TWI401597B

TWI401597B - 電容式觸控面板之漂移補償裝置及其方法

Info

Publication number: TWI401597B
Application number: TW098106003A
Authority: TW
Inventors: Tzu Yi Wu; Lee Chun Guo
Original assignee: Ite Tech Inc
Priority date: 2009-02-25
Filing date: 2009-02-25
Publication date: 2013-07-11
Also published as: US20100214253A1; TW201032114A

Description

電容式觸控面板之漂移補償裝置及其方法

本發明是有關於一種漂移補償裝置及其方法，且特別是有關於一種依據觸控面板之狀態，於不同時間進行漂移補償之裝置及其方法。

隨著技術的日新月異，大多數的電子裝置，例如筆記型電腦、手機或是可攜式多媒體播放器等電子裝置，通常配置有觸控面板，以取代傳統鍵盤作為新一代輸入介面。觸控面板大致可區分為電阻式、電容式、紅外線式及超音波式等觸控面板，其中以電阻式觸控面板與電容式觸控面板為最常見的產品。電容式觸控面板為經由手指或導體材質靠近或觸碰觸控面板，而使觸控面板的電容值產生變化。當觸控面板偵測到電容值變化時，便可判斷出手指或導體材質靠近或觸碰的位置，並且執行觸碰位置所對應之功能操作。電容式觸控面板具有多指觸控之特性，可提供人性化地操作模式，因而逐漸受到市場的青睞。

然而，由於環境的改變，例如溼度、溫度、覆材材料、觸控面板上的油漬、灰塵等，會使得電容值漂移而誤判碰觸狀態，造成觸控面板之靈敏度(sensitivity)下降。因此，美國專利公告案號第5586042號提出一種量測及偵測電容值變化之裝置及方法，其為當觸控面板所偵測之電容值超出預定範圍時，判斷觸控面板處於碰觸狀態，其中預定範圍之上限值為參考電容值加上臨界差值，且預定範圍之下限值為參考電容值減去臨界差值。

當電容值不等於參考電容值且未超出預定範圍時，則視電容值有漂移。此時，當電容值介於參考電容值與預定範圍之上限值之間時，則調高參考電容值。反之，當電容值介於參考電容值與預定範圍之下限值之間時，則調低參考電容值。經由調整參考電容值，可以降低電容值漂移影響碰觸狀態之判斷。然而，所調整之參考電容值為作為下一次碰觸判斷之依據，不能及時地對環境因素所造成之電容值漂移進行補償，因而無法有效地提高觸控面板之靈敏度。

本發明提供一種電容式觸控面板之漂移補償裝置及其方法，其可依據觸控面板之觸碰狀態，於不同時間進行漂移補償，以提高觸控面板之靈敏度。

本發明提出一種電容式觸控面板之漂移補償方法，其中觸控面板具有多個感測器。首先，擷取各感測器所感測之多個電容值。依據這些電容值之變化斜率及斜率參數，判斷觸控面板是否處於接近狀態。依據各電容值及雜訊可容許範圍，判斷各電容值是否漂移。當觸控面板不處於接近狀態且各電容值漂移時，則經第一預設時間依據各電容值之漂移誤差補償各電容值。

在本發明之一實施例中，當觸控面板處於接近狀態時，則經第二預設時間依據各電容值之漂移誤差補償各電容值。

在本發明之一實施例中，當觸控面板處於接近狀態時，則經第二預設時間後記錄觸控面板之狀態以進行後續處理。

在本發明之一實施例中，上述之漂移補償方法更包括當觸控面板處於接近狀態時，依據各電容值與碰觸臨界值，判斷觸控面板是否處於碰觸狀態，且當觸控面板處於碰觸狀態時，重置第二預設時間。

本發明另提出一種電容式觸控面板之漂移補償裝置，其中觸控面板具有多個感測器，且各感測器依據掃描週期分別感測觸控面板之多個電容值。漂移補償裝置包括狀態檢測器、漂移檢測器、計數單元及電容值補償單元。狀態檢測器耦接觸控面板，依據這些電容值之變化斜率與斜率參數，判斷觸控面板是否處於接近狀態並據以產生第一控制信號。漂移檢測器耦接觸控面板，依據各電容值及雜訊可容許範圍，判斷各電容值是否漂移並據以產生第二控制信號。計數單元耦接狀態檢測器及漂移檢測器。當觸控面板不處於接近狀態且各電容值漂移時，受控於第一控制信號及第二控制信號而啟動第一預設時間之計數。電容值補償單元耦接計數單元，經第一預設時間，依據各電容值之漂移誤差補償各電容值。

在本發明之一實施例中，上述之計數單元於觸控面板處於接近狀態時，受控於第一控制信號而啟動第二預設時間之計數。電容值補償單元經第二預設時間後，依據各電容值之漂移誤差補償各電容值。其中，第二預設時間大於第一預設時間。

在本發明之一實施例中，上述之計數單元於觸控面板處於接近狀態時，受控於第一控制信號而啟動第二預設時間之計數。狀態檢測器經第二預設時間後記錄觸控面板之狀態以進行後續處理。

在本發明之一實施例中，上述之漂移補償裝置更包括一碰觸檢測器，其耦接計數單元。碰觸檢測器依據各電容值及碰觸臨界值，判斷觸控面板是否處於碰觸狀態並據以產生第三控制信號。當觸控面板處於碰觸狀態時，計數單元受控於第三控制信號而重置第二預設時間之計數。

基於上述，本發明之電容式觸控面板之漂移補償裝置及其方法為將電容值的變化斜率與斜率參數作比較，以判定觸控面板是否處於接近狀態。當觸控面板處於接近狀態時，便進行第二預設時間之計數，藉以在計數結束時，對電容值進行漂移的判定及補償。當觸控面板不處於接近狀態且電容值漂移時，則進行第一預設時間之計數，藉以在計數結束時，對電容值進行補償。如此一來，依據觸控面板之觸碰狀態，於時間計數結束時進行漂移補償，可以避免環境因素所造成之電容值漂移影響觸控面板之靈敏度。另外，第二預設時間之設定也可指示進行觸控面板狀態之記錄，以利於後續處理。

為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

電容式觸控面板通常會配置多個感測器來感測電容值，並且各感測器會依據掃描週期來感測電容值。當觸控工具與觸控面板接觸而產生電容耦合時，感測器所感測之電容值便會有明顯地變化。然而，感測器會因溼度、溫度、覆材材料、觸控面板上的油漬、灰塵等環境因素，而使得感測器所感測之電容值漂移。圖1為感測器所感測之電容值隨時間變化的曲線圖。請參照圖1，感測器未受碰觸的情況下，其所感測之電容值CDC應維持為一預定電容值C_PRE 。在期間T11內，觸控面板因受到碰觸而使感測器所感測之電容值CDC產生明顯地變化。此時，經由將電容值CDC與碰觸臨界值C_TH 進行比較，便可得知觸控面板是否處於碰觸狀態。

接著，在期間T12內，感測器所感測之電容值CDC受到環境因素而漂移並且緩慢地下降。在期間T13內，雖然感測器所感測之電容值CDC因觸控面板再次受到碰觸而有明顯地變化，但是環境因素所引起之漂移現象導致電容值CDC未能達到碰觸臨界值C_TH ，因而會誤判觸控面板不處於碰觸狀態。此時，觸控面板便不會進一步地偵測觸碰位置所在，致使觸控面板之操作失效。因此，本實施例利用漂移補償裝置來對電容值CDC之漂移進行補償，使觸控面板能正常地運作，以及提高觸控面板之靈敏度。

圖2A為本發明之一實施例之漂移補償裝置的示意圖。讀參照圖2A，漂移補償裝置200包括狀態檢測器210、漂移檢測器220、碰觸檢測器230、計數單元240以及電容值補償單元250。狀態檢測器210耦接觸控面板，其接收觸控面板上感測器所感測之電容值CDC。由於觸控面板受到觸控工具(例如：手指或電容筆)碰觸或接近時，感測器所感測之電容值會有明顯地變化。因此，狀態檢測器210依據電容值之變化斜率與一斜率參數之比較結果，來判斷觸控面板所處之狀態，例如：觸控工具接近、碰觸、遠離觸控面板之狀態或者觸控面板未受觸碰之一般狀態，並且據以產生控制信號CON1來控制計數單元240。當電容值CDC之變化斜率大於斜率參數時，狀態檢測器210判斷觸控面板處於接近狀態，反之則判斷觸控面板不處於接近狀態。

在電路運作過程中，無可避免的雜訊會使感測器所感測之電容值產生微小地起伏變化。相較於環境因素所引成之電容值CDC漂移，雜訊影響碰觸狀態之判斷較小。據此，為了區別雜訊所引起之電容值變化以及環境因素所引起之電容值漂移，本實施例之漂移檢測器220耦接觸控面板，其依據電容值CDC與一雜訊可容許範圍之比較結果，來判斷電容值CDC是否漂移，並且據以產生控制信號CON2來控制計數單元240。當電容值CDC位於雜訊可容許範圍內時，漂移檢測器220判斷電容值CDC未漂移，反之則判斷電容值CDC漂移。

碰觸檢測器230耦接觸控面板。當觸控面板經狀態檢測器230判斷為處於接近狀態時，碰觸檢測器230會進一步地依據電容值CDC與一碰觸臨界值C_TH 之比較結果，判斷觸控面板是否處於碰觸狀態，並據以產生控制信號CON3來控制計數單元240。當電容值CDC大於碰觸臨界值C_TH 時，碰觸檢測器230判斷觸控面板處於碰觸狀態，反之則判斷觸控面板不處於碰觸狀態。

計數單元240耦接狀態檢測器210、漂移檢測器220以及碰觸檢測器230。當觸控面板不處於接近狀態且電容值CDC漂移時，計數單元240受控於控制信號CON1及CON2而啟動第一預設時間之計數，並且當第一預設時間之計數完成時，控制電容值補償單元250將電容值CDC進行漂移補償。另外，當觸控面板處於接近狀態時，計數單元240受控於控制信號CON1而啟動第二預設時間之計數，並且當第二預設時間之計數完成時，控制電容值補償單元250將電容值CDC進行漂移補償。於此，可利用一邏輯單元(未繪示)將控制信號CON1及CON2進行處理而產生信號來控制計數單元240啟動第一預設時間或第二預設時間之計數。電容值補償單元250耦接計數單元240，其依據電容值CDC之漂移誤差補償電容值CDC，並據以輸出經補償之電容值CDC’。

當電容值CDC漂移時，可以設定一較短時間之計數(例如：第一預設時間為5秒)，以避免電容值CDC漂移量過大而影響判斷碰觸狀態之準確性。而且，當觸控面板處於接近狀態或者碰觸狀態時，感測器所感測之電容值CDC值明顯地變化，若於使用者操作觸控面板時對電容值CDC值進行補償，則會因無法取得電容值CDC之正確漂移量而導致錯誤補償。因此，當觸控面板處於接近狀態，可以設定一較長時間之計數(例如：第二預設時間為10秒)，而且當觸控面板從處於接近狀態切換至碰觸狀態時，計數單元240受控於控制信號CON3而重置第二預設時間之計數，以避免錯誤補償。於此，雖然本實施例以第二預設時間大於第一預設時間為例說明，但本領域具有通常知識者也可視其設計而因應改變時間大小之設定，故不侷限於此。舉例來說，第二預設時間可依據經統計觸控面板從處於接近狀態變換至碰觸狀態的時間而定。也就是說，直至第二預設時間之計數完成，若觸控面板仍未從接近狀態變換至碰觸狀態，則表示接近狀態為因電容值漂移量過大而誤判之，須及時地進行電容值之漂移補償。

圖2B為本發明實施例圖2A中經補償之電容值的曲線圖。請參照圖2A及圖2B，在期間T21之前(或者期間T24內)，感測器所感測之電容值CDC因觸控面板未受碰觸而大體上維持為預定電容值C_PRE ，其中雜訊可能使電容值CDC於雜訊可容許範圍R_N 內微幅變化，而未能等於預定電容值C_PRE 。此時，電容值CDC之變化斜率小於所設定之斜率參數(例如：0.6)，因此狀態檢測器210判斷觸控面板處於一般狀態。而且，電容值CDC未超出雜訊可容許範圍R_N 而視為未漂移，因而無須對電容值CDC進行補償。

在期間T21內，感測器所感測之電容值CDC因觸控工具接近觸控面板而有明顯地變化。此時，電容值之變化斜率大於或等於斜率參數，狀態檢測器210會判斷觸控面板處於接近狀態，並且產生控制信號CON1驅動計數單元240進行第二預設時間之計數。一般而言，觸控工具從接近到碰觸觸控面板的時間差較短，在第二預設時間之計數完成前，如期間T22所示，電容值CDC通常會超出碰觸臨界值C_TH 而判斷觸控面板處於碰觸狀態。當觸控面板處於碰觸狀態時，因電容值CDC之變化為碰觸所造成的，無需對電容值CDC進行補償，故重置第二預設時間之計數，以避免錯誤補償。反之，若第二預設時間之計數完成後，觸控面板仍未從接近狀態切換至碰觸狀態，表示接近狀態為因電容值CDC漂移而誤判，須對電容值CDC進行補償。

在期間T23內，感測器所感測之電容值CDC因觸控工具遠離觸控面板而下降。此時，電容值CDC之變化斜率為負值，狀態檢測器210會判斷觸控面板處於遠離狀態，而非接近狀態。由於遠離狀態下的電容值CDC可能漂移而急遽地下降，倘若未及時地進行電容值CDC之補償，很有可能導致下一次碰觸時誤判觸控面板不處於碰觸狀態。因此，當觸控面板不處於接近狀態時，且電容值CDC超出雜訊可容許範圍R_N 而視為漂移時，漂移檢測器220控制計數單元240進行第一預設時間的計數，藉以於第一預設時間之計數完成時，對電容值CDC進行補償。在本實施例中，電容值補償單元250以電容值CDC與預定電容值C_PRE 之間的差值(即漂移誤差)來補償電容值CDC。在期間T23結束時，電容值CDC恰已回復至預定電容值C_PRE 附近，因此漂移誤差接近零，於圖2B所示之補償效果並不明顯。

在期間T25內，電容值CDC受環境因素影響而漂移，例如攜帶觸控面板之使用者從室內走到室外、或者觸控面板沾到水、油或灰塵。此時，當電容值CDC超出雜訊可容許範圍R_N 而視為漂移時，漂移檢測器220控制計數單元240進行第一預設時間T_P1 之計數。在第一預設時間T_P1 之計數完成時，計數單元240控制電容值補償單元250對電容值CDC進行補償。電容值補償單元250以電容值CDC與預定電容值C_PRE 之間的差值(即漂移誤差)來補償電容值CDC，使經補償之電容值CDC’回復到約為預定電容值C_PRE 。

在期間T26內，感測器所感測之電容值CDC因觸控工具再次的接近或碰觸觸控面板而有明顯地變化。藉由漂移補償單元250及時地補償電容值CDC，可提高判斷觸控面板狀態之準確性，以及提高觸控面板之靈敏度。而且，經補償之電容值也可提供來進行觸碰位置之定位運算，提高定位之準確性。值得一提的是，上述預定電容值為一定值，且位於雜訊可容許範圍R_N 內(包含雜訊可容許範圍R_N 之上限值及下限值)。而碰觸臨界值C_TH 、預定電容值C_PRE 及雜訊可容許範圍R_N 為隨觸控面板的結構及材質而有所不同，故本發明不侷限於此。此外，在本發明另一實施例中，碰觸檢測器230可整合至狀態檢測器210，以判斷觸控面板處於接近狀態或碰觸狀態。

值得一提的是，觸控面板在不同時間下會因操作不同而有狀態之變換，本發明其他實施例中第二預設時間之設定並不侷限於計數結束時進行漂移補償，而可於計數結束時記錄目前觸控面板之狀態，例如接近、碰觸、遠離或者未受碰觸之一般狀態等，以利於進行後續如碰觸位置定位計算或者硬體控制的相關處理。請參照圖2A，在本發明其他實施例中，當計數單元240受控於控制信號CON1而啟動第二預設時間之計數時，狀態檢測器210經第二預設時間後記錄觸控面板之狀態。而在第二預設時間計數結束之前，碰觸檢測器230仍會持續地判斷觸控面板是否由接近狀態變換為碰觸狀態。於此第二預設時間之設定為作指示記錄觸控面版狀態之用，因此當碰觸檢測器230判斷觸控面板處於碰觸狀態時，無需重置第二預設時間。

依據上述實施例，在此可歸納為下列的方法流程。圖3為本發明之一實施例之漂移補償方法的流程圖。請參照圖3，首先，擷取感測器所感測之多個電容值(步驟S301)。接著，依據這些電容值之變化斜率與斜率參數之比較結果，判斷觸控面板是否處於接近狀態(步驟S302)。當電容值之變化斜率小於斜率參數時，則判斷觸控面板不處於接近狀態，且進一步地依據電容值及雜訊可容許範圍之比較結果，判斷電容值是否漂移(步驟S303)。當電容值超出雜訊可容許範圍時，則判斷電容值已經漂移，且經第一預設時間後，依據電容值之漂移誤差來補償電容值(步驟S304)。反之，當電容值位於雜訊可容許範圍內時，則判斷各電容值未漂移，因而無需進行漂移補償。

另一方面，當電容值之變化斜率大於或者等於斜率參數時，則判斷觸控面板處於接近狀態，並且經第二預設時間後，依據電容值之漂移誤差來補償電容值(步驟S305)。藉此，經由設定第二預設時間，可以避免觸控工具接近或者碰觸觸控面板所引起之電容值變化造成錯誤補償，以及避免電容值之漂移誤判觸控面板處於接近狀態而忽略補償。在本發明其他實施例中，於第二預設時間計數結束後不限定於進行電容值漂移補償，也可記錄觸控面板的狀態以進行後續處理。

圖4為本發明之另一實施例之漂移補償方法的流程圖。請參照圖3及圖4，實施例圖3與圖4不同之處在於當觸控面板處於接近狀態時，會進一步地依據電容值與碰觸臨界值之比較結果，來判斷觸控面板是否處於碰觸狀態(步驟S405)。當電容值大於或者等於碰觸臨界值時，則判斷觸控面板處於碰觸狀態，且重置第二預設時間(步驟S406)，以避免觸控工具碰觸觸控面板所引起之電容值變化造成錯誤補償。反之，當電容值小於碰觸臨界值時，則判斷觸控面板不處於碰觸狀態，則經第二預設時間後，依據電容值之漂移誤差來補償電容值(步驟S407)。在本發明其他實施例中，於第二預設時間計數結束後不限定於進行電容值漂移補償，也可記錄觸控面板的狀態以進行後續處理，因此當觸控面板處於碰觸狀態時，重置第二預設時間之步驟S406為非必需的，此時可進行如碰觸位置之定位計算。

綜上所述，上述實施例利用電容值之變化斜率與斜率參數來判斷觸控面板之狀態。當觸控面板處於接近狀態時，則進行第二時間之計數，並在計數完成時，對電容值進行漂移的判定及補償。當觸控面板處於一般狀態且電容值漂移時，則進行第一時間之計數，並在計數完成時，對電容值進行補償。藉此，及時地對電容值之漂移進行補償，可提高觸控面板之靈敏度以及提高後續如定位觸碰位置之處理的準確性。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

200．．．漂移補償裝置

210．．．狀態檢測器

220．．．漂移檢測器

230．．．碰觸檢測器

240．．．計數單元

250．．．電容值補償單元

CDC．．．電容值

CDC’．．．經補償之電容值

T11~T13、T21～T28、T_P1 、T_P2 、T_P3 ．．．期間

C_TH ．．．碰觸臨界值

C_PRE ．．．預定電容值

R_N ．．．雜訊可容許範圍

S301~S305、S401~S407．．．根據本發明實施例的漂移補償方法的步驟

圖1為感測器所感測之電容值隨時間變化的曲線圖。

圖2A為本發明之一實施例之漂移補償裝置的示意圖。

圖2B為本發明實施例圖2A中經補償之電容值的曲線圖。

圖3為本發明之一實施例之漂移補償方法的流程圖。

圖4為本發明之一實施例之漂移補償方法的流程圖。

S301~S305．．．本發明之一實施例之漂移補償方法的步驟

Claims

一種電容式觸控面板之漂移補償方法，其中該觸控面板具有多個感測器，包括：擷取各該感測器所分別感測之多個電容值；依據該些電容值之一變化斜率及一斜率參數，判斷該觸控面板是否處於一接近狀態；依據各該電容值及一雜訊可容許範圍，判斷各該電容值是否漂移；以及當該觸控面板不處於該接近狀態且各該電容值漂移時，則經一第一預設時間依據各該電容值之一漂移誤差補償各該電容值。
如申請專利範圍第1項所述之漂移補償方法，更包括：當該觸控面板處於該接近狀態時，則經一第二預設時間依據各該電容值之該漂移誤差補償各該電容值。
如申請專利範圍第2項所述之漂移補償方法，其中該第二預設時間大於該第一預設時間。
如申請專利範圍第2項所述之漂移補償方法，更包括：當該觸控面板處於該接近狀態時，依據各該電容值與一碰觸臨界值，判斷該觸控面板是否處於一碰觸狀態；以及當該觸控面板處於該碰觸狀態時，則重置該第二預設時間。
如申請專利範圍第1項所述之漂移補償方法，其中依據該些電容值之該變化斜率及該斜率參數，判斷該觸控面板是否處於該接近狀態的步驟包括：當該些電容值之該變化斜率小於該斜率參數，則該觸控面板不處於該接近狀態；以及當該些電容值之該變化斜率大於該斜率參數，則該觸控面板處於該接近狀態。
如申請專利範圍第1項所述之漂移補償方法，其中依據各該電容值及該雜訊可容許範圍，判斷各該電容值是否漂移的步驟包括：當各該電容值超出該雜訊可容許範圍時，則判斷各該電容值漂移；以及當各該電容值位於該雜訊可容許範圍內時，則判斷各該電容值未漂移。
如申請專利範圍第1項所述之漂移補償方法，其中該漂移誤差為各該電容值與一預定電容值之間的一差值。
如申請專利範圍第1項所述之漂移補償方法，更包括：當該觸控面板處於該接近狀態時，則經一第二預設時間後記錄該觸控面板之狀態以進行後續處理。
如申請專利範圍第8項所述之漂移補償方法，更包括：當該觸控面板處於該接近狀態時，依據各該電容值與一碰觸臨界值，判斷該觸控面板是否處於一碰觸狀態。
一種電容式觸控面板之漂移補償裝置，其中該觸控面板具有多個感測器，且各該感測器依據一掃描週期分別感測多個電容值，包括：一狀態檢測器，耦接該觸控面板，依據該些電容值之一變化斜率與一斜率參數，判斷該觸控面板是否處於一接近狀態並據以產生一第一控制信號；一漂移檢測器，耦接該觸控面板，依據各該電容值及一雜訊可容許範圍，判斷各該電容值是否漂移並據以產生一第二控制信號；一計數單元，耦接該狀態檢測器及該漂移檢測器，當該觸控面板不處於該接近狀態且各該電容值漂移時，受控於該第一控制信號及該第二控制信號而啟動一第一預設時間之計數；以及一電容值補償單元，耦接該計數單元，經該第一預設時間後，依據各該電容值之一漂移誤差補償各該電容值。
如申請專利範圍第10項所述之漂移補償裝置，其中該計數單元於該觸控面板處於該接近狀態時，受控於該第一控制信號而啟動一第二預設時間之計數，且該電容值補償單元經該第二預設時間後，依據各該電容值之該漂移誤差補償各該電容值。
如申請專利範圍第11項所述之漂移補償裝置，其中該第二預設時間大於該第一預設時間。
如申請專利範圍第11項所述之漂移補償裝置，更包括：一碰觸檢測器，耦接該計數單元，依據各該電容值及一碰觸臨界值，判斷該觸控面板是否處於一碰觸狀態並據以產生一第三控制信號，其中當該觸控面板處於該碰觸狀態時，該計數單元受控於該第三控制信號而重置該第二預設時間之計數。
如申請專利範圍第10項所述之漂移補償裝置，其中當該些電容值之該變化斜率小於該斜率參數時，該狀態檢測器判斷該觸控面板不處於該接近狀態，以及當該些電容值之該變化斜率大於該斜率參數時，該狀態檢測器判斷該觸控面板處於該接近狀態。
如申請專利範圍第10項所述之漂移補償裝置，其中當各該電容值超出該雜訊可容許範圍時，該漂移檢測器判斷各該電容值漂移，以及當各該電容值位於該雜訊可容許範圍內時，該漂移檢測器判斷各該電容值未漂移。
如申請專利範圍第10項所述之漂移補償裝置，其中該漂移誤差為各該電容值與一預定電容值之間的一差值。
如申請專利範圍第10項所述之漂移補償裝置，其中該計數單元於該觸控面板處於該接近狀態時，受控於該第一控制信號而啟動一第二預設時間之計數，且該狀態檢測器經該第二預設時間後記錄該觸控面板之狀態以進行後續處理。
如申請專利範圍第17項所述之漂移補償裝置，更包括：一碰觸檢測器，耦接該計數單元，依據各該電容值及一碰觸臨界值，判斷該觸控面板是否處於一碰觸狀態。