CN106370564B - 一种粉尘测试光路元件的射流保护装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种粉尘测试光路元件的射流保护装置,包括：测量气室，贯穿测量气室的粉尘通道，贯穿测量气室并垂直于粉尘通道的光路通孔；粉尘通道组成有：使粉尘形成自由射流的粉尘喷射段，在自由射流的起始段进行收敛的粉尘收敛段；光路通孔在粉尘喷射段与粉尘收敛段之间。本发明提供一种粉尘测试光路元件的射流保护装置，能有效避免粉尘在流经光路通孔时残留或溢出在光路通孔，污染光路，从而有效提高光路元件的使用寿命。

Description

一种粉尘测试光路元件的射流保护装置
技术领域
涉及粉尘气路测试领域，特别是一种粉尘测试光路元件的射流保护装置。
背景技术
目前国内多数粉尘测试光路为开放式，粉尘流经光路检测时，易有残留，污染光路，需要维护人员频繁的对设备进行维护；本发明采用射流保护结构对光路进行保护，可有效避免粉尘溢出，污染光路元件如透镜、镜片等，减少维护频率。
发明内容
为解决现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种粉尘测试光路元件的射流保护装置，能有效避免粉尘在流经光路通孔时残留或溢出在光路通孔，污染光路，从而有效提高光路元件的使用寿命。
为了实现上述目标，本发明采用如下的技术方案：
一种粉尘测试光路元件的射流保护装置,包括：测量气室，贯穿测量气室的粉尘通道，贯穿测量气室并垂直于粉尘通道的光路通孔；粉尘通道组成有：使粉尘形成自由射流的粉尘喷射段，在自由射流的起始段进行收敛的粉尘收敛段；光路通孔在粉尘喷射段与粉尘收敛段之间。
前述的一种粉尘测试光路元件的射流保护装置,粉尘喷射段组成有：粉尘入口，喷嘴，设于粉尘入口与喷嘴之间的喷射过渡段。
前述的一种粉尘测试光路元件的射流保护装置,粉尘入口的直径大于喷嘴的直径，喷射过渡段的直径从靠近粉尘入口处到靠近喷嘴处渐小。
前述的一种粉尘测试光路元件的射流保护装置,粉尘收敛段组成有：粉尘接收口，收敛口，设于粉尘接收口与收敛口之间的收敛过渡段。
前述的一种粉尘测试光路元件的射流保护装置,粉尘接收口的直径大于收敛口的直径，上述收敛过渡段的直径从靠近粉尘接收口处到靠近收敛口处渐小。
前述的一种粉尘测试光路元件的射流保护装置,粉尘入口半径的计算公式为：
Figure BDA0001126028270000021
其中θ为收缩角，α为紊流系数，r0为粉尘入口半径，r1为喷嘴半径，Sn为起始段长度。
前述的一种粉尘测试光路元件的射流保护装置,喷嘴半径与收敛口半径之间具体的公式为：
Figure BDA0001126028270000022
其中θ为收缩角，α为紊流系数，r1为喷嘴半径，r2为收敛口半径，Sn为起始段长度。
前述的一种粉尘测试光路元件的射流保护装置,喷嘴半径与起始段长度之间具体的公式为：
Figure BDA0001126028270000023
其中r1为喷嘴半径，a为紊流系数，Sn为起始段长度。
本发明的有益之处在于：本发明提供一种粉尘测试光路元件的射流保护装置，能有效避免粉尘在流经光路通孔时残留或溢出在光路通孔，污染光路，从而有效提高光路元件的使用寿命。
附图说明
图1是本发明一种实施例的截面图；
图2是本发明一种实施例的解体图；
图3是本发明自由射流的示意图；
图中附图标记的含义：
1测量气室，2粉尘通道，3光路通孔，4粉尘喷射段，401粉尘入口，402喷嘴，403喷射过渡段，5粉尘收敛段，501粉尘接收口，502收敛口，503收敛过渡段。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明作具体的介绍。
一种粉尘测试光路元件的射流保护装置,包括：测量气室，贯穿测量气室的粉尘通道，贯穿测量气室并垂直于粉尘通道的光路通孔；粉尘通道组成有：使粉尘形成自由射流的粉尘喷射段，在自由射流的起始段进行收敛的粉尘收敛段；光路通孔在粉尘喷射段与粉尘收敛段之间。需要说明的是，如图3，自由射流过程分为：起始段，过渡段，基本段。
起始段长度通过喷嘴半径与紊流系数计算得出，具体公式为：
Figure BDA0001126028270000031
其中r1为喷嘴半径，a为紊流系数，Sn为起始段长度。
粉尘喷射段组成有：粉尘入口，喷嘴，设于粉尘入口与喷嘴之间的喷射过渡段。粉尘入口的直径大于喷嘴的直径，喷射过渡段的直径从靠近粉尘入口处到靠近喷嘴处渐小。说明这样设计能避免粉尘进入光路通孔的原理。
粉尘入口半径的计算公式为：
Figure BDA0001126028270000041
其中θ为收缩角，α为紊流系数，r0为粉尘入口半径，r1为喷嘴半径，Sn为起始段长度。
粉尘收敛段组成有：粉尘接收口，收敛口，设于粉尘接收口与收敛口之间的收敛过渡段。粉尘接收口的直径大于收敛口的直径，上述收敛过渡段的直径从靠近粉尘接收口处到靠近收敛口处渐小。说明这样设计能避免粉尘进入光路通孔的原理。
收敛口半径的计算公式为：
Figure BDA0001126028270000042
其中θ为收缩角，α为紊流系数，r1为喷嘴半径，r2为收敛口半径，Sn为起始段长度。
本发明提供一种粉尘测试光路元件的射流保护装置，能有效避免粉尘在流经光路通孔时残留或溢出在光路通孔，可有效的保护粉尘检测设备中的光路元件，减少粉尘附着，降低粉尘检测设备维护频率，减少售后成本。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解，上述实施例不以任何形式限制本发明，凡采用等同替换或等效变换的方式所获得的技术方案，均落在本发明的保护范围内。

Claims (5)

1.一种粉尘测试光路元件的射流保护装置,其特征在于，包括：测量气室，贯穿上述测量气室的粉尘通道，贯穿上述测量气室并垂直于上述粉尘通道的光路通孔；上述粉尘通道组成有：使粉尘形成自由射流的粉尘喷射段，在自由射流的起始段进行收敛的粉尘收敛段；上述光路通孔在粉尘喷射段与粉尘收敛段之间；
上述粉尘喷射段组成有：粉尘入口，喷嘴，设于上述粉尘入口与喷嘴之间的喷射过渡段；
上述粉尘入口的直径大于喷嘴的直径，上述喷射过渡段的直径从靠近粉尘入口处到靠近喷嘴处渐小；
起始段长度通过喷嘴半径与紊流系数计算得出，具体公式为：
其中r1为喷嘴半径，a为紊流系数，Sn为起始段长度。
2.根据权利要求1所述的一种粉尘测试光路元件的射流保护装置,其特征在于，上述粉尘收敛段组成有：粉尘接收口，收敛口，设于上述粉尘接收口与收敛口之间的收敛过渡段。
3.根据权利要求2所述的一种粉尘测试光路元件的射流保护装置,其特征在于，上述粉尘接收口的直径大于收敛口的直径，上述收敛过渡段的直径从靠近粉尘接收口处到靠近收敛口处渐小。
4.根据权利要求1所述的一种粉尘测试光路元件的射流保护装置,其特征在于，粉尘入口半径的计算公式为：
其中θ为收缩角，收缩角是指粉尘流出通道中靠近光路端面的开口与粉尘流出通道中出口端面的开口之间缩小的角度，α为紊流系数，r0为粉尘入口半径，所述粉尘入口半径为粉尘流入通道中入口端面的开口半径；r1为喷嘴半径，所述喷嘴半径为粉尘流出通道中出口端面的开口半径，Sn为起始段长度。
5.根据权利要求1所述的一种粉尘测试光路元件的射流保护装置,其特征在于，收敛口半径的计算公式为：
其中θ为收缩角，α为紊流系数，r1为喷嘴半径，r2为收敛口半径，收敛口半径为粉尘流出通道中靠近光路端面的开口半径，Sn为起始段长度。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1177664A (zh) * 1996-09-26 1998-04-01 徐海明 吹吸式高速射流扫路机
US5895869A (en) * 1995-11-17 1999-04-20 Mwi, Inc. Method and apparatus for analyzing particulate matter
JP2006125848A (ja) * 2004-10-26 2006-05-18 Takuma Co Ltd レーザ式分析計
CN201359596Y (zh) * 2008-11-21 2009-12-09 聚光科技（杭州）有限公司 近红外分析仪器中光学镜片的保护装置
CN102961939A (zh) * 2012-09-29 2013-03-13 袁东日 射流吸尘除尘装置

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1054155A (fr) * 1950-11-27 1954-02-09 British Ceca Company Ltd Perfectionnements aux appareils destinés au prélèvement de fines particules en suspension dans des courants gazeux
JPH0640059B2 (ja) * 1985-05-28 1994-05-25 出光興産株式会社 浮遊微粒子測定方法及びその装置
US4836689A (en) * 1986-02-27 1989-06-06 Rosemount Inc. Asymmetric purge air system for cleaning a lens
DE4105190C2 (de) * 1991-02-20 1995-03-16 Fraunhofer Ges Forschung Streulichtaerosoldetektor
DE19900484A1 (de) * 1999-01-08 2000-08-10 Wap Reinigungssysteme Meßsystem zur Reststaubüberwachung für Sicherheitssauger
JP3603661B2 (ja) * 1999-04-21 2004-12-22 住友金属工業株式会社 気体パージ装置
DE10110066C1 (de) * 2001-03-02 2002-06-20 Parsum Ges Fuer Partikel Stroe Meßsonde zur in-line-Bestimmung der Größe von bewegten Partikeln in transparenten Medien
AU2003230660A1 (en) * 2002-03-16 2003-10-08 Biochem Tech, Llc Adjustable air sampler with psychrometrics for viable and non-viable aerosols
AU2003248273A1 (en) * 2002-07-12 2004-02-02 Mitsubishi Chemical Corporation Analytical chip, analytical chip unit, analyzing apparatus, method of analysis using the apparatus, and method of producing the analytical chip
JP2007322148A (ja) * 2006-05-30 2007-12-13 Hitachi High-Tech Science Systems Corp 分注管およびそれを用いた分析装置
CN101672733B (zh) * 2009-09-28 2011-07-20 清华大学煤燃烧工程研究中心 一种高温气溶胶颗粒取样枪
CN102004047B (zh) * 2010-10-09 2014-02-19 上海北分仪器技术开发有限责任公司 一种烟气取样装置
CN102283160B (zh) * 2010-11-13 2014-03-26 浙江富地机械有限公司 下进料分体式360°渔塘投饲机
DE102011075711A1 (de) * 2011-05-12 2012-11-15 Masterrind Gmbh Düse zur Partikelausrichtung im Flüssigkeitsstrom
JP2014048203A (ja) * 2012-08-31 2014-03-17 Yamaguchi Univ 微粒子の濃度測定方法及び測定装置
US9658139B2 (en) * 2012-08-31 2017-05-23 Tsi Incorporated System and method for the concentrated collection of airborne particles
HUE032350T2 (en) * 2013-12-17 2017-09-28 Minimax Gmbh & Co Kg A method and apparatus for cleaning an optical access window of a fire alarm
CN104374677B (zh) * 2014-10-09 2017-04-19 南京市计量监督检测院 一种粉尘浓度测量装置及方法
CN206095871U (zh) * 2016-10-08 2017-04-12 苏州曼德克光电有限公司 一种粉尘测试光路元件的射流保护装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5895869A (en) * 1995-11-17 1999-04-20 Mwi, Inc. Method and apparatus for analyzing particulate matter
CN1177664A (zh) * 1996-09-26 1998-04-01 徐海明 吹吸式高速射流扫路机
JP2006125848A (ja) * 2004-10-26 2006-05-18 Takuma Co Ltd レーザ式分析計
CN201359596Y (zh) * 2008-11-21 2009-12-09 聚光科技（杭州）有限公司 近红外分析仪器中光学镜片的保护装置
CN102961939A (zh) * 2012-09-29 2013-03-13 袁东日 射流吸尘除尘装置

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