CN106324819B - 抗眩光匀光光源及具该光源的影像撷取装置 - Google Patents

Abstract

一种抗眩光匀光光源，是装设于影像撷取装置上，其中该影像撷取装置还包括本体及光学镜头，抗眩光匀光光源包括：一个可拆卸地组设至影像撷取装置的环绕遮挡壁，环绕遮挡壁具有一个结合缘、一个相反于结合缘的作用缘、及贯穿结合缘和作用缘间的采光通道；一个设置于采光通道中形成有一个透光孔的遮光匀光元件；及复数个发光元件均具有一个主要发光角度及全发光角度，发光元件是设置于采光通道中，且主要发光角度是被遮光匀光元件所阻挡而无法直接入射入光口；以及发光元件中至少部分的全发光角度是直接照射至待测平面。

Description

抗眩光匀光光源及具该光源的影像撷取装置

技术领域

一种用于检测领域、且能避免光照亮度不均的抗眩光匀光光源。

背景技术

显微镜是观察研究微小物体必备的工具，利用光学透镜将人眼所不能清晰分辨的微小物体放大成像，提供人们清楚观察及分析的影像资讯。常见的光学显微镜通常包括有基座、载物台、光源组件、物镜、目镜以及调整物镜与目镜距离的调焦组件。操作时，会先将承载待观测样本的玻片放置于载物台上，并操控调焦组件，使样本能够清晰成像，藉以达到观察研究的目的。

除一般的光学显微镜外，荧光显微技术目前不仅可用于工业检测、伪钞辨识以及刑事鉴定等实质应用，近年来更延伸至生物研究中的细胞分析与追踪，使得荧光显微影像撷取的重要性逐渐提升，常用的荧光显微镜，主要是将一个高频的激发光照射在具有荧光特性的待观测物上，例如以荧光染料涂布在金属材料表面后再刮除，若有肉眼不可见的细微裂痕让荧光染料残留，荧光染料就会发出较低频的荧光，加上适当的滤镜便可轻易观察记录；在生物科学领域，许多研究是针对基因转殖，为便于观察，植入的基因常会连结荧光蛋白作为标记，藉由待观测物的荧光反应有无，确认基因植入的表现成败，并且可以对转殖成功的生物进一步深入研究。

当然，对于较大尺寸的待观测物，如钞票的防伪线，或者刑案现场疑似血迹的位置，则可以利用照相机或摄影机而不是显微镜作为影像撷取装置。但在本发明中，为便于说明解释，将前述照相机、摄影机、一般光学显微镜、和荧光显微镜，一律称为影像撷取装置。

在前述领域中，已经发现当待观测物是残留于镜面或光滑金属表面等易反光物体上之指纹或血迹、精液等，一旦直接将照明光或激发光投射至目标区域，反射光直接返回影像撷取装置的入光口，将导致强烈的眩光，影像资料的讯号杂讯比随之大幅降低，待观测物影像因此不易观察和记录。因此运用暗场照明，理论上可以减少光线直接照射待观测物所产生的眩光。然而，暗场照明方式中，光源中的直射光仅有少部分直射光有直接照射到待观测物，使得待观测物的均匀度及亮度皆不够理想，照明效率仍有改善空间，何况若是要观察荧光影像时，为激发出足够可供观察和记录的荧光影像，一般需要固定量的激发光束照射在待观测物上才可产生足够的荧光影像资讯，但若采用过往的结构配置,仅会有少部分激发光源的光束会直接照射到待观测物上，造成能够被激发出的荧光受到局限,因此使得荧光影像观察和纪录的难度提升。加以，光源相对于待观测物的不同位置投射角度不一，照度又会随距离平方反比下降，而使待观测物影像明显地亮度不均。

即使目前已经有人提出，可以采用光源出光再经一次或多次反射的光进行照明和作为激发光，但矛盾在于：如果要让匀光效果好，反射面就不可以是光滑平坦的反射材料，这也使得反射过程中，光能被大幅衰减，要是再经多次反射，光强度将衰减更迅速；相反地，如果反射面太过平坦光滑，光强度虽然增加，但是匀光效果不足，仍然会在待观测物表面产生眩光的亮点。尤其，此种结构将难以避免光源所发出的光束直接入射进影像撷取装置，变成观测或记录影像时干扰更强的直接眩光，因此并没有真正解决现有技术的困难。

为此，如何一方面提升照明光或激发光的亮度，同时提升光的均匀度，尤其是大幅压抑眩光的发生机率，并藉由遮光匀光元件完全阻止光源所发光束直接进入影像撷取装置的入光口，藉以大幅提升所撷取影像资料的讯号杂讯(S/N)比，使撷取光学影像有较高的成功率和可靠度；进一步，可以藉由扩大遮光匀光元件的透光孔的孔径，提供影像撷取装置良好的视角，保持影像撷取装置的视野，即为本发明所要达到的目标。

发明内容

本发明之一目的在于提供一种抗眩光匀光光源，搭配一影像撷取装置使用，藉由遮光匀光元件，完全阻止光源所发光束直接进入影像撷取装置入光口，以避免直接眩光而提升讯号杂讯(S/N)比，使获取光学影像的成功率和可靠度增加。

本发明另一目的在于提供一种抗眩光匀光光源，让主发光角度内的光束是经由反射均匀化后照射待观测物，提升待观测物影像的均匀度。

本发明再一目的在于提供一种抗眩光匀光光源，搭配作为暗场照明的全发光角度直照光束，在降低眩光条件下，提高影像资讯亮度。

本发明又一目的在于提供一种影像系统，藉由抗眩光匀光光源，使照射至待观测物的光束均匀，且照度获得提升，使获取光学影像的成功率和可靠度增加。

为达上述目的，本发明提供一种抗眩光匀光光源，是装设于影像撷取装置上，其中该影像撷取装置还包括本体及光学镜头，抗眩光匀光光源包括：一个可拆卸地组设至影像撷取装置的环绕遮挡壁，环绕遮挡壁具有一个结合缘、一个相反于结合缘的作用缘、及贯穿结合缘和作用缘间的采光通道；一个设置于采光通道中形成有一个透光孔的遮光匀光元件；及复数个发光元件均具有一个主要发光角度及全发光角度，发光元件是设置于采光通道中，且主要发光角度是被遮光匀光元件所阻挡而无法直接入射入光口；以及发光元件中至少部分的全发光角度系直接照射至待测平面。

将前述的抗眩光匀光光源与常见的影像撷取装置相互组接后，即成为本发明所指一种具有抗眩光匀光光源的影像撷取装置，包括：一个形成有一入光口的本体；一个沿一光轴设置于该本体的光学镜头；及抗眩光匀光光源，包括一个可拆卸地组设至影像撷取装置的环绕遮挡壁，环绕遮挡壁具有一个结合缘、一个相反于结合缘的作用缘、及贯穿结合缘和作用缘间的采光通道；一个设置于采光通道中形成有一个透光孔的遮光匀光元件；及复数个发光元件均具有一个主要发光角度及全发光角度，发光元件是设置于采光通道中，且主要发光角度是被遮光匀光元件所阻挡而无法直接入射入光口；以及发光元件中至少部分的全发光角度是直接照射至待测平面。

由此，本发明所揭示的一种抗眩光匀光光源，通过遮光匀光元件阻止光源所发光束直接进入影像撷取装置的入光口形成直接眩光；发光元件主发光角度内的光束则是经由反射匀光后，照射至待观测物，使得照射光束均匀；且以发光元件全发光角度内的直接光束搭配，不仅让待观测物的光照均匀，照度提高，也大幅降低各种眩光发生机率，有效提升讯号杂讯(S/N)比，使撷取光学影像的成功率及可靠度同步提高。

附图说明

图1为本发明第一较佳实施例示意图，说明影像撷取装置与抗眩光匀光光源间的结合关系。

图2为图1中抗眩光匀光光源的侧面剖视图，表达藉由环绕遮挡壁阻绝外在杂光，且发光元件的光束会经由遮光匀光元件均匀反射后照射待测样品。

图3为本发明中发光元件的发光角度示意图，藉此理解本发明的主要发光角度及全发光角度。

图4为图1中抗眩光匀光光源的侧面部分剖视图，显示穿过透光孔的光束会被吸光元件层完整吸收，无法进入影像撷取装置的入光口。

图5为本发明第二较佳实施例示意图，用于显示本发明可转用于荧光细胞检测领域。

符号说明

1、1’…影像撷取装置 2…照相机本体

3…光学镜头 30…光轴

31…可视角度 310…投影尺寸

4、4’…待测样品 40…待测平面

5…抗眩光匀光光源 51、51’…环绕遮挡壁

510…结合缘 511…作用缘

512、512’…采光通道 513…吸光元件层

53、53’…发光元件 530…主要发光角度

531…全发光角度 55、55’…遮光匀光元件

550…透光孔 551…孔径

552…底面 553…微结构

6、6’…入光口

具体实施方式

有关本发明的前述及其他技术内容、特点与功效，在以下配合说明书附图的较佳实施例的详细说明中，将可清楚呈现；此外，在各实施例中，相同的元件将以相似的标号表示。

刑案现场，鉴识人员可携带本发明的影像系统进行搜证鉴识，此影像系统包括例如一组抗眩光匀光光源、及例释为光学相机的影像撷取装置。本发明的第一较佳实施例请一并参考图1至图4，前述影像撷取装置1具有一个照相机本体2以及沿着光轴30设置于照相机本体2上的光学镜头3，鉴识人员藉由光学镜头3针对残留于现场的血迹、体液等微迹物证进行影像撷取并留存以此作为将来的呈堂证据，本例中将前述微迹物证比喻为待测样品4，而沾染或者残留待测样品4的平滑物体表面于本例中被称为待测平面40。

在侦检的过程中，鉴识人员会逐步寻获些许的待测样品4，此时即可将本例的抗眩光匀光光源5与影像撷取装置1相互连结组装，两者间的结合方式可为卡扣、螺接抑或者磁吸等可拆卸的手段，于此并无强制规范。组装时，抗眩光匀光光源5的环绕遮挡壁51的结合缘510将对应影像撷取装置1的入光口6进行组接，安装完毕后，鉴识人员将位于结合缘510另一端缘的作用缘511抵靠待测平面40，并通过环绕遮挡壁51阻绝外在杂光侵扰待测样品4，使其光学影像资讯能完整地经贯通结合缘510与作用缘511的采光通道512，进入影像撷取装置1的入光口6呈现出撷取后的光学影像。

本例为提升光学影像撷取的清晰度，在环绕遮挡壁51的两内侧面，意即采光通道512中还设置有两组发光元件53，本例中的发光元件53例释为广角发光二极管，其中一组是单独一个白光发光二极管，以提供一般照明；另一组则为例如设置在环绕遮挡壁51周缘的八个紫外发光二极管，每一前述发光元件53分别具有一个主要发光角度530、和发散角度大于主要发光角度530的全发光角度531。为便于理解，请参考图3，本例中的主要发光角度530是指发光元件53的最大发光强度至最大发光强度一半的角度范围，前述角度以外的发光角度即是本例中的全发光角度531。

为避免发光元件53所发的光束集中照射至待测样品4，并且形成反射眩光而影响光学影像的品质，本例的发光元件53是以朝向入光口6的方向与光轴30的垂直面夹角3～15度的方式进行组设，使得主要发光角度530略微偏上，在撷取影像时不会有主光线直接照射至待测样品4。

但另方面，此种仰角发光的结构，又可能导致发光元件53的光束直接照射入光口6，造成更强烈的直接眩光。因此，本发明在采光通道512中，进一步设置有介于入光口6和发光元件53之间的遮光匀光元件55，并在对应光轴30的位置形成一个透光孔550，以有效阻挡发光元件53所发光束直射入光口6；且为使光学镜头3的视野不受局限，定义光学镜头3的视野范围为可视角度31，而本例中透光孔550的孔径551会被设计成大于可视角度31在遮光匀光元件55处的投影尺寸310，亦即，依照本例中的孔径551设计，光学镜头3的视野不会受到透光孔550的阻碍，由此保持影像撷取装置1原有的影像撷取范围。当然，熟悉本技术领域人士也可以轻易了解，此处的孔径设计并非必要限制，在部分光学设计中，即使刻意采用较小的透光孔孔径，也无碍于本发明的实施。

发光元件53的主要发光角度530中的光束，部分的光子会接触至两侧的遮光匀光元件55的底面552，并藉由形成于底面552上、以光轴30为轴心的同心圆阶梯状的微结构553，改变每一光子行进的光程，使得主要发光角度530的每一道光束，将分别沿着各自的出光角反射扩散成均匀的散射光束照射至待测平面40上的待测样品4，即使待测平面40是高反射系数的玻璃或金属表面，也不易产生过曝亮点和眩光，让鉴识人员能便捷地撷取清晰的光学影像。

另方面，藉由发光元件53是以特定角度设置的技术手段，且全发光角度531中光束的发光强度较主要发光角度530的光强度弱，使得全发光角度531中的光束即使直射待测样品4，也不易有明显的眩光产生，藉此进一步补强待测样品的照度，并且保有本领域常见的暗场光学特性，有效拉升光学影像撷取的讯号杂讯比。

即便本例已设置阻绝发光元件53所发光束直射入光口6的遮光匀光元件55，但仍旧会有些许的光束可以经透光孔550，在经过一次或者多次反射后，照射至入光口6处，为大幅降低杂光侵扰，请检视图4，本例的环绕遮挡壁51在结合缘510与遮光匀光元件55之间的内侧壁上，形成一层吸光率达90％以上的吸光元件层513。在本例中，其表面是由多根奈米碳管组成，将穿过遮光匀光元件55的透光孔550后接触到吸光元件层513的光子加以吸收，确保光学影像撷取的品质。当然，如熟知本技术领域者所能轻易理解，除使用吸光元件层防范前述疑虑外，亦可针对发光元件在特定发光角度处贴附设置遮光挡片来阻绝杂光，此处的简单替换并不影响本例的技术施行。

此外，本例用于致能发光元件的蓄电元件例释为电池，由于本例中发光元件的耗能低，因而可以凭借蓄电元件作为能量来源，同时减少抗眩光匀光光源的整体重量及体积，提升抗眩光匀光光源的携带便利性；再者，鉴识人员在侦检过程通常都需要至少两张同角度拍摄的影像，一张为待测样品受激发光束激发后发出的荧光影像，另一则是以白光直接拍摄取得的影像，由此确保影像作为证据的可信度，本例的发光单元能藉由切换开关的机械式选择致能，贴近鉴识人员拍摄行为，藉此符合鉴识人员的使用习惯。

进一步来说，本例的发光元件也可以全部采用白光二极管，同样藉由遮光匀光元件提供亮度充足且均匀的光照，并抑制过曝亮点形成妨碍影像的撷取，有效应对涵括半导体元件的细微瑕疵以及金属表面的缺陷等品质检测，熟悉本技术者可自由转用，不会阻碍本技术特征的运用。

另一方面，本发明亦可应用于荧光细胞检测，本发明第二较佳实施例如图5所示，本例的影像撷取装置例释为显微镜，并外接一摄影单元而将所获得的影像呈现在另一外接显示屏幕(图未示)上。待测样品则可视为带有转殖荧光细胞的斑马鱼，为让操作实验方便，即使在环绕遮挡壁51’的作用缘和待测平面之间留有双手进入的间隙，仍无碍于本发明的实施。且为确保在显微镜的观测范围内确实存在有待测样品4’，本例中的发光元件包括一组例释为红外光发光二极管的发光元件53’先行照射待测样品4’，检测人员即可从影像撷取装置1’的显示屏幕中进行确认。接着切换发光元件，停止红外光照射，改由采光通道512’另一侧发散蓝光的发光元件53’发出激发光束，光束则如前一实施例经本例中例释为平坦毛玻璃的遮光匀光元件55’均匀反射后照明待测样品4’，即使待测样品4’上残留少许体液仍能有效回避过曝的眩光情形，使得受激发后而产生的荧光将由采光通道512’进入影像撷取装置1’的入光口6’，通过其目镜呈现欲观测且清晰的荧光影像。

综上所述，本发明所揭示的一种抗眩光匀光光源，通过遮光匀光元件调整发光元件的主要发光角度中光束的光照角度，使得照射至待观测物的光束不会集中而过度曝光形成过曝亮点，局限光学影像撷取的便利性，同时将主要发光角度中的光束加以阻挡，防范光束直接射入影像撷取装置，并抑制激发光束在遮罩内部经反射而进入影像撷取装置，拉升讯号杂讯(S/N)比，使获取的光学影像有较高的可靠性，此外，主要发光角度外的光束能由趋近平行的角度直接照射至待观测物，确保光学影像的清晰度，提升侦检过程中的便利性。

惟以上所述者，仅为本发明的较佳实施例而已，不能以此限定本发明实施的范围，凡是依本发明申请权利要求书及发明说明书内容所作的简单的等效变化与修饰，皆应仍属本发明专利涵盖的范围内。

Claims (9)

1.一种抗眩光匀光光源，装设于一个具有入光口的影像撷取装置上，其中该影像撷取装置还包括一个本体及一个沿一光轴设置于该本体的光学镜头，以便前述影像撷取装置撷取待测样品的影像，该抗眩光匀光光源包括：

一个可拆卸地组设至上述影像撷取装置的环绕遮挡壁，该环绕遮挡壁具有一个对应上述入光口的结合缘、一个相反于该结合缘的作用缘、及贯穿上述结合缘和上述作用缘间的采光通道；

一个设置于该采光通道中、并介于上述结合缘和上述作用缘之间的遮光匀光元件，该遮光匀光元件形成有一个对应上述光轴的透光孔；及

复数个发光元件，每一前述发光元件均具有一个主要发光角度及角度大于该主要发光角度的全发光角度，前述发光元件系分别以一特定角度设置于该采光通道中，该特定角度使每一前述发光元件的该主要发光角度至少部分照射于该遮光匀光元件，并供均匀反射而非直接照射至上述待测样品所处之一待测平面，且上述主要发光角度是被上述遮光匀光元件所阻挡而无法直射进入该入光口；以及前述发光元件中至少部分的上述全发光角度是直接照射至上述待测平面，其中上述发光元件为广角发光二极管，且当上述影像撷取装置撷取上述待测样品的影像时，上述所有发光元件的该主要发光角度中，均无发光直射上述待测样品。

2.如权利要求1所述的抗眩光匀光光源，其中上述特定角度是指上述发光元件朝向该入光口的方向、且与该光轴的垂直面夹角为3～15度。

3.如权利要求1或2所述的抗眩光匀光光源，其中该透光孔具有一个孔径以及该光学镜头具有一个可视角度、且该可视角度在上述遮光匀光元件处的投影尺寸系小于该孔径。

4.如权利要求1或2所述的抗眩光匀光光源，其中该遮光匀光元件在面向上述发光元件的一底面，更形成有一组微结构。

5.如权利要求1或2所述的抗眩光匀光光源，其中该环绕遮挡壁在上述结合缘和上述遮光匀光元件之间的内侧壁上，设置有一吸光元件层、且该吸光元件层对上述发光元件所发光束的吸光率达到90％以上。

6.一种具有抗眩光匀光光源的影像系统，包括：

一个影像撷取装置，包括一个形成有一入光口的本体；及一个沿一光轴设置于该本体的光学镜头，以便前述影像撷取装置撷取待测样品的影像；及

一抗眩光匀光光源，包括

一个可拆卸地组设至上述影像撷取装置的环绕遮挡壁，该环绕遮挡壁具有一个对应上述入光口的结合缘、一个相反于该结合缘的作用缘、及贯穿上述结合缘和上述作用缘间的采光通道；

一个设置于该采光通道中、并介于上述结合缘和上述作用缘之间的遮光匀光元件，该遮光匀光元件形成有一个对应上述光轴的透光孔；及

复数个发光元件，每一前述发光元件均具有一个主要发光角度及角度大于该主要发光角度的全发光角度，前述发光元件是分别以一特定角度设置于该采光通道中，该特定角度是使每一前述发光元件的该主要发光角度至少部分照射于该遮光匀光元件，并供均匀反射而非直接照射至上述待测样品所处之一待测平面，且上述主要发光角度是被上述遮光匀光元件所阻挡而无法直射进入该入光口；以及前述发光元件中至少部分的上述全发光角度是直接照射至上述待测平面，其中上述发光元件为广角发光二极管，且当上述影像撷取装置撷取上述待测样品的影像时，上述所有发光元件的该主要发光角度中，均无发光直射上述待测样品。

7.如权利要求6所述具有抗眩光匀光光源的影像系统，其中上述本体是一照相机本体，且上述光学镜头是安装于上述照相机本体。

8.如权利要求6所述具有抗眩光匀光光源的影像系统，其中上述本体是一包括一目镜的显微镜架，且上述光学镜头是安装于上述显微镜架的物镜。

9.如权利要求6、7或8所述具有抗眩光匀光光源的影像系统，其中该特定角度是指上述发光元件朝向该入光口的方向、且与该光轴的垂直面夹角为3～15度；上述透光孔具有一个孔径以及该光学镜头具有一个可视角度、且该可视角度在上述遮光匀光元件处的投影尺寸小于该孔径；以及该环绕遮挡壁在上述结合缘和上述遮光匀光元件之间的内侧壁上，设置有一吸光元件层、且该吸光元件层对上述发光元件所发光束的吸光率达到90％以上。