CN106449907B - 一种p型指数掺杂结构GaN光电阴极材料的生长方法 - Google Patents
一种p型指数掺杂结构GaN光电阴极材料的生长方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN106449907B CN106449907B CN201611024168.1A CN201611024168A CN106449907B CN 106449907 B CN106449907 B CN 106449907B CN 201611024168 A CN201611024168 A CN 201611024168A CN 106449907 B CN106449907 B CN 106449907B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- doping
- gallium
- circulation
- gan
- gas
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
- H01L33/0062—Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds
- H01L33/0075—Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds comprising nitride compounds
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/36—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
- H01L33/40—Materials therefor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
Abstract
本发明公开了一种p型指数掺杂结构GaN光电阴极材料的生长方法,通过在蓝宝石衬底上吸附镓、氮和镁原子,形成p型指数掺杂结构的GaN薄膜,生长出的GaN光电阴极材料具有连续的内建电场,且该方法制备思路清晰、方法简单,生长出的GaN光电阴极性能显著提高。
Description
技术领域
本发明涉及半导体材料技术领域,尤其涉及一种p型指数掺杂结构GaN光电阴极材料的生长方法。
背景技术
氮化镓(GaN)材料是一种具有宽禁带、低介电常数、耐腐蚀、耐高温、抗辐射等优良特性的半导体材料。GaN基光电阴极具有量子效率高、暗电流小、发射电子能量分布集中等优点,是满足微弱紫外探测要求的非常理想的新型紫外光电阴极,在紫外真空探测、高能物理、微电子技术、电子束平面印刷以及电子显微镜等领域有广泛应用。
之前的研究发现,通过p型掺杂浓度变化的方式可以有效地提高光电阴极的性能。变掺杂主要包括梯度掺杂和指数掺杂,其中指数掺杂被证明是更有效的方式。GaN光电阴极的厚度一般不超过500nm,但是传统的MOCVD等方法难以在纳米级别的厚度上控制p型的掺杂浓度,因此最多只能实现梯度掺杂,很难达到指数掺杂的要求,也限制了GaN光电阴极性能的提高。
发明内容
基于背景技术存在的技术问题,本发明提出了一种p型指数掺杂结构GaN光电阴极材料的生长方法,且生长出的GaN光电阴极材料具有连续的内建电场,且制备思路清晰、方法简单,生长出的GaN光电阴极性能显著提高。
一种p型指数掺杂结构GaN光电阴极材料的生长方法,包括以下步骤:
A、将清洗后双面抛光的c轴向蓝宝石衬底置于原子层沉积系统生长室内;
B、向所述原子层沉积系统生长室内通入镓源气体和载体气体,所述的镓源气体作为第一反应前驱体在蓝宝石衬底上进行化学吸附,所述镓源气体中的镓原子吸附在所述的蓝宝石衬底上;
C、吸附在蓝宝石衬底上的镓原子与电离后的氮源前驱体发生反应,直到所述蓝宝石衬底表面的镓原子完全反应;
D、向原子层沉积系统中通入作为掺杂元素的前驱体镁源气体和载体气体,类似镓原子的吸附过程,镁原子会吸附在材料的生长表面,形成p型掺杂;
E、按照一定的比例关系重复步骤B、C、D,并且在每个步骤后都通入清洗气体,即可在所述蓝宝石衬底上形成p型指数掺杂结构的GaN薄膜。
优选的,所述镓源气体是氯化镓(GaCl)或三甲基镓(TMGa);
优选的,所述的清洗气体和载体气体是氩气。
优选的,所述的氮源前驱体是氨气。
优选的,所述的镁源前驱体是二茂镁(Cp2Mg)。
本发明的有益之处在于:利用原子层沉积单层生长的特点,解决了传统方法难以在纳米级别上控制p型掺杂浓度的问题,实现了指数掺杂GaN光电阴极材料的生长,提高了GaN光电阴极的量子效率等性能,实验发现指数掺杂GaN光电阴极的效率比均匀掺杂的提高20%以上。
附图说明:
图1:p型指数掺杂结构GaN光电阴极材料掺杂浓度随循环周期的变化情况图。
图2:p型指数掺杂结构GaN光电阴极材料的ALD生长流程图。
图3:掺杂周期示意图。
具体实施方式:
实施例
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细地说明。
图1是p型指数掺杂结构GaN光电阴极材料掺杂浓度随循环周期的变化情况。
图2是p型指数掺杂结构GaN光电阴极材料的ALD(原子层沉积)生长流程。
对蓝宝石表面进行清洗,干燥氮气吹干,将蓝宝石衬底置于原子层沉积系统生长室中;
设置衬底生长温度为550℃(以550℃为例,不限于此温度),存放氯化镓的喷嘴式容器保持在70℃,氨气被用来作为反应氮源,氩气作为载体和净化气体,开启真空泵抽真空达到要求的工作环境,向生长室中通入氩气清洗腔室。
如图2中所示,ALD循环有两种:a.镓源循环,氯化镓(7s,50sccm氩气为载体气体),氩气净化气体(30s,500sccm),氨气(10s,500sccm),氩气净化气体(30s,500sccm);和b.镁源循环,二茂镁(10s,50sccm氩气为载体气体),氩气净化气体(30s,500sccm),氨气(10s,500sccm),氩气净化气体(30s,500sccm)。其中a循环为GaN生长过程,b循环为p型掺杂过程。
循环a和b的关系:
以每进行一次b循环为一个掺杂周期,那么在第n个掺杂周期内,定义循环a的次数为Mn,如图3所示。当Mn为一个常数时,即每进行一次b循环对应的a循环次数是固定的,此时进行的就是p型掺杂浓度恒定的GaN材料生长过程。
而对于掺杂浓度随厚度呈指数变化时,Mn的情况要复杂得多。首先确定当n=1,即第一个掺杂周期时至少对应一个a循环,否则生长的材料就变成了MgNx而非p型GaN,那么起始镁的掺杂浓度的最大值为NGa/2,其中NGa为GaN中的镓原子浓度。
在第n个掺杂周期内,对应的a循环次数为Mn,此时总循环次数为总的生长厚度为R为ALD的周期生长速率。此掺杂周期内镁的掺杂浓度为要使掺杂浓度随厚度呈指数降低,则需满足:
其中A为指数变化系数,Mn按四舍五入取整。
当镓源的循环次数Mn=1时先进行a循环再进行b循环,即最开始由镓源循环开始;当Mn>1时,尽量在Mn次a循环的中间位置进行b循环,即进行Mn/2个a循环后进行一次b循环,随后再进行Mn/2个a循环,如图3所示。
最后以GaCl3(7s,50sccm氩气为载体气体),氩气净化气体(30s,500sccm)为结束。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种p型指数掺杂结构GaN光电阴极材料的生长方法,其特征在于,包括以下步骤:
A、将清洗后双面抛光的c轴向蓝宝石衬底置于原子层沉积系统生长室内;
B、向所述原子层沉积系统生长室内通入镓源气体和载体气体,所述的镓源气体作为第一反应前驱体在蓝宝石衬底上进行化学吸附,所述镓源气体中的镓原子吸附在所述的蓝宝石衬底上;
C、吸附在蓝宝石衬底上的镓原子与电离后的氮源前驱体发生反应,直到所述蓝宝石衬底表面的镓原子完全反应;
D、向原子层沉积系统中通入作为掺杂元素的前驱体镁源气体和载体气体,类似镓原子的吸附过程,镁原子会吸附在材料的生长表面,形成p型掺杂;
E、按照一定的比例关系重复步骤B、C、D,并且在每个步骤后都通入清洗气体,即可在所述蓝宝石衬底上形成p型指数掺杂结构的GaN薄膜;
所述的步骤E中所述的按照一定的比例关系重复步骤B、C、D,是通过以下特定的方式控制掺杂浓度随厚度呈指数变化的,具体为:
当镓源的循环次数Mn=1时先进行a循环再进行b循环,即最开始由镓源循环开始;当Mn>1时,尽量在Mn次a循环的中间位置进行b循环,即进行Mn/2个a循环后进行一次b循环,随后再进行Mn/2个a循环;
其中,所述的a循环为镓源循环:氯化镓,氩气净化气体,氨气,氩气净化气体;
所述的b循环为镁源循环:二茂镁,氩气净化气体,氨气,氩气净化气体;
其中a循环为GaN生长过程,b循环为p型掺杂过程;
循环a和b的关系:
以每进行一次b循环为一个掺杂周期,那么在第n个掺杂周期内,定义循环a的次数为Mn;
对于掺杂浓度随厚度呈指数变化时,首先确定当n=1,即第一个掺杂周期时至少对应一个a循环,否则生长的材料就变成了MgNx而非p型GaN,那么起始镁的掺杂浓度的最大值为NGa/2,其中NGa为GaN中的镓原子浓度;
在第n个掺杂周期内,对应的a循环次数为Mn,此时总循环次数为总的生长厚度为R为ALD的周期生长速率;此掺杂周期内镁的掺杂浓度为要使掺杂浓度随厚度呈指数降低,则需满足:
其中A为指数变化系数,Mn按四舍五入取整。
2.如权利要求1所述的p型指数掺杂结构GaN光电阴极材料的生长方法,其特征在于,所述镓源气体是氯化镓或三甲基镓。
3.如权利要求1所述的p型指数掺杂结构GaN光电阴极材料的生长方法,其特征在于,所述的清洗气体和载体气体是氩气。
4.如权利要求1所述的p型指数掺杂结构GaN光电阴极材料的生长方法,其特征在于,所述的氮源前驱体是氨气。
5.如权利要求1所述的p型指数掺杂结构GaN光电阴极材料的生长方法,其特征在于,所述的前驱体镁源是二茂镁。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201611024168.1A CN106449907B (zh) | 2016-11-18 | 2016-11-18 | 一种p型指数掺杂结构GaN光电阴极材料的生长方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201611024168.1A CN106449907B (zh) | 2016-11-18 | 2016-11-18 | 一种p型指数掺杂结构GaN光电阴极材料的生长方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN106449907A CN106449907A (zh) | 2017-02-22 |
CN106449907B true CN106449907B (zh) | 2019-04-12 |
Family
ID=58220468
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201611024168.1A Expired - Fee Related CN106449907B (zh) | 2016-11-18 | 2016-11-18 | 一种p型指数掺杂结构GaN光电阴极材料的生长方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN106449907B (zh) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1244598A (zh) * | 1998-08-07 | 2000-02-16 | 三星电子株式会社 | 利用原子层沉积制备薄膜的方法 |
CN1716548A (zh) * | 2004-06-29 | 2006-01-04 | 国际商业机器公司 | 掺杂的氮化物膜、掺杂的氧化物膜、以及其它掺杂的膜 |
CN101680087A (zh) * | 2007-03-06 | 2010-03-24 | 瓦里安半导体设备公司 | 原子层沉积技术 |
CN103205729A (zh) * | 2012-01-11 | 2013-07-17 | 中国科学院微电子研究所 | 用ald设备生长氮化镓薄膜的方法 |
-
2016
- 2016-11-18 CN CN201611024168.1A patent/CN106449907B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1244598A (zh) * | 1998-08-07 | 2000-02-16 | 三星电子株式会社 | 利用原子层沉积制备薄膜的方法 |
CN1716548A (zh) * | 2004-06-29 | 2006-01-04 | 国际商业机器公司 | 掺杂的氮化物膜、掺杂的氧化物膜、以及其它掺杂的膜 |
CN101680087A (zh) * | 2007-03-06 | 2010-03-24 | 瓦里安半导体设备公司 | 原子层沉积技术 |
CN103205729A (zh) * | 2012-01-11 | 2013-07-17 | 中国科学院微电子研究所 | 用ald设备生长氮化镓薄膜的方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN106449907A (zh) | 2017-02-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI603499B (zh) | 用於led製造之pvd緩衝層 | |
US20050199886A1 (en) | Nitride semiconductor device and method of manufacturing the same | |
Sprenger et al. | Electron enhanced growth of crystalline gallium nitride thin films at room temperature and 100 C using sequential surface reactions | |
CN105489723A (zh) | 氮化物底层及其制作方法 | |
CN105121693A (zh) | 用于GaN基光电与电子器件的控氧PVD AlN缓冲部 | |
CN101258617A (zh) | 半导体发光元件及其制造方法 | |
CN105869999B (zh) | Led外延生长方法 | |
CN110224047B (zh) | 基于P型掺杂AlScN/AlScN超晶格势垒层的高效发光二极管及制备方法 | |
CN109659403A (zh) | 发光二极管的外延片的制作方法及外延片 | |
WO2012116477A1 (zh) | 一种高密度氧化锌纳米颗粒的制备方法 | |
CN107507891B (zh) | 提高内量子效率的led外延生长方法 | |
CN103972332B (zh) | 一种p型氮化镓材料空穴激活的方法 | |
CN107134517B (zh) | 一种led外延生长方法 | |
CN113707776A (zh) | AlN基紫外发光二极管的外延片及其制作方法 | |
CN106449907B (zh) | 一种p型指数掺杂结构GaN光电阴极材料的生长方法 | |
CN106299064B (zh) | 一种匹配azo薄膜的led外延生长方法 | |
WO2007024017A1 (ja) | 発光層形成用基材、発光体及び発光物質 | |
WO2016014696A1 (en) | Uv light emitting devices and systems and methods for production | |
CN111455351A (zh) | 一种氮化铝-氧化铝薄膜及其制备方法和应用 | |
CN106299045B (zh) | 一种led外延接触层生长方法 | |
CN113990989B (zh) | 一种紫外发光二极管外延片及其制作方法 | |
CN109671819A (zh) | 一种GaN基发光二极管外延片及其制备方法 | |
CN101760726B (zh) | 一种B和N共掺杂ZnO薄膜的制备方法 | |
JP4699420B2 (ja) | 窒化物膜の製造方法 | |
CN106784195B (zh) | 一种提高发光二极管品质的外延生长方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20190412 Termination date: 20191118 |