TWI553535B - 觸摸屏的信號量測方法及裝置 - Google Patents
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Description
本發明係有關於一種電容式觸摸屏的量測方法與裝置,特別是一種產生平準影像的電容式觸摸屏的量測方法與裝置。
電容式觸摸屏是透過與人體間的電容性耦合,造成偵測信號產生變化,從而判斷出人體在電容式觸摸屏上碰觸的位置。當人體碰觸時,人體所處環境的雜訊也會隨著人體與電容式觸摸屏間的電容性耦合注入,也對偵測信號產生變化。又由於雜訊不斷在變化,並不容易被預測,當訊噪比較小時,容易造成判斷不出碰觸,或判斷出的碰觸位置偏差。
此外,由於信號經過一些負載電路,如經過電容性耦合,偵測導電條收到的信號與提供給驅動導電條前的信號會產生相位差。當驅動信號的週期都相同時,不同的相位差表示信號延遲不同的時間被收到,如果忽視前述的相位差直接偵測信號,會造成信號量測的開始相位不同而產生不同結果。如果對應不同導電條量測的結果差異很大時,會造成難以判斷出正確的位置。
此外,相對於不同的驅動導電條,驅動信號經過的電阻電容電路的阻值也可能不同,會造成互電容式偵測時由觸摸屏取得的影像的值高高低低,不利於偵測。
由此可見,上述現有技術顯然存在有不便與缺陷,而極待加以進一步改進。為了解決上述存在的問題,相關廠商莫不費盡心思來謀求
解決之道,但長久以來一直未見適用的設計被發展完成,而一般產品及方法又沒有適切的結構及方法能夠解決上述問題,此顯然是相關業者急欲解決的問題。因此如何能創設一種新的技術,實屬當前重要研發課題之一,亦成為當前業界極需改進的目標。
在電阻電容電路(RC circuit)中,信號會因為經過的負載不同而有差異。本發明的目的在對應不同的驅動導電條給與不同的偵測參數,使得依據每一條驅動導電條的偵測參數偵測的信號能儘量趨近,以期能讓觸摸屏偵測到的影像的信號最佳化或平準化(best leveling)。
本發明的目的及解決其技術問題是採用以下技術方案來實現的。依據本發明提出的一種觸摸屏的信號量測裝置,包括:一觸摸屏,觸摸屏包括平行排列的多條驅動導電條與平行排列的多條偵測導電條組成的多條導電條,所述的驅動導電條與所述的偵測導電條交疊於多個交疊區;一驅動電路,提供一驅動信號給一條或一組驅動導電條,其中所述的驅動導電條的一條或一組驅動導電條為基準導電條,並且其他條或其他組驅動導電條為非基準導電條;以一偵測電路,在每次驅動信號被提供時,依據多組參數組之一由至少一偵測導電條的信號產生被提供驅動信號的驅動導電條的一評估信號;以及一控制電路,由所述的參數組挑選一組作為基準導電條的初始參數組,以依據初始參數組由偵測電路產生的評估信號作為一平準信號,並且由所述的參數組分別挑選每一條或每一組非基準導電條的初始參數組,其中每一條或每一組非基準導電條依據初始參數組產生的評估信號相較於依據其他參數組產生的評估信號最接近平準信號。
本發明的目的及解決其技術問題還可以是採用以下技術方案來實現的。依據本發明提出的一種觸摸屏的信號量測方法,包括:提供
一觸摸屏,觸摸屏包括平行排列的多條驅動導電條與平行排列的多條偵測導電條組成的多條導電條,所述的驅動導電條與所述的偵測導電條交疊於多個交疊區;挑選所述的驅動導電條的一條或一組驅動導電條作為基準導電條,其他條或其他組驅動導電條作為非基準導電條;提供一驅動信號給基準導電條,並且依據所述參數組之一來偵測所述的至少一條偵測導電條的信號;在所述的至少一條偵測導電條的信號未在一預設信號範圍內時,依序依據其他參數組之一來偵測所述的至少一條偵測導電條的信號,直到所述的至少一條偵測導電條的信號落在預設信號範圍內;以基準導電條被提供驅動信號時所述的至少一條偵測導電條落於預設信號範圍內的信號作為一平準信號,並且以基準導電條依據的參數組作為基準導電條的初始參數組;分別依序提供驅動信號給每一條或每一組非基準導電條;在每一條或每一組非基準導電條被提供驅動信號時,分別依序依據所述的參數組一來偵測所述的至少一條偵測導電條的信號;以及決定在每一條或每一組非基準導電條的初始參數組,其中分別在每一條或每一組非基準導電條被提供驅動信號值,依據初始參數組偵測所述的至少一條偵測導電條的信號相較於依據其他參數組偵測所述的至少一條偵測導電條的信號最接近平準信號。
藉由上述技術方案,本發明至少具有下列優點及有益效果:對應不同的驅動導電條給與不同的偵測參數,能讓觸摸屏偵測到的影相的信號最佳化或平準化。
11‧‧‧時脈電路
12‧‧‧脈衝寬度調整電路
131‧‧‧驅動開關
132‧‧‧偵測開關
141‧‧‧驅動選擇電路
142‧‧‧偵測選擇電路
151‧‧‧驅動電極
152‧‧‧偵測電極
16‧‧‧可變電阻
17‧‧‧放大電路
18‧‧‧量測電路
19‧‧‧外部導電物件
41‧‧‧驅動電路
42‧‧‧偵測電路
43‧‧‧儲存電路
44‧‧‧頻率設定
45‧‧‧控制電路
51‧‧‧完整影像
52‧‧‧單電極驅動的一維度感測資訊
62‧‧‧雙電極驅動的一維度感測資訊
61‧‧‧內縮影像
71‧‧‧外擴影像
721‧‧‧第一側單電極驅動的一維度感測資訊
722‧‧‧第二側單電極驅動的一維度感測資訊
S‧‧‧驅動信號
圖1與圖4為本發明的電容式觸模屏及其控制電路的示意圖;圖2A為單電極驅動模式的示意圖;
圖2B及圖2C的雙電極驅動模式的示意圖;圖3A及圖3B為本發明的偵測電容式觸摸屏的偵測方法的流程示意圖;圖5為產生完整影像的示意圖;圖6為產生內縮影像的示意圖;圖7A與圖7B為產生外擴影像的示意圖;圖8為本發明產生外擴影像的流程示意圖;圖9A與圖9B為驅動信號經由不同驅動導電條產生不同相位差的示意圖;圖10與圖11為依據本發明的第一實施例的觸摸屏的信號量測方法的流程示意圖;以及圖12依據本發明的另一觸摸屏的信號量測方法的流程示意圖。
本發明將詳細描述一些實施例如下。然而,除了所揭露的實施例外,本發明亦可以廣泛地運用在其他的實施例施行。本發明的範圍並不受該些實施例的限定,乃以其後的申請專利範圍為準。而為提供更清楚的描述及使熟悉該項技藝者能理解本發明的發明內容,圖示內各部分並沒有依照其相對的尺寸而繪圖,某些尺寸與其他相關尺度的比例會被突顯而顯得誇張,且不相關的細節部分亦未完全繪出,以求圖示的簡潔。
電容式觸摸屏很容易受到雜訊干擾,尤其是來自於觸摸於觸摸屏的人體。本發明採用調適性的驅動方式來達到降低雜訊干擾的目的。
在電容式觸摸屏中,包括複數條縱向與橫向排列的電極,用來偵測觸摸的位置,其中電力的消耗與同時間驅動的電極數及驅動的電壓正相關。在進行觸摸偵測時,雜訊可能會隨著觸摸的導體傳導至電容式觸摸屏,使得訊噪比(S/N ratio)變差,容易造成觸摸的誤判與位置偏差。換言之,訊噪比會隨著觸摸的對象與所處的環境動態改變。
請參照圖1,是本發明的電容式觸模屏及其控制電路的示意圖,包括一時脈電路11、一脈衝寬度調變電路12、一驅動開關131、一偵測開關132、一驅動選擇電路141、一偵測選擇電路142、至少一驅動電極151、至少一偵測電極152、一可變電阻16、一放大電路17與一量測電路18。電容式觸摸屏可以是包括多條驅動電極151與多條偵測電極152,所述驅動電極151與所述偵測電極152交疊於多個交疊處。
時脈電路11提供依據一工作頻率提供整個系統的一時脈信號,並且脈衝寬度調變電路12依據時脈信號與一脈衝寬度調變參數提供一脈衝寬度調變信號,以驅動驅動電極151。驅動開關131控制驅動電極的驅動,並且是由選擇電路141選擇至少一條驅動電極151。此外,偵測開關132控制驅動電極與量測電路18之間的電性耦合。當驅動開關131為導通(on)時,偵測開關132為斷開(off),脈衝寬度調變信號經由驅動選擇電路141提供給被驅動選擇電路141耦合的驅動電極151,其中驅動電極151可以是多條,而被選擇的驅動電極151可以是所述驅動電極151中的一條、兩條、或多條。當驅動電極151被脈衝寬度調變信號驅動時,偵測電極152與被驅動的驅動電極151交疊的交疊處會產生電容性耦合152,並且每一條偵測電極152在與驅動電極151電容性耦合時提供一輸入信號。可變電阻16是依據一電阻參數提供一阻抗,輸入信號是經由可變電阻16提供給偵測選擇電路142,偵測選擇電路142由多條偵測電極152中選擇一條、兩條、三條、多條或全部偵測電極152耦合於放大電路17,輸入信號是經由放大電路17依據一增益參數後提供給量測電路18。量測電路18是依據脈衝寬度調變信號及時脈信號偵測輸入信號,其中量測電路18可以是依據一相位參數於至少一相位為偵測信號進行取樣,例如量測電路18可以是具有至少一積分電路,每一個積分電路分別依據相位參數於至少一相位對所述輸入信號中的一輸
入信號進行積分,以量測輸入信號的大小。在本發明的一範例中,每一個積分電路還可以是分別依據相位參數於至少一相位對所述輸入信號中的一對輸入信號的信號差進行積分,或者是分別依據相位參數於至少一相位對所述輸入信號中的兩對輸入信號的信號差的差進行積分。此外,量測電路18還可以包含是少一類比轉數位電(ADC)將積分電路所偵測出來的結果轉成數位信號。另外,本技術領具有通常知識的普通技術人員可以推知,前述的輸入信號可以是先經過放大電路17放大後再由偵測選擇電路142提供給量測電路18,本發明並不加以限制。
在本發明中,電容式觸摸屏有至少兩種驅動模式,分為最省電的單電極驅動模式、雙電極驅動模式,並且有至少一種驅動電位。每一種驅動模式相應於不同的驅動電位都有至少一種工作頻率,每一種工作頻率對應一組參數,並且每一種驅動模式相應於不同的驅動電位代表不同程度的電力消耗。
電容式觸摸屏的電極可以分為多條驅動電極151與多條偵測電極152,所述驅動電極151與所述偵測電極152交疊於多個交疊處(intersection)。請參照圖2A,在單電極驅動模式中,一次驅動一條驅動電極151,也就是在同一時間只有一條驅動電極151被提供驅動信號S,在任一條驅動電極151被驅動時,偵測所有偵測電極152的信號以產生一一維度感測資訊。據此,在驅動所有驅動電極151後,可以得到相應於每一條驅動電極151的一維度感測資訊,以構成相對於所有交疊處的一完整影像。
請參照圖2B與2C,在雙電極驅動模式中,一次驅動相鄰的一對驅動電極151。換言之,n條的驅動電極151共要驅動n-1次,並且在任一對驅動電極151被驅動時,偵測所有偵測電極152的信號以產生一一維度感測資訊。例如,首先如圖2B,同時提供驅動信號S給第一對驅動電極
151,如果有5條,就要驅動4次。接下來,如圖2C所示,同時提供驅動信號S給第二對驅動電極151,以此類推。據此,在驅動每一對驅動電極151(共n-1對)後,可以得到相應於每一對驅動電極151的一維度感測資訊,以構成相對於前述完整影像的一內縮影像,內縮影像的像素數量小於完整影像的像素數量。在本發明的另一範例中,雙電極驅動模式更包括分別對兩側驅動電極151進行單電極驅動,並且在任一側單驅動電極151被驅動時,偵測所有偵測電極152的信號以產生一一維度感測資訊,以額外提供兩個一維度感測資訊,與內縮影像組成一外擴影像。例如相應於兩側的一維度感測資訊分別置於內縮影像的兩側外以組成外擴影像。
本技術領域具有通常知識的普通人員可以推知,本發明更可以包括三電極驅動模式、四電極驅動模式等等,在此不再贅述。
前述的驅動電位可以是包含但不限於至少兩種驅動電位,如低驅動電位與高驅動電位,較高的驅動電位具有較高的訊噪比。
依據前述,在單電極驅動模式中,可取得一完整影像,並且在雙電極驅動模式中,可取得一內縮影像或一外擴影像。完整影像、內縮影或外擴影像可以是在外部導電物件19接近或碰觸電容式觸摸屏前與電容式觸摸屏時取得,藉以產生每個像素的變化量來判斷出外部導電物件19的位置。其中,所述的外部導電物件19可以是一個或多個。亦如前述,外部導電物件19接近或碰觸電容式觸摸屏時,或與所述驅動電極151與所述偵測電極152電容性耦合,而造成雜訊干擾,即使驅動電極151沒有被驅動時,外部導電物件19也可能與所述驅動電極151與所述偵測電極152電容性耦合。此外,雜訊也可能從其他途徑干擾。
據此,在本發明的一範例中,在進行雜訊偵測程序時,驅動開關131斷開,並且偵測開關132導通,此時量測電路可以依據所述偵測電
極152的信號產生一雜訊偵測的一維度感測資訊,藉以判斷出雜訊干擾是否合乎容許範圍。例如,可以是判斷雜訊偵測的一維度感測資訊是否有任一值超過一門檻限值,或是雜訊偵測的一維度感測資訊的所有值的加總或平均是否超過一門檻限值,來判斷雜訊干擾是否合乎容許範圍。本技術領域具有普通知識的技術人員可以推知其他藉由雜訊偵測的一維度感測資訊判斷出雜訊干擾是否合乎容許範圍的方式,本發明不加以贅述。
雜訊偵測程序可以是在系統被啟動時或每一次取得前述完整影像、內縮影像或外擴影像時進行,也可以是定時或經多次取得前述完整影像、內縮影像或外擴影像時進行,或是偵測到有外部導電物件接近或碰觸時進行,本技術領域具有普通知識的技術人員可以推知其他進行雜訊偵測程序的適當時機,本發明並不加以限制。
本發明另外提供一換頻程序,是在判斷雜訊干擾超出容許範圍時進行頻率切換。量測電路被提供多組頻率設定,可以是儲存於一記憶體或其他儲存媒體中,以提供量測電路於換頻程序中選擇,並依據挑選的頻率控制時脈電路11的時脈信號。換頻程序可以是在所述頻率設定逐一挑選出一適當頻率設定,例如逐一挑選其中一組頻率設定並進行雜訊偵測程序,直到偵測出雜訊干擾合乎容許範圍為止。換頻程序也可以是在所述頻率設定逐一挑選出一最佳頻率設定。例如在所述頻率設定逐一挑選並進行雜訊偵測程序,偵測出其中雜訊干擾最小的頻率設定,如偵測出雜訊偵測的一維度感測資訊的最大值為最小的頻率設定,或雜訊偵測的一維度感測資訊的所有值的加總或平均為最小的頻率設定。
所述的頻率設定對應到包括但不限於一驅動模式、一頻率與一參數組。參數組可以是包括但不限於選自下列集合之群組:前述電阻參數、前述增益參數、前述相位參數與前述脈衝寬度調變參數,本技術領具
有通常知識的普通技術人員可以推知其他適用於電容式觸摸屏及其控制電路的相關參數。
所述頻率設定可以是如下列表1所示,包括多個驅動電位,下列以第一驅動電位與第二驅動電位為例,本技術領域具有通常知識的普通人員可以推知可以是有三種以上的驅動電位。每一種驅動電位可以分別有多種驅動模式,包括但不限於選自下列集合之群組:單電極驅動模式、雙電極驅動模式、三電極驅動模式、四電極驅動模式等等。每一種驅動電位相應的每一種驅動模式分別具有複數種頻率,每一種頻率相應於一種前述的參數組。本技術領域具有通常知識的普通人員可以推知每一種驅動電位相應的每一種驅動模式的頻率可以是完全不同,也可以是有部份相同,本發明不加以限制。
依據上述,本發明提供一種偵測電容式觸摸屏的偵測方法,請參照圖3A。首先如步驟310所示,依據耗電大小依序儲存多個頻率設定,每一個頻率設定分別相應於一種驅動電位的一種驅動模式,並且每一個頻率設定具有一頻率與一參數組,其中驅動電位有至少一種。接下來,如步驟320所示,依據所述頻率設定之一的參數組初始化量測電路的設定,並且如步驟330所示,依據量測電路的一參數組以量測電路偵測來自所述偵測電極的信號,並依據來自所述偵測電極的信號產生一一維度感測資訊。再接下來,如步驟340所示,依據所述一維度感測資訊判斷一雜訊的干擾是否超出一容許範圍。然後,如步驟350所示,在所述雜訊的干擾超過所述容許範圍時,依序依據所述的頻率設定之一的頻率與參數組分別改變所述工作頻率與所述量測電路的設定後產生所述一維度感測資訊,並且依據所述一維度感測資訊判斷所述雜訊的干擾是否超出所述容許範圍,直到所述雜訊的干擾未超過程所述容許範圍。也可以是如圖3B的步驟360所示,在所述雜訊的干擾超過所述容許範圍時,依據每一頻率設定的頻率與參數組分別改變所述工作頻率與所述量測電路的設定後產生所述一維度感測資
訊,並且依據所述一維度感測資訊判斷所述雜訊的干擾,並且以受所述雜訊干擾最低的頻率設定的頻率與參數組分別改變所述工作頻率與所述量測電路的設定。
例如圖4所示,為依據本發明的一種偵測電容式觸摸屏的偵測裝置,包括:一儲存電路43、一驅動電路41、一偵測電路42。如前述步驟310所示,儲存電路43包括多個頻率設定44,分別依耗電大小依序儲存。儲存電路43可以是以電路、記憶體或任何能儲存電磁記錄的儲存媒體。在本發明的一範例中,頻率設定44可以是以查表的方式構成,另外,頻率設定44還可以儲存耗電參數。
驅動電路41可以是多個電路的集成,包括但不限於前述的時脈電路11、脈衝寬度調變電路12、驅動開關131、偵測開關132與驅動選擇電路141。在此例子中所列電路是方便本發明說明,驅動電路41可以只包括部份電路或加入更多電路,本發明並不加以限制。所述驅動電路是用來依據一工作頻率提供一驅動信號給一電容式觸摸屏的至少一驅動電極151,其中電容式觸摸屏包括多條驅動電極151與多條偵測電極152,所述驅動電極151與所述偵測電極152交疊於多個交疊處。
偵測電路42可以是多個電路的集成,包括但不限於前述量測電路18、放大電路17、偵測選擇電路142,甚至可以是包括可變電組16。在此例子中所列電路是方便本發明說明,偵測電路42可以只包括部份電路或加入更多電路,本發明並不加以限制。此外,偵測電路42更包括執行前述步驟320至步驟340,以及執行步驟350或步驟360。在圖3B的例子中,所述頻率設定可以是不依據耗電大小依序儲存。
如先前所述,用來判斷所述雜訊的干擾是否超出所述容許範圍的所述一維度感測資訊是在所述驅動信號未提供給所述驅動電極時產生。
例如,是在驅動選擇電路131為斷開並且偵測選擇電路132為導通的時候。
在本發明的一範例中,至少一驅動電位有多種驅動模式,所述驅動模式包括單電極驅動模式與雙電極驅動模式,其中在單電極驅動模式中所述驅動信號同時間只提供所述驅動電極之一,並且在雙電極驅動模式中,所述驅動信號同時間只提供所述驅動電極之一對。其中所述單電極驅動模式的耗電大小小於所述雙電極驅動模式的耗電大小。此外,在所述單電極驅動式中,所述偵測電路是在每一條驅動電極被提供驅動信號時分別產生所述一維度感測資訊,以構成一完整影像,並且其中在所述雙電極驅動式中,所述偵測電路是在每一對驅動電極被提供驅動信號時分別產生所述一維度感測資訊,以構成一內縮影像,其中所述內縮影像的像素小於所述完整影像的像素。此外,雙電極驅動模式中偵測電路可以更包括分別對兩側電極進行驅動,並且在任一側的單一驅動電極被驅動時,偵測所有偵測電極的信號以分別產生所述一維度感測資訊,其中分別對兩側電極進行驅動所產生的兩個一維度感測資訊被置於所述內縮影像的兩側外以組成一外擴影像,並且所述外擴影像的像素大於所述完整影像的像素。
在本發明的另一範例中,所述驅動電位包括一第一驅動電位與一第二驅動電位,其中相應於所述第一驅動電位的所述單電極驅動模式產生所述完整影像的耗電大小>相應於所述第一驅動電位的所述雙電極驅動模式產生所述內縮影像的耗電大小>相應於所述第二驅動電位的所述單電極驅動模式產生所述完整影像的耗電大小。
在本發明的另一範例中,所述驅動電位包括一第一驅動電位與一第二驅動電位,其中相應於所述第一驅動電位的所述單電極驅動模式產生所述完整影像的耗電大小>相應於所述第二驅動電位的所述單電極驅動模式產生所述完整影像的耗電大小。
此外,在本發明的一範例中,每一條偵測電極的信號是分別先經過一可變電阻再提供給所述偵測電路,所述偵測電路是依據所述頻率設定之一的參數組設定所述可變電阻的阻抗。另外,所述偵測電極的信號是先經過至少一放大電路放大信號後才被偵測,所述偵測電路是依據所述頻率設定之一的參數組設定所述放大電路的增益。再者,所述驅動信號是依據所述頻率設定之一的參數組產生。
本發明的一範例中,所述一維度感測資訊的每一個值是分別以一設定的週期依據所述偵測電極的信號來產生,其中所述設定的週期是依據所述頻率設定之一的參數組來設定。在本發明的另一範例中,所述一維度感測資訊的每一個值是分別以至少一設定的相位依據所述偵測電極的信號來產生,其中所述設定的相位是依據所述頻率設定之一的參數組來設定。
此外,前述的驅動電路41、偵測電路42與儲存電路43可以是由一控制電路45控制。控制電路45可以是可程式操控的處理器,也可以是其他控制電路,本發明並不限制。
請參照圖5,為依據本發明的單電極驅動模式的示意圖。驅動信號S依序提供給第一條驅動電極、第二條驅動電極...,直到最後一條驅動電極,並且在每一條驅動電極被驅動信號S驅動時產生單電極驅動的一維度感測資訊52。集合每一條驅動電極被驅動時產生的單電極驅動的一維度感測資訊52,可構成一完整影像51,完整影像51的每一個值分別相應所述電極交會處之一的電容性耦合的變化。
此外,完整影像的每一個值分別相應於所述交疊處之一的位置。例如,每一條驅動電極的中央位置分別相應於一第一一維度座標,並且每一條偵測電極的中央分別相應於一第二一維度座標。第一一維度座標
可以是橫向(或水平、X軸)座標與縱向(或垂直、Y軸)座標之一,並且第二一維度座標可以是橫向(或水平、X軸)座標與縱向(或垂直、Y軸)座標之另一。每一個交疊處分別相應於交疊於交疊處的驅動電極與偵測電極的一二維度座標,二維度座標是由第一一維度座標與第二一維度座標構成,如(第一一維度座標,第二一維度座標)或(第二一維度座標,第一一維度座標)。換言之,每一單電極驅動的一維度感測資訊分別相應於所述驅動電極之一中央的第一一維度座標,其中單電極驅動的一維度感測資訊的每一個值(或完整影像的每一個值)分別相應於所述驅動電極之一中央的第一一維度座標與所述偵測電極之一中央的第二一維度座標構成的二維度座標。同理,完整影像的每一個值分別相應於所述交疊處之一的中央位置,即分別相應於所述驅動電極之一中央的第一一維度座標與所述偵測電極之一中央的第二一維度座標構成的二維度座標。
請參照圖6,為依據本發明的雙電極驅動模式的示意圖。驅動信號S依序提供給第一對驅動電極、第二對驅動電極...,直到最後一對驅動電極,並且在每一對驅動電極被驅動信號S驅動時產生雙電極驅動的一維度感測資訊62。換言之,N條驅動電極可構成N-1對(多對)驅動電極。集合每一對驅動電極被驅動時產生的雙電極驅動的一維度感測資訊62,可構成一內縮影像61。內縮影像61的值(或像素)的數量小於完整影像51的值(或像素)的數量。相對於完整影像,內縮影像的每一個雙電極驅動的一維度感測資訊分別相應於一對驅動電極間中央位置的第一一維度座標,並且每一個值分別相應於前述一對驅動電極間中央位置的第一一維度座標與所述偵測電極之一中央的第二一維度座標構成的二維度座標。換言之,內縮影像的每一個值分別相應於一對交疊處間中央的位置,即分別相應於一對驅動電極(或所述多對驅動電極之一)間中央位置的第一一維度座標與所述偵測
電極之一中央的第二一維度座標構成的二維度座標。
請參照圖7A,為依本發明的雙電極驅動模式中進行第一側單電極驅動的示意圖。驅動信號S被提供給最接近電容式觸摸屏第一側的驅動電極,並且在最接近電容式觸摸屏第一側的驅動電極被驅動信號S驅動時產生單電極驅動的第一側一維度感測資訊721。再請參照圖7B,為依本發明的雙電極驅動模式中進行第二側單電極驅動的示意圖。驅動信號S被提供給最接近電容式觸摸屏第二側的驅動電極,並且在最接近電容式觸摸屏第二側的驅動電極被驅動信號S驅動時產生單電極驅動的第二側一維度感測資訊722。第一側與第二側的驅動電極被驅動時產生的單電極驅動的一維度感測資訊721與722分別被置於內縮影像61的第一側與第二側外以構成一外擴影像71。外擴影像71的值(或像素)的數量大於完整影像51的值(或像素)的數量。在本發明的一範例中,是先產生單電極驅動的第一側一維度感測資訊721,再產生內縮影像61,再產生單電極驅動的第二側一維度感測資訊722,以構成一外擴影像71。在本發明的另一範例中,是先產生內縮影像61,再分別產生單電極驅動的第一側與第二側一維度感測資訊721與722,以構成一外擴影像71。
換言之,外擴影像是依序由單電極驅動的第一側一維度感測資訊、內縮影像與單電極驅動的第二側一維度感測資訊構成。由於內縮影像61的值是雙電極驅動,因此平均大小會大於單電極驅動的第一側與第二側一維度影像的值的平均大小。在本發明的一範例中,第一側與第二側一維度感測資訊721與722的值是經過一比例放大後才分別置於內縮影像61的第一側與第二側外。所述比例可以是一預設倍數,此預設倍數大於1,也可以是依據雙電極驅動的一維度感測資訊的值與單電極驅動的一維度感測資訊的值間的比例產生。例如是第一側的一維度感測資訊721的所有值總
和(或平均)與內縮影像中鄰第一側的一維度感測資訊62所有值總和(或平均)的比例,第一側一維度感測資訊721的值是經過此比例放大後才置於內縮影像61的第一側外。同理,是第二側的一維度感測資訊722的所有值總和(或平均)與內縮影像中鄰第二側的一維度感測資訊62所有值總和(或平均)的比值,第二側一維度感測資訊722的值是經過此比例放大後才置於內縮影像61的第二側外。又例如,前述的比例可以是內縮影像61的所有值總和(或平均)與第一側與第二側的一維度感測資訊721和722的所有值總和(或平均)的比值。
在單電極驅動模式中,完整影像的每一個值(或像素)相應於一相疊處的二維度位置(或座標),是由相疊於相疊處的驅動電極相應的第一一維度位置(或座標)與偵測電極相應的第二一維度位置(或座標)所構成,如(第一一維度位置,第二一維度位置)或(第二一維度位置,第一一維度位置)。單一外部導電物件可能與一個或多個交疊處電容性耦合,與外部導電物件電容性耦合的交疊處會產生電容性耦合的變化,反應在完整影像中相應的值上,即反應在外部導電物件相應於完整影像中相應的值上。因此依據外部導電物件相應於完整影像中相應的值與二維度座標,可計算出外部導電物件的質心位置(二維度座標)。
依據本發明的一範例,在單電極驅動模式中,每一個電極(驅動電極與偵測電極)相應的一維度位置為電極中央的位置。依據本發明的另一範例,在雙電極驅動模式中,每一對電極(驅動電極與偵測電極)相應的一維度位置為兩電極間中央的位置。
在內縮影像中,第一個一維度感測資訊相應於第一對驅動電極的中央位置,即第一條與第二條驅動電極(第一對驅動電極)間中央的第一一維度位置。如果是單純地計算質心位置,則只能計算出第一對驅動電極
中央與最後一對驅動電極中央間的位置,依據內縮影像計算出的位置的範圍缺少第一對驅動電極中央位置(中央的第一一維度位置)與第一條驅動電極中央位置間的範圍及最後一對驅動電極中央位置與最後一條驅動電極中央位置間的範圍。
相對於內縮影像,外擴影像中,第一側與第二側一維度感測資訊分別相應於第一條與最後一條驅動電極中央的位置,因此依據外擴影像計算出的位置的範圍比依據內縮影像計算出的位置的範圍增加了第一對驅動電極中央位置(中央的第一一維度位置)與第一條驅動電極中央位置間的範圍及最後一對驅動電極中央位置與最後一條驅動電極中央位置間的範圍。換言之,依據外擴影像計算出的位置的範圍包括了依據完整影像計算出的位置的範圍。
同理,前述的雙電極驅動模式更可以擴大成為多電極驅動模式,也就是同時驅動多條驅動電極。換言之,驅動信號是同時提供給一組驅動電極中的多條(所有)驅動電極,例如一組驅動電極的驅動電極數量有二條、三條或四條。所述的多電極驅動模式包括前述的雙電極驅動模式,不包括前述的單電極驅動模式。
請參照圖8,為依據本發明的一種偵測電容式觸摸屏的偵測方法。如步驟810所示,提供具有依序平行排列的多條驅動電極與多條偵測電極的一電容式觸摸屏,其中所述驅動電極與所述偵測電極交疊於多個交疊處。例如前述的驅動電極151與偵測電極152。接下來,如步驟820所示,分別在單電極驅動模式與多電極驅動模式提供一驅動信號給所述驅動電極之一與所述驅動電極之一組驅動電極。也就是,在一單極驅動模式時該驅動信號是每次只提供給所述驅動電極之一,並且在一多電極驅動模式時該驅動信號是每次同時被提供所述驅動電極的一組驅動電極,其中除了
最後N條驅動電極外,每一驅動電極與在後相鄰的兩驅動電極組成同時被驅動的一組驅動電極,並且N為一組驅動電極的驅動電極數量減一。驅動信號的提供可以是由前述的驅動電路41來提供。再接下來,如步驟830所示,在每次該驅動信號被提供時,由所述偵測電極取得一維度感測資訊,以在多電極驅動模式取得多個多電極驅動的一維度感測資訊及在單電極驅動模式取得第一側與第二側單電極驅動的一維度感測資訊。例如,在多電極驅動模式時,在每一組驅動電極被提供驅動信號時分別取得一多電極驅動的一維度感測資訊。又例如,在單電極驅動模式時,在第一條驅動電極與最後一條驅動電極提供驅動信號時分別取得一第一側單電極驅動的一維度感測資訊與一第二側單電極驅動的一維度感測資訊。一維度感測資訊的取得可以是由上述偵測電路42來取得。所述的一維度感測資訊包括所述多電極驅動的一維度感測資訊(內縮影像)及第一側與第二側單電極驅動的一維度感測資訊。再接下來,如步驟840所示,依序依據第一側單電極驅動的一維度感測資訊、所有的多電極驅動的一維度感測資訊與第二側單電極驅動的一維度感測資訊產生一影像(外擴影像)。步驟840可以是由前述控制電路來完成。
如先前所述,單電極驅動模式中驅動信號的電位與在多電極驅動模式中驅動信號的電位不一定要相同,可以是相同,也可以是不同。例如單電極驅動是以較大的第一交流電位來驅動,相對於多電極驅動的第二交流電位,第一交流電位與第二交流電位的比值為一預設比例。另外,步驟840是依據第一側與第二側單電極驅動的一維度感測資訊的所有值是分別被乘上相同或不同的一預設比率來產生該影像。此外,在單電極驅動模式中驅動信號的頻率與在多電極驅動模式中驅動信號的頻率不同。
一組驅動電極的驅動電極數量可以有二條、三條,甚至更多,
本發明並不加以限制。在本發明的較佳模式中,一組驅動電極的驅動電極數量為二條。在一組驅動電極的驅動電極數量為二條時,每一驅動電極分別相應於一第一維度座標,其中每一多(雙)電極驅動的一維度感測資訊分別相應於所述驅動電極的一對驅動電極間中央的第一一維度座標,並且第一側與第二側單電極驅動的一維度感測資訊分別相應於第一條與最後一條驅動電極的第一一維度座標。
同理,在一組驅動電極的驅動電極數量為多條(兩條以上)時每一驅動電極分別相應於一第一維度座標,其中每一多電極驅動的一維度感測資訊分別相應於所述驅動電極的一組驅動電極中相距最遠的兩條驅動電極間中央的第一一維度座標,並且第一側與第二側單電極驅動的一維度感測資訊分別相應於第一條與最後一條驅動電極的第一一維度座標。
此外,每一偵測電極分別相應於一第二一維度座標,並且每一一維度感測資訊的每一個值分別相應於所述偵測電極之一的第二一維度座標。
請參照圖9A與圖9B,為偵測導電條經由驅動導電條接收到電容性耦合信號的示意圖。由於信號經過一些負載電路,如經過電容性耦合,偵測導電條收到的信號與提供給驅動導電條前的信號會產生相位差。例如,驅動信號提供給第一條驅動導電條時,第一條偵測導電條收的信號與提供給驅動導電條前的信號會產生第一相位差ψ 1,如圖9A所示,並且驅動信號提供給第二條驅動導電條時,第一條偵測導電條收的信號與提供給驅動導電條前的信號會產生第二相位差ψ 2,如圖9B所示。
第一相位差ψ 1與第二相位差ψ 2會隨著驅動信號通過的電阻電容電路(RC circuit)不同而有所差異。當驅動信號的週期都相同時,不同的相位差表示信號延遲不同的時間被收到,如果忽視前述的相位差直接偵
測信號,會造成信號量測的開始相位不同而產生不同結果。例如,假設相位差為0時,而信號為弦波,並且振幅為A。當在相位為30度、90度、150度、210度、270度與330度偵測信號時,會分別得到|1/2A|、|A|、|1/2A|、|-1/2A|、|-A|與|-1/2A|的信號。但是當相位差為150度時,開始量測的相位造成偏差,以致變成在相位為180度、240度、300度、360度、420度與480度偵測信
號時,會分別得到0、、、0、與的信號。
由前述例子中,可以看出因前述相位差造成的量測的啟始相位的延誤,會使得信號量測的結果完全不同,無論驅動信號是弦波或方波(如PWM),都會有類似的差異存在。
此外,每次驅動信號被提供時,可以是提供給相鄰的多條驅動導電條,其中驅動導電條是依序平行排列。在被發明的較佳範例中是提供給相鄰的兩條驅動導電條,因此在一次掃描中,n條驅動導電條共被提供n-1次驅動信號,每次提供給一組驅動導電條,例如,第一次提供給第一條與第二條驅動導電條,第二次提供給第二條與第三條驅動導電條,依此類推。如先前所述,每次驅動信號被提供時,被提供的一組驅動導電條可以是一條、兩條或更多條,本發明並不限制每次驅動信號提供的驅動導電條的數量。每次驅動信號被提供時,所有偵測導電條量測的信號可集合成一一維度感測資訊,集合一次掃描中的所有一維度感測資訊可構成一二維度感測資訊,可視為一影像。
據此,在本發明最佳模式的一第一實施例中,是針對不同導電條採用不同的相位差來延遲偵測信號。例如,先決定多個相位差,分別在每一組驅動導電條被提供驅動信號時,依據每一個相位差來量測訊號,量測到的訊號中最大者所依據的相位差是最趨近提供給驅動導電條前的信號與偵測導電條收到後的信號間的相位差,在以下說明中稱為最趨近相位
差。訊號的量測可以是挑選所述偵測導電條之一來依據每一個相位差進行量測,或挑選多條或全部偵測導電條來依據每一個像差進行量測,依據多條或全部偵測導電條的訊號總和來判斷出最趨近相位差。依據上述,可以判斷出每一組導電條的最趨近相位差,換言之,在每一組導電條被提供驅動信號時,所有偵測導電條延遲被提供驅動信號的最趨近相位差後才進行量測。
此外,也可以是不需要依據所有像差來量測訊號,可以是在所述(多個)相位差中依序依據一個相位差來量測訊號,直到發現量測到的訊號遞增後遞減時停止,其中量測到的訊號中最大者所依據的相位差是最趨近相位差。如此,可以得到訊號較大的影像。
另外,也可以是先挑選所述驅動導電條的一組作為基準導電條,其他導電條稱為非基準導電條,先偵測基準導電條的最趨近相位差,作為一平準(level)相位差,再偵測非基準驅動導電條最趨近平準相位差的相位差,稱為最平準相位差。例如,以依據基準導電條的平準相位差量測的信號作為一平準信號,分別對每一組非基準驅動導電條的每一個相位差進行信號的量測,以量測到的信號中最接進平準信號者所依據的相位差作為被提供驅動信號的驅動導電條的平準相位差。如此,可判斷出每一組驅動導電條的平準相位差,依據每一組驅動導電條的平準相位差來延遲後信號的量測,可得到較平準的影像,即影像中的信號間的差異很小。另外,平準信號可以是落於一預設工作範圍,不一定需要是最佳會最大信號。
前述說明中,在每次驅動信號被提供時,是以所有偵測導電條採用相同相位差,本技術領域具有通常知識的技術人員可以推知,也可以是在每次驅動信號被提供時,每一組偵測導電條採用分別採用各自的最趨近相位差或平準相位差。換言之,是在每次驅動信號被提供時,分別對
每一組偵測導電條的每個相位差進行信號的量測,以判斷出最趨近相位差或平準相位差。
事實上,除了利用像差來延遲量測以取得較大或較平準的影像外,也可以是以不同的放大倍率、阻抗、量測時間來取得較平準的影像。
據此,本發明提出觸摸屏的信號量測方法,如圖10所示。如步驟1010所示,提供一觸摸屏,觸摸屏包括平行排列的多條驅動導電條與平行排列的多條偵測導電條組成的多條導電條,所述的驅動導電條與所述的偵測導電條交疊於多個交疊區。此外,如步驟1020所示,決定每一條或每一組驅動導電條的一延遲相位差。之後,如步驟1030所示,依序提供一驅動信號至所述的驅動導電條中的一條或一組,被提供驅動信號的驅動導電條與所述的偵測導電條產生互電容性耦合。接下來,如步驟1040所示,在每次驅動信號被提供時,被提供驅動信號的每一偵測組合的信號是延遲對應的相位差後才被量測。
據此,在本發明觸摸屏的信號量測裝置中,前述的步驟1030可以是由前述的驅動電路41來實施。此外,步驟1040可以是由前述的偵測電路42來實施。
在本發明的一範例中,每一條或每一組驅動導電條的延遲相位差是由多個預定相位差中挑選,如挑選前述的最趨近相位差。每一組導電條指的是在多條驅動時同時被提供驅動信號的一組多條導電條,例如由前述的驅動電路41的驅動選擇電路141來實施。例如,依序挑選所述的驅動導電條的一條或一組導電條作為被挑選導電條,如由驅動電路41來實施。接下來,由多個預定相位差中挑選出被挑選導電條的延遲相位差。其中,在驅動信號被提供給被挑選導電條時,延遲所述的延遲相位差後量測的信號大於延遲其他預定相位差後偵測到的信號。例如,是由前述的偵測電路
42來實施,偵測出來的延遲相位差可儲存於儲存電路43。
此外,也可是挑選前述的平準相位差。例如,挑選所述的驅動導電條的一條或一組導電條作為基準導電條,其他條或其他組導電條作為非基準導電條,如由驅動電路41來實施。之後,由多個預定相位差中挑選出基準導電條的延遲相位差,其中在驅動信號被提供給基準導電條時,延遲所述的延遲相位差後偵測的信號大於延遲其他預定相位差後偵測到的信號。其中,基準導電條的延遲相位差為前述的平準相位差。接下來,以基準導電條延遲所述的延遲相位差後偵測的信號作為基準信號,再依序挑選所述的非基準導電條的一條或一組非基準導電條作為被挑選導電條,並且由多個預定相位差中挑選出被挑選導電條的延遲相位差,如前述的最平準相位差,其中在驅動信號被提供給被挑選導電條時,延遲所述的延遲相位差後偵測的信號相較於延遲其他預定相位差後偵測到的信號最接近於基準信號。以上,可以是由偵測電路42來實施。
在本發明的一範例中,驅動信號被提供給基準導電條或被祧選的導電條時,由所述的偵測導電條中的多條量測的信號是由所述的偵測導電條之一量測的信號。換言之,是依據相同一條偵測導電條的信號來挑選出延遲相位差。在本發明的另一範例中,驅動信號被提供給基準導電條或被祧選的導電條時,由所述的偵測導電條中的多條量測的信號是由所述的偵測導電條的至少兩條偵測導電條量測的信號的總和。換言之,是依據相同的多條偵測導電條或全部的偵測導電條的信號的總和來挑選出延遲相位差。
如先前所述,可以是每一條或每一組被驅動導電條上與每一條偵測導電條交疊的交疊區都有對應的延遲相位差。在以下說明中,是以每一條或每一組驅動導電條及分別交疊每一條或每一組偵測導電條作為一
偵測組合。換言之,驅動信號可以是同時提供給一條或多條驅動導電條,並且信號也可以是由一條或多條偵測導電條量測。經量測產生一信號時,驅動信號被提供的一條或多條驅動導電條與被量測的一條或多條偵測導電條稱為一偵測組合。例如在單條驅動或多條驅動時,以一條導電條偵測信號值,或以兩條導電條量測一差值,又或是以三條導電條量測一雙差值。其中差值是相鄰的兩條導電條的信號的差,並且雙差值是三條相鄰導電條中,前兩條導電條的信號的差相減後兩條導電條的信號的差產生的差。
據此,在本發明的另一範例中,是一種觸摸屏的信號量測方法,如圖11所示。如步驟1110所示,提供一觸摸屏,觸摸屏包括平行排列的多條驅動導電條與平行排列的多條偵測導電條組成的多條導電條,所述的驅動導電條與所述的偵測導電條交疊於多個交疊區。此外,如步驟1120所示,以每一條或每一組驅動導電條及分別交疊每一條或每一組偵測導電條作為一偵測組合,並且如步驟1130所示,決定每一偵測組合的一延遲相位差。之後,如步驟1140所示,依序提供一驅動信號至所述的驅動導電條中的一條或一組,被提供驅動信號的偵測組合中被提供驅動信號的驅動導電條與交疊的偵測導電條產生互電容性耦合。接下來,如步驟1150所示,在每次驅動信號被提供時,被提供驅動信號的每一偵測組合的信號是延遲對應的相位差後才被量測。
據此,在本發明的一種信號量測裝置中,步驟1140可以是由前述的驅動電路41來實施,並且步驟1150可以是由前述的偵測電路42來實施。
在本發明一範例中,步驟1130可以是包括:依序挑選所述的偵測組合之一作為被挑選偵測組合,可以是由前述的驅動電路41來實施;以及由多個預定相位差中挑選出被挑選偵測組合的延遲相位差,其中在驅
動信號被提供給被挑選偵測組合時,延遲所述的延遲相位差後量測的信號大於延遲其他預定相位差後偵測到的信號,可以是由前述的偵測電路42來實施。
在本發明的另一範例中,決定每一偵測組合的延遲相位差還可以是如以下說明實施。挑選所述的偵測組合之一作為基準偵測組合,其他偵測組合作為非基準偵測組合,以及依序挑選所述的非基準偵測組合之一作為被挑選偵測組合,可以是由前述驅動電路41來實施。此外,由多個預定相位差中挑選出基準偵測組合的延遲相位差,其中在驅動信號被提供給基準偵測組合時,延遲所述的延遲相位差後偵測的信號大於延遲其他預定相位差後偵測到的信號,並且以基準偵測組合延遲所述的延遲相位差後偵測的信號作為基準信號。另外,由多個預定相位差中挑選出被挑選偵測組合的延遲相位差,其中在驅動信號被提供給被挑選偵測組合時,延遲所述的延遲相位差後偵測的信號相較於延遲其他預定相位差後偵測到的信號最接近於基準信號。以上,可以是由前述的偵測電路42來實施。
在本發明的一第二實施例中,信號是由一控制電路量測,每一組偵測導電條的信號是分別經過一可變電阻後再進行量測,控制電路是依據每一組驅動導電條決定可變電阻的阻抗。例如,先挑選所述驅動導電條的一組作為基準導電條,其他導電條稱為非基準導電條。首先設定多個預設阻抗,並且在基準導電條(可能是一條或多條)被提供驅動信號時偵測一條偵測導電條的信號,或偵測多條或全部偵測導電條的信號的加總,作為一平準信號。另外,平準信號可以是落於一預設工作範圍,不一定需要是最佳或最大信號。換言之,任何可使平準信號落於預設工作範圍的預設阻抗都可以作為基準導電條的平準阻抗。接下來在每一組非基準導電條被提供驅動信號值時,分別依據每一個預設阻抗調整可變電阻,並且偵測該條
偵測導電條的信號,或偵測該多條或全部偵測導電條的信號的加總,以比較出最接進平準信號的預設阻抗,作為相對於被提供驅動信號的該組非基準導電條的平準阻抗。如此,可判斷出每一組驅動導電條的平準阻抗,依據每一組驅動導電條的平準阻抗來調整可變電阻的阻抗(調整可變電阻至平準阻抗),可得到較平準的影像,即影像中的信號間的差異很小。
前述說明中,在每次驅動信號被提供時,是以所有偵測導電條採用相同平準阻抗,本技術領域具有通常知識的技術人員可以推知,也可以是在每次驅動信號被提供時,每一組偵測導電條採用分別採用各自的平準阻抗。換言之,是在每次驅動信號被提供時,分別對每一組偵測導電條的每一預設阻抗進行信號的量測,以判斷出最趨近平準信號的預測阻抗,據此分別取得每一組驅動導電條被提供驅動信號時每一條偵測導電條的平準阻抗,以分別調整電性耦合每一條偵測導電條的可變電阻的阻抗。
前述的控制電路除了可以由電子元件構成外,也可是由一顆或多顆IC來組成。在本發明的一範例中,可變電阻可以是建置在IC內,可由可編程程式(如IC內的韌體,firmware)來控制可變電阻的阻抗。例如可變電阻是由多個電阻構成,並且由多個開關控制,由不同的開關的啟與閉(on and off)來調整可變電阻的阻抗,由於可變電阻與可編程程式為公知技術,在此不再贅述。IC內的可變電阻以可編程程式控制可以經由軔體修正的方式適用於不同特性的觸控面板,可有效地降低成本,達到商業量產的目的。
在本發明的一第三實施例中,信號是由一控制電路量測,每一組偵測導電條的信號是分別經過一偵測電路(如一積分器)來進行量測,控制電路是依據每一組驅動導電條決定偵測電路的放大倍率。例如,先挑選所述驅動導電條的一組作為基準導電條,其他導電條稱為非基準導電條。首先設定多個預設放大倍率,並且在基準導電條(可能是一條或多條)被提供
驅動信號時偵測一條偵測導電條的信號,或偵測多條或全部偵測導電條的信號的加總,作為一平準信號。另外,平準信號可以是落於一預設工作範圍,不一定需要是最佳或最大信號。換言之,任何可使平準信號落於預設工作範圍的預設放大倍率都可以作為基準導電條的平準放大倍率。接下來在每一組非基準導電條被提供驅動信號值時,分別依據每一個預設放大倍率調整偵測電路,並且偵測該條偵測導電條的信號,或偵測該多條或全部偵測導電條的信號的加總,以比較出最接進平準信號的預設放大倍率,作為相對於被提供驅動信號的該組非基準導電條的平準放大倍率。如此,可判斷出每一組驅動導電條的平準放大倍率,依據每一組驅動導電條的平準放大倍率來調整偵測電路的放大倍率,可得到較平準的影像,即影像中的信號間的差異很小。
前述說明中,在每次驅動信號被提供時,是以所有偵測導電條採用相同平準放大倍率,本技術領域具有通常知識的技術人員可以推知,也可以是在每次驅動信號被提供時,每一組偵測導電條採用分別採用各自的平準放大倍率。換言之,是在每次驅動信號被提供時,分別對每一組偵測導電條的每一預設放大倍率進行信號的量測,以判斷出最趨近平準信號的預測放大倍率,據此分別取得每一組驅動導電條被提供驅動信號時每一條偵測導電條的平準放大倍率。
在本發明的一第四實施例中,信號是由一控制電路量測,每一組偵測導電條的信號是分別經過一偵測電路(如一積分器)來進行量測,控制電路是依據每一組驅動導電條決定偵測電路的量測時間。例如,先挑選所述驅動導電條的一組作為基準導電條,其他導電條稱為非基準導電條。首先設定多個預設量測時間,並且在基準導電條(可能是一條或多條)被提供驅動信號時偵測一條偵測導電條的信號,或偵測多條或全部偵測導電條的
信號的加總,作為一平準信號。另外,平準信號可以是落於一預設工作範圍,不一定需要是最佳或最大信號。換言之,任何可使平準信號落於預設工作範圍的預設量測時間都可以作為基準導電條的平準量測時間。接下來在每一組非基準導電條被提供驅動信號值時,分別依據每一個預設量測時間調整偵測電路,並且偵測該條偵測導電條的信號,或偵測該多條或全部偵測導電條的信號的加總,以比較出最接進平準信號的預設量測時間,作為相對於被提供驅動信號的該組非基準導電條的平準量測時間。如此,可判斷出每一組驅動導電條的平準量測時間,依據每一組驅動導電條的平準量測時間來調整偵測電路的量測時間,可得到較平準的影像,即影像中的信號間的差異很小。
前述說明中,在每次驅動信號被提供時,是以所有偵測導電條採用相同平準量測時間,本技術領域具有通常知識的技術人員可以推知,也可以是在每次驅動信號被提供時,每一組偵測導電條採用分別採用各自的平準量測時間。換言之,是在每次驅動信號被提供時,分別對每一組偵測導電條的每一預設量測時間進行信號的量測,以判斷出最趨近平準信號的預測量測時間,據此分別取得每一組驅動導電條被提供驅動信號時每一條偵測導電條的平準量測時間。
在前述說明中,可以由第一實施例、第二實施例、第三實施例與第四實施例挑選一種或挑選多種混合實施,本發明並不加以限制。此外,在量測平準信號時,可以是挑選距偵測電路最遠的一條或多條偵測導電條來進行信號的偵測,以產生平準信號。例如,可以是以最遠的一條偵測導電條的信號來產生平準信號,或是最遠兩條偵測導電條的差動信號來產生平準信號(差值),也可以是最遠三條偵測導電條中前兩條與後兩條偵測導電條的差動信號的差來產生平準信號(雙差值)。換言之,平準信號可以是
信號值、差值或雙差值,也可以是其他依據一條或多條偵測導電條的信號產生的值。
請參照圖12,為依據本發明的一種觸摸屏的信號量測方法。如步驟1210所示,提供一觸摸屏,觸摸屏包括平行排列的多條驅動導電條與平行排列的多條偵測導電條組成的多條導電條,所述的驅動導電條與所述的偵測導電條交疊於多個交疊區。此外,如步驟1220所示,挑選所述的驅動導電條的一條或一組驅動導電條作為基準導電條,其他條或其他組驅動導電條作為非基準導電條。基準導電條可以第一條或第一組驅動導電條,也可以是其他位置的驅動導電條,本發明並不加以限制。接下來,如步驟1230所示,提供一驅動信號給基準導電條,並且依據所述參數組之一來偵測所述的至少一條偵測導電條的信號。並且,如步驟1240所示,在所述的至少一條偵測導電條的信號未在一預設信號範圍內時,依序依據其他參數組之一來偵測所述的至少一條偵測導電條的信號,直到所述的至少一條偵測導電條的信號落在預設信號範圍內。此外,如步驟1250所示,以基準導電條被提供驅動信號時所述的至少一條偵測導電條落於預設信號範圍內的信號作為一平準信號,並且以基準導電條依據的參數組作為基準導電條的初始參數組。再接下來,如步驟1260所示,分別依序提供驅動信號給每一條或每一組非基準導電條,並且,如步驟1270所示,在每一條或每一組非基準導電條被提供驅動信號時,分別依序依據所述的參數組一來偵測所述的至少一條偵測導電條的信號。之後,如步驟1280所示,決定在每一條或每一組非基準導電條的初始參數組,其中分別在每一條或每一組非基準導電條被提供驅動信號值,依據初始參數組偵測所述的至少一條偵測導電條的信號相較於依據其他參數組偵測所述的至少一條偵測導電條的信號最接近平準信號。
依據先前所述的第一、第二、第三與第四實施例,參數組可以是用來改變延遲相位差、可變電阻的的阻值、偵測電路的放大倍率與偵測電路的量測時間。在本發明的一第一範例中,驅動信號是經由一可變電阻至所述的至少一偵測導電條,其中可變電阻的的阻值是依據被提供驅動信號的導電條的初始參數來改變。在本發明的一第二範例中,偵測信號的時間是依據被提供驅動信號的導電條的初始參數來改變。在本發明的一第三範例中,驅動信號是經由一放大器放大後提供給所述的至少一偵測導電條,其中放大電路放大的倍率是依據被提供驅動信號的導電條的初始參數來改變。此外,在本發明的一第四範例中,所述的至少一偵測導電條的信號是經過一延遲相位差後才開始偵測,其中延遲相位差是依據被提供驅動信號的導電條的初始參數來改變。
據此,請參照圖4,依據本發明的一種觸摸屏的信號量測包括:一觸摸屏、一驅動電路41、一偵測電路42與一控制電路45。觸摸屏包括平行排列的多條驅動導電條151與平行排列的多條偵測導電條152組成的多條導電條,所述的驅動導電條151與所述的偵測導電條152交疊於多個交疊區。驅動電路41提供一驅動信號給一條或一組驅動導電條151,其中所述的驅動導電條151的一條或一組驅動導電條151為基準導電條,並且其他條或其他組驅動導電條151為非基準導電條。偵測電路42在每次驅動信號被提供時,依據多組參數組之一由至少一偵測導電條152的信號產生被提供驅動信號的驅動導電條151的一評估信號。控制電路45,由所述的參數組挑選一組作為基準導電條的初始參數組,以依據初始參數組由偵測電路產生的評估信號作為一平準信號,並且由所述的參數組分別挑選每一條或每一組非基準導電條的初始參數組,其中每一條或每一組非基準導電條依據初始參數組產生的評估信號相較於依據其他參數組產生的評估信號最接
近平準信號。此外,所述的參數組可以是儲存在儲存電路43。
評估信號可以是依據一條或多條偵測導電條的信號產生。例如,評估信號是由所述的偵測導電條之一產生。又例如,評估信號是由所述的偵測導電條的至少兩條的信號加總產生。
此外,在本發明的一範例中,控制器可以是依序依據所述的參數組之一分別由偵測電路產生基準導電條的評估信號,並且以產生的最大的基準導電條的評估信號所依據的參數組作為基準導電條的初始參數組。在本發明的另一範例中,控制器可以是依序依據所述的參數組之一分別由偵測電路產生基準導電條的評估信號,並且以第一個符合一條件的基準導電條的評估信號所依據的參數組作為基準導電條的初始參數組。
依據先前所述的第一、第二、第三與第四實施例,參數組可以是用來改變延遲相位差、可變電阻的的阻值、偵測電路的放大倍率與偵測電路的量測時間。在本發明的一第一範例中,驅動信號是經由一可變電阻至所述的至少一偵測導電條,其中偵測電路是依據被提供驅動信號的導電條的初始參數來改變可變電阻的阻值。在本發明的一第二範例中,偵測電路是依據被提供驅動信號的導電條的初始參數來改變偵測信號的時間。在本發明的一第三範例中,驅動信號是經由一放大器放大後提供給所述的至少一偵測導電條,其中偵測電路是依據被提供驅動信號的導電條的初始參數來改變放大電路放大的倍率。此外,在本發明的一第四範例中,偵測電路是經過一延遲相位差後才開始量測所述的至少一偵測導電條的信號,其中偵測電路是依據被提供驅動信號的導電條的初始參數來改變延遲相位差。
以上所述僅為本發明的較佳實施例而已,並非用以限定本發明的申請專利範圍;凡其他為脫離本發明所揭示的精神下所完成的等效改
變或修飾,均應包括在下述的申請專利範圍。
11‧‧‧時脈電路
12‧‧‧脈衝寬度調整電路
131‧‧‧驅動開關
132‧‧‧偵測開關
141‧‧‧驅動選擇電路
142‧‧‧偵測選擇電路
151‧‧‧驅動電極
152‧‧‧偵測電極
16‧‧‧可變電阻
17‧‧‧放大電路
18‧‧‧量測電路
19‧‧‧外部導電物件
41‧‧‧驅動電路
42‧‧‧偵測電路
43‧‧‧儲存電路
44‧‧‧頻率設定
45‧‧‧控制電路
Claims (46)
- 一種信號量測裝置,包含:一驅動電路,提供一驅動信號給一觸摸屏的多條平行排列的驅動導電條當中的一條或一組驅動導電條,其中所述的驅動導電條的一條或一組驅動導電條為基準導電條,並且其他條或其他組驅動導電條為非基準導電條;一偵測電路,在每次該驅動信號被提供時,依據多組參數組之一由該觸摸屏的多條平行排列的偵測導電條當中的至少一偵測導電條的信號以產生被提供該驅動信號的該驅動導電條的一評估信號,其中所述的驅動導電條與所述的偵測導電條交疊於多個交疊區;以及一控制電路,由所述的參數組挑選一組作為該基準導電條的初始參數組,以依據該初始參數組由該偵測電路產生的該評估信號作為一平準信號,並且由所述的參數組分別挑選每一條或每一組該非基準導電條的初始參數組,其中每一條或每一組該非基準導電條依據該初始參數組產生的評估信號相較於依據其他該參數組產生的該評估信號最接近該平準信號。
- 如申請專利範圍第1項之信號量測裝置,其中該控制電路依序根據所述的參數組之一分別由該偵測電路產生該基準導電條的該評估信號,並且以產生的最大的該基準導電條的該評估信號所依據的該參數組作為該基準導電條的該初始參數組。
- 如申請專利範圍第1項之信號量測裝置,其中該控制電路依序根據所述的參數組之一分別由該偵測電路產生該基準導電條的該評估信號,並且 以第一個符合一條件的該基準導電條的該評估信號所依據的該參數組作為該基準導電條的該初始參數組。
- 如申請專利範圍第1項之信號量測裝置,其中該評估信號是由所述的偵測導電條之一產生。
- 如申請專利範圍第1項之信號量測裝置,其中該評估信號是由所述的偵測導電條的至少兩條的信號加總產生。
- 如申請專利範圍第1項之信號量測裝置,其中該偵測導電條的信號是經由一可變電阻至該偵測電路,其中該偵測電路是依據被提供驅動信號的該導電條的該初始參數組來改變該可變電阻的阻值。
- 如申請專利範圍第6項之信號量測裝置,其中該可變電阻是建置在積體電路內。
- 如申請專利範圍第1項之信號量測裝置,其中該偵測電路是依據被提供驅動信號的該導電條的該初始參數組來改變偵測信號的時間。
- 如申請專利範圍第1項之信號量測裝置,其中該偵測導電條的信號是經由一放大器放大後提供至該偵測電路,其中該偵測電路是依據被提供驅動信號的該導電條的該初始參數組來改變該放大器放大的倍率。
- 如申請專利範圍第1項之信號量測裝置,其中該偵測電路是經過一延遲相位差後才開始量測所述的至少一該偵測導電條的信號,其中該偵測電路是依據被提供驅動信號的該導電條的該初始參數組來改變該延遲相位差。
- 一種觸摸屏的信號量測裝置,其中該觸摸屏包括平行排列的多條驅動導電條與平行排列的多條偵測導電條組成的多條導電條,所述的驅動導電條與所述的偵測導電條交疊於多個交疊區,該信號量測裝置包含:一驅動電路,依序提供一第一驅動信號與一第二驅動信號給一第一組該驅動導電條與一第二組該驅動導電條;以及一偵測電路,經由一可變電阻連接至至少一該偵測導電條,並且依序偵測由該至少一偵測導電條的信號分別產生相應於該第一驅動信號與該第二驅動信號的一第一信號與一第二信號,其中所述偵測電路產生該第一信號時,該可變電阻被設定為一第一電阻值,所述偵測電路產生該第二信號時,該可變電阻被設定為一第二電阻值,該第一電阻值不同於該第二電阻值。
- 如申請專利範圍第11項的信號量測裝置,其中該第一電阻值相應於該第一組該驅動導電條,該第二電阻值相應於該第二組該驅動導電條。
- 如申請專利範圍第11項的信號量測裝置,其中該第一電阻值與該第二 電阻值為多組參數組當中的兩組參數值。
- 如申請專利範圍第11項的信號量測裝置,其中該可變電阻是建置在積體電路內。
- 一種觸摸屏的信號量測裝置,其中該觸摸屏包括平行排列的多條驅動導電條與平行排列的多條偵測導電條組成的多條導電條,所述的驅動導電條與所述的偵測導電條交疊於多個交疊區,該信號量測裝置包含:一驅動電路,依序提供一第一驅動信號與一第二驅動信號給一第一組該驅動導電條與一第二組該驅動導電條;以及一偵測電路,依序偵測由該至少一偵測導電條的信號分別產生相應於該第一驅動信號與該第二驅動信號的一第一信號與一第二信號,其中所述偵測電路使用了一第一偵測時間長度產生該第一信號,所述偵測電路使用了一第二偵測時間長度產生該第二信號,其中該第一偵測時間長度不同於該第二偵測時間長度。
- 如申請專利範圍第15項的信號量測裝置,其中該第一偵測時間長度相應於該第一組該驅動導電條,該第二偵測時間長度相應於該第二組該驅動導電條。
- 如申請專利範圍第15項的信號量測裝置,其中該第一偵測時間長度與該第二偵測時間長度為多組參數組當中的兩組參數值。
- 一種觸摸屏的信號量測裝置,其中該觸摸屏包括平行排列的多條驅動導電條與平行排列的多條偵測導電條組成的多條導電條,所述的驅動導電條與所述的偵測導電條交疊於多個交疊區,該信號量測裝置包含:一驅動電路,依序提供一第一驅動信號與一第二驅動信號給一第一組該驅動導電條與一第二組該驅動導電條;以及一偵測電路,經由一放大器連接至至少一該偵測導電條,並且依序偵測由該至少一偵測導電條的信號分別產生相應於該第一驅動信號與該第二驅動信號的一第一信號與一第二信號,其中所述偵測電路產生該第一信號時,該放大器被設定為一第一倍率值,所述偵測電路產生該第二信號時,該放大器被設定為一第二倍率值,該第一倍率值不同於該第二倍率值。
- 如申請專利範圍第18項的信號量測裝置,其中該第一倍率值相應於該第一組該驅動導電條,該第二倍率值相應於該第二組該驅動導電條。
- 如申請專利範圍第18項的信號量測裝置,其中該第一倍率值與該第二倍率值為多組參數組當中的兩組參數值。
- 一種觸摸屏的信號量測裝置,其中該觸摸屏包括平行排列的多條驅動導電條與平行排列的多條偵測導電條組成的多條導電條,所述的驅動導電條與所述的偵測導電條交疊於多個交疊區,該信號量測裝置包含: 一驅動電路,依序提供一第一驅動信號與一第二驅動信號給一第一組該驅動導電條與一第二組該驅動導電條;以及一偵測電路,依序偵測由該至少一偵測導電條的信號分別產生相應於該第一驅動信號與該第二驅動信號的一第一信號與一第二信號,其中所述偵測電路經過了一第一延遲相位差後產生該第一信號,所述偵測電路經過了一第二延遲相位差後產生該第二信號,其中該第一延遲相位差不同於該第二延遲相位差。
- 如申請專利範圍第21項的信號量測裝置,其中該第一延遲相位差相應於該第一組該驅動導電條,該第二延遲相位差相應於該第二組該驅動導電條。
- 如申請專利範圍第21項的信號量測裝置,其中該第一延遲相位差與該第二延遲相位差為多組參數組當中的兩組參數值。
- 一種觸摸屏的信號量測裝置,其中該觸摸屏包括平行排列的多條驅動導電條與平行排列的多條偵測導電條組成的多條導電條,所述的驅動導電條與所述的偵測導電條交疊於多個交疊區,該信號量測裝置包含:一驅動電路,依序提供一第一驅動信號與一第二驅動信號給一第一組該驅動導電條與一第二組該驅動導電條;以及一偵測電路,依序偵測由該至少一偵測導電條的信號分別產生相應於該第一驅動信號與該第二驅動信號的一第一信號與一第二信號, 其中所述第一驅動信號的電位不同於該第二驅動信號的電位。
- 如申請專利範圍第24項的信號量測裝置,其中該第一驅動信號的電位與該第二驅動信號的電位為多組參數組當中的兩組參數值。
- 一種觸摸屏的信號量測裝置,其中該觸摸屏包括平行排列的多條驅動導電條與平行排列的多條偵測導電條組成的多條導電條,所述的驅動導電條與所述的偵測導電條交疊於多個交疊區,該信號量測裝置包含:一驅動電路,依序提供一第一驅動信號與一第二驅動信號給一第一組該驅動導電條與一第二組該驅動導電條;一偵測電路,依序偵測由至少一偵測導電條的信號分別產生相應於該第一驅動信號與該第二驅動信號的一第一信號與一第二信號;以及其中至少下列條件的其中之一或其任意組合成立:所述偵測電路經由一可變電阻連接到該至少一偵測導電條,所述偵測電路產生該第一信號時,該可變電阻被設定為一第一電阻值,所述偵測電路產生該第二信號時,該可變電阻被設定為一第二電阻值,該第一電阻值不同於該第二電阻值;所述偵測電路使用了一第一偵測時間長度產生該第一信號,所述偵測電路使用了一第二偵測時間長度產生該第二信號,其中該第一偵測時間長度不同於該第二偵測時間長度;所述偵測電路經由一放大器連接至至少一該偵測導電條,所述偵測電路產生該第一信號時,該放大器被設定為一第一倍率值,所述偵測電路 產生該第二信號時,該放大器被設定為一第二倍率值,該第一倍率值不同於該第二倍率值;所述偵測電路經過了一第一延遲相位差後產生該第一信號,所述偵測電路經過了一第二延遲相位差後產生該第二信號,其中該第一延遲相位差不同於該第二延遲相位差;以及所述第一驅動信號的電位不同於該第二驅動信號的電位。
- 如申請專利範圍第11、12、13、14、15、16、17、18、19、20、21、22、23、24、25或26項的信號量測裝置,其中該第一組該驅動導電條包含一條或多條連續的該驅動導電條,該第二組該驅動導電條包含一條或多條連續的驅動導電條,該第一組該驅動導電條與該第二組該驅動導電條包含相同數量的該驅動導電條。
- 如申請專利範圍第11、12、13、14、15、16、17、18、19、20、21、22、23、24、25或26項的信號量測裝置,其中該第一組該驅動導電條與該第二組該驅動導電條不包括該觸摸屏的任一側驅動導電條。
- 一種觸摸屏的信號量測方法,其中該觸摸屏包括平行排列的多條驅動導電條與平行排列的多條偵測導電條組成的多條導電條,所述的驅動導電條與所述的偵測導電條交疊於多個交疊區,該信號量測方法包含:依序提供一第一驅動信號與一第二驅動信號給一第一組該驅動導電條與一第二組該驅動導電條;以及 經由一可變電阻依序偵測至少一偵測導電條的信號,以分別產生相應於該第一驅動信號與該第二驅動信號的一第一信號與一第二信號,其中產生該第一信號時,該可變電阻被設定為一第一電阻值,產生該第二信號時,該可變電阻被設定為一第二電阻值,該第一電阻值不同於該第二電阻值。
- 如申請專利範圍第29項的信號量測方法,其中該第一電阻值相應於該第一組該驅動導電條,該第二電阻值相應於該第二組該驅動導電條。
- 如申請專利範圍第29項的信號量測方法,其中該第一電阻值與該第二電阻值為多組參數組當中的兩組參數值。
- 如申請專利範圍第29項的信號量測方法,其中該可變電阻是建置在積體電路內。
- 一種觸摸屏的信號量測方法,其中該觸摸屏包括平行排列的多條驅動導電條與平行排列的多條偵測導電條組成的多條導電條,所述的驅動導電條與所述的偵測導電條交疊於多個交疊區,該信號量測方法包含:依序提供一第一驅動信號與一第二驅動信號給一第一組該驅動導電條與一第二組該驅動導電條;以及依序偵測由該至少一偵測導電條的信號分別產生相應於該第一驅動信號與該第二驅動信號的一第一信號與一第二信號, 其中使用了一第一偵測時間長度產生該第一信號,使用了一第二偵測時間長度產生該第二信號,其中該第一偵測時間長度不同於該第二偵測時間長度。
- 如申請專利範圍第33項的信號量測方法,其中該第一偵測時間長度相應於該第一組該驅動導電條,該第二偵測時間長度相應於該第二組該驅動導電條。
- 如申請專利範圍第33項的信號量測方法,其中該第一偵測時間長度與該第二偵測時間長度為多組參數組當中的兩組參數值。
- 一種觸摸屏的信號量測方法,其中該觸摸屏包括平行排列的多條驅動導電條與平行排列的多條偵測導電條組成的多條導電條,所述的驅動導電條與所述的偵測導電條交疊於多個交疊區,該信號量測方法包含:依序提供一第一驅動信號與一第二驅動信號給一第一組該驅動導電條與一第二組該驅動導電條;以及經由一放大器連接至至少一該偵測導電條,並且依序偵測由該至少一偵測導電條的信號分別產生相應於該第一驅動信號與該第二驅動信號的一第一信號與一第二信號,其中產生該第一信號時,該放大器被設定為一第一倍率值,產生該第二信號時,該放大器被設定為一第二倍率值,該第一倍率值不同於該第二倍率值。
- 如申請專利範圍第36項的信號量測方法,其中該第一倍率值相應於該第一組該驅動導電條,該第二倍率值相應於該第二組該驅動導電條。
- 如申請專利範圍第36項的信號量測方法,其中該第一倍率值與該第二倍率值為多組參數組當中的兩組參數值。
- 一種觸摸屏的信號量測方法,其中該觸摸屏包括平行排列的多條驅動導電條與平行排列的多條偵測導電條組成的多條導電條,所述的驅動導電條與所述的偵測導電條交疊於多個交疊區,該信號量測方法包含:依序提供一第一驅動信號與一第二驅動信號給一第一組該驅動導電條與一第二組該驅動導電條;以及依序偵測由該至少一偵測導電條的信號分別產生相應於該第一驅動信號與該第二驅動信號的一第一信號與一第二信號,其中經過了一第一延遲相位差後產生該第一信號,經過了一第二延遲相位差後產生該第二信號,其中該第一延遲相位差不同於該第二延遲相位差。
- 如申請專利範圍第39項的信號量測方法,其中該第一延遲相位差相應於該第一組該驅動導電條,該第二延遲相位差相應於該第二組該驅動導電條。
- 如申請專利範圍第39項的信號量測方法,其中該第一延遲相位差與該第二延遲相位差為多組參數組當中的兩組參數值。
- 一種觸摸屏的信號量測方法,其中該觸摸屏包括平行排列的多條驅動導電條與平行排列的多條偵測導電條組成的多條導電條,所述的驅動導電條與所述的偵測導電條交疊於多個交疊區,該信號量測方法包含:依序提供一第一驅動信號與一第二驅動信號給一第一組該驅動導電條與一第二組該驅動導電條;以及依序偵測由該至少一偵測導電條的信號分別產生相應於該第一驅動信號與該第二驅動信號的一第一信號與一第二信號,其中所述第一驅動信號的電位不同於該第二驅動信號的電位。
- 如申請專利範圍第42項的信號量測方法,其中該第一驅動信號的電位與該第二驅動信號的電位為多組參數組當中的兩組參數值。
- 一種觸摸屏的信號量測方法,其中該觸摸屏包括平行排列的多條驅動導電條與平行排列的多條偵測導電條組成的多條導電條,所述的驅動導電條與所述的偵測導電條交疊於多個交疊區,該信號量測方法包含:依序提供一第一驅動信號與一第二驅動信號給一第一組該驅動導電條與一第二組該驅動導電條;依序偵測由至少一偵測導電條的信號分別產生相應於該第一驅動信號與該第二驅動信號的一第一信號與一第二信號;以及 其中至少下列條件的其中之一或其任意組合成立:經由一可變電阻連接到該至少一偵測導電條,產生該第一信號時,該可變電阻被設定為一第一電阻值,產生該第二信號時,該可變電阻被設定為一第二電阻值,該第一電阻值不同於該第二電阻值;使用了一第一偵測時間長度產生該第一信號,使用了一第二偵測時間長度產生該第二信號,其中該第一偵測時間長度不同於該第二偵測時間長度;經由一放大器連接至至少一該偵測導電條,產生該第一信號時,該放大器被設定為一第一倍率值,產生該第二信號時,該放大器被設定為一第二倍率值,該第一倍率值不同於該第二倍率值;經過了一第一延遲相位差後產生該第一信號,經過了一第二延遲相位差後產生該第二信號,其中該第一延遲相位差不同於該第二延遲相位差;以及所述第一驅動信號的電位不同於該第二驅動信號的電位。
- 如申請專利範圍第29、30、31、32、33、34、35、36、37、38、39、40、41、42、43或44項的信號量測方法,其中該第一組該驅動導電條包含一條或多條連續的該驅動導電條,該第二組該驅動導電條包含一條或多條連續的驅動導電條,該第一組該驅動導電條與該第二組該驅動導電條包含相同數量的該驅動導電條。
- 如申請專利範圍第29、30、31、32、33、34、35、36、37、38、39、40、 41、42、43或44項的信號量測方法,其中該第一組該驅動導電條與該第二組該驅動導電條不包括該觸摸屏的任一側驅動導電條。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201261676354P | 2012-07-27 | 2012-07-27 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201514821A TW201514821A (zh) | 2015-04-16 |
TWI553535B true TWI553535B (zh) | 2016-10-11 |
Family
ID=50048920
Family Applications (4)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW101150779A TWI474247B (zh) | 2012-07-27 | 2012-12-28 | 觸摸屏的信號量測方法與裝置 |
TW104100273A TWI553535B (zh) | 2012-07-27 | 2012-12-28 | 觸摸屏的信號量測方法及裝置 |
TW101150812A TWI597640B (zh) | 2012-07-27 | 2012-12-28 | 觸摸屏的信號量測方法與裝置 |
TW104130698A TWI597642B (zh) | 2012-07-27 | 2012-12-28 | 處理器 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW101150779A TWI474247B (zh) | 2012-07-27 | 2012-12-28 | 觸摸屏的信號量測方法與裝置 |
Family Applications After (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW101150812A TWI597640B (zh) | 2012-07-27 | 2012-12-28 | 觸摸屏的信號量測方法與裝置 |
TW104130698A TWI597642B (zh) | 2012-07-27 | 2012-12-28 | 處理器 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
CN (2) | CN106886327B (zh) |
TW (4) | TWI474247B (zh) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI570605B (zh) * | 2015-08-21 | 2017-02-11 | 禾瑞亞科技股份有限公司 | 觸控系統與觸摸屏的信號量測裝置及方法 |
TWI474247B (zh) * | 2012-07-27 | 2015-02-21 | Egalax Empia Technology Inc | 觸摸屏的信號量測方法與裝置 |
TWI573057B (zh) | 2015-06-22 | 2017-03-01 | 矽創電子股份有限公司 | 頻率選擇模組及相關的運算裝置與頻率選擇方法 |
CN107894857B (zh) * | 2016-10-04 | 2021-02-19 | 禾瑞亚科技股份有限公司 | 触控处理装置、电子系统与其触控处理方法 |
TW201842439A (zh) * | 2017-05-01 | 2018-12-01 | 禾瑞亞科技股份有限公司 | 觸控螢幕的偵測裝置與方法及觸控系統 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20080157893A1 (en) * | 2007-01-03 | 2008-07-03 | Apple Inc. | Noise reduction within an electronic device using automatic frequency modulation |
US20100214253A1 (en) * | 2009-02-25 | 2010-08-26 | Ite Tech. Inc. | Drift compensation apparatus of capacitive touch panel and drift compensation method thereof |
WO2012140656A1 (en) * | 2011-04-12 | 2012-10-18 | N-Trig Ltd. | System and method for detection with a capacitive based digitizer sensor |
TWI474247B (zh) * | 2012-07-27 | 2015-02-21 | Egalax Empia Technology Inc | 觸摸屏的信號量測方法與裝置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1236378C (zh) * | 2000-11-21 | 2006-01-11 | 伊罗接触系统公司 | 自适应频率触摸屏控制器和利用自适应频率控制器控制触摸屏的方法 |
US7643011B2 (en) * | 2007-01-03 | 2010-01-05 | Apple Inc. | Noise detection in multi-touch sensors |
US8237667B2 (en) * | 2008-09-10 | 2012-08-07 | Apple Inc. | Phase compensation for multi-stimulus controller |
KR101157592B1 (ko) * | 2009-08-25 | 2012-06-18 | 주식회사 애트랩 | 입력 장치 및 입력 장치의 접촉 위치 검출 방법 |
US8884631B2 (en) * | 2010-05-31 | 2014-11-11 | Egalax—Empia Technology Inc. | Method and device for automatically calibrating touch detection |
CN101866241B (zh) * | 2010-06-22 | 2012-06-27 | 友达光电股份有限公司 | 降低触控面板噪声的方法 |
CN102541386B (zh) * | 2010-12-17 | 2014-11-19 | 无锡华润矽科微电子有限公司 | 电阻式触摸屏控制电路及其实现方法 |
TWI463372B (zh) * | 2011-09-16 | 2014-12-01 | Htc Corp | 電子裝置 |
TWI514231B (zh) * | 2012-05-18 | 2015-12-21 | Egalax Empia Technology Inc | 電容式觸摸屏的偵測裝置與方法 |
-
2012
- 2012-12-28 TW TW101150779A patent/TWI474247B/zh active
- 2012-12-28 TW TW104100273A patent/TWI553535B/zh active
- 2012-12-28 TW TW101150812A patent/TWI597640B/zh active
- 2012-12-28 TW TW104130698A patent/TWI597642B/zh active
-
2013
- 2013-07-26 CN CN201610944775.3A patent/CN106886327B/zh active Active
- 2013-07-26 CN CN201310320729.2A patent/CN103577014B/zh active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20080157893A1 (en) * | 2007-01-03 | 2008-07-03 | Apple Inc. | Noise reduction within an electronic device using automatic frequency modulation |
US20100214253A1 (en) * | 2009-02-25 | 2010-08-26 | Ite Tech. Inc. | Drift compensation apparatus of capacitive touch panel and drift compensation method thereof |
WO2012140656A1 (en) * | 2011-04-12 | 2012-10-18 | N-Trig Ltd. | System and method for detection with a capacitive based digitizer sensor |
TWI474247B (zh) * | 2012-07-27 | 2015-02-21 | Egalax Empia Technology Inc | 觸摸屏的信號量測方法與裝置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201514821A (zh) | 2015-04-16 |
CN103577014B (zh) | 2017-04-26 |
TW201405402A (zh) | 2014-02-01 |
TW201405401A (zh) | 2014-02-01 |
TWI474247B (zh) | 2015-02-21 |
CN106886327B (zh) | 2020-02-07 |
TWI597642B (zh) | 2017-09-01 |
TWI597640B (zh) | 2017-09-01 |
TW201602888A (zh) | 2016-01-16 |
CN103577014A (zh) | 2014-02-12 |
CN106886327A (zh) | 2017-06-23 |
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