CN106356092A - 一种应用于ate数字测试的存储器深度扩展装置 - Google Patents

一种应用于ate数字测试的存储器深度扩展装置 Download PDF

Info

Publication number
CN106356092A
CN106356092A CN201610901135.4A CN201610901135A CN106356092A CN 106356092 A CN106356092 A CN 106356092A CN 201610901135 A CN201610901135 A CN 201610901135A CN 106356092 A CN106356092 A CN 106356092A
Authority
CN
China
Prior art keywords
module
data
select
depth
channel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201610901135.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106356092B (zh
Inventor
高爽
王浩
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Min Ai Mdt Infotech Ltd
Original Assignee
Shanghai Min Ai Mdt Infotech Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Min Ai Mdt Infotech Ltd filed Critical Shanghai Min Ai Mdt Infotech Ltd
Priority to CN201610901135.4A priority Critical patent/CN106356092B/zh
Publication of CN106356092A publication Critical patent/CN106356092A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106356092B publication Critical patent/CN106356092B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/08—Address circuits; Decoders; Word-line control circuits
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/24—Bit-line control circuits

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开了一种应用于ATE数字测试的存储器深度扩展装置，在数据测试板上设存储器、地址发生器、4选1模块以及4个以上的数据通道，存储器中的数据均与各自的数据通道相连，存储器通过低位控制与地址发生器相连，地址发生器通过高位控制与4选1模块相连，4选1模块与存储器中的4通道数据相连，并与深度通道相连；所述的4选1模块用于将4通道中任意通道的数据切到深度通道上去。本发明的应用于ATE数字测试的存储器深度扩展装置，采用灵活的模式切换，使得数字测试设备可以同时胜任高通道数小图形深度和低通道数大图形深度的测试需求。

Description

一种应用于ATE数字测试的存储器深度扩展装置
技术领域
本发明属于应用于ATE数字测试的存储器技术领域，尤其涉及一种应用于ATE数字测试的存储器深度扩展装置。
背景技术
在数字测试设备中图形向量需要有相应的存储器来存储，存储器分为动态和静态，动态存储器容量大，但使用不方便，灵活性较差，所以大量数字测试设备采用静态存储器。静态存储器使用方便且灵活，但不足的是其存储容量无法做到很大，在数字测试设备当中由于有很多个通道，所以每通道可以分配到的存储深度又是少之又少，显然不能满足使用需求。
发明内容
发明目的：针对现有技术中存在的不足，本发明的目的是提供一种应用于ATE数字测试的存储器深度扩展装置，将几个通道的存储器资源提供给一个通道，使得该通道的存储深度加倍。
技术方案：为了实现上述发明目的，本发明采用的技术方案如下：
一种应用于ATE数字测试的存储器深度扩展装置，在数据测试板上设存储器、地址发生器、4选1模块以及4个以上的数据通道，存储器中的数据均与各自的数据通道相连，存储器通过低位控制与地址发生器相连，地址发生器通过高位控制与4选1模块相连，4选1模块与存储器中的4通道数据相连，并与深度通道相连；所述的4选1模块用于将4通道中任意通道的数据切到深度通道上去。
所述的FPGA使用ALTERA公司的EP1C6Q240C8芯片。
所述的存储器采用ISSI公司的IS62WV102416ALL芯片。
所述的4选1模块有2个以上，在数据测试板上设8个以上的数据通道，每个4选1模块均与存储器中的4通道数据相连，每2个4选1模块均与1个2选1模块相连，地址发生器通过高位控制各4选1模块、各2选1模块；2选1模块与深度通道相连；所述的2选1模块用于将数据通道中任意通道的数据切到深度通道上去。
有益效果：与现有的技术相比，本发明的应用于ATE数字测试的存储器深度扩展装置，采用灵活的模式切换，使得数字测试设备可以同时胜任高通道数小图形深度和低通道数大图形深度的测试需求。
附图说明
图1是应用于ATE数字测试的存储器深度扩展装置的结构示意图；
图2是存储器深度扩展示意图。
具体实施方式
下面结合具体附图对本发明做进一步的说明。
如图1所示，应用于ATE数字测试的存储器深度扩展装置，在数据测试板上设存储器、地址发生器、4选1模块以及4个以上的数据通道，存储器中的数据均与各自的数据通道相连，存储器通过低位控制与地址发生器相连，地址发生器通过高位控制与4选1模块相连，4选1模块与存储器中的4通道数据相连，并与深度通道相连；所述的4选1模块用于将4通道中任意通道的数据切到深度通道上去。
该装置的深度扩展方法，以一16通道数字测试设备举例，在本例中采用每4通道中有一通道具有存储深度扩展功能。
在数字测试设备的板卡（以下简称数字板）上，数据由存储器输出，之后进入FPGA处理，此FPGA的功能包含波形格式的产生和选择、测试结果比较等，图1中的4选1模块也包含在这个FPGA中。数据经过FPGA后转为了欲输出的格式，之后送入驱动器，按所需电平驱动波形输出同时接收测试结果返回FPGA比较处理。FPGA使用ALTERA公司的EP1C6Q240C8来实现，存储器采用ISSI公司的IS62WV102416ALL。
传统的做法中存储器的数据和通道是一一对应的，在此假设存储器深度为1M位宽为16位，于是在具有16通道的数字板上每通道的深度为1M，位宽为1。这时假如一个被测器件中某一管脚需要2M的图形，便无法测试，因为每通道的存储深度为1M，无法容纳2M的图形。
在本方法中为了解决这个问题，在存储器后的FPGA中加入了一系列4选1模块，该模块每4通道用一个，使用该模块可将4通道中任意通道的数据切到第一个通道上去。例如1-4，5-8，9-12，13-16这4组通道，其中3-4的数据可用于1输出，6-8的数据可用于2输出，10-12的数据可用于9输出，14-16的数据可用于13输出。而4选1的切换是由地址发生器的高位控制的。地址发生器为另外一片FPGA实现的用于产生存储器地址的模块，该模块原本应只有20位输出对应1M的存储器，现再增加两位输出连接到4选1模块（如图1）。在4选1模块中控制端输入00选第一路当做输出，01选第二路，10选第三路，11选第四路，所以当运行20以下位地址的图形时，高两位全零，通道1输出的数据为自己存储器存储的数据，当使用完20位地址中的全部数据后，再继续往下使用就会进位，使得4选1模块的控制位变为01，此时通道1输出的是通道2存储器中的数据，以此类推可将通道3和通道4的数据也在通道1中输出。这样当遇到很长的图形时，只需要按顺序将图形拆成几段，分别放置在通道1/2/3/4中即可，在运行时切换到存储深度扩展模式，数据就会从4段中无间隔的顺序输出。这样从表面上看，通道1 就有4M的存储深度。而此时在存储深度扩展下通道2/3/4是禁用状态，不能使用的，将设为高阻态。
在某些情况下，可能4M的存储深度也无法满足需求，但如果将8通道以固定的方式作为一组来将存储器深度扩展到8M的话，就意味着即便需要使用2M的存储深度，都要以牺牲7个通道为代价。于是采用在每两个4选1模块的后面再加一级2选1模块的方式（如图2），使得前4个通道和后4个通道都可以独立扩展为4M深度，也可以合并扩展到8M的深度。
本方法同样适用于其他通道数的数字测试设备，并且根据需要可以随意设置多少通道一组来实现存储深度扩展。

Claims (4)

1.一种应用于ATE数字测试的存储器深度扩展装置，其特征在于，在数据测试板上设存储器、地址发生器、4选1模块以及4个以上的数据通道，存储器中的数据均与各自的数据通道相连，存储器通过低位控制与地址发生器相连，地址发生器通过高位控制与4选1模块相连，4选1模块与存储器中的4通道数据相连，并与深度通道相连；所述的4选1模块用于将4通道中任意通道的数据切到深度通道上去。
2.根据权利要求1所述的应用于ATE数字测试的存储器深度扩展装置，其特征在于，所述的FPGA使用ALTERA公司的EP1C6Q240C8芯片。
3.根据权利要求1所述的应用于ATE数字测试的存储器深度扩展装置，其特征在于，所述的存储器采用ISSI公司的IS62WV102416ALL芯片。
4.根据权利要求1所述的应用于ATE数字测试的存储器深度扩展装置，其特征在于，所述的4选1模块有2个以上，在数据测试板上设8个以上的数据通道，每个4选1模块均与存储器中的4通道数据相连，每2个4选1模块均与1个2选1模块相连，地址发生器通过高位控制各4选1模块、各2选1模块；2选1模块与深度通道相连；所述的2选1模块用于将数据通道中任意通道的数据切到深度通道上去。
CN201610901135.4A 2016-10-14 2016-10-14 一种应用于ate数字测试的存储器深度扩展装置 Active CN106356092B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610901135.4A CN106356092B (zh) 2016-10-14 2016-10-14 一种应用于ate数字测试的存储器深度扩展装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610901135.4A CN106356092B (zh) 2016-10-14 2016-10-14 一种应用于ate数字测试的存储器深度扩展装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106356092A true CN106356092A (zh) 2017-01-25
CN106356092B CN106356092B (zh) 2024-04-09

Family

ID=57866013

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610901135.4A Active CN106356092B (zh) 2016-10-14 2016-10-14 一种应用于ate数字测试的存储器深度扩展装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106356092B (zh)

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1170936A (zh) * 1996-05-15 1998-01-21 三星电子株式会社 带有测试电路的半导体集成电路
WO1999014611A1 (en) * 1997-09-16 1999-03-25 Teradyne, Inc. Test system for integrated circuits using a single memory for both the parallel and scan modes of testing
US20040181637A1 (en) * 2003-03-14 2004-09-16 Oki Electric Industry Co., Ltd. Memory test circuit with data expander
CN1649034A (zh) * 2004-01-30 2005-08-03 北京中星微电子有限公司 一种嵌入式存储器的测试装置
US20070266283A1 (en) * 2006-05-01 2007-11-15 Nec Laboratories America, Inc. Method and Apparatus for Testing an Integrated Circuit
CN101458971A (zh) * 2008-12-02 2009-06-17 炬力集成电路设计有限公司 一种嵌入式存储器的测试系统及测试方法
US20090300441A1 (en) * 2008-05-27 2009-12-03 Alexandre Andreev Address controlling in the mbist chain architecture
CN102185729A (zh) * 2009-12-24 2011-09-14 爱德万测试株式会社 测试装置、测试方法及系统
CN103187103A (zh) * 2011-12-28 2013-07-03 中国航空工业集团公司第六三一研究所 存储器测试方法
CN206249900U (zh) * 2016-10-14 2017-06-13 上海旻艾信息科技有限公司 应用于ate数字测试的存储器深度扩展装置

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1170936A (zh) * 1996-05-15 1998-01-21 三星电子株式会社 带有测试电路的半导体集成电路
WO1999014611A1 (en) * 1997-09-16 1999-03-25 Teradyne, Inc. Test system for integrated circuits using a single memory for both the parallel and scan modes of testing
US20040181637A1 (en) * 2003-03-14 2004-09-16 Oki Electric Industry Co., Ltd. Memory test circuit with data expander
CN1649034A (zh) * 2004-01-30 2005-08-03 北京中星微电子有限公司 一种嵌入式存储器的测试装置
US20070266283A1 (en) * 2006-05-01 2007-11-15 Nec Laboratories America, Inc. Method and Apparatus for Testing an Integrated Circuit
US20090300441A1 (en) * 2008-05-27 2009-12-03 Alexandre Andreev Address controlling in the mbist chain architecture
CN101458971A (zh) * 2008-12-02 2009-06-17 炬力集成电路设计有限公司 一种嵌入式存储器的测试系统及测试方法
CN102185729A (zh) * 2009-12-24 2011-09-14 爱德万测试株式会社 测试装置、测试方法及系统
CN103187103A (zh) * 2011-12-28 2013-07-03 中国航空工业集团公司第六三一研究所 存储器测试方法
CN206249900U (zh) * 2016-10-14 2017-06-13 上海旻艾信息科技有限公司 应用于ate数字测试的存储器深度扩展装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN106356092B (zh) 2024-04-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102540059B (zh) 数字半导体器件的测试装置及方法
CN105807206B (zh) 一种芯片测试时钟电路及其测试方法
CN206249900U (zh) 应用于ate数字测试的存储器深度扩展装置
CN102361451B (zh) 一种fpga配置电路架构
CN104062937A (zh) 64路低速高精度模拟采集实现方法
CN106356092A (zh) 一种应用于ate数字测试的存储器深度扩展装置
Li et al. A coordinate method applied to partitioned energy-saving control for grouped hydraulic presses
JPH10269799A (ja) 半導体メモリ試験装置
CN104572214B (zh) 显示器及显示器界面的刷新方法和装置
CN202111685U (zh) 可扩展的开关矩阵板
CN105959224B (zh) 基于比特向量的高速路由查找装置及方法
CN101753011B (zh) 适用于spice级仿真的电荷泵电路的行为级模型的建模方法
CN114490214A (zh) 一种老化测试接口扩展模块和老化测试系统
CN107566098B (zh) 软件定义网络应用测试序列的生成方法与生成系统
CN105553646A (zh) 面向分组密码算法并行计算的可重构s盒电路结构
CN203422916U (zh) 控制信号发生电路和电路系统
CN102064050B (zh) 矩阵开关
CN104918024B (zh) 交叉点矩阵系统及其数据处理方法
CN107769669B (zh) 一种脉冲宽度调制信号的输出装置及方法
CN101165502A (zh) 测试仪同测方法
CN105869672A (zh) 一种基于rram的非易失fpga编程点电路及其操作方法
CN106054849B (zh) 一种控制器初始下装和在线下装方法
CN210137333U (zh) 一种多模式可配置平衡gold序列发生装置
CN1983917A (zh) 一种可编程逻辑器件实现数据交换的方法及其结构
CN111831209B (zh) 数据存取装置及系统

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB02 Change of applicant information
CB02 Change of applicant information

Address after: 201306 Pudong New Area 6 new town, 66 Nanhui, Shanghai

Applicant after: SHANGHAI MIN'AI SEMICONDUCTOR CO.,LTD.

Address before: 201306 6 E District, Lingang New Industrial Park, 66, Fei Du Road, Pudong New Area, Shanghai.

Applicant before: SHANGHAI MINAI INFORMATION TECHNOLOGY CO.,LTD.

GR01 Patent grant
GR01 Patent grant