CN106445756A - 一种终端的测试方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本公开实施例提供了一种终端的测试方法,在终端的工厂测试环节执行,通过将终端升温并在满足温度要求的基础上,获取基站的时钟频率,并根据基站的时钟频率调整终端的时钟频率,从而解决终端在高温下的场景下第一次开机,无法完成实网注册,进而无法满足GPS正常使用对时钟频率的要求的问题,使终端即使在无法实网注册的情况下,也能够正常使用GPS功能。本公开实施例同时提供一种终端的测试装置。
Description
技术领域
本公开涉及终端测试领域,具体涉及一种终端的测试方法及装置。
背景技术
随着手机等终端在日常生活中的应用越来越频繁,用户对手机的性能提出越来越高的要求。然而手机在使用过程中,随着射频器件的不断老化,性能也会逐渐发生变化,其中,最重要的就是时钟模块,因为整个系统的正常工作都是建立在时钟精准工作的基础上。当前很多终端解决方案从成本考虑,大都选用晶振(XO)作为系统的时钟。然而晶振的温度特性决定了手机在工作过程中的温度变化,会很大程度上影响到时钟的精准性和稳定性。所以晶振的温度校准是不可少的。
具体的,晶振的温度曲线模型(温度和频率的关系模型)如下:
F(t)=C3(t-t0)^3+C2(t-t0)^2+C1(t-t0)+C0,其中,C0,C1,C2和C3均为校准参数,t0为温度常量,t为温度变量,F(t)为时钟频率变量。
通常,上述C1,C0的校准都是在工厂完成的。当晶振温度在45℃和15℃之间,晶振的温度曲线呈现线性。工厂的校准是在常温(30℃)下进行的,会自动生成校准参数然后写到手机寄存器中,从而完成校准。上述C2,C3的校准需要晶振的温度上升到45℃以上或者温度降到15℃以下进行,通常芯片厂商不在工厂进行校准C2,C3,而是在实际应用中由手机自动完成高温下的校准。事实上,校准C0,C1以后,晶振的误差在常温下大概会在2ppm,能够满足GPS和射频系统对时钟的要求。但是考虑极端情况,终端用户在高温下的场景下第一次开机,这时时钟的误差会超过3ppm,从而使手机无法完成实网注册,进而无法满足GPS正常使用对时钟频率的要求。
发明内容
有鉴于此,本公开实施例提供一种终端的测试方法及装置,应用于手机的工厂测试环节,以解决终端用户在高温下的场景下第一次开机,手机无法完成实网注册,进而无法满足GPS正常使用对时钟的要求的问题。
根据本公开实施例的第一方面,提供一种终端的测试方法,所述测试方法在终端的工厂测试环节执行,包括:在终端实网注册后,执行使终端升温的操作;如果终端温度超过预设阈值,获取基站的时钟频率;以及根据基站的时钟频率调整终端的时钟频率。
进一步地,所述执行使终端升温的操作包括:执行终端的各项测试以使终端升温,所述各项测试包括预设的功能性测试和性能测试。
进一步地,所述执行使终端升温的操作包括:通过升温仪器使终端升温。
进一步地,所述获取基站的时钟频率包括:向基站发送获取基站的时钟频率的指令;以及接收基站的返回信息,并解析返回信息以获取基站的时钟频率。
进一步地,所述获取基站的时钟频率包括:接收基站的广播信息;解析所述广播信息以获得基站的时钟频率。
进一步地,所述根据基站的时钟频率调整终端的时钟频率包括:根据所述基站的时钟频率计算温度和频率的关系模型中的校准参数;以及根据所述校准参数校准终端的时钟频率,并将所述校准参数存储到终端寄存器。
根据本公开实施例的第二方面,提供一种终端的测试装置,应用于终端的工厂测试环节,包括:升温单元,用于在终端实网注册后,执行使终端升温的操作;获取单元,用于如果终端温度超过预设阈值,获取基站的时钟频率;调整单元,用于根据基站的时钟频率调整终端的时钟频率。
进一步地,所述单元升温具体用于:向所述终端发送测试指令,以使终端在执行各项测试后升温,所述各项测试包括预设的功能性测试和性能测试。
进一步地,所述获取单元包括:发送模块,用于向基站发送获取基站的时钟频率的指令;第一接收模块,用于接收基站的返回信息,并解析返回信息以获取基站的时钟频率。
进一步地,所述调整单元包括:计算模块,根据所述基站的时钟频率计算温度和频率的关系模型中的校准参数;校准模块,用于根据所述校准参数校准终端的时钟频率,并所述校准参数存储到终端寄存器。
本公开实施例的测试方法在终端的工厂测试环节执行,通过将终端升温至满足温度要求后,获取基站的时钟频率,并根据基站的时钟频率调整终端的时钟频率,从而解决终端用户在高温下的场景下第一次开机,无法完成实网注册,进而无法满足GPS正常使用对时钟的要求的问题,使终端即使在无法实网注册的情况下,也能够正常使用GPS功能。
附图说明
通过参照以下附图对本公开实施例的描述,本公开的上述以及其它目的、特征和优点将更为清楚,在附图中:
图1是根据本公开实施例的测试方法的流程图;
图2是根据本公开另一实施例的测试方法的流程图;
图3是根据本公开另一实施例的测试方法的流程图;
图4是根据本公开实施例的终端的测试装置的结构图。
具体实施方式
以下基于实施例对本公开进行描述,但是本公开并不仅仅限于这些实施例。在下文对本公开的细节描述中,详尽描述了一些特定的细节部分。对本领域技术人员来说没有这些细节部分的描述也可以完全理解本公开。为了避免混淆本公开的实质,公知的方法、过程、流程没有详细叙述。另外附图不一定是按比例绘制的。
附图中的流程图、框图图示了本公开实施例的系统、方法、装置的可能的体系框架、功能和操作,流程图和框图上的方框可以代表一个、程序段或仅仅是一段代码,所述、程序段和代码都是用来实现规定逻辑功能的可执行指令。也应当注意,所述实现规定逻辑功能的可执行指令可以重新组合,从而生成新的和程序段。因此附图的方框以及方框顺序只是用来更好的图示实施例的过程和步骤,而不应以此作为对发明本身的限制。
需要说明的是,本发明实施例的终端可以是手机、平板电脑、VR设备等,本发明实施例以手机为例进行说明。
图1是根据本公开实施例的测试方法的流程图,应用于手机的工厂测试环节,具体包括以下步骤。
在步骤101中,在手机实网注册后,执行使手机升温的操作。
手机的工厂测试环节,首先在常温下对手机的各个器件进行测试。在此过程中,通过工厂内的测量仪校准手机在常温下的时钟频率,即校准晶振在常温下的校准参数。然后,将手机的各个电子器件组装到一起。组装完成后,在手机中插入SIM卡,手机会自动连接基站,从而实现手机的实网注册。在手机的实网注册后,执行操作使手机的温度上升。例如,可以通过外部作用使手机的温度上升,例如,使用微波炉,加热器等加热手机,从而使手机的温度上升。或者,通过手机内部程序的运行使其温度上升,例如,让手机不停地执行若干种功耗较大的程序,执行一段时间后,手机的温度自然会上升。再或者,在手机实网注册后,执行一段时间预定义的功能测试和/或性能测试,在手机完成功能测试和/或性能测试后,手机的温度一般都会有所上升,即达到了使手机升温的目的。
在步骤102中,如果手机温度超过预设阈值,获取基站的时钟频率。
如背景技术中所述,晶振温度在45℃和15℃之间,晶振的温度曲线呈现线性。因此,测试晶振高温下的校准参数时,终端温度起码要在45℃之上。当终端温度满足设定阈值后,获取基站的时钟频率。时钟频率是指同步电路中时钟的基础频率,它以“若干次周期每秒”来度量,量度单位采用SI单位赫兹(Hz)。
在步骤103中,根据基站的时钟频率调整手机的时钟频率。
在本步骤中,将手机的时钟频率和基站的时钟频率同步,即根据上一个步骤获得的基站的时钟频率校准手机的时钟频率。
上述实施例的测试方法可以进一步扩展到其他终端,例如,VR设备、平板电脑等,在这些终端的工厂测试环节按照上述步骤实现对终端的时钟频率的校准。
如背景技术中所述,由于手机等终端在工厂测试环节没有校准温度和频率的关系模型中的高温下的校准参数,从而导致在终端第一次联网时,如果对应的正好是一种高温场景,可能导致手机由于频率误差过大无法实网注册,无法实网注册意味着手机无法根据基站的时钟频率校准自身的时钟频率,从而无法满足GPS功能对时钟频率的精确度的要求,使手机的GPS功能无法正常使用。因此,本发明的核心思想是在工厂测试环节即完成常温和高温下的时钟频率的校准,但是现有技术中手机工厂测试环节的安装和校准是在常温环境下完成,因此需要将手机升温后再进行校准。
本公开实施例的终端的测试方法在终端的工厂测试环节执行,通过将终端升温并在满足温度要求的基础上,获取基站的时钟频率,并根据基站的时钟频率调整终端的时钟频率,从而解决终端用户在高温下的场景下第一次开机,无法完成实网注册,进而无法满足GPS正常使用对时钟频率的要求的问题,使终端即使在无法实网注册的情况下,也能够正常使用GPS功能。
可选地,步骤103中根据基站的时钟频率调整手机的时钟频率可以进一步包括:根据基站的时钟频率校准温度和频率的关系模型中的高温下的校准参数,即确定公式F(t)=C3(t-t0)^3+C2(t-t0)^2+C1(t-t0)+C0中的C2和C3,并根据将校准参数校准手机的时钟频率,并将校准参数存储到终端寄存器。一旦温度和频率的关系模型中的各个校准参数(高温下的参数和常温下的参数)都被校准,则后续可以持续性地根据上述公式校准手机的时钟频率。
图2是根据本公开另一实施例的测试方法的流程图,应用于终端的工厂测试环节,以下以手机为例进行说明,具体包括以下步骤。
在步骤201中,在手机实网注册后,执行使手机升温的操作。
手机插入SIM卡后,会自动连接基站,从而实现实网注册。在实网注册之后,执行操作使手机的温度上升。例如,可以通过外部的升温仪器使手机的温度上升,例如,使用微波炉,加热器等加热手机,从而使手机的温度上升。或者,通过手机内部程序的运行使其温度上升,例如,让手机不停地执行若干种功耗较大的程序,执行一段时间后,手机的温度自然会上升。再或者,在手机实网注册后,立即执行一段时间的功能测试和/或性能测试,在手机完成功能测试和/或性能测试后,手机的温度一般都会有所上升,即达到了使手机升温的目的。
在步骤202中,如果手机温度超过预设阈值,向基站发送获取基站的时钟频率的指令。
在步骤203中,接收基站的返回信息,并解析返回信息以获取基站的时钟频率。
通过步骤202-203,在手机温度满足设定阈值的条件下,手机通过和基站的交互获得基站的时钟频率。
在步骤204中,在手机温度满足设定阈值的条件下,根据基站的时钟频率调整手机的时钟频率。
在本步骤中,将手机的时钟频率和基站的时钟频率同步,即根据上一个步骤获得的基站的时钟频率校准手机的时钟频率。
图3是根据本公开另一实施例的测试方法的流程图,具体包括以下步骤。
在步骤301中,在手机实网注册后,执行使手机升温的操作。
手机插入SIM卡后,会自动连接基站,从而实现实网注册。在实网注册之后,执行操作使手机的温度上升。例如,可以通过外部作用使手机的温度上升,例如,使用微波炉,加热器等加热手机,从而使手机的温度上升。或者,通过手机内部程序的运行使其温度上升,例如,让手机不停地执行若干种功耗较大的程序,执行一段时间后,手机的温度自然会上升。再或者,在手机实网注册后,即执行一段时间的功能测试和/或性能测试,在手机完成功能测试和/或性能测试后,手机的温度一般都会有所上升,即达到了手机升温的目的。
在步骤302中,如果手机温度超过预设阈值,接收基站的广播信息。
在步骤303中,解析广播信息以获得基站的时钟频率。
基站定时向注册成功的手机发送广播信息,手机接收广播信息,以获得所需的信息。在步骤302和303中,利用基站的这种广播特性,解析接收到的广播信息并获得基站的时钟频率。
在步骤304中,根据基站的时钟频率调整手机的时钟频率。
在本步骤中,根据上一个步骤获得的基站的时钟频率,调整手机的时钟频率,以使手机的时钟频率和基站的时钟频率同步。在校准过程中,可以综合考虑影响手机的时钟频率和基站的时钟频率之间的频率误差的各种因素,例如,是否有传输延迟,手机的器件是否有问题等,从而能比较准确地调整手机频率。
上述实施例的测试方法可以进一步扩展到其他终端,例如,IPAD、VR设备、平板电脑等,在这些终端的工厂测试环节按照上述步骤实现对终端的时钟频率的校准。
图2和图3所述的实施例,应用于终端的工厂测试环节,进一步阐明了在终端温度满足温度要求的基础上,获取基站的时钟频率的具体方式,从而使本发明实施例更具可实现性。
在工厂测试环节,即根据基站的时钟频率调整终端的时钟频率,能够解决终端用户在高温下的场景下第一次开机,无法完成实网注册,进而无法满足GPS正常使用对时钟的要求的问题,使终端即使在无法实网注册的情况下,也能够正常使用GPS功能。
基于以上的终端的测试方法,本公开实施同时提供终端的测试装置。
图4是根据本公开实施例的终端的测试装置的结构图。终端的测试装置包括升温单元401、获取单元402和调整单元403。
升温单元401用于在终端实网注册后,执行使终端升温的操作。使终端升温的操作包括多种,例如,终端完成注册后,向终端发送指令,终端接收指令执行一些功耗较大的操作或执行各种测试,以使终端自然升温。或者,升温单元401具有加热功能,直接加热终端。
获取单元402用于如果终端温度超过预设阈值,获取基站的时钟频率。当终端温度满足设定阈值后,获取基站的时钟频率。获取基站的时钟频率的方式不限。例如,可以向基站发送请求,以获取时钟频率。或者,接收基站的广播信息,从广播信息中解析基站的时钟频率。
调整单元403用于根据基站的时钟频率调整终端的时钟频率。调整单元403根据基站的时钟频率调整终端的时钟频率,使终端的时钟频率和基站的时钟频率同步。在此过程中,可以综合考虑影响终端的时钟频率和基站的时钟频率之间的频率误差的各种因素,例如,是否有传输延迟,器件是否有问题等,从而能比较准确地调整终端的时钟频率。
本公开实施例的终端的测试装置,用于终端的工厂测试环节,通过将终端升温并在满足温度要求的基础上,获取基站的时钟频率,并根据基站的时钟频率调整终端的时钟频率,从而解决终端用户在高温下的场景下第一次开机,无法完成实网注册,进而无法满足GPS正常使用对时钟频率的要求的问题,使终端即使在无法实网注册的情况下,也能够正常使用GPS功能。
可选地,调整单元403包括计算模块和校准模块。计算模块,根据基站的时钟频率计算温度和频率的关系模型中的校准参数,即确定公式F(t)=C3(t-t0)^3+C2(t-t0)^2+C1(t-t0)+C0中的C2和C3。校准模块,用于根据校准参数校准终端的时钟频率,并校准参数存储到终端寄存器。一旦温度和频率的关系模型中的各个校准参数(高温下的参数和常温下的参数)都被校准,则后续可以持续性地根据上述公式校准终端的时钟频率。
可选地,上述单元升温包括:向终端发送测试指令,以使终端在执行各项测试后升温,所述各项测试包括预设的功能性测试和性能测试。升温单元向终端发送测试指令,终端接收到测试指令后,执行测试指令规定的各项测试,包括预设的功能性测试和性能测试,在此过程中,终端的温度会逐渐上升。
可选地,上述升温单元包括:升温仪器,升温仪器使终端升温。升温单元401的内部设置有加热器等升温仪器,将终端和升温单元401接触能够使终端的温度上升。
可选地,上述获取单元包括:发送模块,用于向基站发送获取基站的时钟频率的指令;第一接收模块,用于接收基站的返回信息,并解析返回信息以获取基站的时钟频率。
可选地,上述获取单元包括:第二接收模块,用于接收基站的广播信息,并解析所述广播信息以获得基站的时钟频率。
结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及步骤,能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现,为了清楚地说明硬件和软件的可互换性,在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本公开的范围。
当通过计算机软件实现本公开的方法和系统(或实现方法和系统的一部分时),计算机软件表现为利用计算机语言编码的一个或多个程序,以计算机可读介质的形式存储。计算机可读存储介质包括计算机存储器、一个或多个软盘、压缩盘(CD)、光盘、数字视频盘(DVD)、磁带、闪存、现场可编程门阵列或其他半导体器件中的电路配置、或者技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。该一个或多个程序被处理器从可读介质中读取后执行以实现本公开提供的方法和系统。计算机可读存储介质可以是可携带的,使得可以将其上存储的程序加载至一个或多个不同计算机或其他处理器上以实现上述的本公开的各个方面。
根据本公开的系统和方法可以部署在单个或多个服务器上。例如,可以将不同的分别部署在不同的服务器上,形成专用服务器。或者,可以在多个服务器上分布式部署相同的功能单元、或系统,以减轻负载压力。所述服务器包括但不限于在同一个局域网以及通过Internet连接的多个PC机、PC服务器、刀片机、超级计算机等。
以上所述仅为本公开的优选实施例,并不用于限制本公开,对于本领域技术人员而言,本公开可以有各种改动和变化。凡在本公开的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本公开的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种终端的测试方法,所述测试方法在终端的工厂测试环节执行,包括:
在终端实网注册后,执行使终端升温的操作;
如果终端温度超过预设阈值,获取基站的时钟频率;以及
根据基站的时钟频率调整终端的时钟频率。
2.根据权利要求1所述的测试方法,其中,所述执行使终端升温的操作包括:执行终端的各项测试以使终端升温,所述各项测试包括预设的功能性测试和性能测试。
3.根据权利要求1所述的测试方法,其中,所述执行使终端升温的操作包括:通过升温仪器使终端升温。
4.根据权利要求1所述的测试方法,其中,所述获取基站的时钟频率包括:
向基站发送获取基站的时钟频率的指令;以及
接收基站的返回信息,并解析返回信息以获取基站的时钟频率。
5.根据权利要求1所述的测试方法,其中,所述获取基站的时钟频率包括:
接收基站的广播信息;
解析所述广播信息以获得基站的时钟频率。
6.根据权利要求1所述的测试方法,其中,所述根据基站的时钟频率调整终端的时钟频率包括:
根据所述基站的时钟频率计算温度和频率的关系模型中的校准参数;以及
根据所述校准参数校准终端的时钟频率,并将所述校准参数存储到终端寄存器。
7.一种终端的测试装置,其中,包括:
升温单元,用于在终端实网注册后,执行使终端升温的操作;
获取单元,用于如果终端温度超过预设阈值,获取基站的时钟频率;
调整单元,用于根据基站的时钟频率调整终端的时钟频率。
8.根据权利要求7所述的测试装置,其中,所述单元升温具体用于:向所述终端发送测试指令,以使终端在执行各项测试后升温,所述各项测试包括预设的功能性测试和性能测试。
9.根据权利要求7所述的测试装置,其中,所述获取单元包括:
发送模块,用于向基站发送获取基站的时钟频率的指令;
第一接收模块,用于接收基站的返回信息,并解析返回信息以获取基站的时钟频率。
10.根据权利要求7所述的测试装置,其中,所述调整单元包括:
计算模块,根据所述基站的时钟频率计算温度和频率的关系模型中的校准参数;
校准模块,用于根据所述校准参数校准终端的时钟频率,并所述校准参数存储到终端寄存器。
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PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20170222 |
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WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |