CN106441084B - 基于微全息阵列的波前传感器、波前探测方法及系统 - Google Patents
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- CN106441084B CN106441084B CN201611061603.8A CN201611061603A CN106441084B CN 106441084 B CN106441084 B CN 106441084B CN 201611061603 A CN201611061603 A CN 201611061603A CN 106441084 B CN106441084 B CN 106441084B
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 32
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 56
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 39
- 238000010586 diagram Methods 0.000 claims description 27
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 22
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 17
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 6
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 4
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 3
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 claims description 3
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 abstract description 7
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 17
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 8
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 2
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 2
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/021—Interferometers using holographic techniques
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Abstract
本发明公开了基于微全息阵列的波前传感器、波前探测方法及系统,其中,所述基于微全息阵列的波前探测方法通过创建同时具有微透镜阵列成像和双螺旋点扩散函数功能的微全息阵列;待测波前经过所述微全息阵列在其后焦面上得到双螺旋点阵图;根据所述双螺旋点阵图获得波前斜率值,对所述波前斜率值进行波前重构,得到待测的波前信息,通过将待测波前经过微全息阵列后,在其后焦面上得到双螺旋形式的点阵图,当微全息阵列后焦面的像点存在离焦时,双螺旋点会按一定规律旋转而不会想高斯点一样明显扩大,因此能抑制波前离焦误差对于重构精度的影响,当样品发生轴向位移时依然能够得到高的探测精度,在保证探测精度的前提下提高了传感器轴向的探测范围。
Description
技术领域
本发明涉及自适应光学技术领域,特别涉及基于微全息阵列的波前传感器、波前探测方法及系统。
背景技术
在光学元件和半导体制造以及天文、航空等领域,波前检测和测量起到重要的作用,其中以夏克-哈特曼波前传感器为代表的新型探测技术,广泛应用于光学元件,金属表面探测以及光束波前畸变和相差的测量等方面;目前的测量技术主要分为两类,一类是对波面面形直接测量,另一类为波前斜率测量;它们的代表分别为干涉仪和夏克-哈特曼波前传感器。由于干涉仪需要经过严格的精确校准,配套设施严格,受到环境因素影响巨大,因而,波前斜率测量方法受到更广泛的应用,其中最常用的为夏克-哈特曼波前检测法。
夏克-哈特曼波前传感器一般由微透镜阵列和CCD相机组成,通过CCD记录微透镜后焦面上像点的光斑信息,来计算光斑质心的偏移,重构波前信息。由于CCD的探测面在微透镜的后焦平面上,故探测光经过样品后,需要对波前进行准直为理想平面波,使得波前经过微透镜阵列后,像点全部在后焦平面上,这样计算出的光斑质心偏移的误差最小。但是,当样品发生轴向位移的时候,入射波前经微透镜后像点将不在后焦平面上,产生一定的离焦,探测面上的光斑会随着离焦的距离增大而变大[图2中的(b)],这样,计算质心偏移的误差将会随之增大,直接影响到波前重构的精度。
因而现有技术还有待改进和提高。
发明内容
鉴于上述现有技术的不足之处,本发明的目的在于提供基于微全息阵列的波前传感器、波前探测方法及系统,能抑制波前离焦误差对于重构精度的影响,在目标物体产生轴向位移的时候,依然能够得到高的探测精度,在保证探测精度的前提下大大提高了传感器轴向的探测范围。
为了达到上述目的,本发明采取了以下技术方案:
一种基于微全息阵列的波前探测方法,其包括如下步骤:
创建同时具有微透镜阵列成像和双螺旋点扩散函数功能的微全息阵列;
待测波前经过所述微全息阵列在其后焦面上得到双螺旋点阵图;
根据所述双螺旋点阵图获得波前斜率值;
对所述波前斜率值进行波前重构,得到待测的波前信息。
所述的基于微全息阵列的波前探测方法中,所述创建同时具有微透镜阵列成像和双螺旋点扩散函数功能的微全息阵列的步骤包括:
创建同时具有微透镜成像和双螺旋点扩散函数功能的相位模板;
将所述相位模板按预设排布指令重复排列,得到同时具有微透镜阵列成像和双螺旋点扩散函数功能的微全息阵列。
所述的基于微全息阵列的波前探测方法中,创建具有双螺旋点扩散功能的相位模板的步骤包括:
通过位于拉盖尔-高斯模式平面上特定直线上的拉盖尔-高斯光束模式的线性叠加构成带有旋转和缩放的自成像光束;
将自成像光束的一个横截面中的复合场作为相位模板的光学透过率函数,使所述相位模板的光学透过率函数为双螺旋点扩散函数。
所述的基于微全息阵列的波前探测方法中,,所述拉盖尔-高斯光束模式为:
其中,r=(ρ,φ,z)为空间点的柱坐标,为高斯光斑的径向坐标,ω0为束腰半径,为纵向坐标,为瑞利长度;
un,m(r)的组成为:
Φm(φ)=exp(imφ),
其中,为古伊相位,为广义的拉盖尔多项式,n,m为整数,且n,m取下列五组数值:(1,1),(3,5),(5,9),(7,13),(9,17),获得五种拉盖尔-高斯光束模式;将这五种拉盖尔-高斯光束模式进行等权重叠加,形成所述带有旋转和缩放的自成像光束。
所述的基于微全息阵列的波前探测方法中,所述相位模板的相位函数为:
其中,为微透镜的相位,为所述五种拉盖尔-高斯光束模式进行等权重叠加形成的复振幅的相位。
所述的基于微全息阵列的波前探测方法中,所述微全息阵列为通过光刻方法制作的相位板或空间光调制器。
一种基于微全息阵列的波前传感器,其包括沿光路传输方向依次设置的:
微全息阵列,用于将待测波前转换为双螺旋旋转光束;
图像传感器,用于探测所述双螺旋旋转光束,获得双螺旋点阵图;
所述基于微全息阵列的波前传感器还包括:
波前斜率计算模块,用于根据所述双螺旋点阵图获得波前斜率值;
波前重构模块,用于对所述波前斜率值进行波前重构,得到待测的波前信息。
所述的基于微全息阵列的波前传感器中,所述微全息阵列包括若干个按预设排布指令重复排列的相位模板,所述相位模板同时具有微透镜成像和双螺旋点扩散函数功能。
所述的基于微全息阵列的波前传感器中,所述微全息阵列为通过光刻方法制作的相位板或空间光调制器。
一种基于微全息阵列的波前探测系统,其包括如上所述的基于微全息阵列的波前传感器,用于探测待测样品的表面信息,所述基于微全息阵列的波前探测系统还包括沿光路传输方向依次设置的:
激光器,用于产生激光光源;
第一准直透镜,用于对所述激光光源进行准直,输出准直光源;
第一反射镜,用于对所述准直光源进行反射;
可升降样品台,用于放置待测样品,所述待测样品经反射后的准直光源激发而发出荧光;
第二反射镜,用于对所述荧光进行反射;
投影物镜,用于对经反射后的荧光进行聚焦;
第二准直透镜,用于对经聚焦后的荧光进行准直扩束,投射至所述微全息阵列。
相较于现有技术,本发明提供的基于微全息阵列的波前传感器、波前探测方法及系统中,所述基于微全息阵列的波前探测方法通过创建同时具有微透镜阵列成像和双螺旋点扩散函数功能的微全息阵列;之后待测波前经过所述微全息阵列在其后焦面上得到双螺旋点阵图;根据所述双螺旋点阵图获得波前斜率值,对所述波前斜率值进行波前重构,得到待测的波前信息,通过将待测波前经过微全息阵列后,在其后焦面上得到双螺旋形式的点阵图,当微全息阵列后焦面的像点存在离焦时,双螺旋点会按一定规律旋转而不会想高斯点一样明显扩大,因此能抑制波前离焦误差对于重构精度的影响,当样品发生轴向位移时依然能够得到高的探测精度,在保证探测精度的前提下提高了传感器轴向的探测范围。
附图说明
图1为本发明提供的基于微全息阵列的波前探测方法的流程图。
图2为不同深度的双螺旋点扩散函数和标准点扩散函数成像的对比图。
图3为双螺旋点扩散函数成像的强度分布图。
图4为双螺旋点扩散函数的相位分布图。
图5为双螺旋点扩散函数在不同轴向位置处的成像图形。
图6为双螺旋图像两个旁瓣中心连线的旋转角度与Z轴位置的关系曲线图。
图7a为现有的波前探测方法中获得的高斯点阵图。
图7b为本发明提供的基于微全息阵列的波前探测方法中获得的双螺旋点阵图。
图8为本发明提供的基于微全息阵列的波前探测方法中微全息阵列的相位分布图。
图9为本发明提供的基于微全息阵列的波前探测方法第一实施例的理论模拟图。
图10为本发明提供的基于微全息阵列的波前探测方法第二实施例的理论模拟图。
图11为本发明第二实施例中在不同轴向位置处,传统探测方法与基于微全息阵列的波前探测方法所恢复的波前与待测波前的均方根误差曲线图。
图12为本发明提供的基于微全息阵列的波前传感器第一优选实施例的结构示意图。
图13为本发明提供的基于微全息阵列的波前传感器第二优选实施例的结构示意图。
图14为本发明提供的基于微全息阵列的波前探测系统的结构示意图。
具体实施方式
鉴于现有技术中样品发生的轴向移位将大大影响波前重构的精度等缺点,本发明的目的在于提供基于微全息阵列的波前传感器、波前探测方法及系统,能抑制波前离焦误差对于重构精度的影响,在目标物体产生轴向位移的时候,依然能够得到高的探测精度,在保证探测精度的前提下大大提高了传感器轴向的探测范围。
为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确,以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
请参阅图1,本发明提供的基于微全息阵列的波前探测方法包括如下步骤:
S100、创建同时具有微透镜阵列成像和双螺旋点扩散函数功能的微全息阵列;
S200、待测波前经过所述微全息阵列在其后焦面上得到双螺旋点阵图;
S300、根据所述双螺旋点阵图获得波前斜率值;
S400、对所述波前斜率值进行波前重构,得到待测的波前信息。
本发明在传统夏克-哈特曼波前探测方法的基础上,利用微全息阵列代替传统夏克-哈特曼传感器中的微透镜阵列,该微全息阵列同时具有微透镜阵列成像和双螺旋点扩散函数的功能,待测波前经过所述微全息阵列后,在其后焦面上呈双螺旋的形式,即本发明将传统探测方法中的高斯光斑呈现为双螺旋的形式,并由图像传感器探测。当微全息阵列后焦面的像点存在离焦时,双螺旋点会按照一定的规律旋转,而并不会像传统高斯点一样明显扩大影响探测精度,因此当待测物体产生轴向位移的时候,可以获得待测波前经微全息阵列后的像点三维空间坐标精确信息,依然能够得到高的探测精度,根据像点三维空间坐标精确信息得到孔径波前斜率,在此基础上,对所述波前斜率值进行波前重构,即可重建获得被测光波前,重构出的波前面形会更加精确、误差更小,在保证探测精度的同时提高了传感器轴向的探测范围。
具体地,所述步骤S100包括:
S101、创建同时具有微透镜成像和双螺旋点扩散函数功能的相位模板;
S102、将所述相位模板按预设排布指令重复排列,得到同时具有微透镜阵列成像和双螺旋点扩散函数功能的微全息阵列。
本发明实施例基于计算全息波前编码的方式,将双螺旋点扩散函数和微透镜阵列进行组合,得到同时具有微透镜阵列成像和双螺旋点扩散函数功能的微全息阵列,具体为先创建同时具有微透镜成像和双螺旋点扩散函数功能的相位模板,之后将所述相位模板按预设排布指令重复排列,例如3×3、4×4等排列形式,从而得到上述微全息阵列,进而实现将传统阵列高斯点转换为阵列双螺旋点的形式。本实施例中,所述微全息阵列可采用通过光刻方法制作的相位板或者直接采用空间光调制器来实现。
进一步地,所述步骤S101中,创建具有双螺旋点扩散功能的相位模板的步骤包括:
S1011、通过位于拉盖尔-高斯模式平面上特定直线上的拉盖尔-高斯光束模式的线性叠加构成带有旋转和缩放的自成像光束;
S1012、将自成像光束的一个横截面中的复合场作为相位模板的光学透过率函数,使所述相位模板的光学透过率函数为双螺旋点扩散函数。
通过双螺旋点扩散函数(DH-PSF)实现三维纳米定位是基于一种被称为自成像的现象。DH-PSF是一种三维光学响应,具有随离焦量不断旋转的圆形不对称横截面轮廓,如图2所示。双螺旋点扩散函数主要通过位于拉盖尔-高斯(Laguerre-Gauss,简记为LG)模式平面上特定直线上的LG光束模式的线性叠加构成带有旋转和缩放的自成像光束,然后将自成像光束的一个横截面中的复合场作为双螺旋光学模块的光学透过率函数,使所述双螺旋光学模块的光学透过率函数为双螺旋点扩散函数,那么,整个双螺旋点扩散函数系统的传递函数即为双螺旋点扩散函数。该拉盖尔-高斯光束模式为:
其中,r=(ρ,φ,z)为空间点的柱坐标,
为高斯光斑的径向坐标,ω0为束腰半径,
为纵向坐标,为瑞利长度,
un,m(r)的组成为:
Φm(φ)=exp(imφ) (4)
其中,为古伊相位,为广义的拉盖尔多项式,n,m为整数,且n=|m|,|m|+2,|m|+4,|m|+6,....,
当n,m取下列五组数值:(1,1),(3,5),(5,9),(7,13),(9,17),可获得五种拉盖尔-高斯光束模式。将这五种拉盖尔-高斯光束模式进行等权重叠加,可形成带有旋转和缩放的自成像光束,即形成一个新的光场分布函数—双螺旋旋转光束,如图3和图4。基于LG函数的傅立叶变换不变特性,该函数如作为光学传递函数应用到光学系统中,光学系统的点扩散函数将变为双螺旋点扩散函数,且双螺旋旁瓣随离焦量变化而旋转的速度与LG模式平面上所选取的直线斜率成正比,在聚焦区速度最大,如图5。
一个DH-PSF系统就是在标准成像系统的傅里叶平面加入一个特殊设计的双螺旋相位片,使其透射率函数在傅里叶变化的聚焦区形成双螺旋的形式,步骤S101中创建的相位模板即具有该特性,一个点物通过该双螺旋相位片所成的像是两个围绕着光轴旋转的旁瓣,其中一个绕着光轴顺时针旋转,另一个则逆时针旋转。用DH-PSF进行三维纳米定位时,聚焦光斑的横向定位点通过两个旁瓣的中点来估计,而其轴向位置则根据两个旁瓣中心连线的旋转角度确定,且定位精度极高,具体可参考图6所示的DH-PSF两个旁瓣中心连线的旋转角度与Z轴位置的关系曲线。
本发明通过创建具有上述双螺旋点扩散函数功能的相位模板,将该相位模板进行重复排列后得到微全息阵列,使得待测波前经过所述微全息阵列后,在其后焦面上呈双螺旋的形式,将传统探测方法中的高斯光斑(图7a)呈现为双螺旋(图7b)的形式,并由图像传感器探测,利用探测到的双螺旋点可以获得像点的精确三维坐标信息,进而得到准确的孔径波前斜率值,保证探测精度的同时提高了传感器轴向的探测范围。
同时,该相位模板不仅具有上述双螺旋点扩散函数功能,还具有微透镜成像功能,基于上述双螺旋点扩散函数及微透镜成像的功能,所述相位模板的相位函数为:
其中,为微透镜的相位,为所述五种拉盖尔-高斯光束模式进行等权重叠加形成的复振幅的相位,即具体可选择上述n,m取(1,1),(3,5),(5,9),(7,13),(9,17)时对应的拉盖尔-高斯光束模式等权重叠加形成双螺旋旋转光束的相位形式作为初始值,然后通过优化,获得高效率的双螺旋光束纯相位分布,将该特殊设计的相位模板根据系统需求重复排列,构成微全息阵列,如图8所示,其为3×3微全息阵列的相位分布图。
具体实施时,入射波前经过微全息阵列后,在其后焦平面上形成双螺旋旋转光束,并由图像传感器探测,利用探测到的双螺旋点扩散函数阵列点,经高斯拟合算法获得斑点的三维坐标信息(xi,yi,zi),然后根据公式(6)计算出子孔径在x,y方向的波前斜率:
Gx,Gy分别为第i个孔径在x,y方向的波前斜率,(xi,yi)为第i个孔径对应的像点坐标,(x0,y0)为平面波入射时每个孔径像点二维坐标,用作计算焦点偏移的基准。在获得上述子孔径波前斜率的基础上,利用传统夏克-哈特曼波前传感器的波前重建算法,如区域法波前重建法和模式法波前重建法,就可重建获得被测光波前,由于此为现有技术,故不作详细论述。
利用同时具有微透镜阵列成像和双螺旋点扩散函数功能的微全息阵列代替传统传感器中的微透镜阵列,使得像点在微全息阵列的后焦平面上呈现为双螺旋的形式,并由图像传感器探测,当微透镜阵列后焦面的像点存在离焦时,双螺旋点会按一定规律旋转,并且横向定位精度不会随着离焦的增大而降低,因此,在样品产生轴向位移时,计算得到的横向和轴向坐标更加精确,所得到的波前斜率误差更小,重构出波前面形会更加精确,误差更小,提高了探测的轴向范围。
以下结合具体实施例对本发明提供的微全息阵列的波前探测方法的理论模拟结果进行说明:
实施例一
采用的微透镜的个数为5*5,微透镜直径为600μm,焦距为5mm,模拟产生一个球面波,并用本发明的微全息阵列的波前探测方法进行波前恢复,如图9所示,图9中的(a)为待分析的球面波前;图9中的(b)为待分析的球面波前相位分布;图9中的(c)为恢复的球面波前;图9中的(d)为恢复球面波的相位;图9中的(e)为待测球面波与恢复球面波的波前之差;图9中的(f)为待测球面波与恢复球面波的相位之差,从图中可看出,经本发明提供的波前探测方法恢复的球面波前与待分析的球面波前非常接近,两者的波前之差和相位之差较小,说明本发明可精确恢复球面波前。
实施例二
采用的微透镜的个数为5*5,微透镜直径为600μm,焦距为5mm,模拟产生一个任意波前(非理想平面波),并用本发明的微全息阵列的波前探测方法进行波前恢复,如图10所示,图10中的(a)为待分析的波前;图10中的(b)为待分析的波前相位分布;图10中的(c)为恢复的波前;图10中的(d)为恢复的相位;图10中的(e)为待测波前与恢复波前的波前之差;图10中的(f)为待测波前与恢复波前的相位之差,同时,在相同的模拟条件下,通过传统的夏克-哈特曼波前探测法对该待测波前进行恢复,采用两种方法所恢复的波前与待测波前的均方根误差(RMSE)如图11所示,从图中可明显看出,基于微全息阵列的波前探测方法在在点光源轴向位移过程中,受到像点离焦的影响要小于传统的夏特-哈克曼探测法,从而得到比传统的波前传感器更高的探测精度,表明本发明提供的波前探测方法可以在一定精度的条件下,有效的提高波前传感器的轴向探测范围。
本发明相应提供一种基于微全息阵列11的波前传感器,如图12所示,其包括沿光路传输方向依次设置的微全息阵列11和图像传感器12,其中,所述微全息阵列11用于将待测波前转换为双螺旋旋转光束;所述图像传感器12用于探测所述双螺旋旋转光束,获得双螺旋点阵图;进一步地,所述基于微全息阵列11的波前传感器还包括用于根据所述双螺旋点阵图获得波前斜率值的波前斜率计算模块,以及用于对所述波前斜率值进行波前重构,得到待测的波前信息的波前重构模块。具体请参阅上述方法对应的实施例。
具体地,所述微全息阵列11包括若干个按预设排布指令重复排列的相位模板,所述相位模板同时具有微透镜成像和双螺旋点扩散函数功能。具体请参阅上述方法对应的实施例。
本发明提供的基于微全息阵列11的波前传感器第一优选实施例中,所述微全息阵列11采用通过光刻方法制作的相位版实现(如图12所示),第二优选实施例中,所述微全息阵列11则直接采用空间光调制器来实现(如图13所示),当采用空间光调制器实现所述微全息阵列11时,入射波前经分束器13投射至空间光调制器,之后经空间光调制器与分束器13反射至4F系统(包括第一透镜14和第二透镜15),经过4F系统聚焦后由图像传感器12探测。具体请参阅上述方法对应的实施例。
本发明还相应提供一种基于微全息阵列的波前探测系统,如图14所示,其包括如上所述的基于微全息阵列的波前传感器,用于探测待测样品的表面信息,所述基于微全息阵列的波前探测系统还包括沿光路传输方向依次设置的激光器20、第一准直透镜21、第一反射镜22、可升降样品台23、第二反射镜24、投影物镜25和第二准直透镜26,激光器20产生激光光源经过第一准直透镜21准直后输出的准直光源经过第一反射镜22反射至待测样品上,待测样品被准直光源激发后可发出荧光,之后经第二反射镜24反射至投影物镜25,投影物镜25对荧光进行聚焦,之后通过第二准直透镜26对经聚焦后的荧光进行准直扩束,并投射至微全息阵列11,通过上述基于微全息阵列的波前传感器探测待测样品的表面信息,使得在一定的轴向范围内,能精准探测到待测样品的表面信息。由于上文已对所述基于微全息阵列的波前传感器进行了详细描述,此处不作详述。
综上所述,本发明提供的基于微全息阵列的波前传感器、波前探测方法及系统中,所述基于微全息阵列的波前探测方法通过创建同时具有微透镜阵列成像和双螺旋点扩散函数功能的微全息阵列;之后待测波前经过所述微全息阵列在其后焦面上得到双螺旋点阵图;根据所述双螺旋点阵图获得波前斜率值,对所述波前斜率值进行波前重构,得到待测的波前信息,通过将待测波前经过微全息阵列后,在其后焦面上得到双螺旋形式的点阵图,当微全息阵列后焦面的像点存在离焦时,双螺旋点会按一定规律旋转而不会想高斯点一样明显扩大,因此能抑制波前离焦误差对于重构精度的影响,当样品发生轴向位移时依然能够得到高的探测精度,在保证探测精度的前提下提高了传感器轴向的探测范围。
可以理解的是,对本领域普通技术人员来说,可以根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,而所有这些改变或替换都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
Claims (9)
1.一种基于微全息阵列的波前探测方法,其特征在于,包括如下步骤:
创建同时具有微透镜阵列成像和双螺旋点扩散函数功能的微全息阵列;
待测波前经过所述微全息阵列在其后焦面上得到双螺旋点阵图;
根据所述双螺旋点阵图获得波前斜率值;
对所述波前斜率值进行波前重构,得到待测的波前信息;
所述创建同时具有微透镜阵列成像和双螺旋点扩散函数功能的微全息阵列的步骤包括:
创建同时具有微透镜成像和双螺旋点扩散函数功能的相位模板;
将所述相位模板按预设排布指令重复排列,得到同时具有微透镜阵列成像和双螺旋点扩散函数功能的微全息阵列。
2.根据权利要求1所述的基于微全息阵列的波前探测方法,其特征在于,创建具有双螺旋点扩散功能的相位模板的步骤包括:
通过位于拉盖尔-高斯模式平面上特定直线上的拉盖尔-高斯光束模式的线性叠加构成带有旋转和缩放的自成像光束;
将自成像光束的一个横截面中的复合场作为相位模板的光学透过率函数,使所述相位模板的光学透过率函数为双螺旋点扩散函数。
3.根据权利要求2所述的基于微全息阵列的波前探测方法,其特征在于,所述拉盖尔-高斯光束模式为:
其中,r=(ρ,φ,z)为空间点的柱坐标,为高斯光斑的径向坐标,ω0为束腰半径,为纵向坐标,为瑞利长度;
un,m(r)的组成为:
Φm(φ)=exp(imφ),
其中,为古伊相位,为广义的拉盖尔多项式,n,m为整数,且n,m取下列五组数值:(1,1),(3,5),(5,9),(7,13),(9,17),获得五种拉盖尔-高斯光束模式;将这五种拉盖尔-高斯光束模式进行等权重叠加,形成所述带有旋转和缩放的自成像光束。
4.根据权利要求3所述的基于微全息阵列的波前探测方法,其特征在于,所述相位模板的相位函数为:
其中,为微透镜的相位,为所述五种拉盖尔-高斯光束模式进行等权重叠加形成的复振幅的相位。
5.根据权利要求1所述的基于微全息阵列的波前探测方法,其特征在于,所述微全息阵列为通过光刻方法制作的相位板或空间光调制器。
6.一种基于微全息阵列的波前传感器,其特征在于,包括沿光路传输方向依次设置的:
微全息阵列,用于将待测波前转换为双螺旋旋转光束;
图像传感器,用于探测所述双螺旋旋转光束,获得双螺旋点阵图;
所述基于微全息阵列的波前传感器还包括:
波前斜率计算模块,用于根据所述双螺旋点阵图获得波前斜率值;
波前重构模块,用于对所述波前斜率值进行波前重构,得到待测的波前信息。
7.根据权利要求6所述的基于微全息阵列的波前传感器,其特征在于,所述微全息阵列包括若干个按预设排布指令重复排列的相位模板,所述相位模板同时具有微透镜成像和双螺旋点扩散函数功能。
8.根据权利要求6所述的基于微全息阵列的波前传感器,其特征在于,所述微全息阵列为通过光刻方法制作的相位板或空间光调制器。
9.一种基于微全息阵列的波前探测系统,其特征在于,包括如权利要求6-8任意一项所述的基于微全息阵列的波前传感器,用于探测待测样品的表面信息,所述基于微全息阵列的波前探测系统还包括沿光路传输方向依次设置的:
激光器,用于产生激光光源;
第一准直透镜,用于对所述激光光源进行准直,输出准直光源;
第一反射镜,用于对所述准直光源进行反射;
可升降样品台,用于放置待测样品,所述待测样品经反射后的准直光源激发而发出荧光;
第二反射镜,用于对所述荧光进行反射;
投影物镜,用于对经反射后的荧光进行聚焦;
第二准直透镜,用于对经聚焦后的荧光进行准直扩束,投射至所述微全息阵列。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201611061603.8A CN106441084B (zh) | 2016-11-21 | 2016-11-21 | 基于微全息阵列的波前传感器、波前探测方法及系统 |
PCT/CN2017/111313 WO2018090951A1 (zh) | 2016-11-21 | 2017-11-16 | 基于微全息阵列的波前传感器、波前探测方法及系统 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201611061603.8A CN106441084B (zh) | 2016-11-21 | 2016-11-21 | 基于微全息阵列的波前传感器、波前探测方法及系统 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN106441084A CN106441084A (zh) | 2017-02-22 |
CN106441084B true CN106441084B (zh) | 2019-02-01 |
Family
ID=58218999
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201611061603.8A Active CN106441084B (zh) | 2016-11-21 | 2016-11-21 | 基于微全息阵列的波前传感器、波前探测方法及系统 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN106441084B (zh) |
WO (1) | WO2018090951A1 (zh) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109212749B (zh) * | 2018-07-09 | 2020-01-10 | 苏州大学 | 一种实现边缘增强成像的滤波片及其设计方法 |
CN108873323B (zh) * | 2018-07-09 | 2020-01-10 | 苏州大学 | 一种实现边缘增强成像的方法及系统 |
FR3104258B1 (fr) * | 2019-12-06 | 2021-12-31 | Saint Gobain | Méthode de mesure de la qualité optique d’une zone donnée d’un vitrage, dispositif de mesure associé |
CN110806186A (zh) * | 2019-12-12 | 2020-02-18 | 广东省航空航天装备技术研究所 | 基于点扩散函数工程的三维轮廓测量方法和系统 |
CN111474698B (zh) * | 2020-04-30 | 2022-09-02 | 重庆邮电大学 | 一种双光源光学显微成像系统及图像处理方法 |
CN111829671B (zh) * | 2020-09-08 | 2023-01-03 | 中国工程物理研究院应用电子学研究所 | 一种高分辨波前检测装置及波前复原方法 |
CN112903256B (zh) * | 2021-02-25 | 2022-07-29 | 北京空间机电研究所 | 一种遥感卫星光学系统在轨成像性能评估方法 |
CN112987321B (zh) * | 2021-03-22 | 2022-08-02 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种生成高功率涡旋激光的方法和装置 |
CN114528880B (zh) * | 2022-02-21 | 2024-07-16 | 北京理工大学 | 一种基于计算全息的波前像差测量方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102735348A (zh) * | 2012-06-15 | 2012-10-17 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种基于哈特曼波前传感器的波前测量方法 |
US8941837B1 (en) * | 2013-03-13 | 2015-01-27 | Exelis, Inc. | Phased array of computer generated holograms for waveform or surface measurement |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4804269A (en) * | 1987-08-11 | 1989-02-14 | Litton Systems, Inc. | Iterative wavefront measuring device |
US7645972B2 (en) * | 2006-12-13 | 2010-01-12 | Lockheed Martin Corporation | High-speed readout of a wavefront sensor using position sensing device |
JP2011238311A (ja) * | 2010-05-10 | 2011-11-24 | Hitachi Consumer Electronics Co Ltd | 光情報再生装置、光情報記録装置および光情報記録再生装置 |
CN102252832B (zh) * | 2011-06-24 | 2012-10-03 | 北京理工大学 | 大口径准直系统波前质量检测装置和方法 |
CN102507019A (zh) * | 2011-11-21 | 2012-06-20 | 长春理工大学 | 基于微扫描的像质检测用哈特曼波前传感器 |
CN102589720B (zh) * | 2012-03-19 | 2014-01-01 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种适用于非均匀光照明的哈特曼波前测量仪 |
CN102980875B (zh) * | 2012-11-19 | 2015-04-22 | 深圳大学 | 大景深三维纳米分辨成像方法、光学组件及成像系统 |
-
2016
- 2016-11-21 CN CN201611061603.8A patent/CN106441084B/zh active Active
-
2017
- 2017-11-16 WO PCT/CN2017/111313 patent/WO2018090951A1/zh active Application Filing
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102735348A (zh) * | 2012-06-15 | 2012-10-17 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种基于哈特曼波前传感器的波前测量方法 |
US8941837B1 (en) * | 2013-03-13 | 2015-01-27 | Exelis, Inc. | Phased array of computer generated holograms for waveform or surface measurement |
Non-Patent Citations (4)
Title |
---|
《Extended-range Shack-Hartmann wavefront sensor with nonlinear holographic lenslet array》;Dmytro V. Podanchuk 等;《Optical Engineering》;20060531;第45卷(第5期);全文 |
《全息波前传感方法与动态全息自适应光学研究》;姚凯男;《中国博士学位论文全文数据库》;20151015(第10期);第15页第1段至第21页第2段,第50页第5段至第51页第1段,图2.4-2.6、3.3 |
《超衍射成像中双螺旋点扩展函数的三维定位精度》;陈鹤 等;《物理学报》;20131231;第62卷(第14期);全文 |
《高效双螺旋点扩展函数相位片的设计与实验研究》;李恒 等;《物理学报》;20131231;第62卷(第12期);全文 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2018090951A1 (zh) | 2018-05-24 |
CN106441084A (zh) | 2017-02-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |