引导光朝向相邻层之间的交界面(与传播穿过一个层而不接触交界面相反)并且将光集中在具有较高折射率的层内。
光检测器220包括合适的图像传感器，如，例如，半导体电荷耦合器件(CCD)传感器、互补金属氧化物半导体(CMOS)传感器、N型金属氧化物半导体(NMOS)传感器或其组合。在一些实施例中，光检测器220包括包含图像传感器的相机。
在一些实施例中，厚度测量单元200包括光学单元250。例如，如图2至图3所示，光学单元250定位在玻璃片100与光检测器220之间。光学单元250可以与光检测器220分离或者与光检测器220形成一体。例如，厚度测量系统可以包括包含光检测器和光学单元的相机。光学单元250被配置成用于将从玻璃片100的边缘出射的光聚焦到光检测器220上。例如，光学单元250包括定位成用于将从玻璃片100的边缘出射的光聚焦到光检测器220上的一个或多个透镜。
在一些实施例中，厚度测量系统200包括挡光单元260。例如，如图2至图3所示，挡光单元260定位在光源210与光检测器220之间。挡光单元260被配置成用于遮蔽光检测器220免受不是从玻璃片100的边缘出射的环境光。例如，由光源210发射的光的一部分被引导远离玻璃片100，与被引入玻璃片相反。挡光单元260可以帮助吸收或者反射未被引入玻璃片100中的光，从而使得这些光不被光检测器220检测到。在一些实施例中，挡光单元260包括挡光条。例如，挡光条被定位成与玻璃片100的表面相邻并且在横向方向上延伸以沿着玻璃片的宽度阻挡光。在一些实施例中，如图2至图3所示，挡光单元260包括被定位成与玻璃片100的第一表面相邻的第一挡光单元以及被定位成与玻璃片的与第一表面相反的第二表面相邻的第二挡光单元。因此，挡光单元260可以阻挡被引导远离玻璃片100的任一表面的光。在一些实施例中，第一挡光单元和第二挡光单元各自包括挡光条。玻璃片100可以被夹紧在第一挡光单元与第二挡光单元之间，这样可以帮助使玻璃片保持在位，以用于测量玻璃片的一个或多个层的厚度。
在一些实施例中，厚度测量单元包括定位在挡光单元与光检测器之间的一个或多个辅助光源。辅助光源指向玻璃片的表面上靠近出射光的边缘的点。例如，辅助光源朝玻璃片的表面向内成角，并且指向靠近与光检测器相邻的玻璃片的边缘的点。来自辅助光源的光接触玻璃片并发生散射。由光检测器检测到散射光的一部分，这可以帮助提高玻璃片与周围大气(例如，空气)之间的交界面处的对比度。当包层吸收光时(例如，当包层为暗色包层时)，辅助光源可以用来帮助在交界面处形成表面边界。
处理单元230包括合适的处理器，如，例如，通用处理器、数字信号处理器、专用集成电路、现场可编程门阵列、模拟电路、数字电路、服务器处理器或者其组合。处理单元230可以被配置为单个器件或者器件组合，如与网络或者分布式处理相关联。处理单元230被配置成用于实现合适的处理策略，如，例如，多处理、多任务、并行处理、远程处理、集中式处理或者其组合。处理单元230可以响应或者可操作以执行作为软件、硬件、集成电路、固件、微代码或者其组合的一部分存储的指令。例如，处理单元230被配置成用于控制厚度测量系统200的部件(例如，光源210和/或光检测器220)。在一些实施例中，处理单元230包括存储器(例如，ROM和/或RAM)、存储装置(例如，硬盘驱动器、闪存驱动器、CD-ROM和/或DVD)、用户输入装置(例如，键盘、鼠标和/或触摸屏)、输出装置(例如，显示器和/或灯)、输入/输出装置(例如，网卡和/或串行总线)、操作系统(例如，微软Windows操作系统)、应用程序和数据、或者其组合。
引入到玻璃片中的光可以是偏振光(例如，线性偏振光或者圆偏振光)或非偏振光。类似地，由光检测器检测到的光可以是偏振光(例如，线性偏振光或者圆偏振光)或非偏振光。因此，厚度测量系统200可以包括定位成靠近光源和/或光检测器的一个或多个偏振器。
在一些实施例中，光源210如图2至图3所示被定位成与玻璃片100的第一边缘110相邻，以将光引入第一边缘中。所述光传播穿过玻璃片100并且从玻璃片的与第一边缘110相反的第二边缘112出射。光检测器220被定位成与玻璃片100的第二边缘112相邻，以检测从第二边缘出射的光并生成所述检测光的强度图像。如图4所示，处理单元230操作性地耦合至光检测器220，以接收包括检测光的强度图像的图像数据。处理单元230被配置成用于基于图像数据确定检测光的强度分布，并且用于分析所述强度分布以确定所述强度分布的一个或多个强度边界。
在一些实施例中，出射光的强度在轴向方向上变化，所述轴向方向与玻璃片100在玻璃片边缘处的厚度基本平行地延伸。例如，轴向方向基本上垂直于玻璃片的第一主表面和/或第二主表面。因此，在玻璃片是平面的实施例中，轴向方向垂直于玻璃片的平面。图5展示了由光检测器220响应于检测到从玻璃片100的边缘112出射的光而生成的强度图像的一个示例性实施例。轴向方向在图5中由箭头300表示。如图5所示，从芯层102的边缘出射的光的强度大于从第一包层104和第二包层106的边缘出射的光的强度(例如，因为芯层的第一玻璃组分的折射率大于第一包层和第二包层的折射率)。强度差异由对应于第一包层104和第二包层106的相反较暗区域302以及对应于芯层102的相反较亮区域304展示。
玻璃片的波导效应可以被建模以示出光在玻璃片100内的传播。所述模型将不同玻璃层的折射率差异与从不同层的边缘出射的光的所产生的对比度差异进行比较。因此，所述模型用于基于折射率差异确定强度对比度的等级，这可以使能够选择合适的图像传感器来检测对比度差异。
出射光的强度分布包括出射光的与沿玻璃片的边缘的轴向位置相关的强度。图6是对应于图5所示的强度图像的出射光的强度分布的图形表示。在图6所示的实施例中，x轴表示轴向位置，并且y轴表示出射光的强度。基于强度分布可以确定芯层102、第一包层104和/或第二包层106的厚度。
在一些实施例中，确定强度分布的强度边界。例如，处理单元230分析强度分布并确定强度边界。强度边界包括指示具有不同折射率的材料间的边界的检测光的强度变化。例如，强度边界包括在足够小的轴向距离上的足够大的强度变化，用于指示具有不同折射率的材料间的边界。在一些实施例中，强度边界包括指示空气与玻璃材料之间的边界的表面边界。因此，表面边界指示玻璃片100的表面。另外地或替代性地，强度边界包括指示具有不同折射率的材料(例如，第一玻璃组分与第二玻璃组分)之间的边界的中间边界。因此，中间边界指示玻璃片100的相邻层之间的交界面。在图6所示的实施例中，强度边界包括第一表面边界312、第一中间边界314、第二中间边界316以及第二表面边界318。
在一些实施例中，基于强度分布的强度边界确定玻璃片的层的厚度。例如，基于相邻强度边界之间的轴向距离确定玻璃片的层的厚度。在一些实施例中，处理单元230确定直接相邻的强度边界之间的轴向距离并且计算玻璃片的所述层的厚度。在图6所示的实施例中，基于第一表面边界312与第一中间边界314之间的轴向距离，确定第一包层104的厚度。另外地或替代性地，基于第一中间边界314与第二中间边界316之间的轴向距离确定芯层102的厚度。另外地或替代性地，基于第二中间边界316与第二表面边界318之间的轴向距离确定第二包层106的厚度。因此，玻璃片的各层的厚度与对应于所述层的相邻强度边界之间的轴向距离相关(例如，成比例或者相等)。
在一些实施例中，玻璃片包括相邻玻璃层之间的漫射层。因此，强度边界包括在一个玻璃层与漫射层之间的第一漫射边界以及在相邻玻璃层与漫射层之间的第二漫射边界。漫射边界可以具有例如约3μm至约20μm的厚度。在一些实施例中，相邻玻璃层之间的中间边界在第一漫射边界与第二漫射边界之间。因此，漫射层的一部分被认为包括在每个相邻玻璃层中。在其他实施例中，第一漫射边界或第二漫射边界中之一被用作中间边界。因此，漫射层被认为包括在相邻玻璃层之一中。在其他实施例中，第一漫射边界和第二漫射边界各自被用作中间边界。因此，漫射层被认为是布置在相邻玻璃层之间的分离层。例如，可以如本文所述单独地从相邻玻璃层的任一层中确定漫射层的厚度。在各实施例中，即使玻璃组分在相邻玻璃层之间逐渐变化，厚度测量系统可以用于确定不同层(例如，玻璃层和/或漫射层)的厚度。
图5所示的出射光的强度图像以及图6所示的出射光的强度分布对应于沿玻璃片100的第二边缘112的特定横向位置。因此，基于强度分布确定的厚度对应于特定的横向位置。横向位置是在与玻璃片100的第二边缘112基本平行延伸的横向方向上的位置。例如，横向方向基本垂直于轴向方向。
在一些实施例中，确定玻璃片的层的厚度分布。厚度分布包括玻璃片的层的与沿玻璃片的边缘的横向位置相关的厚度。例如，通过在沿玻璃片的边缘的多个不同的横向位置处重复本文所述的工艺(例如，检测从玻璃片的边缘出射的光，确定检测光的强度分布的强度边界，并且基于强度边界确定所述层的厚度)，确定所述层的厚度分布。在一些实施例中，直接相邻的横向位置彼此间隔从约1mm至约10mm的距离。
在一些实施例中，确定多个层各自的厚度分布。例如，图7是玻璃片100的第一包层104、芯层102以及第二包层106各自的厚度分布的图形表示。在图7所示的实施例中，x轴表示横向位置，并且y轴表示各层的厚度。在一些实施例中，玻璃片100包括定位在每个纵向边缘处的珠。例如，所述珠在基本垂直于横向方向的纵向方向上延伸。所述珠包括玻璃片100的比布置在所述珠之间的玻璃片的中心区域更厚的区域。如图7所示，本文所述的方法和系统能够确定玻璃片100在所述珠以及在所述玻璃片的所述中心区域处的一个或多个层的厚度。
在一些实施例中，在沿玻璃片100的第二边缘112的横向方向上移动光检测器220。例如，光检测器220安装在轨道或者可移动托架上，以使光检测器能够相对于玻璃片100移动。因此，光检测器220沿着玻璃片100的第二边缘112进行扫描。通过移动光检测器并维持玻璃片固定、移动玻璃片并维持光检测器固定、或者移动光检测器和玻璃片两者，可以使得光检测器220相对于玻璃片100移动。在沿玻璃片100的边缘的多个不同横向位置处检测到从第二边缘112出射的光。在所述多个不同的横向位置处生成检测光的强度图像。在所述多个不同的横向位置处确定检测光的强度分布的强度边界。在一些实施例中，基于对应于多个不同的横向位置的多个强度边界确定层边界。层边界包括空气与玻璃片层之间的表面层边界或者玻璃片的相邻层之间的中间层边界。在一些实施例中，基于强度分布的强度边界在所述多个不同的横向位置处确定玻璃片的一个或多个层的厚度。另外地或替代性地，基于层边界确定玻璃片的一个或多个层的厚度分布。在一些实施例中，处理单元230如图4所示操作性地耦合至光检测器220以控制光检测器相对于玻璃片100的移动。
在一些实施例中，光检测器220在所述多个不同的横向位置中的每个横向位置处停止并聚焦在玻璃片100的边缘上。在其他实施例中，光检测器220沿着玻璃片100的边缘连续地扫描而不停止以进行聚焦。聚焦光检测器220可以包括检测光检测器与玻璃片之间的距离，以及基于检测的距离调整光检测器或者光学单元250和/或调整光检测器和/或光学单元直到确定清晰的图像(例如，直到清晰地定义强度边界)。
在一些实施例中，玻璃片100的边缘相对于光检测器220并不垂直。例如，玻璃片100的边缘是包括缺陷(例如，碎裂或裂缝)的被切断的边缘。在一些实施例中，光检测器220在采集第一图像时聚焦在边缘的第一轴向部分上(例如，在玻璃片的第一表面处)，并且在采集第二图像时聚焦在边缘的第二轴向部分上(例如，在玻璃片的第二表面处)。每个强度边界可以在由光检测器220采集的至少一个图像中是焦点对准的。
在一些实施例中，光检测器包括沿玻璃片的边缘定位的多个光检测器。另外地或替代性地，光学单元包括沿玻璃片的边缘定位的多个光学单元。使用多个光检测器和/或光学单元可以通过同时在多个横向位置处确定厚度来提高厚度测量系统的速度。
在一些实施例中，在检测从玻璃片100的边缘出射的光的过程中移动光源210。例如，当检测到从玻璃片的边缘出射的光时，(例如，通过平移和/或旋转)在轴向方向上相对于玻璃片100移动光源210。通过移动光源并维持玻璃片固定、移动玻璃片并维持光源固定、或者移动光源和玻璃片两者，可以使光源210相对于玻璃片100移动。在一些实施例中，光源210在轴向方向上振荡。光源210的这种移动可以帮助分散引入玻璃片100中的光并且引导光朝向相邻玻璃层之间的交界面。在一些实施例中，处理单元230如图4所示操作性地耦合至光源210以控制光源相对于玻璃片100的移动。
图8展示了厚度测量系统200a的另一个示例性实施例。厚度测量系统200a类似于在此参照图2至4所述的厚度测量系统200。例如，在图8所示的实施例中，厚度测量系统200a包括被配置成用于将光引入玻璃片100中的光源210以及被配置成用于检测从玻璃片100的第二边缘212出射的光的光检测器220。在一些实施例中，厚度测量系统200a包括被配置成用于对由光源210引入玻璃片100中的光进行漫射的漫射器240。另外地或替代性地，厚度测量系统200a包括被配置成用于将从玻璃片100的第二边缘212出射的光聚焦到光检测器220上的光学单元250。在图8所示的实施例中，光源210被定位成与玻璃片100的表面相邻。因此，光源210被配置成用于将光引入至玻璃片100的表面，与将光引入至玻璃片的边缘相反。
在一些实施例中，如图8所示，光源210被引导离开光检测器220。例如，光源210定位在玻璃片100与光检测器220之间并且以一个角度被引导离开光检测器而朝向玻璃片。这种配置可以帮助减少由光源210生成的到达光检测器220而不首先穿过玻璃片100的光量。如在此参照厚度测量系统200所述的，由光源210引入至玻璃片100的光传播穿过玻璃片并且从第二边缘112出射。在一些实施例中，光源210包括定位在玻璃片100的相反侧的两个光源，如图8所示。因此，光被引入至玻璃片100的相反的第一表面和第二表面。
图9展示了厚度测量系统200b的另一个示例性实施例。厚度测量系统200b类似于在此参照图2至图4所述的厚度测量系统200以及在此参照图8所述的厚度测量系统200a。例如，在图9所示的实施例中，厚度测量系统200b包括被配置成用于将光引入玻璃片100的光源210以及被配置成用于检测从玻璃片的第二边缘212出射的光的光检测器220。在一些实施例中，厚度测量系统200b包括被配置成用于对由光源210引入至玻璃片100的光进行漫射的漫射器240。另外地或替代性地，厚度测量系统200b包括被配置成用于将从玻璃片100的第二边缘212出射的光聚焦到光检测器220上的光学单元250。在图9所示的实施例中，光源210被定位成与玻璃片100的表面相邻。因此，光源210被配置成用于将光引入至玻璃片100的表面，与将光引入至玻璃片的边缘相反。
在一些实施例中，光源210被定向基本垂直于玻璃片100的表面，如图9所示。例如，光源210定位在玻璃片100的第一边缘110与第二边缘112之间，并且被定向朝向玻璃片的表面。在一些实施例中，光源210发射在玻璃片100内引发荧光的光(例如，紫外(UV)光)。例如，光源210包括UV激光器。玻璃片100响应于由光源210引入至玻璃片的光而发荧光，并且所述荧光传播穿过玻璃片并从第二边缘112出射，如在此参照厚度测量系统200所述。在一些实施例中，光源210包括定位在玻璃片100的相反侧的两个光源，如图9所示。因此，光被引入至玻璃片100的相反的第一表面和第二表面。
在一些实施例中，一种方法包括：检测从玻璃制品的边缘出射的光，以及基于出射光的第一强度边界与第二强度边界之间的距离，确定玻璃制品的层的厚度。在一些实施例中，所述玻璃制品的所述层是第一层，所述玻璃制品包括与所述第一层相邻的第二层，并且所述方法进一步包括基于所述出射光的所述第二强度边界与所述出射光的第三强度边界之间的距离，确定所述玻璃制品的所述第二层的厚度。另外地或替代性地，所述第二强度边界包括中间边界，并且所述第一强度边界或所述第三强度边界中的至少一者包括边缘边界。另外地或替代性地，确定玻璃制品的层的厚度包括沿着玻璃制品的边缘在多个不同的横向位置处确定层的厚度。
本文所述的玻璃制品可以用于各种应用，包括例如，用于消费者或商用电子设备(包括例如LCD、LED、OLED以及量子点显示器、计算机监视器以及自动柜员机(ATM))中的盖罩玻璃或玻璃背板应用；用于针对便携式电子设备(包括例如移动电话、个人媒体播放器以及平板计算机)的触摸屏或者触摸传感器应用；用于集成电路应用(包括例如半导体晶片)；用于光伏应用；用于建筑玻璃应用；用于汽车或者车辆玻璃应用；用于商业或者家用电器应用；用于照明或者标示(例如，静态或者动态标示)应用；或者用于交通运输应用(包括例如铁路和航空应用)。
对于本领域技术人员而言将明显的是，在不背离本发明精神或范围的情况下可作出各种修改和变化。相应地，本发明仅受到所附权利要求书及其等效物的限制。

Claims (25)

1.一种方法，包括：
(a)将光引入玻璃制品的第一边缘中，从而使得所引入光的至少一部分传播穿过所述玻璃制品并从所述玻璃制品的与所述第一边缘相反的第二边缘出射；
(b)检测从所述玻璃制品的所述第二边缘出射的所述光，所出射的光的强度分布包括所出射的光的与轴向位置相关的强度；
(c)确定所述强度分布的第一强度边界以及所述强度分布的第二强度边界；以及
(d)基于所述第一强度边界与所述第二强度边界之间的轴向距离确定所述玻璃制品的层的厚度。
2.如权利要求1所述的方法，其中，将光引入所述玻璃制品的第一边缘中包括将漫射光引入所述玻璃制品的第一边缘中。
3.如权利要求1所述的方法，其中，将光引入所述玻璃制品的第一边缘中包括将光源定位成与所述玻璃制品的第一边缘相邻。
4.如权利要求3所述的方法，进一步包括在检测从所述玻璃制品的所述第二边缘出射的所述光的过程中，相对于所述玻璃制品移动所述光源。
5.如权利要求1所述的方法，进一步包括通过沿着所述玻璃制品的所述第二边缘在多个不同的横向位置处重复步骤(b)至(d)来确定所述玻璃制品的所述层的厚度分布，所述厚度分布包括所述玻璃制品的所述层的与沿所述玻璃制品的所述第二边缘的横向位置相关的厚度。
6.如权利要求5所述的方法，进一步包括沿着所述玻璃制品的所述第二边缘在横向方向上相对于所述玻璃制品移动光检测器。
7.如权利要求1至6中任一项所述的方法，其中，所述玻璃制品的所述层是第一层，所述玻璃制品包括与所述第一层相邻的第二层，并且所述方法进一步包括确定所述强度分布的第三强度边界以及基于所述第二强度边界与所述第三强度边界之间的轴向距离确定所述玻璃制品的所述第二层的厚度。
8.如权利要求1至6中任一项所述的方法，其中，所述第一强度边界包括表面边界。
9.如权利要求1至6中任一项所述的方法，其中，所述第二强度边界包括中间边界。
10.如权利要求1至6中任一项所述的方法，其中，将光引入所述玻璃制品的第一边缘中包括将白光引入所述玻璃制品的第一边缘中。
11.如权利要求1至6中任一项所述的方法，其中，从所述玻璃制品的所述第二边缘出射的所述光包括响应于所述将光引入所述玻璃制品的第一边缘中而出射的荧光。
12.如权利要求11所述的方法，其中，将光引入所述玻璃制品的第一边缘中包括将紫外光引入所述玻璃制品的第一边缘中。
13.一种方法，包括：
(a)将光引入玻璃制品的第一边缘中，从而使得所引入光的至少一部分传播穿过所述玻璃制品并从所述玻璃制品的与所述第一边缘相反的第二边缘出射；
(b)检测从所述玻璃制品的所述第二边缘出射的所述光，所出射的光的强度分布包括所出射的光的与轴向位置相关的强度；
(c)确定所述强度分布的强度边界的轴向位置；
(d)沿着所述玻璃制品的所述第二边缘在多个不同的横向位置处重复步骤(b)和(c)，以确定与所述不同的横向位置相对应的多个强度边界的轴向位置；以及
(e)基于所述多个强度边界确定所述玻璃制品的相邻的第一层与第二层之间的层边界。
14.如权利要求13所述的方法，进一步包括基于所述层边界确定所述玻璃制品的所述第一层和所述第二层中的每一个的厚度分布。
15.如权利要求13所述的方法，其中，步骤(d)包括相对于所述玻璃制品在横向方向上移动光检测器，以沿着所述玻璃制品的所述第二边缘在所述多个不同的横向位置处重复步骤(b)和(c)。
16.如权利要求13所述的方法，其中，所述玻璃制品的所述第一层包括第一玻璃组分，并且所述玻璃制品的所述第二层包括不同于所述第一玻璃组分的第二玻璃组分。
17.如权利要求16所述的方法，其中，所述第一玻璃组分的折射率与所述第二玻璃组分的折射率相差至少0.001。
18.如权利要求13至17中任一项所述的方法，其中，将光引入所述玻璃制品的第一边缘中包括利用光源将白光引入所述玻璃制品的第一边缘中。
19.如权利要求13至17中任一项所述的方法，其中，将光引入所述玻璃制品的第一边缘中包括利用UV激光器将紫外光引入所述玻璃制品的第一边缘中。
20.一种系统，包括：
光源，所述光源被配置成用于将光引入玻璃制品的第一边缘中；
光检测器，所述光检测器被配置成用于检测所引入光的传播穿过所述玻璃制品并从所述玻璃制品的与所述第一边缘相反的第二边缘出射的至少一部分，所出射的光的强度分布包括所出射的光的与轴向位置相关的强度；以及
处理单元，所述处理单元被配置成用于确定所述强度分布的第一强度边界以及所述强度分布的第二强度边界，并且用于基于所述第一强度边界与所述第二强度边界之间的轴向距离确定所述玻璃制品的层的厚度。
21.如权利要求20所述的系统，进一步包括漫射器，所述漫射器被配置成用于对由所述光源引入所述玻璃制品的第一边缘中的所述光进行漫射。
22.如权利要求20所述的系统，进一步包括光学单元，所述光学单元被配置成用于将从所述玻璃制品的所述第二边缘出射的所述光聚焦在所述光检测器上。
23.如权利要求20所述的系统，进一步包括挡光单元，所述挡光单元被配置成用于遮蔽所述光检测器免受不是从所述玻璃制品的所述第二边缘出射的环境光。
24.如权利要求20所述的系统，其中，所述光源包括细长光条。
25.如权利要求20至24中任一项所述的系统，其中，所述光检测器在横向方向上是可移动的，从而使得所述光检测器被配置成用于沿着所述玻璃制品的所述第二边缘进行扫描。
CN201580040843.7A 2014-06-04 2015-06-04 用于测量玻璃制品厚度的方法和系统 Active CN106537085B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201462007560P 2014-06-04 2014-06-04
US62/007,560 2014-06-04
PCT/US2015/034110 WO2015187906A1 (en) 2014-06-04 2015-06-04 Method and system for measuring thickness of glass article

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106537085A CN106537085A (zh) 2017-03-22
CN106537085B true CN106537085B (zh) 2020-02-28

Family

ID=53404943

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201580040843.7A Active CN106537085B (zh) 2014-06-04 2015-06-04 用于测量玻璃制品厚度的方法和系统

Country Status (7)

Country Link
US (1) US10295330B2 (zh)
EP (1) EP3152516B1 (zh)
JP (2) JP6741598B2 (zh)
KR (1) KR102433329B1 (zh)
CN (1) CN106537085B (zh)
TW (1) TWI700473B (zh)
WO (1) WO2015187906A1 (zh)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3484829A1 (en) * 2016-07-15 2019-05-22 Corning Incorporated Lighting unit with laminate structure
WO2019160711A1 (en) * 2018-02-13 2019-08-22 Corning Incorporated Apparatus and methods for processing a substrate
CN111150401A (zh) * 2019-12-30 2020-05-15 浙江大学 一种利用探测出射光强测量组织厚度的方法
JP2022053621A (ja) * 2020-09-25 2022-04-06 日本電気硝子株式会社 ガラス板の製造方法および製造装置
JP7098211B1 (ja) * 2021-02-26 2022-07-11 国立大学法人 名古屋工業大学 レーザ加工装置、厚さ検出方法および厚さ検出装置
CN117213394A (zh) * 2023-09-15 2023-12-12 昆山迈致治具科技有限公司 玻璃检测装置及玻璃检测方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1123570A (zh) * 1994-02-18 1996-05-29 圣戈班电影及控制公司 测量透明材料厚度的方法和装置
CN1478920A (zh) * 2002-03-25 2004-03-03 爱发科股份有限公司 光学薄膜厚度控制方法及装置，绝缘多层薄膜及制造装置
CN1756949A (zh) * 2003-03-05 2006-04-05 康宁股份有限公司 用于检测透明基片中的缺陷的检测装置
JP2009058271A (ja) * 2007-08-30 2009-03-19 Yamatake Corp エッジ位置検出装置

Family Cites Families (56)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3737294A (en) 1970-08-28 1973-06-05 Corning Glass Works Method for making multi-layer laminated bodies
US3849097A (en) 1970-10-07 1974-11-19 Corning Glass Works Method for continuously hot forming strong laminated bodies
US3746526A (en) 1971-03-10 1973-07-17 Corning Glass Works Method for forming subsurface fortified laminates
US3931438A (en) 1971-11-08 1976-01-06 Corning Glass Works Differential densification strengthening of glass-ceramics
US4102664A (en) 1977-05-18 1978-07-25 Corning Glass Works Method for making glass articles with defect-free surfaces
US4214886A (en) 1979-04-05 1980-07-29 Corning Glass Works Forming laminated sheet glass
US4323785A (en) 1980-05-16 1982-04-06 Libbey-Owens-Ford Company Method of and apparatus for observing sheet surfaces for traces of fluorescent materials thereon
JPS5831662A (ja) 1981-08-19 1983-02-24 Fuji Photo Film Co Ltd 被走査シ−ト前端検出方法および装置
US4880453A (en) 1988-12-19 1989-11-14 Corning Incorporated Method for making glass articles with defect-free surfaces and soluble glasses therefor
US5034613A (en) 1989-11-14 1991-07-23 Cornell Research Foundation, Inc. Two-photon laser microscopy
US5559060A (en) 1992-05-22 1996-09-24 Corning Incorporated Glass for laminated glass articles
US5342426A (en) 1993-07-16 1994-08-30 Corning Incorporated Making glass sheet with defect-free surfaces and alkali metal-free soluble glasses therefor
CA2105464A1 (en) 1993-09-02 1995-03-03 Shaolin Shi Methods for the continuous deposition of semiconductor thin films
US5604582A (en) 1994-05-12 1997-02-18 Science Application International Corporation Methods and apparatus for taking spectroscopic measurements of sediment layers beneath a body of water
US5457533A (en) 1994-06-10 1995-10-10 Wilcken; Stephen K. Point-diffraction interferometer utilizing separate reference and signal beam paths
US5498865A (en) 1994-12-16 1996-03-12 Eastman Kodak Company Photodiode amplifier circuit with improved sensitivity to high efficiency illumination
US6133999A (en) 1998-04-10 2000-10-17 Owens-Brockway Glass Container Inc. Measuring sidewall thickness of glass containers
DE19839363A1 (de) 1998-08-28 2000-03-02 Wolfgang Geiselbrecht Methode zur Abscheidung von Materialfilmen mit Tiefenprofil hinsichtlich der Zusammensetzung
JP2000221009A (ja) 1999-01-28 2000-08-11 Sumitomo Metal Ind Ltd ガラス材の厚み測定装置及び測定方法
US6683695B1 (en) 1999-07-21 2004-01-27 Electronic Design To Market, Inc. Method and apparatus for detecting properties of reflective transparent surface coatings on a sheet of transparent material
JP2001201318A (ja) * 2000-01-18 2001-07-27 Toshiba Corp 膜厚測定方法及びその装置並びにその記録媒体
JP2002022420A (ja) * 2000-07-04 2002-01-23 Ricoh Co Ltd 画像形状特性計測方法及び該方法を実行するためのプログラムを格納したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体
US6962670B1 (en) 2000-08-16 2005-11-08 Eastman Chemical Company Determination of layer thickness or non-uniformity of layer thickness based on fluorophore additives
AT410257B (de) 2000-10-23 2003-03-25 Mte Innovative Measurement Sol Vorrichtung zur überprüfung und kontrolle einer einzel-glasscheibe oder eines isolierglas-elements
JP3979790B2 (ja) 2001-01-16 2007-09-19 セントラル硝子株式会社 高断熱合わせガラス
CN1556914A (zh) 2001-09-21 2004-12-22 Kmac株式会社 利用二维反射计测量多层薄膜的厚度轮廓和折射率分布的装置及其测量方法
KR100867197B1 (ko) 2002-01-07 2008-11-06 삼성코닝정밀유리 주식회사 다층막 코팅 유리의 두께 측정장치
JP3519397B1 (ja) 2002-10-09 2004-04-12 沖電気工業株式会社 固体表面層の膜厚方向組成プロファイル解析方法
JP4157919B2 (ja) 2003-03-06 2008-10-01 ジャパンスーパークォーツ株式会社 ガラス層の層厚測定方法および測定装置
JP2004279342A (ja) 2003-03-18 2004-10-07 Jasco Corp 深さ測定装置
US7514149B2 (en) 2003-04-04 2009-04-07 Corning Incorporated High-strength laminated sheet for optical applications
JP4593092B2 (ja) * 2003-07-30 2010-12-08 大日本印刷株式会社 多層透明体の検査装置および方法
US7292745B2 (en) 2004-01-13 2007-11-06 Franklin W. Dabby System for and method of manufacturing optical/electronic integrated circuits
US20070165206A1 (en) * 2004-04-10 2007-07-19 Arnold Olesch Installation for processing plate-shaped substrates
DE102004027411A1 (de) 2004-06-04 2005-12-29 Boraglas Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Identifizierung von Zinn- und Feuerseite bei Floatgläsern
US7201965B2 (en) 2004-12-13 2007-04-10 Corning Incorporated Glass laminate substrate having enhanced impact and static loading resistance
WO2006068745A1 (en) 2004-12-22 2006-06-29 Cargill, Incorporated Methods for determining cellular response to stimuli
CN1256566C (zh) 2005-01-20 2006-05-17 上海交通大学 微位移的平面光波导测量方法
US7760923B2 (en) 2005-03-24 2010-07-20 Optasia Medical Limited Method and system for characterization of knee joint morphology
WO2007020791A1 (ja) 2005-08-16 2007-02-22 Asahi Glass Company, Limited 車両窓用合わせガラス
WO2007020797A1 (ja) 2005-08-19 2007-02-22 Sumitomo Seika Chemicals Co., Ltd. （ｅ）－ｎ－モノアルキル－３－オキソ－３－（２－チエニル）プロペンアミンおよびその製造方法、ならびに（ｅ，ｚ）－ｎ－モノアルキル－３－オキソ－３－（２－チエニル）プロペンアミンの製造方法
KR101336366B1 (ko) 2006-06-16 2013-12-04 도레이 엔지니어링 가부시키가이샤 실리콘계 박막 및 실리콘계 박막의 형성 방법
JP4262285B2 (ja) * 2007-07-18 2009-05-13 株式会社コベルコ科研 形状測定装置，形状測定方法
US7663769B2 (en) * 2007-09-27 2010-02-16 Kabushiki Kaisha Toshiba Sheet thickness measuring device and image forming apparatus
JP4945500B2 (ja) * 2007-09-27 2012-06-06 株式会社東芝 紙葉類厚さ測定装置及び画像形成装置
US7590324B1 (en) 2008-07-24 2009-09-15 Corning Incorporated Double-clad optical fibers and devices with double-clad optical fibers
FR2946336B1 (fr) 2009-06-03 2011-05-20 Saint Gobain Vitrage feuillete pour systeme de visualisation tete haute
US7876437B1 (en) 2009-08-05 2011-01-25 Emhart Glass S.A. Glass container wall thickness measurement using fluorescence
WO2011072401A1 (en) 2009-12-18 2011-06-23 University Health Network System and method for sub-surface fluorescence imaging
US8334986B2 (en) 2010-02-25 2012-12-18 Corning Incorporated Methods and apparatus for the measurement of film thickness
EP2418457A1 (en) 2010-08-09 2012-02-15 Applied Materials, Inc. System and method with automatic adjustment function for measuring the thickness of substrates
CA2752277A1 (en) 2010-09-13 2012-03-13 Gregory F. Jacobs Photovoltaic modules
US20120127487A1 (en) 2010-11-18 2012-05-24 Sergey Potapenko Methods and apparatuses for measuring the thickness of glass substrates
US8895941B2 (en) 2012-02-29 2014-11-25 Corning Incorporated Laminated glass sheet depth profile determination
US9109879B2 (en) 2012-02-29 2015-08-18 Corning Incorporated Systems for and methods of characterizing the thickness profile of laminated glass structures
JP2014028730A (ja) 2012-07-31 2014-02-13 Asahi Glass Co Ltd 化学強化ガラスの製造方法およびガラスの応力測定方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1123570A (zh) * 1994-02-18 1996-05-29 圣戈班电影及控制公司 测量透明材料厚度的方法和装置
CN1478920A (zh) * 2002-03-25 2004-03-03 爱发科股份有限公司 光学薄膜厚度控制方法及装置，绝缘多层薄膜及制造装置
CN1756949A (zh) * 2003-03-05 2006-04-05 康宁股份有限公司 用于检测透明基片中的缺陷的检测装置
JP2009058271A (ja) * 2007-08-30 2009-03-19 Yamatake Corp エッジ位置検出装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
白光干涉测量光学薄膜厚度;罗婷;《中国优秀硕士学位论文全文数据库基础科学辑》;20111215;A005-51 *

Also Published As

Publication number Publication date
JP2020180987A (ja) 2020-11-05
JP6741598B2 (ja) 2020-08-19
JP2017518501A (ja) 2017-07-06
US20170122724A1 (en) 2017-05-04
US10295330B2 (en) 2019-05-21
KR102433329B1 (ko) 2022-08-17
TWI700473B (zh) 2020-08-01
TW201602515A (zh) 2016-01-16
EP3152516B1 (en) 2020-03-04
EP3152516A1 (en) 2017-04-12
KR20170015468A (ko) 2017-02-08
WO2015187906A1 (en) 2015-12-10
CN106537085A (zh) 2017-03-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106537085B (zh) 用于测量玻璃制品厚度的方法和系统
US10157304B2 (en) Fingerprint identification module, fingerprint identification device and display device
US10956702B2 (en) Apparatus for recognizing a fingerprint, and display device
TWI470508B (zh) 觸控面板以及具有此觸控面板之觸控式顯示裝置
KR101956659B1 (ko) 비접촉 입력 장치 및 방법
TWI607818B (zh) Chamfering device and chamfering method
KR102281937B1 (ko) 표시 장치
CN101451684A (zh) 面发射装置、光导及光导的制造方法
TW201409324A (zh) 觸控顯示面板及其光學式觸控面板
CN102767748A (zh) 前光模块
US20100265215A1 (en) Touch panel display with light source modules and camera for touch point detection
CN110068957A (zh) 用于lcd屏内指纹识别的背光模组以及lcd显示设备
CN111624695A (zh) 一种透明玻璃导光板及其制作方法
CN102419660A (zh) 触控显示装置及其操作方法
US20080186481A1 (en) Optical vision inspection apparatus
US20090059378A1 (en) Devices, Systems, and/or Methods for Providing Illumination
KR101257335B1 (ko) 광학부재, 이를 구비하는 광원장치 및 표시장치
TWI488093B (zh) 觸控位置的偵測方法及使用其之光學式觸控裝置
US9140655B2 (en) Mother glass inspection device and mother glass inspection method
KR102178727B1 (ko) 디스플레이 패널 감지 장치
CN205245992U (zh) 一种影像测量仪
KR20160118712A (ko) 백라이트 유닛 및 이를 포함하는 디스플레이 장치
CN111344546B (zh) 光纤的玻璃偏心测定装置及测定方法
CN111928792B (zh) 一种lcd面板表面偏光片内切切割精度的检测方法及系统
TW200419163A (en) Defect inspection apparatus for substrate of flat panel display

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant