CN106249941B - 电子设备及其控制方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种电子设备及其控制方法，其中，该电子设备包括触摸面板，所述触摸面板具有各自的电容响应于所述触摸面板上进行的触摸操作而变化的多个传感器。在所述多个传感器中从外侧起的预定数量传感器其中之一的检测电容超过其它传感器的检测电容、并且所述触摸面板的内侧方向上与检测电容超过所述其它传感器的传感器邻接的传感器的检测电容小于基准电容的情况下，计算与所述多个传感器的通过触摸操作所产生的检测电容的重心相比更偏向所述触摸面板的外侧方向的、产生该检测电容的触摸操作的位置坐标。

Description

电子设备及其控制方法
技术领域
本发明一般涉及电子设备，并且特别涉及具有电容式触摸面板的电子设备及其控制方法和存储介质。
背景技术
近年来，诸如智能电话和数字照相机等的电子设备的数量越来越多，电子设备各自具有可以以二维方式来检测例如手指的触摸操作的触摸面板。可以使用诸如感压式、电容式和光学式触摸面板等的各种类型的触摸面板，并且该触摸面板可以通过将触摸传感器输出值与预定阈值相比较来判断是否存在触摸输入。如果存在触摸输入，则触摸面板根据一个或多个触摸传感器输出值来确定触摸位置坐标。
电容式触摸面板通过将作为触摸传感器输出的电容值或者触摸传感器输出的变化量与预定阈值相比较，来检测触摸操作。电容值根据触摸输入的触摸面积而变化。通常，通过使用来自多个邻接的传感器的检测电容值，可以确定触摸位置。然而，由于邻接的传感器其中之一没有设置在触摸面板的传感器区域的端部，因此如果出现包括传感器区域以外的触摸的触摸操作的任何情况，则可能导致所计算出的触摸位置坐标与用户期望的触摸位置的实际坐标不同，从而降低了触摸位置精度。
针对这个问题，日本特开10-20992公开了包括选择与传感器区域的所触摸的一侧相对的操作区域的一侧中的端部传感器作为其它邻接的传感器的替代并且计算实际的触摸位置坐标的技术。
日本特开10-20992中所公开的现有技术可能无法实现高精度地计算针对传感器区域的端部的触摸的触摸位置。传感器区域的端部上的触摸表现出与用户如何触摸相独立的基本恒定的传感器输出值。因而，例如，触摸位置坐标的计算的贡献率也是与端部传感器上的端部侧、中央和相对端部侧之间的端部触摸位置中的较小差异相独立的，并且从触摸位置坐标的计算可以获得相同的结果。换句话说，无法实现反映触摸位置的差异的精度。
发明内容
本发明提供一种电子设备及其控制方法和存储介质。
本发明的一个方面提供一种电子设备，包括：触摸面板，其具有多个传感器，并且所述多个传感器各自的电容响应于所述触摸面板上所进行的触摸操作而变化，所述电子设备的特征在于还包括：计算单元，用于在所述多个传感器中从外侧起的预定数量传感器其中之一的检测电容超过其它传感器的检测电容、并且所述触摸面板的内侧方向上与检测电容超过所述其它传感器的传感器邻接的传感器的检测电容小于基准电容的情况下，计算与所述多个传感器的通过触摸操作所产生的检测电容的重心相比更偏向所述触摸面板的外侧方向的、产生该检测电容的触摸操作的位置坐标。
本发明的第二方面提供一种电子设备的控制方法，其中，所述电子设备包括触摸面板，所述触摸面板具有多个传感器，所述多个传感器各自的电容响应于所述触摸面板上所进行的触摸操作而变化，所述控制方法的特征在于包括：在所述多个传感器中从外侧起的预定数量传感器其中之一的检测电容超过其它传感器的检测电容、并且所述触摸面板的内侧方向上与检测电容超过所述其它传感器的传感器邻接的传感器的检测电容小于基准电容的情况下，计算与所述多个传感器的通过触摸操作所产生的检测电容的重心相比更偏向所述触摸面板的外侧方向的、产生该检测电容的触摸操作的位置坐标。
通过以下参考附图的典型实施例的说明，本发明的其它特征将变得明显。
附图说明
图1是示出本发明的第一典型实施例的示意性结构框图。
图2A示出电容式触摸面板上的触摸位置和检测电容之间的第一对应示例。
图2B示出电容式触摸面板上的触摸位置和检测电容之间的第二对应示例。
图2C示出电容式触摸面板上的触摸位置和检测电容之间的第三对应示例。
图3是根据本发明的第一典型实施例来计算触摸位置坐标的流程图。
图4是用于说明根据本发明的第二典型实施例的虚拟传感器和虚拟传感器的电容的说明图。
图5是使用虚拟传感器来计算触摸位置坐标的流程图。
图6A是示出根据第三典型实施例的触摸输入的大小与端部区域的大小之间的第一关系示例的示意图。
图6B是示出根据第三典型实施例的触摸输入的大小与端部区域的大小之间的第二关系示例的示意图。
图6C是示出根据第三典型实施例的触摸输入的大小与端部区域的大小之间的第三关系示例的示意图。
图7是根据第三典型实施例来计算触摸位置坐标的流程图。
具体实施方式
以下将参考附图来详细说明本发明的典型实施例。
第一典型实施例
图1示出配备有根据本发明的典型实施例的电容式触摸面板的电子设备的示意性框图。
参考图1，电子设备100包括均连接至内部总线101的中央处理单元(CPU)112、硬盘(HD)113、存储器114、输入单元115、显示控制单元116、驱动装置118和通信接口(I/F)120，其中，CPU 112可以包括一个或多个处理器。连接至内部总线101的组件被配置为能够经由内部总线101相互交换数据。如这里所使用的，术语“单元”一般指软件、固件、硬件或者诸如用来实现目的的电路等的其它组件的任意组合。
电容式触摸面板102是被配置为利用诸如手指或者触笔等的导电体103响应于预定距离内的接近或者导电体103的触摸操作而产生电容104、并且检测触摸操作的二维位置的装置(操作构件)。
触摸传感器驱动电路105包括触摸检测单元106、坐标计算单元108、触摸大小输入判断单元110和传感器区域判断单元111。触摸检测单元106被配置为通过将导电体103所产生的电容104与触摸检测阈值107相比较，来检测是否存在触摸操作。触摸检测阈值107是根据电容式触摸面板102的校准而设置的变量。在某些周围环境中或者随着时间变化，电容式触摸面板102在诸如手指或者触笔等的导电体103没有接近的情况下也可能检测到电容。因此，在启动时或者每隔预定时间段，电容式触摸面板102可以经常进行校准处理，并且可以将在诸如手指或者触笔等的导电体103接近的情况下所产生的电容设置为基准值。针对依赖于校准的基准值来设置触摸检测阈值107。换句话说，触摸检测阈值107是针对检测电容的变化量(相对于基准值)的阈值。与电容有关的阈值也是针对检测电容的变化量的阈值。还根据校准来设置与电容有关的阈值。同样，代替针对相对于基准值的变化量的阈值，诸如触摸检测阈值107等的阈值可以是固定的电容值。坐标计算单元108可以根据从传感器(电极)所检测到的电容104，来计算例如重心109，从而计算触摸位置坐标。更具体地，在被触摸的情况下，针对所产生的触摸面板102的电容c1～cm(其中m是一个轴上的传感器的数量)来设置权重p1～pm，并且如以下表达方式(1)中，利用所设置的权重来计算重心109。
Figure BDA0001009229220000051
在触摸面板102上以二维以上的方式配置传感器(电极)的情况下，坐标计算单元108分别针对各轴来计算重心109。触摸大小输入判断单元110根据触摸面板102上的检测电容104的分布，来判断导电体103的大小。传感器区域判断单元111根据来自坐标计算单元108和触摸大小输入判断单元110的输出来判断触摸位置是否在触摸面板102的传感器区域的端部。
硬盘113可以存储图像数据、其它数据以及CPU 112所进行的操作所使用的程序。存储器114包括例如随机存取存储器(RAM)。CPU 112可以例如根据硬盘113中所存储的程序并且通过使用存储器114作为工作存储器来对电子设备100的组件进行控制。CPU 112的操作所用的程序不限于存储在硬盘113中，而可以预先存储在例如未示出的只读存储器(ROM)中。
输入单元115接收由用户对触摸面板102所进行的触摸操作，并且将表示详细内容(诸如操作的触摸位置等)的控制信号供给到CPU 112。CPU 112根据对触摸面板102所进行的用户操作，基于根据在输入单元115中所生成的控制信号的程序来对电子设备100的组件进行控制。因而，电子设备100表现出与用户操作相对应的功能。
显示控制单元116将显示图像所用的显示信号输出到显示装置117。CPU112将根据程序所生成的显示控制信号供给到显示控制单元116。显示控制单元116基于来自CPU 112的显示控制信号来生成显示信号，并且将该显示信号供给到显示装置117。例如，显示控制单元116基于由CPU 112所生成的显示控制信号来使显示装置117显示包括在图形用户界面(GUI)中的GUI画面。
通常，触摸面板102一体地设置在显示装置117的显示面上。例如，触摸面板102具有不妨碍显示装置117的显示功能的足够的光透过率，并且被安装在显示装置117的显示面的上层上。触摸面板102上的输入坐标与显示装置117上的显示坐标相关联。因而，如果用户对在显示装置117所显示的画面上的任意位置处的对象进行直接操作，则用户可以将各种指示输入到CPU 112。
在驱动装置118中，能够安装诸如光盘(CD)(注册商标)或者数字化视频光盘(DVD)(注册商标)等的外部存储介质119，并且在CPU 112的控制下，可以相对于所安装的外部存储介质119读写数据。外部存储介质119可以是包括诸如存储卡等的非易失性半导体存储器的介质。
在CPU 112的控制下，通信I/F 120能够与诸如局域网(LAN)和互联网等的网络121进行通信连接。
可以将触摸传感器驱动电路105的触摸检测单元106、坐标计算单元108、触摸大小输入单元110和传感器区域判断单元111的功能中的一个或者全部合并到CPU 112。为了容易理解要由电子设备100进行的操作，以下说明假设CPU 112实现触摸检测单元106、坐标计算单元108、触摸大小输入单元110和传感器区域判断单元111的功能。
以下将对触摸面板102进行的操作命名如下。即，以下将利用手指或者笔来触摸触摸面板102称为“触及”(Touch-Down)。将触摸面板102正被手指或者笔触摸的状态称为“触摸持续”(Touch-On)。以下将移动触摸触摸面板102的手指或者笔称为“触摸移动”(Touch-Move)。将手指或者笔从触摸面板分离称为“触摸停止”(Touch-Up)。将没有触摸触摸面板102的状态称为“未触摸”(Touch-Off)。
将对触摸面板102进行触及、触摸移动和触摸停止表达为绘制行程。将快速绘制行程的操作称为轻拂。轻拂指在面板102上快速移动手指某一距离并且释放的操作，即，如弹指那样利用手指快速扫过触摸面板102的操作。
输入单元115经由内部总线101向CPU 112通知如上所述的操作和利用手指或者笔在触摸面板102上所触摸的位置坐标。CPU 112基于来自输入单元115的上述信息，来判断对触摸面板102进行了何种操作。换句话说，CPU112(或者输入单元115和CPU 112)可以检测并判断对触摸面板102所进行的操作。在进行移动的情况下，针对在电容式触摸面板102上的手指或者笔移动的移动方向，基于位置坐标的变化，CPU 112可以判断电容式触摸面板102上的垂直分量和水平分量。在检测到以等于或高于预定速度的速度移动预定距离以上、随后触摸停止的情况下，CPU 112判断为进行了轻拂。在检测到以低于预定速度的速度移动预定距离以上的情况下，CPU 112判断为进行了拖拽。
根据本典型实施例，判断在端部触摸发生时与端部传感器(电极)邻接的传感器(电极)的检测电容是否等于或高于基准电容，并且考虑判断结果来计算触摸位置坐标，以使得可以提高端部触摸时的触摸位置精度。
图2A、2B、2C示出触摸面板102上的传感器(电极)布局示例以及触摸位置和检测电容之间的关系示例。图2A、2B、2C示出触摸面板102上可检测到触摸的传感器区域200。传感器区域200具有包括在触摸面板102中以二维方式纵横地配置的多个触摸传感器。各自在X方向(图2A～2C中的水平方向)上具有成直线的多个传感器的多个线传感器(X传感器)被配置成与Y方向平行。此外，各自在Y方向(图2A～2C中的垂直方向)上具有成直线的多个传感器的多个线传感器(Y传感器)被配置成与X方向平行。X传感器和Y传感器被配置成以使得X传感器和Y传感器彼此不重叠的交叉模式。
将传感器区域200操作性地分割成可能不容易获得例如手指的充分触摸面积的周边的端部区域201以及除了端部区域201以外的能够获得充分的触摸面积的中央区域202。参考图2A、2B、2C，端部区域201具有与传感器区域200的外部边缘的一个传感器相当的宽度。应当注意，该宽度不限于与一个传感器相当的宽度，而端部区域201可以是传感器区域200的外部边缘配置预定数量的传感器(电极)的区域。
电容203表示端部区域201中的传感器所检测到的电容值。电容204表示中央区域202中与端部区域201邻接的传感器所检测到的电容值。电容205表示中央区域202中远离端部区域201的位置处的传感器所检测到的电容值。
基准电容(或者阈值)206是用于判断触摸位置是存在于端部侧(更靠近传感器区域200的外部边缘或者在外部边缘方向上)还是相对端部侧(更靠近传感器区域200的内部或者在内部方向上)的基准值(变化量的阈值)。CPU 112针对各触摸面板来在触摸传感器驱动电路105中设置基准电容206。例如，在端部区域201的中央部发生触摸的情况下，考虑与中央区域202中与端部区域201邻接的传感器所检测到的电容值204来确定基准电容206。
图2A、2B、2C示出针对操作触摸面板102所用的触笔或者用户的手指(或者其它导电体)等的触摸面板102的触摸面207。在图2A中，用户的手指位于传感器区域200和传感器区域200的外部之间的边界上。换句话说，触摸面207的一半位于端部区域201中的Y传感器上，并且另一半位于传感器区域200的外部、即端部区域201的外部。在图2B中，整个触摸面207包含在端部区域201中。在图2C中，整个触摸面207位于端部区域201中并且还包含在传感器区域200内部的Y方向上的内部。
端部侧208指端部区域201中不存在邻接传感器的方向，并且相对端部侧209指端部区域201中存在邻接传感器的方向。换句话说，在端部侧208上所输入的触摸与输入到端部区域201当中更靠近传感器区域200的外侧的触摸相对应，而在相对端部侧209上所输入的触摸与端部侧208的相对侧(更靠近传感器区域200的内侧)上的触摸相对应。在电容式触摸面板102上以二维以上方式配置传感器的情况下，针对各轴来定义端部侧208和相对端部侧209。
图3是示出根据本典型实施例的在端部触摸发生时可以提高触摸位置精度的触摸检测控制处理的流程图。流程图中所说明的处理可以通过将存储在硬盘113中的控制程序展开至存储器114中并且通过CPU 112执行该控制程序来实现。
在步骤S301中，CPU 112检测由用户所进行的触摸输入，然后处理移动至步骤S302。
在步骤S302中，CPU 112判断是否对端部区域201进行了触摸输入。如果端部区域201中的检测电容203表现出检测值中的最高检测电容，则CPU 112判断为对端部区域201中的传感器(端部传感器)进行了触摸。然后处理移动至步骤S303。如果端部区域201的检测电容203不是最高检测电容，则CPU 112判断为没有对端部传感器进行触摸输入。然后处理移动至步骤S306。
在步骤S303中，CPU 112检查与检测电容203邻接的检测电容204(邻接的传感器的检测电容)是否小于基准电容206。如果检测电容204小于基准电容206，则CPU 112判断为对端部区域201的端部侧208进行了触摸。然后处理移动至步骤S304。如果检测电容204等于或高于基准电容206，CPU 112判断为对端部区域201的相对端部侧209进行了触摸。然后处理移动至步骤S305。
在步骤S304中，CPU 112计算与同(如由表达式(1)所获取到的)正常重心相比位于触摸面板102的较外侧(端部侧208)的位置相对应的触摸位置坐标。例如，在表达式(1)中，c1是端部区域201中表现出最高检测电容的传感器的检测电容，p1是传感器的权重，而c2是端部区域201中与表现出最高检测电容的传感器邻接的传感器的检测电容。将p1校正为p1’，并且利用如在表达式(2)和(3)中的p1’来计算重心109。
Figure BDA0001009229220000091
p1'＝p1×b/c2 (3)
其中，b是基准电容206。在计算出触摸位置坐标之后，CPU 112进入步骤S307。
在步骤S305中，CPU 112计算相对于(如由表达式(1)所获取到的)正常重心而朝向触摸面板102的内侧(相对端部侧209)的触摸位置坐标。更具体地，如步骤S304，使用表达式(2)和(3)来计算触摸位置坐标。在计算出触摸位置坐标之后，CPU 112进入步骤S307。
在步骤S306中，CPU 112使用最高检测电容值以及周边的检测电容值来计算触摸位置坐标。更具体地，使用通过使用表达式(1)的正常重心来计算触摸位置坐标。
在步骤S307中，CPU 112执行与所计算出的触摸位置相对应的处理。例如，在触摸显示装置117上所显示的图标的位置的情况下，执行指定给所触摸的图标的功能。根据触摸位置的移动(触摸移动)，可以滚动显示对象，或者可以放大或缩小显示对象的大小。
在图3所示的控制下，可以针对全部触摸传感器区域提供平衡且均一的触摸位置精度。已经说明了端部区域201的宽度与周边的一个传感器相对应，但本发明的实施例不限于此。端部区域201可以具有任意宽度。已经说明了基于在端部区域201的中央部发生触摸时所表现出的检测电容值来确定基准电容206，但可以利用其它方法来确定基准电容206。已经说明了根据邻接的传感器的检测电容204和基准电容206来计算权重的校正量，但本发明的实施例不限于此。可以利用任意方法来计算权重的这种校正量。已经说明了通过对用于计算重心109的权重计算中要使用的权重进行校正来校正触摸位置坐标，但可以应用其它计算方法或者其校正。如上所述，在步骤S306中，计算正常重心作为触摸位置坐标，并且在步骤S304和305中，分别针对外侧(端部侧)和内侧(相对端部侧)来校正触摸位置。然而，本发明的实施例不限于此。在步骤S306中，可以在与重心不同的预定条件下计算触摸坐标，并且，在步骤S304和S305中，可以根据在该预定条件下所获取到的触摸坐标，分别针对外侧(端部侧)和内侧(相对端部侧)来校正触摸位置。
第二典型实施例
将说明通过使用虚拟传感器的电容(虚拟电容)来计算触摸位置坐标的第二典型实施例。
图4示出根据第二典型实施例的触摸位置和检测电容之间的关系示例并且还示出虚拟传感器的虚拟电容的示意图。在端部区域201的端部侧208上发生触摸输入的情况下，将虚拟传感器虚拟地设置在用于计算触摸位置的传感器区域200的外部。图4示出虚拟传感器的电容(虚拟电容)401。可以基于表达式(4)，根据邻接传感器的检测电容204和基准电容206来计算虚拟电容401。
k＝2b-a (4)
其中，k是虚拟传感器的虚拟电容401，a是邻接传感器的检测电容204，而b是基准电容206。
图5是示出根据第二典型实施例的触摸检测控制的流程图。图5所示的流程图的处理可以通过将存储在硬盘113中的控制程序展开至存储器114中并且通过CPU 112执行该控制程序来实现。
由于图5中的步骤S501～S503以及步骤S508～S509中的处理与图3中的步骤S301～S303以及步骤S306～S307中的处理相同，因此将省略其说明。
如果邻接传感器的检测电容[a]小于基准电容206[b]，则在步骤S504中CPU 112将虚拟传感器的电容401设置成大于基准电容206。例如，在表达式(4)中，考虑邻接传感器的检测电容204[a]与基准电容206[b]之间的差来计算虚拟电容401。即，
k'＝(b/a)(2b-a) (5)
其中，k'是考虑邻接传感器的检测电容204与基准电容206之间的差的虚拟电容401。在将虚拟传感器的电容401设置成大于基准电容206[b]之后，CPU 112进入步骤S505。在步骤S505中，CPU 112考虑步骤S504中所设置的虚拟传感器的电容401[k']，来计算相对于正常重心朝向端部侧208校正的触摸位置坐标。例如，可以将虚拟传感器的电容401定义为c0(＝k')并且可以将要加至表达式(1)中的权重定义为p0，以使得可以使用表达式(6)来计算重心109。
Figure BDA0001009229220000121
在计算出触摸位置坐标之后，CPU 112进入步骤S509。
如果邻接传感器的检测电容204等于或大于基准电容206(S503)，则在步骤S506中，将虚拟传感器的电容401设置成小于基准电容206。更具体地，通过使用如步骤S504中的表达式(5)来计算虚拟电容401。在将虚拟传感器的电容401设置成小于基准电容206之后，CPU 112进入步骤S507。在步骤S507中，CPU 112将步骤S506中所设置的虚拟传感器的虚拟电容401应用至如步骤S505中的表达式(6)中，以计算朝向相对端部侧209校正的触摸位置坐标。在计算出触摸位置坐标之后，CPU 112进入步骤S509。
如图5所示的控制操作还可以为电容式触摸面板的整个传感器区域提供平衡且均一的触摸位置精度。已经说明了根据邻接传感器的检测电容204和基准电容206来计算虚拟传感器的虚拟电容401以及针对虚拟传感器的虚拟电容401的校正量，但本发明的实施例不限于此。可以利用任意方式来计算权重的这种校正量。已经说明了通过考虑虚拟传感器的虚拟电容401进行用于计算重心109的权重计算，来校正触摸位置坐标，但可以应用其它计算方法或者其校正。
第三典型实施例
将说明根据触摸输入的大小来改变传感器区域的端部区域和中央区域之间的边界的第三典型实施例。这是为了解决手指的大小以及如何触摸的个体差异，以使得能够实现适用于各个用户的触摸位置坐标的高精度判断。
图6A、6B和6C示例性地示出触摸面板102的触摸位置和检测电容之间的关系以及端部区域和中央区域之间的边界的改变的示例。
点601指为了判断触摸输入的大小而进行触摸输入的目标点。判断电容602是用于针对电容104判断触摸输入的大小的阈值。在发生对点601的触摸输入的情况下，触摸输入大小判断单元110基于触摸面板102上电容等于或高于判断电容602的传感器的数量来判断触摸输入的大小。
图6A～6C示出针对触摸输入603的大小根据用户的手指的大小以及如何触摸而变化的点601的触摸输入603(或者对触摸面板102的触摸输入的触摸面积)。触摸输入半径604是触摸输入603的半径。
判断端部区域605(图6A)是具有与传感器区域200的三个传感器相当的宽度的周边区域。在判断端部区域605中，CPU 112判断是否存在触摸面板102上无法获得充分的触摸面积的高可能性。例如，可以将判断端部区域605设置为触摸输入半径604与三个传感器相当的端部区域。传感器区域200中除了判断端部区域605以外的部分是被称为判断中央区域606的中央区域。
判断端部区域607(图6B)是具有与传感器区域200的两个传感器相当的宽度的周边区域。在判断端部区域607中，CPU 112判断是否存在触摸面板102上无法获得充分的触摸面积的高可能性。例如，可以将判断端部区域607设置为触摸输入半径604与两个传感器相当的端部区域。传感器区域200中除了判断端部区域607以外的部分是被称为判断中央区域608的中央区域。
判断端部区域609(图6C)是具有与传感器区域200的一个传感器相当的宽度的周边区域。在判断端部区域609中，CPU 112判断是否存在触摸面板102上无法获得充分的触摸面积的高可能性。例如，可以将判断端部区域607设置为触摸输入半径604与一个传感器相当的端部区域。传感器区域200中除了判断端部区域609以外的部分是被称为判断中央区域610的中央区域。
图7是根据第三典型实施例的触摸检测控制所用的流程图。图7所示的流程图中所说明的处理可以通过将存储在硬盘113中的控制程序展开至存储器114中并且通过CPU 112执行该控制程序来实现。
由于图7的步骤S710～S716中的处理与图3的步骤S301～S307中的处理相同，因此将省略其说明。
在步骤S701中，CPU 112将触摸输入判断画面显示在显示装置117上。然后处理进入步骤S702。
在步骤S702、S703和S704中，CPU 112(或者触摸输入大小判断单元110)判断触摸输入的大小。如果检测电容大于判断电容602的传感器的数量等于或高于10，则CPU 112使处理进入步骤S705。如果检测电容大于判断电容602的传感器的数量低于10而等于或高于6，则CPU 112使处理进入步骤S706。如果检测电容大于判断电容602的传感器的数量低于6而等于或高于2，则CPU112使处理进入步骤S707。如果检测电容大于判断电容602的传感器的数量低于2，则CPU 112直接进入步骤S708。
在步骤S705中，CPU 112将判断端部区域605判断为端部区域201。然后处理进入步骤S708。在步骤S706中，CPU 112将判断端部区域607判断为端部区域201。然后处理进入步骤S708。在步骤S707中，CPU 112将判断端部区域609判断为端部区域201。然后处理进入步骤S708。
在步骤S708中，CPU 112将步骤S705～S707中所判断出的端部区域或者默认端部区域设置为用于参考基准电容206计算触摸位置坐标的端部区域201。CPU 112将传感器区域200的剩余部分设置为中央区域202。
在步骤S709中，CPU 112转移至能够进行正常触摸的画面上。处理然后移动至步骤S710。在步骤S710中和之后，CPU 112执行与参考图3的步骤S301～307所说明的处理相同的处理。
如上所述，根据第三典型实施例，可以在解决诸如手指的大小和如何触摸的个体差异的情况下，对触摸板的整个传感器区域提供平衡且均一的触摸位置精度。仅为了示出目的而给出图6A～6C中的传感器图案，而X方向上的传感器的数量和Y方向上的传感器的数量不限于图6A～6C所示的示例。用于判断触摸输入的大小的传感器的基准数量不限于上述示例。已经说明了基于传感器的数量来定义判断端部区域605、607和609，但可以基于位置坐标来定义判断端部区域605、607和609。
在前述典型实施例中，可以通过一个硬件装置来实现由CPU 112所进行的控制，或者处理可以被分割到多个硬件装置当中，以实现整个设备的控制。
已经基于典型实施例详细说明了本发明，但本发明不限于这些特定的典型实施例。在不偏离本发明的范围和精神的情况下，还可以将各方面包括在本发明中。前述典型实施例仅是本发明的典型实施例，并且可以在需要时将这些典型实施例进行组合。
已经说明了根据前述典型实施例将本发明应用至电子设备，这种电子设备可以是可以配备具有触摸面板的显示装置的各种设备中的任意设备。例如，本发明的实施例还适用于例如个人计算机、移动信息处理设备、平板终端、智能电话、移动图像阅读器、具备显示装置的打印设备、数字相框、音乐播放器、游戏机和电子书阅读器。
其它典型实施例
还可以通过将用于实现前述典型实施例的一个或多个功能的程序经由网络或者经由存储介质供给到系统或者设备、并且由系统或者设备的计算机中的一个或多个处理器执行该程序所进行的处理来实现本发明的方面。可以通过用于实现该一个或多个功能的电路(诸如专用集成电路(ASIC)等)来实现本发明的方面。
根据本发明的各方面，可以提高电容式触摸面板的传感器区域的端部中的触摸位置坐标的计算精度。
本发明的实施例还可以通过如下的方法来实现，即，通过网络或者各种存储介质将执行上述实施例的功能的软件(程序)提供给系统或装置，该系统或装置的计算机或是中央处理单元(CPU)、微处理单元(MPU)读出并执行程序的方法。
尽管参考典型实施例说明了本发明，但是应该理解，本发明不局限于所公开的典型实施例。所附权利要求书的范围符合最宽的解释，以包含所有这类修改、等同结构和功能。

Claims (9)

1.一种电子设备，包括：
触摸面板，其具有多个传感器，并且所述多个传感器各自的电容响应于所述触摸面板上所进行的触摸操作而变化，
所述电子设备的特征在于还包括：
计算单元，用于在所述多个传感器中从外侧起的预定数量传感器其中之一的检测电容超过其它传感器的检测电容、并且所述触摸面板的内侧方向上与检测电容超过所述其它传感器的传感器邻接的传感器的检测电容小于基准电容的情况下，计算与所述多个传感器的通过触摸操作所产生的检测电容的重心相比更偏向所述触摸面板的外侧方向的、产生该检测电容的触摸操作的位置坐标。
2.根据权利要求1所述的电子设备，其中，还包括控制单元，所述控制单元进行控制以使得实现基于所述计算单元所计算出的位置坐标的处理。
3.根据权利要求1所述的电子设备，其中，在所述多个传感器中与从外侧起的所述预定数量传感器相比更靠内侧的传感器其中之一的检测电容是最高检测电容的情况下，所述计算单元计算作为所述多个传感器的通过触摸操作所产生的检测电容的重心的、产生该检测电容的触摸操作的位置坐标。
4.根据权利要求1所述的电子设备，其中，在所述多个传感器中从外侧起的所述预定数量传感器其中之一的检测电容是最高检测电容、并且所述触摸面板的内侧方向上与检测到所述最高检测电容的传感器邻接的传感器的检测电容等于或高于所述基准电容的情况下，所述计算单元计算与所述多个传感器的通过触摸操作所产生的检测电容的重心相比更偏向内侧方向的、产生该检测电容的触摸操作的位置坐标。
5.根据权利要求1所述的电子设备，其中，在所述多个传感器中作为第一传感器的从外侧起的所述预定数量传感器其中之一的检测电容是最高检测电容、并且所述触摸面板的内侧方向上与检测到所述最高检测电容的传感器邻接的第二传感器的检测电容小于所述基准电容的情况下，在所述触摸面板的相对于所述第一传感器的外侧设置虚拟传感器，根据所述第二传感器的检测电容和所述基准电容来确定所述虚拟传感器的虚拟电容，并且通过使用所述第一传感器的检测电容、所述第二传感器的检测电容和所述虚拟电容来计算所述位置坐标。
6.根据权利要求1所述的电子设备，其中，所述预定数量等于1。
7.根据权利要求1所述的电子设备，其中，还包括判断单元和设置单元，所述判断单元用于判断所述触摸面板上所进行的触摸操作的触摸面积的大小，并且所述设置单元用于将所述预定数量设置成基于所述判断单元所判断出的所述触摸面积的大小的数量。
8.根据权利要求1所述的电子设备，其中，所述多个传感器以二维方式配置。
9.一种电子设备的控制方法，其中，所述电子设备包括触摸面板，所述触摸面板具有多个传感器，所述多个传感器各自的电容响应于所述触摸面板上所进行的触摸操作而变化，所述控制方法的特征在于包括：
在所述多个传感器中从外侧起的预定数量传感器其中之一的检测电容超过其它传感器的检测电容、并且所述触摸面板的内侧方向上与检测电容超过所述其它传感器的传感器邻接的传感器的检测电容小于基准电容的情况下，计算与所述多个传感器的通过触摸操作所产生的检测电容的重心相比更偏向所述触摸面板的外侧方向的、产生该检测电容的触摸操作的位置坐标。
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