CN106505333B - 改良式连接装置以及使用改良式连接装置的测试接口 - Google Patents

Abstract

本发明是有关于一种改良式连接装置以及使用改良式连接装置的测试接口，该改良式连接装置包括有一插件式连接单元及一弹簧式连接单元。插件式连接单元包括有一插件式端子座及多个垂直插针，插件式端子座具有多个插件穿孔，并于每一插件穿孔中固设每一垂直插针。弹簧式连接单元包括有一弹簧式端子座及多个弹簧插针，弹簧式端子座固设于插件式端子座的上表面，具有多个弹簧穿孔，并于每一弹簧穿孔中设置一套管，用以卡合每一弹簧插针，其中，每一弹簧插针分别抵接每一垂直插针，用以传递测试信号。由此，测试中若需更换电路板时，除了可省去插拔端子座的时间之外，更可提高电路板的使用寿命，使其不会因为长期插拔的使用不当，而造成端子座焊接处损毁的疑虑。

Description

改良式连接装置以及使用改良式连接装置的测试接口

技术领域

本发明是关于一种改良式连接装置以及使用改良式连接装置的测试接口，尤指一种适用于半导体元件的测试电路板的改良式连接装置以及使用改良式连接装置的测试接口。

背景技术

关于已知用于二电路板间的连接装置，常使用一般市售的具有插件式垂直插针的二端子座分别与电路板上对应的端子座相互连接，其中，位于二电路板上的每一端子座仍需将其垂直针脚焊接至电路板上的接点中。

然而，上述已知电路板连接装置主要存在有两大缺点，其一是为当电路板选用为探针卡接口板(Prober Interface Board，PIB)或其他对于电性干扰要求度高的电路板时，常因其电路接点过小或该电路板背面同时有其他接点需转接的问题，易造成在焊接时损坏该电路板的电路，影响测试信号。其二，使用者在插拔上述端子座的过程中，常因长期插拔使用不当，而造成位于电路板上的端子座的针脚焊接处受到损毁，需花费额外时间解焊更换。

发明人缘因于此，本于积极发明的精神，亟思一种可以解决上述问题的改良式连接装置以及使用改良式连接装置的测试接口，几经研究实验终至完成本发明。

发明内容

本发明的主要目的是在提供一种改良式连接装置，其特色在于该连接装置同时具有插件式及弹簧式两种连接单元，使得两电路板于连接时，一端可维持传统直插焊接的方式固定连接装置的针脚，另一端则通过弹簧触压的方式与另一片电路板作连接。由此，测试中若需更换电路板时，除了可省去插拔端子座的时间之外，更可提高电路板的使用寿命，使其不会因为长期插拔的使用不当，而造成端子损毁的疑虑。

本发明的另一目的是在提供一种使用改良式连接装置的测试接口，该测试接口包括二片需进行信号传递的电路板及对应的转接方式，其中一片电路板是以传统公、母端子座的连接机制与插件式连接单元相插接，而另一片电路板是采用未穿孔的接点与弹簧式连接单元的针头相触接，俾能加速电路板的更换效率，且可容许些微的相对位移，有效防止连接单元及电路板遭到损坏。

为达成上述目的，本发明的改良式连接装置包括一插件式连接单元及一弹簧式连接单元。插件式连接单元包括有一插件式端子座及多个垂直插针，该插件式端子座具有多个插件穿孔，并于每一插件穿孔中固设每一垂直插针。相对地，该连接装置的另一头是为弹簧式连接单元，包括有一弹簧式端子座及多个弹簧插针，弹簧式端子座固设于插件式端子座的上表面，具有多个弹簧穿孔，并于每一弹簧穿孔中设置一套管，用以卡合每一弹簧插针，其中，每一弹簧插针分别抵接每一垂直插针，用以传递测试信号。

通过上述设计，将插件式连接单元及弹簧式连接单元同时组合在一连接装置上，提供两种不同的对应连接方式，方便用户更换相连接的电路板，并减少焊接时对于主电路板线路的损伤机率，影响测试信号。

上述每一弹簧插针可包括有一针头、一针管以及一弹簧，针头是连接弹簧并穿设于针管中。其中，每一套管可更具有一凸点，每一针管可更具有一凹槽，用以分别匹配卡合每一弹簧插针与每一套管。由此，可提供一种具有弹性伸缩的弹簧式连接单元，且为一种抽取式的弹簧插针，使得维修人员可从每一套管内取出异常的弹簧插针进行更换，不必因为单一针头遭受损伤就需更换整组端子座，有效节省更换整组端子座的费用及时间。

上述插件式端子座可还包括至少一锁固件。由此，可强化弹簧式连接单元与电路板的触压强度，而非仅仅依靠多个弹簧插针抵顶于第二接点的顶推力以及插件式端子座与电路板端子座相互的卡合力来巩固，避免因触碰或撞击而造成本发明改良式连接装置松脱掉落，增进元件的密合性。

另一方面，本发明的使用改良式连接装置的测试接口包括有一插件式连接单元、一第一电路板、一弹簧式连接单元以及一第二电路板，插件式连接单元包括有一插件式端子座及多个垂直插针，插件式端子座具有多个插件穿孔，并于每一插件穿孔中固设每一垂直插针。第一电路板包括有一对应连接插件式端子座的电路板端子座，其具有多个垂直针脚，该每一垂直针脚是分别穿设于一已穿孔的第一接点中并同时焊接固定；弹簧式连接单元包括有一弹簧式端子座及多个弹簧插针，弹簧式端子座固设于插件式端子座的上表面，具有多个弹簧穿孔，并于每一弹簧穿孔中设置一套管，用以卡合该每一弹簧插针，其中，每一弹簧插针分别抵接每一垂直插针，用以传递测试信号。一第二电路板具有多个未穿孔的第二接点，每一弹簧插针是分别触压该每一第二接点。

通过上述设计，更加定义出本发明的测试接口所采用的二电路板是分别具有多个可供焊接的第一接点以及可供触压的第二接点。由此，当电路板的接点过小或电路板过薄时，可通过本发明改良式连接装置的测试接口，将该接点改为未穿孔的触压式接点，避免造成在焊接接脚时损坏该电路板的电路，影响测试信号，更可加速电路板的更换效率。

附图说明

以上概述与接下来的详细说明皆为示范性质是为了进一步说明本发明的申请专利范围。而有关本发明的其他目的与优点，将在后续的说明与附图加以阐述，其中：

图1是本发明第一实施例的改良式连接装置的立体图。

图2是本发明第一实施例的使用改良式连接装置的测试接口的剖视图。

图3是本发明第一实施例的弹簧插针的部分剖视图。

图4是本发明第二实施例的改良式连接装置的立体图。

具体实施方式

请参阅图1，是本发明第一实施例的改良式连接装置的立体图。图中出示一种改良式连接装置1包括有一插件式连接单元2及一弹簧式连接单元3。在本实施例中，一插件式连接单元2包括有一门字型的插件式端子座21及多个垂直插针22，插件式端子座21具有多个插件穿孔211，并于每一插件穿孔211中固设一垂直插针22，其中每一垂直插针22彼此间是平行排列，用以插拔于对应的电路板中。

相对地，弹簧式连接单元3则包括有一弹簧式端子座31及多个弹簧插针32，弹簧式端子座31固设于插件式端子座21的上表面，具有多个弹簧穿孔311，并于每一弹簧穿孔311中设置一套管312，用以对应卡合每一弹簧插针32，其中，每一弹簧插针32分别抵接每一垂直插针22，使得二连接单元2、3间具有一连通路径，让测试信号得以在垂直插针22与弹簧插针32之间传递。

请一并参阅图2，是本发明第一实施例的使用改良式连接装置的测试接口的剖视图。如图所示，所述改良式连接装置1可由剖视视角中更明确地定义出其结构特征，并强调出该改良式连接装置1分别对应二电路板相异的连接关系。其中，本发明使用改良式连接装置的测试接口10除了包括前述改良式连接装置1之外，还包括有一第一电路板5及一第二电路板6，第一电路板5包括有一电路板端子座50，其具有多个垂直针脚501，该每一垂直针脚501是分别穿设于一已穿孔的第一接点51中并同时以焊料焊接固定，并可对应连接上述插件式端子座21，在本实施例中，第一电路板5是为一接脚电子卡(Pin Electronic Card，PECard)，其用于输出及输入测试程序转换的测试信号；而第二电路板6具有多个未穿孔而略带凹陷的第二接点61，每一弹簧插针32是分别触压每一第二接点61，在本实施例中，第二电路板6是为一种探针卡界面板(Prober Interface Board，PIB)，其为附加电路板(LoadBoard)的一种类别并是设置于针测机和待测物之间硬件测试接口。

通过上述设计，将插件式连接单元2及弹簧式连接单元3同时组合在上述改良式连接装置1上，可提供两种不同的对应连接方式，其一为通过插拔插件式端子座21的方式将垂直插针22卡合于电路板端子座50中，其二为通过弹簧插针32直接触压第二电路板6未穿孔的接点，进行测试信号的传递，由此针对不同的电路板5，6的运作特性及更换频率选择适当的连接方式，减少长期端子座插拔使用不当而造成垂直针脚501焊接处的损伤机率，增进测试信号的传递质量。

再者，本发明弹簧插针32的细部构造请参阅图3，是本发明第一实施例的弹簧插针的部分剖视图。如图所示，弹簧插针32包括有一针头321、一针管322以及一弹簧323，针头321是连接该弹簧323并穿设于针管322中，该每一弹簧323是提供一弹簧恢复力，使得每一针头321对应触压每一略为凹陷的第二接点61，提供稳固抵顶的力，同时可容许些微的相对位移，有效防止连接单元及电路板遭到损坏。此外，本实施例中，弹簧插针32的每一套管312具有一凸点302，该每一针管322具有一凹槽324，用以分别匹配卡合每一弹簧插针32与每一套管312。由此，可提供一种具有弹性伸缩的弹簧式连接单元3，且为一种抽取式的弹簧插针32，使得维修人员可从每一套管312内取出异常的弹簧插针32进行更换，不必因为单一针头遭受损伤就需更换整组端子座，有效节省更换整组端子座的费用及时间。

请参阅图4，是本发明第二实施例的改良式连接装置的立体图。在本实施例中，其主要结构特征皆与第一实施例相同，唯有在插件式端子座21的部分增设有二锁固件4及二定位销41，用以将改良式连接装置1以上述锁固机构固定于第二电路板6上。由此，可强化弹簧式连接单元与第二电路板6的触压强度，而非仅仅依靠多个弹簧插针32抵顶于第二接点61的顶推力以及插件式端子座21与电路板端子座50相互的卡合力来巩固，避免因触碰或撞击而造成本发明改良式连接装置松脱掉落，增进元件的密合性。

上述实施例仅是为了方便说明而举例而已，本发明所主张的权利范围自应以申请专利范围所述为准，而非仅限于上述实施例。

Claims (8)

1.一种改良式连接装置，包括有：

一插件式连接单元，包括有一插件式端子座及多个垂直插针，该插件式端子座具有多个插件穿孔，并于该每一插件穿孔中固设该每一垂直插针；以及

一弹簧式连接单元，包括有一弹簧式端子座及多个弹簧插针，该弹簧式端子座固设于该插件式端子座的上表面，具有多个弹簧穿孔，并于该每一弹簧穿孔中设置一套管，用以卡合该每一弹簧插针，其中，该每一弹簧插针分别抵接该每一垂直插针，用以传递测试信号。

2.如权利要求1所述的改良式连接装置，其中，该每一弹簧插针包括有一针头、一针管以及一弹簧，该针头连接该弹簧并穿设于该针管中。

3.如权利要求2所述的改良式连接装置，其中，该每一套管具有一凸点，该每一针管具有一凹槽，用以分别匹配卡合该每一弹簧插针与该每一套管。

4.如权利要求1所述的改良式连接装置，其中，该插件式端子座还包括至少一锁固件。

5.一种使用改良式连接装置的测试接口，包括有：

一插件式连接单元，包括有一插件式端子座及多个垂直插针，该插件式端子座具有多个插件穿孔，并于该每一插件穿孔中固设该每一垂直插针；

一第一电路板，包括有一对应连接该插件式端子座的电路板端子座，该电路板端子座具有多个垂直针脚，该每一垂直针脚分别穿设于一已穿孔的第一接点中并同时焊接固定；

一弹簧式连接单元，包括有一弹簧式端子座及多个弹簧插针，该弹簧式端子座固设于该插件式端子座的上表面，具有多个弹簧穿孔，并于该每一弹簧穿孔中设置一套管，用以卡合该每一弹簧插针，其中，该每一弹簧插针分别抵接该每一垂直插针，用以传递测试信号；以及

一第二电路板，具有多个未穿孔的第二接点，该每一弹簧插针分别触压该每一第二接点。

6.如权利要求5所述的使用改良式连接装置的测试接口，其中，该每一弹簧插针包括有一针头、一针管以及一弹簧，该针头连接该弹簧并穿设于该针管中。

7.如权利要求6所述的使用改良式连接装置的测试接口，其中，该每一套管具有一凸点，该每一针管具有一凹槽，用以分别匹配卡合该每一弹簧插针与该每一套管。

8.如权利要求5所述的使用改良式连接装置的测试接口，其中，该插件式端子座还包括至少一锁固件。