CN106249311A - 接近传感器及接近传感器的检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种接近传感器及接近传感器的检测方法。此接近传感器包括接近感测单元以及控制单元。接近感测单元用以反应于物体而产生感测值。控制单元耦接接近感测单元。控制单元从接近感测单元获得感测值，比较感测值与预设值得到比较结果，根据该比较结果计算状态累计时间，且判断状态累计时间是否超过预设时间，以判断物体的接近状态。本发明可以多次读取感测值，并逐次累计所述状态累计时间，从而判断物体为靠近状态或远离状态。基于此，便能有效提升判断的准确性。

Description

接近传感器及接近传感器的检测方法

技术领域

本发明是有关于一种接近感测(proximity sensing)技术，且特别是有关于一种接近传感器及接近传感器的检测方法。

背景技术

随着科技的进步与其带来的方便性，人们在生活或工作上渐渐无法脱离电子装置(例如，手机、平板、个人电脑等)。现有的电子装置大多会具备多种传感器(例如，接近传感器、加速度传感器、压力传感器等)，以辅助电子装置上的多种功能(例如，屏幕开关、导航等)或提供人们多种感测信息(例如，温度、压力等)。

接近传感器是无须实体接触而可检测物体是否靠近的一种传感器，其可通过感测芯片对微处理器发送反馈信号来告知物体处于靠近状态或远离状态。然而，在现实生活应用上，现有接近传感器经常会受到其他外在因素影响而导致误判情况发生。

举例而言，光学接近传感器通常会另配置发射特定波长(例如，850纳米(nm)、940nm等)光线的发光二极管(Light Emitting Diode，简称LED)或红外线(Infrared Ray，简称IR)发射器，而光学接近传感器便是通过检测此光线反射于物体后的反射光线，以判断物体是否靠近。然而，当接近传感器面对强光，或是快速突波射入光学接近传感器时，经常会导致感测芯片误判为物体远离。图1所示为太阳的光谱分析图。图1的纵轴为光强度，而横轴是波长(单位为纳米)。请参照图1，在波长为850nm以及940nm处，太阳光谱分布并非为零。因此，在强烈的太阳光照射下，接近传感器仍可能会感应到波长为850nm或940nm的光，从而导致误判为物体远离。而电子装置在环境光影变化下所造成的光学突波，也可能会造成配置于电子装置上的感测芯片或微处理器误判。此外，现有抗强光演算法均须实作于感测芯片或微处理器中，恐造成芯片面积增加。而且，针对固定波长光线(如850nm或940nm)的光学接近传感器品质要求较高，制作成本也较为高昂。

发明内容

本发明提供一种接近传感器及接近传感器的检测方法，以改善误判情形。

本发明提供一种接近传感器的检测方法，此检测方法包括下列步骤：(a)从接近感测单元获得感测值；(b)比较感测值与预设值得到比较结果，根据所述比较结果计算状态累计时间；以及(c)判断状态累计时间是否超过预设时间，以判断物体的接近状态。

在本发明的一实施例中，上述状态累计时间包括物体靠近累计时间及物体远离累计时间，其中比较感测值与预设值得到比较结果，根据所述比较结果计算状态累计时间的步骤包括：(b1)判断感测值是否大于预设值；(b2)若感测值大于预设值，则累计物体靠近累计时间，并初始化物体远离累计时间；以及(b3)若感测值小于预设值，则累计物体远离累计时间，并初始化物体靠近累计时间。

在本发明的一实施例中，上述比较感测值与预设值得到比较结果，根据所述比较结果计算状态累计时间的步骤包括：(b4)计算本次读取感测值的时点与前次读取感测值的时点相距的时间间隔；(b5)将时间间隔累计于物体靠近累计时间或物体远离累计时间。

在本发明的一实施例中，上述检测方法还包括下列步骤：(b6)若从接近感测单元获得感测值的读取动作为首次执行，则初始化时间间隔、状态累计时间。

在本发明的一实施例中，上述检测方法还包括下列步骤：(a1)若接收到接近感测单元反应于物体的靠近所产生的中断信号或相关于接近感测单元的应用程序所触发的触发事件，则首次执行从接近感测单元获得感测值的读取动作。

在本发明的一实施例中，上述判断状态累计时间是否超过预设时间的步骤包括：(c1)若物体靠近累计时间大于预设时间，则判断接近状态为靠近；以及(c2)若物体远离累计时间大于预设时间，则判断接近状态为远离。

在本发明的一实施例中，上述判断状态累计时间是否超过预设时间的步骤包括：(c3)若状态累计时间小于预设时间，则不更新接近状态，并再一次从接近感测单元取得更新后的感测值。

本发明提出一种接近传感器，此接近传感器包括接近感测单元以及控制单元。接近感测单元用以反应于物体而产生感测值；控制单元耦接接近感测单元；控制单元从接近感测单元获得感测值，比较感测值与预设值得到比较结果，根据该比较结果计算状态累计时间，且判断状态累计时间是否超过一预设时间，以判断物体的接近状态。

在本发明的一实施例中，上述的控制单元判断感测值是否大于预设值，若感测值大于预设值，则控制单元累计所述状态累计时间中的物体靠近累计时间，并初始化所述状态累计时间中的物体远离累计时间；且若感测值小于预设值，则控制单元累计所述物体远离累计时间，并初始化该物体靠近累计时间。

在本发明的一实施例中，上述的控制单元计算本次读取感测值的时点与前次读取感测值的时点相距的时间间隔，且将时间间隔累计于状态累计时间。

在本发明的一实施例中，若控制单元判断从接近感测单元获得感测值的读取动作为首次执行，则初始化时间间隔、状态累计时间。

在本发明的一实施例中，若控制单元接收到接近感测单元反应于物体的靠近所产生的中断信号或相关于接近感测单元的应用程序所触发的触发事件，则首次执行从接近感测单元获得该感测值的读取动作。

在本发明的一实施例中，若物体靠近累计时间大于预设时间，则控制单元判断接近状态为靠近，而若物体远离累计时间大于预设时间，则控制单元判断接近状态为远离。

在本发明的一实施例中，若状态累计时间小于预设时间，则控制单元不更新接近状态，并再一次从接近感测单元取得更新后的感测值。

在本发明的一实施例中，上述的接近感测单元包括接近感测元件以及模-数转换器；接近感测元件用以反应于物体而产生感测信号。模-数转换器耦接至接近感测元件，且用以将感测信号转换为感测值。

基于上述，本发明实施例所述接近传感器及接近传感器的检测方法可以多次读取感测值，并逐次累计所述状态累计时间，从而判断物体为靠近状态或远离状态。基于此，便能有效提升判断的准确性。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。

附图说明

图1所示为太阳的光谱分析图；

图2所示为依照本发明实施例说明接近传感器的电路方块示意图；

图3所示为中断引脚的信号图范例；

图4所示为依照本发明实施例说明接近传感器的检测方法的流程图；

图5所示为中断模式的流程图；

图6所示为依照本发明一实施例说明在图5所示步骤S530或图7所示步骤S730中，物体靠近或远离的判定的流程示意图；

图7所示为应用程序触发模式的流程图。

附图标记说明：

200：接近传感器；

210：接近感测单元；

213：接近感测元件；

215：模-数转换器；

230：控制单元；

301：手；

S410～S450、S510～S590、S610～S680、S710～S790：步骤。

具体实施方式

图2所示为依照本发明实施例说明接近传感器的电路方块示意图。在不同的应用情境中，接近传感器200可以内建于智能电话、平板电脑、智能电视、物联网的装置或是其他电子装置。请参照图2，接近传感器200包括接近感测单元210及控制单元230。

依照不同的设计需求，接近感测单元210可能包括接近感测元件213以及模-数转换器(analog-to-digital converter，简称为：ADC)215。接近感测元件213例如是电容式、光学式、磁感式等任何类型感测技术的感测元件，且用以反应于物体(例如，手部、头部等)而产生感测信号。例如但不限于，接近感测元件213可以是光学式接近感测元件。接近感测元件213可以发射红外线光(或其他波长光)至接近传感器200的外部。当物体(例如头部)靠近接近感测元件213时，接近感测元件213可以接收到经物体反射的反射红外线光，从而感应反射红外线光并产生感测信号。而模-数转换器215耦接至接近感测元件213，且用以将接近感测元件213的感测信号转换为感测值。例如，模-数转换器215可以取样率为180赫兹(Hz)对接近感测元件213所感测的感测信号取样，并将取样值量化以转换感测值。

控制单元230耦接接近感测单元210，以从接近感测单元210获得感测值。控制单元230可能包括中央处理单元(或中央处理器)、微处理器、微控制器、专用集成电路(Application Specific IntegratedCircuit，简称为：ASIC)、芯片组和/或其他运算电路。依照不同的设计需求，固件和/或软件可以运行于控制单元230。

依照不同的设计需求，接近感测单元210及控制单元230可能有相互耦接的中断引脚(pin)，控制单元230可依据中断引脚的信号而触发中断事件。举例而言，图3所示为中断引脚的信号图范例。请参照图3，假设手301靠近接近感测单元210(如左方手301所示接近下方)，则中断引脚的信号为高电平。反之，若手301远离接近感测单元210(如中间手301所示相较于左方手301远离下方)，则中断引脚的信号为低电平。在一些实施例中，当中断引脚的信号从高电平变成低电平，或是低电平变成高电平时，控制单元230便可触发中断事件。

依照不同的设计需求，本发明的接近传感器200可能内建于诸如手机、平板、笔记本电脑等电子装置，以将物体的靠近状态或远离状态反馈至电子装置的处理单元(例如，CPU、芯片组等)，进而提供多种接近感测应用(例如，开关屏幕、省电功能等)。例如，当内建接近传感器200的手机来电时，接近传感器200可以反馈物体的靠近状态或远离状态给手机的处理单元(未示出)，以决定是否将手机的屏幕(未示出)关闭。

在另一些实施例中，接近传感器200可能包括暂存器、缓冲存储器或存储器等储存单元(未示出)，且用于储存或设定预设值、状态累计时间、时间间隔dT和/或预设时间。举例来说，所述储存单元(未示出)可记录模-数转换器215的感测值，以供控制单元230读取。依照不同的设计需求，所述储存单元(未示出)可以是动态随机存取存储器(dynamic random access memory，简称为：DRAM)、静态随机存取存储器(staic random access memory，简称为：SRAM)、易失性存储器(volatile memory，简称为：VM)或非易失性存储器(non-volatile memory，简称为：NVM)。

图4所示为依照本发明实施例说明接近传感器的检测方法的流程图。请参照图4，本实施例的检测方法适用于图2的接近传感器200。下文中，将搭配接近传感器200中的各项元件或模块说明本发明实施例所述的检测方法。本方法的各个流程可依照实施情形而随之调整，且并不仅限于此。

在步骤S410中，控制单元230从接近感测单元210获得感测值。具体而言，接近感测单元210产生感测值的详细说明请参照前述图2中接近感测单元210的说明，此处不再赘述。控制单元230可通过轮询(polling)方式读取来自模-数转换器215或存储单元(未示出)的感测值。控制单元230可定时(例如，每秒10次、20次)或不定时(例如，第一周期为0.02秒、第二周期为0.03秒等)从接近感测单元210获得感测值，本发明实施例不加以限制。

需说明的是，在一实施例中，在步骤S410之前，若控制单元230接收到接近感测单元210反应于物体的靠近所产生的中断信号或相关于接近感测单元210的应用程序所触发的触发事件，则首次执行“从接近感测单元210获得感测值”的读取动作。中断信号的产生方式可参照前述中断引脚的说明，此处不再赘述。而应用程序例如是电话程序，且触发事件例如是来电。或者，应用程序例如是屏幕亮度调整程序，而触发事件是屏幕开启。需说明的是，依据应用本发明实施例者的设计需求，可调整应用程序的种类及对应的触发事件，本发明实施例不以此为限。

在步骤S430中，控制单元230比较接近感测单元210的感测值与预设值而得到比较结果，并根据比较结果计算状态累计时间。举例来说(但不限于此)，所述状态累计时间可能包括物体靠近累计时间dT_A和/或物体远离累计时间dT_B。在本实施例中，控制单元230判断感测值是否大于预设值。若感测值大于预设值，则控制单元230累计该状态累计时间中的物体靠近累计时间dT_A。而若感测值小于预设值，则控制单元230累计该状态累计时间中的物体远离累计时间dT_B。

在一实施例中，控制单元230计算本次读取感测值的时点与前次读取感测值的时点相距的时间间隔dT，且将时间间隔dT累计于物体靠近累计时间dT_A或物体远离累计时间dT_B。具体而言，若控制单元230定时(例如，每0.01秒、0.03秒等)执行读取动作，则控制单元230可将定时读取的周期作为时间间隔dT。或者，控制单元230可记录每次读取动作的时点，并将本次读取动作的时点与前次读取动作的时点相减，从而取得时间间隔dT。若控制单元230本次所取得的感测值大于预设值，则将物体靠近累计时间dT_A与所述时间间隔dT相加，并将相加后的值更新至物体靠近累计时间dT_A。例如，预设值为100，而本次读取的感测值为150，则控制单元230将原本的物体靠近累计时间dT_A(例如为0.05秒)加上所述时间间隔dT(例如为0.01秒)，从而将新的物体靠近累计时间dT_A更新为0.06秒。而若控制单元230本次所取得的感测值小于预设值，则将物体远离累计时间dT_B与时间间隔dT相加，并将相加后的值更新至物体远离累计时间dT_B。例如，预设值为80，而本次读取的感测值为50，则控制单元230将物体远离累计时间dT_B(例如为0.03秒)加上所述时间间隔dT(例如为0.02秒)，从而将物体远离累计时间dT_B更新为0.05秒。

在一实施例中，若控制单元230累计了物体靠近累计时间dT_A，则初始化物体远离累计时间dT_B。而若控制单元230累计了物体远离累计时间dT_B，则初始化物体靠近累计时间dT_A。换言之，若感测值大于预设值，则控制单元230初始化物体远离累计时间dT_B。而若感测值小于预设值，则控制单元230初始化物体靠近累计时间dT_A。针对初始化的方式，控制单元230可将物体靠近累计时间dT_A或物体远离累计时间dT_B设定为初始时间(例如，0秒、0.03秒等)。

需说明的是，在更新物体靠近累计时间dT_A及物体远离累计时间dT_B之前，在一实施例中，若控制单元230判断从接近感测单元210获得感测值的读取动作为首次执行，则初始化所述时间间隔dT、状态累计时间。举例来说(但不限于此)，控制单元230可以初始化所述物体靠近累计时间dT_A和/或所述物体远离累计时间dT_B。具体而言，控制单元230依据中断信号或触发事件而判断读取动作为首次执行后，控制单元230可将所述时间间隔dT、所述物体靠近累计时间dT_A及所述物体远离累计时间dT_B，分别设定为初始时间间隔(例如，0秒、0.02秒等)、初始物体靠近累计时间(例如，0秒、0.03秒等)及初始物体远离累计时间(例如，0秒、0.01秒等)。

此外，所述预设值可能与检测物体的额定距离有关，以及与覆盖于接近感测单元210的覆盖层的材质(例如玻璃、塑胶等)等有关，且与覆盖层的厚度、颜色或其他物理参数有关。应用本发明实施例者可依据不同的设计需求来变更所述预设值。

经过更新状态累计时间(例如物体靠近累计时间dT_A及/或物体远离累计时间dT_B)后，在步骤S450中，控制单元230判断状态累计时间(例如物体靠近累计时间dT_A和/或物体远离累计时间dT_B)是否超过预设时间，以判断物体的接近状态。

在一实施例中，若所述物体靠近累计时间dT_A大于预设时间，则控制单元230判断接近状态为靠近。而若所述物体远离累计时间dT_B大于预设时间，则控制单元230判断接近状态为远离。举例而言，假设预设时间为0.02秒，而更新后的物体靠近累计时间dT_A为0.021秒，则控制单元230便可判断接近状态为靠近。假设预设时间为0.03秒，而更新后的物体远离累计时间dT_B为0.032秒，则控制单元230便可判断接近状态为远离。

预设时间可能介于迟滞下限时间(例如，3次或4次等模-数转换器215的转换周期(例如，将感测信号转换成感测值的周期))至迟滞上限时间(例如，0.1秒、0.2秒等)之间。

依据不同的设计需求，控制单元230可进一步将判断结果(物体为靠近状态或远离状态)反馈至外接的电子装置(例如，手机、平板等，未示出)，或是反馈至耦接于控制单元230的其他处理单元(未示出)，进而产生/触发对应的功能(例如，开启屏幕、关闭屏幕或挂断电话等)。

若所述状态累计时间(例如物体靠近累计时间dT_A与/或所述物体远离累计时间dT_B)小于预设时间，则控制单元230不更新物体的接近状态，并再一次从接近感测单元210取得更新后的感测值，并且回到步骤430。举例来说，若物体靠近累计时间dT_A及物体远离累计时间dT_B均小于预设时间，则控制单元230会重复进行步骤410，并在取得感测值后，继续进行步骤430及步骤450，直到控制单元230判断出物体的接近状态为靠近状态或远离状态(即，物体靠近累计时间dT_A大于预设时间或物体远离累计时间dT_B大于预设时间)。需说明的是，控制单元230可先等待一段时间(例如，与模-数转换器215的转换周期相同或0.02秒、0.01秒等)，再进行下次读取动作。

基于此，本发明实施例通过判断物体靠近累计时间dT_A及物体远离累计时间dT_B来确认物体的接近状态(例如，靠近状态或远离状态)，相较于仅通过中断信号判断物体是否靠近的技术，还能避免强光或光学突波等外在因素影响所造成的误判情形。为了帮助理解本发明实施例的整体操作流程，以下另举两个应用情境范例进行说明。

在第一个应用情境中，图5所示为中断模式的流程图。请参照图5，在步骤S510中，控制单元230通过中断引脚而接收到来自接近感测单元210的中断信号，并开启一个轮询任务(步骤S520)。接着，在步骤S530中，控制单元230读取接近感测单元210的感测值并进行物体靠近或远离的判定操作。

图6所示为依照本发明一实施例说明在图5所示步骤S530或图7所示步骤S730中，物体靠近或远离的判定的流程示意图。请参照图5及图6，在步骤S610中，控制单元230判断是否为首次执行图5所示步骤S530(或图7所示步骤S730)的判定操作。若控制单元230为首次执行判定操作，则记录首次读取时点，并将时间间隔dT、物体靠近累计时间dT_A、物体远离累计时间dT_B设为零(步骤S620)。在完成步骤S620后，控制单元230可以进行步骤S630，以便对接近感测单元210进行读取动作来取得感测值，且判断感测值是否大于预设值。在其他一些实施例中，在判定图5所示步骤S530(或图7所示步骤S730)为首次执行的情况下，控制单元230也可在对接近感测单元210进行读取动作后，再将时间间隔dT、物体靠近累计时间dT_A、物体远离累计时间dT_B设为零。

若控制单元230并非为首次执行判定(例如从图5所示步骤S570回到步骤S530，或图7所示步骤S770回到步骤S730)，则记录本次读取时点，并计算本次读取时点与前次读取时点的时间间隔dT(步骤S625)。控制单元230对接近感测单元210进行读取动作，以取得感测值，且判断感测值是否大于预设值(步骤S630)。在其他一些实施例中，在判定图5所示步骤S530(或图7所示步骤S730)非为首次执行的情况下，控制单元230也可在对接近感测单元210进行读取动作后，再计算时间间隔dT。

若步骤S630的判断结果为感测值大于预设值，则控制单元230将时间间隔dT累加于物体靠近累计时间dT_A，而将物体远离累计时间dT_B设为零，以更新物体靠近累计时间dT_A及物体远离累计时间dT_B(步骤S640)。而若步骤S630的判断结果为感测值小于预设值，则控制单元230将时间间隔dT累加于物体远离累计时间dT_B，而物体靠近累计时间dT_A设为零，以更新物体靠近累计时间dT_A及物体远离累计时间dT_B(步骤S650)。

接着，在步骤S660中，控制单元230判断物体靠近累计时间dT_A是否大于预设时间或物体远离累计时间dT_B是否大于预设时间。若物体靠近累计时间dT_A大于预设时间，则控制单元230判断物体为靠近状态(步骤S670)。若物体远离累计时间dT_B大于预设时间，则控制单元230判断物体为远离状态(步骤S680)。另一方面，若物体靠近累计时间dT_A与物体远离累计时间dT_B均小于预设时间，则控制单元230不更新接近状态(步骤S690)。

对应至图5，若步骤S530(例如图6所示流程)的判断结果表示物体为靠近状态，则控制单元230可进一步向系统反馈物体靠近事件(步骤S550)。若步骤S530(例如图6所示流程)的判断结果表示物体为远离状态，则控制单元230可进一步向系统反馈物体远离事件(步骤S560)。在完成步骤S550或步骤S560后，控制单元230结束轮询任务(步骤S590)。另一方面，若步骤S530(例如图6所示流程)的判断结果表示物体的接近状态未更新，则控制单元230等待一段时间(例如，0.01秒、0.005秒等)(步骤S570)再返回步骤S530进行下一次读取动作及判定动作。

在第二个应用情境中，图7所示为应用程序触发模式的流程图。请参照图7，图7所示实施例可以参照图5、图6的相关说明而类推之。例如，图7的步骤S720、S730、S750、S760、S770、S790可分别参照图5的步骤S520、S530、S550、S560、S570、S590的相关说明而类推，故不再赘述。图7的步骤S730可参照图6的相关说明。图7与图5不同的地方在于，图7中步骤S710是控制单元230接收到应用程序的触发事件(例如，电话接通、屏幕开启等)。此外，在步骤S770中，控制单元230还进一步判断是否接收到应用程序的另一触发事件(例如，通话结束、关机等)。若控制单元230未接收到此另一触发事件，控制单元230才会从步骤S770返回步骤S730。反之，若控制单元230接收到此另一触发事件，则控制单元230会从步骤S770进入步骤S790以结束轮询任务。

需说明的是，前述第一及第二应用情景仅作为范例来说明，然不以局限本发明实施例。

值得注意的是，在不同的应用情景中，图4、图5、图6和/或图7的相关操作可以利用一般的编程语言(programming languages，例如C或C++)、硬件描述语言(hardware description languages，例如Verilog HDL或VHDL)或其他合适的编程语言来实现为软件、固件或硬件。可执行所述相关操作的软件(或固件)可以被布置为任何已知的计算机可存取媒体(computer-accessible medias)，例如磁带(magnetic tapes)、半导体(semiconductors)存储器、磁盘(magnetic disks)或光盘(compact disks，例如CD-ROM或DVD-ROM)，或者可通过互联网(Internet)、有线通信(wiredcommunication)、无线通信(wireless communication)或其它通信介质传送所述软件(或固件)。所述软件(或固件)可以被存放在计算机的可存取媒体中，以便于由计算机的处理器来存取/执行所述软件(或固件)的编程码(programming codes)。另外，在其他应用情境中，本发明的装置和方法可以通过硬件和软件的组合来实现。

综上所述，本发明实施例提供的接近传感器及接近传感器的检测方法不直接通过中断引脚来判断物体的接近状态(例如，靠近状态、远离状态)，经由一次或更多次的轮询方式来累计所述状态累计时间，并据此判断物体为靠近状态或远离状态。基于此，本发明实施例便能有效滤除模-数转换器所量测到的光学突波，提供更加准确的抗强光演算法，进而降低接近感测元件的制作成本(例如，可运用低阶的感测头，增加感测头的可用率，以使镀膜成本下降等)及芯片面积。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (16)

1.一种接近传感器的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括下列步骤：

(a)从接近感测单元获得感测值；

(b)比较所述感测值与预设值得到比较结果，根据所述比较结果计算状态累计时间；以及

(c)判断所述状态累计时间是否超过预设时间，以判断物体的接近状态。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述状态累计时间包括物体靠近累计时间及物体远离累计时间。

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述比较所述感测值与预设值得到比较结果，根据所述比较结果计算状态累计时间的步骤包括：

(b1)判断所述感测值是否大于所述预设值；

(b2)若所述感测值大于所述预设值，则累计所述物体靠近累计时间，并初始化所述物体远离累计时间；以及

(b3)若所述感测值小于所述预设值，则累计所述物体远离累计时间，并初始化所述物体靠近累计时间。

4.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述比较所述感测值与预设值得到比较结果，根据所述比较结果计算状态累计时间的步骤包括：

(b4)计算本次读取所述感测值的时点与前次读取所述感测值的时点相距的时间间隔；以及

(b5)将所述时间间隔累计于所述物体靠近累计时间或所述物体远离累计时间。

5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括：

(b6)若从所述接近感测单元获得所述感测值的读取动作为首次执行，则初始化该时间间隔、该状态累计时间。

6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括：

(a1)若控制单元接收到所述接近感测单元反应于所述物体的靠近所产生的中断信号或相关于所述接近感测单元的应用程序所触发的触发事件，则首次执行从所述接近感测单元获得所述感测值的读取动作。

7.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述判断所述状态累计时间是否超过预设时间，以判断物体的接近状态的步骤包括：

(c1)若所述物体靠近累计时间大于所述预设时间，则判断所述接近状态为靠近；以及

(c2)若所述物体远离累计时间大于所述预设时间，则判断所述接近状态为远离。

8.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述判断所述状态累计时间是否超过预设时间的步骤包括：

(c3)若所述状态累计时间小于所述预设时间，则不更新所述接近状态，并再一次从所述接近感测单元取得更新后的感测值。

9.一种接近传感器，其特征在于，所述接近传感器包括：

接近感测单元，用以反应于物体而产生感测值；以及

控制单元，耦接所述接近感测单元，其中所述控制单元从所述接近感测单元获得所述感测值，比较所述感测值与预设值得到比较结果，根据所述比较结果计算状态累计时间，且判断所述状态累计时间是否超过预设时间，以判断所述物体的接近状态。

10.根据权利要求9所述的接近传感器，其特征在于，所述控制单元判断所述感测值是否大于预设值，若所述感测值大于所述预设值，则所述控制单元累计所述状态累计时间中的物体靠近累计时间，并初始化所述状态累计时间中的物体远离累计时间；且若所述感测值小于所述预设值，则所述控制单元累计所述物体远离累计时间，并初始化所述物体靠近累计时间。

11.根据权利要求9所述的接近传感器，其特征在于，所述控制单元计算本次读取所述感测值的时点与前次读取所述感测值的时点相距的时间间隔，且将所述时间间隔累计于所述状态累计时间。

12.根据权利要求11所述的接近传感器，其特征在于，若所述控制单元判断从所述接近感测单元获得所述感测值的读取动作为首次执行，则初始化所述时间间隔、所述状态累计时间。

13.根据权利要求11所述的接近传感器，其特征在于，若所述控制单元接收到所述接近感测单元反应于所述物体的靠近所产生的中断信号或相关于所述接近感测单元的应用程序所触发的触发事件，则首次执行从所述接近感测单元获得所述感测值的读取动作。

14.根据权利要求10所述的接近传感器，其特征在于，若所述物体靠近累计时间大于预设时间，则所述控制单元判断所述接近状态为靠近，而若所述物体远离累计时间大于预设时间，则所述控制单元判断所述接近状态为远离。

15.根据权利要求9所述的接近传感器，其特征在于，若所述状态累计时间小于预设时间，则所述控制单元不更新所述接近状态，并再一次从所述接近感测单元取得更新后的感测值。

16.根据权利要求9所述的接近传感器，其特征在于，所述接近感测单元包括：

接近感测元件，用以反应于所述物体而产生感测信号；以及

模-数转换器，耦接至所述接近感测元件，用以将所述感测信号转换为所述感测值。