CN106249002B - 用于测试电气部件的电气接头 - Google Patents

用于测试电气部件的电气接头 Download PDF

Info

Publication number
CN106249002B
CN106249002B CN201610403943.8A CN201610403943A CN106249002B CN 106249002 B CN106249002 B CN 106249002B CN 201610403943 A CN201610403943 A CN 201610403943A CN 106249002 B CN106249002 B CN 106249002B
Authority
CN
China
Prior art keywords
segment
electrical
electrical component
longitudinal side
holder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201610403943.8A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106249002A (zh
Inventor
张雨时
刘启峰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ASMPT Singapore Pte Ltd
Original Assignee
ASM Technology Singapore Pte Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ASM Technology Singapore Pte Ltd filed Critical ASM Technology Singapore Pte Ltd
Publication of CN106249002A publication Critical patent/CN106249002A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106249002B publication Critical patent/CN106249002B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416Connectors, terminals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Multi-Conductor Connections (AREA)

Abstract

本发明公开了一种用于接触电气部件的电气接头、用于测试电气部件的设备和组装用于测试电气部件的包括电气接头的设备的方法。所述电气接头包括:第一构件,该第一构件纵向地延伸并且具有端部,所述第一构件具有第一纵向侧和第二纵向侧;第二构件,该第二构件具有第一节段、第二节段和第三节段,该第一节段与所述第一构件的所述第一纵向侧纵向相邻地延伸,该第二节段与所述第一构件的所述第二纵向侧纵向相邻地延伸,该第三节段基本横向于所述第一构件延伸并且定位成与所述第一构件的所述端部相邻,该第三节段被设置成将所述第一节段与所述第二节段联接;其中在所述第一构件和所述第二构件之间限定有连续沟槽,使得所述第一构件和所述第二构件彼此电绝缘。

Description

用于测试电气部件的电气接头
技术领域
本发明总体上涉及在测试电气部件期间用于接触电气部件的电气接头以及用于测试电气部件的包括该电气接头的设备。
背景技术
在电子/电气部件的制造中,通常需要对电子/电气部件进行功能测试,诸如Kelvin接触测试,以确保在测试下该装置处于工作状况下并且履行其规范。
利用诸如接触装置的测试设备能够测试电气部件,该测试设备通常包括:安装块,该安装块用于安装电气部件;以及诸如接触指的一个或多个电气接头,该电气接头用于接触电气部件的引线。为了进行测试,待被测试的电气部件定位成使得电气部件的引线建立与接触装置的接触指的电接触。
通常,在测试设备的电气接头中设置两个分离的接触片以接触正被测试的电气部件的一个引线从而进行Kelvin触头测试。一个接触片被构造成提供测试信号,而另一个接触片被构造成感测/接收信号。接触片被联接到处理器单元,该处理器单元实施测试程序并且分析所述信号以获得测试的结果。
为了实现足够的电接触,电气部件的引线应该被定位在或者安置在两个接触片上。
然而,可能产生的一个问题是由于执行多个电气部件的测试所在的高速度,因此电气部件可能发生位置偏移,从而使得在测试期间电气部件的引线可能不能与两个接触片保持接触。这可以导致Kelvin接触测试失败并且因此降低测试设备的总体测试结果/效率。
电气部件的不正确定位的困难由于电气部件之间的物理变化而进一步变得严重。例如,在制造阶段期间可能发生模具偏移,从而造成同批次内的电气部件具有轻微的物理变化,并且因此不能一致地接触测试设备的电气接头。
为了增大位置偏移的容差,已提议出将接触片构造成包括沿着直条的一侧的L形条。然而,如WO 2011/141582A1中所讨论的,这样的构造仍不能够建立可靠的电连接。例如,电气部件可能发生位置偏移,使得电气部件的引线位于直条的与L形条相反并且不接触L形接触片的一侧。
为了克服与两个分离的接触片相关联的挑战,已提议出多种改进,诸如采用每个电气接头三个或更多个分离的接触片,以进一步增大电气部件的位置偏移的容差。WO2011/141582A1公开了三个接触片,这三个接触片被顺序地定位成使得这三个接触片中的至少两个建立与电气部件的引线电连接。然而,发明人已认识到这样的改进由于需要更多条的接触片而提高了制造成本和复杂性。该复杂性还来源于针对每个接触点三个接触片相对于彼此的制造和布置以及还有从各个接触片至处理器单元的电配线的制造和布置。
因此,存在旨在解决至少一个上述问题的用于接触电气部件的电气接头的需要。
发明内容
本发明公开的第一方面是一种用于接触电气部件的电气接头。所述电气接头包括:第一构件,该第一构件纵向地延伸并且具有端部,所述第一构件具有第一纵向侧和第二纵向侧;第二构件,该第二构件具有第一节段、第二节段和第三节段,该第一节段与所述第一构件的所述第一纵向侧纵向相邻地延伸,该第二节段与所述第一构件的所述第二纵向侧纵向相邻地延伸,该第三节段基本横向于所述第一构件延伸并且定位成与所述第一构件的所述端部相邻,该第三节段设置成将所述第一节段与所述第二节段联接;其中,在所述第一构件和所述第二构件之间限定有连续沟槽,使得所述第一构件和所述第二构件彼此电绝缘。
本发明公开的第二方面是一种用于测试电气部件的设备。所述设备包括:至少一个电气接头,该电气接头用于接触所述电气部件,所述电气接头包括:第一构件,该第一构件纵向地延伸并且具有端部,所述第一构件具有第一纵向侧和第二纵向侧;第二构件,该第二构件具有第一节段、第二节段和第三节段,,该第一节段与所述第一构件的所述第一纵向侧纵向相邻地延伸,该第二节段与所述第一构件的所述第二纵向侧纵向相邻地延伸,该第三节段基本横向于所述第一构件延伸并且定位成与所述第一构件的所述端部相邻,该第三节段设置成将所述第一节段与所述第二节段联接。
其中,在所述第一构件和所述第二构件之间限定有连续沟槽,使得所述第一构件和所述第二构件彼此电绝缘。
本发明公开的第三方面是一种组装用于测试电气部件的设备的方法。所述方法包括提供保持件并且提供至少一个电气接头,该电气接头用于接触所述电气部件。所述电气接头包括:第一构件,该第一构件纵向地延伸并且具有端部,所述第一构件具有第一纵向侧和第二纵向侧,所述第一构件由第一支撑条支撑以便于由所述保持件固定;第二构件,该第二构件由第二支撑条支撑以便于所述保持件固定,所述第二构件还具有第一节段、第二节段和第三节段,该第一节段与所述第一构件的所述第一纵向侧纵向相邻地延伸,该第二节段与所述第一构件的所述第二纵向侧纵向相邻地延伸,该第三节段基本横向于所述第一构件延伸并且定位成与所述第一构件的所述端部相邻,该第三节段设置成将所述第一节段与所述第二节段联接;以及连续沟槽,该连续沟槽被限定在所述第一构件和所述第二构件之间,使得所述第一构件和所述第二构件彼此电绝缘。所述方法还包括通过利用所述保持件将所述第一支撑条的所述端部和所述第二支撑条的所述端部紧固,而将所述第一支撑条和所述第二支撑条相对于彼此固定地安置。
附图说明
从仅作为示例的下列所描写的说明以及结合附图,本领域技术人员将更好地理解和容易清楚本发明的示例性实施方式,附图中:
图1是示例性实施方式中的测试组件的俯视图。
图2是位于图1中所示的虚线轮廓内的电气接头的放大俯视图。
图3(a)是定位在示例性实施方式中的测试组件中的电气部件的立体图。
图3(b)是定位在测试组件中的电气部件的俯视图。
图4(a)是相对于示例性实施方式中的测试组件沿着第一方向位置偏移的电气部件的俯视图。
图4(b)是相对于示例性实施方式中的测试组件沿着第二方向位置偏移的电气部件的俯视图。
图4(c)是相对于示例性实施方式中的测试组件旋转地偏移的电气部件的俯视图。
图5是示出了组装用于测试示例性实施方式中的电气部件的包括电气接头的设备的方法的流程图。
具体实施方式
示例性的非限制性实施方式可以提供电气接头以及用于测试电气部件的测试设备。
图1是示例性实施方式中的测试组件100的俯视图。测试组件100形成测试设备的部件并且用于接收电气部件(未示出)以用于测试。测试组件100可以与测试设备的处理器单元(未示出)通信以提供测试的结果。测试组件100包括电气接头102和保持件104、106以将电气接头102保持在固定位置。每个电气接头102均包括两个接触片108、110以接触电气部件的引线。放置区域112(以虚线轮廓示出)可以容纳电气部件,以使得电气部件的引线接触电气接头102。提供包括孔116的紧固构件来将每个保持件104、106锁固到测试设备的表面。孔可以接收销或螺钉以将每个保持件104、106对准并紧固到测试设备。
图2是位于图1中所示的虚线轮廓118内的电气接头的放大俯视图。为了容易理解,仅描述一个电气接头200。将理解的是,所示的三个电气接头在功能和构造上基本相似。图2还示出了电气接头可以被不同地取向(对比触头200和230)。
电气接头200包括纵向延伸的第一构件202和与该第一构件202相邻的第二构件204。第一构件202终止在端部206处。第一构件202由布置在第一构件202的相反两侧的第一纵向侧208和第二纵向侧210限定。
第二构件204包括第一节段212(以虚线轮廓标出),该第一节段与第一构件202的第一纵向侧208纵向相邻地延伸。第二构件还包括第二节段214(也以虚线轮廓标出),该第二节段与第一构件202的第二纵向侧210纵向相邻地延伸。设置第三节段216来将第二构件204的第一节段212和第二节段214连接。第三节段216设置成基本横向于第一构件202延伸并且定位成与第一构件202的端部206相邻。第二构件204终止在第二节段214的一个端部218处。在示例性实施方式中,第二构件204的端部218与第一构件202的第二纵向侧210相邻。
由第一构件202和第二构件204之间的空间限定了连续沟槽220,使得第一构件202和第二构件204彼此电绝缘。在示例性实施方式中,三个分离的电气接头200、228、230也彼此电绝缘。
应理解的是,尽管第二构件204示出为与第一构件平行,但示例性实施方式并不限于此,只要第一节段和第二节段彼此相邻并且第二构件204与第一构件202电绝缘即可。
如图2中所示,每个电气接头200均包括直叶片和“U形”叶片,所述直叶片包括第一构件202,所述“U形”叶片包括第二构件204。在示例性实施方式中,第一构件202和第二构件204的布置增大了位置偏移的容差,以便于建立与电气部件的引线的电连接。
第一构件202和第二构件204均在宽度上变宽成支撑条222和224的形式的宽节段,以便于由保持件104固定。保持件104设置成将第一构件202和第二构件204在它们的相应支撑条222、224处锁固在相对固定的位置。
图3(a)是定位在示例性实施方式中的测试组件300中的电气部件302的立体图。图3(b)是定位在测试组件300中的电气部件302的俯视图。电气部件302包括六个引线304,每个引线均与测试组件300的相应的电气接头306、312形成接触。每个电气接头均与参照图2所描述的电气接头200、228、230基本相同。电气接头306、312用于建立与电气部件302的相应电引线304电连接以进行测试。在每个电气接头306、312处,第一构件和第二构件均在宽度上变宽以形成支撑条308、310,用于便于固定电气接头306、312。
每个电气接头306、312的第一构件和第二构件均包括平坦表面以使与电气部件302的每个引线304的接触表面积最大,因此便于并且改善测试组件300和电气部件302之间的电连接。每个电气接头306、312的第一构件和第二构件还被构造成是共面的。也就是说,第一构件和第二构件的平坦表面基本位于相同平面内。这确保了电气部件302的每个引线304在进行测试时可定位成与第一构件和第二构件接触。
在示例性实施方式中,电气部件302被示出为定位在测试位置中。也就是说,电气部件302被适当地定位成使得每个引线304均基本以对中的方式定位在相应的电气接头上。
现在将描述测试组件的操作或者使用。
在操作中,承载电气部件302的拾取头(未示出)对准在测试组件300上方的预定取向中。拾取头随后将电气部件302向下推动到测试组件300上,使得电气部件302的引线304接触测试组件300的电气接头306、312。电气部件302然后经受测试,例如Kelvin接触测试。
为了执行测试,连接到第一构件的电气接头306的其中一个支撑条308被构造成向引线304传送测试信号。连接到第二构件的另一支撑条310被构造成检测来自引线304的返回信号,以确定电气部件302是否已根据测试要求传送和/或改变测试信号。信号被从基于测试的参数和要求分析信号的处理器单元(未示出)发送以及被传递到该处理器单元。
电气部件302的性能由处理器单元确定。基于电气部件302的性能,能够确定电气部件302是否有故障。基于测试的结果,电气部件302被抬起并输送到另一位置以进行另一处理。
通过对电气接头306、312的第一构件和第二构件的前述布置,实现了对于电气部件302的位置偏移的增大容差。以下描述一些示例。
图4(a)至图4(c)均示出了电气部件当定位在测试组件上时可能呈现的位置偏移。图4(a)和图4(b)示出了平移位置偏移,而图4(c)示出了旋转位置偏移。
图4(a)是相对于示例性实施方式中的测试组件404沿着第一方向402位置偏移的电气部件400的俯视图。有利的是,通过对电气接头的第一构件和第二构件的前述构造,电气部件400的引线仍与电气接头408正确地电连接,即,接触电气接头的第一构件和第二构件。
图4(b)是相对于示例性实施方式中的测试组件404沿着第二方向406位置偏移的电气部件400的俯视图。有利的是,通过电气接头的第一构件和第二构件的前述构造,电气部件400的引线仍与电气接头408正确地电连接,即,接触电气接头的第一构件和第二构件。
图4(c)是相对于示例性实施方式中的测试组件404旋转偏移的电气部件400的俯视图。有利的是,通过电气接头的第一构件和第二构件的前述构造,电气部件400的引线仍与电气接头408正确地电连接,即,接触电气接头的第一构件和第二构件两者。
图4(a)至4(c)中所示的示例呈现出即使在电气部件平移地或者旋转地偏移时,测试组件404的电气接头408也可以与电气部件400的引线保持足够的电接触,以进行测试。换言之,每个电气接头408的两个支撑条仍与电气部件400的相应引线保持接触。
图5是示出了组装示例性实施方式中的用于测试电气部件的包括电气接头的设备的方法的示意性流程500。在步骤502处,提供设备的保持件。在步骤504处,提供电气接头的纵向延伸的第一构件,该第一构件具有端部和第一纵向侧以及第二纵向侧。第一构件由第一支撑条支撑以便于由保持件固定。在步骤506处,提供电气接头的第二构件,该第二构件包括第一节段和第二节段,该第二构件的第一节段与第一构件的第一纵向侧相纵向邻地延伸,该第二构件的第二节段与第一构件的第二纵向侧纵向相邻地延伸,其中第一节段利用第二构件的第三节段联接到第二节段。第三节段设置成大体横向于第一构件延伸并且定位成与第一构件的端部相邻。在第一构件和第二构件之间限定有连续沟槽,从而使得第一构件和第二构件彼此电绝缘。第二构件由第二支撑条支撑以便于由保持件固定。在步骤508处,第一支撑条和第二支撑条通过利用保持件紧固或者模制第一支撑条和第第二支撑条的端部而相对于彼此固定地锁固。
在示例性实施方式中,第二构件的端部终止于第二节段处,该端部与第一构件的第二纵向侧相邻。
本文中在示例性实施方式中所描述的接触片和测试组件能够用于测试设备中以进行快速的电子/电气部件测试。在工业生产中,固有地起作用的电气部件可能由于在安装在测试设备上期间由失准/位置偏移而造成的差的电连接而在测试阶段处被拒绝。所描述的电气接头的一个优点在于接触片的特定构造提供了在电气接头测试期间对于电子/电气部件的偏移或者失准的增大容差。这通过在不增加接触片的数量并且因此避免显著的制造成本和复杂性的情况下,通过改变接触片的形状来实现。因此,本文所描述的电气接头的使用降低了测试失败的发生,诸如由于差的电连接而造成的Kelvin接触测试失败,并且因此改善了总体测试结果。这继而提高了测试设备的总效率。
在所描述的示例性实施方式中,测试组件和测试设备已被描述为用于测试电气部件。然而,应理解的是,测试组件和测试设备还可以用于测试导电的其它类型的部件。
在所描述的示例性实施方式中,能够安装在测试组件上的电气部件已被描述为具有六个引线。然而,应理解的是,电气部件可以具有多于或者少于六个的引线。引线也可以被相等或者不相等地分布在电气部件的每侧。类似地,所描述的测试组件可以被构造成具有变化数量的电气接头,这取决于待被测试的电气部件并且还取决于待被测试的电气部件上的引线的位置。
此外,参照图1和图2,电气接头102布置成聚拢在放置区域处并且以预定的距离和取向间隔开以顺应电气部件的引线的位置。将理解的是,示例性实施方式并不限于此并且可以具有其它移位和取向形式。
本领域技术人员将认识到,如宽泛描述的那样,在不脱离本发明的范围的情况下,可以对特定实施方式进行其它改变和/或修改。因此,当前实施方式在各方面都被认为是示意性而非限制性的。

Claims (15)

1.一种用于接触电气部件引线的电气接头,所述电气接头包括:
固定在保持件上的第一和第二构件,所述第一和第二构件被定位并可操作以接触电气部件引线;
第一构件,该第一构件由所述保持件处纵向地延伸并且具有纵向的端部,所述纵向的端部位于距所述保持件最远的位置,所述第一构件具有第一纵向侧和第二纵向侧;
第二构件,该第二构件具有:
第一节段,该第一节段与所述第一构件的所述第一纵向侧纵向相邻地由所述保持件处延伸,
第二节段,所述第二节段未直接固定在所述保持件上,该第二节段与所述第一构件的所述第二纵向侧纵向相邻地延伸,和
第三节段,该第三节段基本横向于所述第一构件延伸并且定位成与所述第一构件的所述纵向的端部相邻,该第三节段设置成将所述第一节段的纵向的端部与所述第二节段联接,所述第一节段的纵向的端部位于距所述保持件最远的位置;
其中,在所述第一构件和所述第二构件之间限定有连续沟槽,使得所述第一构件和所述第二构件彼此电绝缘。
2.根据权利要求1所述的电气接头,其中,所述第二构件终止在位于所述第二节段处的端部处,所述第二构件的所述端部与所述第一构件的所述第二纵向侧相邻。
3.根据权利要求1所述的电气接头,其中,所述第二构件的所述第一节段和所述第二节段基本上平行于所述第一构件。
4.根据权利要求1所述的电气接头,其中,所述第一构件和所述第二构件中的一个被构造成向所述电气部件供应信号,并且所述第一构件和所述第二构件中的另一个被构造成检测来自所述电气部件的信号。
5.根据权利要求1所述的电气接头,其中,所述第一构件和所述第二构件均被构造成具有平坦表面,用于建立与所述电气部件的引线的接触。
6.根据权利要求5所述的电气接头,其中,所述第一构件的所述平坦表面和所述第二构件的所述平坦表面是共面的。
7.一种用于测试电气部件的设备,所述设备包括:
至少一个电气接头,该电气接头用于接触所述电气部件的引线,所述电气接头包括:
固定在保持件上的第一和第二构件,所述第一和第二构件被定位并可操作以接触电气部件引线;
第一构件,该第一构件由所述保持件处纵向地延伸并且具有纵向的端部,所述纵向的端部位于距所述保持件最远的位置,所述第一构件具有第一纵向侧和第二纵向侧;
第二构件,该第二构件具有:
第一节段,该第一节段与所述第一构件的所述第一纵向侧纵向相邻地由所述保持件处延伸,
第二节段,所述第二节段未直接固定在所述保持件上,该第二节段与所述第一构件的所述第二纵向侧纵向相邻地延伸,和
第三节段,该第三节段基本横向于所述第一构件延伸并且定位成与所述第一构件的所述纵向的端部相邻,该第三节段设置成将所述第一节段的纵向的端部与所述第二节段联接,所述第一节段的纵向的端部位于距所述保持件最远的位置;
其中,在所述第一构件和所述第二构件之间限定有连续沟槽,使得所述第一构件和所述第二构件彼此电绝缘。
8.根据权利要求7所述的设备,其中,所述第二构件终止在位于所述第二节段处的端部处,所述第二构件的所述端部与所述第一构件的所述第二纵向侧相邻。
9.根据权利要求7所述的设备,该设备还包括保持件,该保持件用于将所述至少一个电气接头的所述第一构件和所述第二构件保持在固定位置处。
10.根据权利要求7所述的设备,其中,所述第二构件的所述第一节段和所述第二节段基本平行于所述第一构件。
11.根据权利要求7所述的设备,其中,所述第一构件和所述第二构件中的一个被构造成向所述电气部件供应信号,并且所述第一构件和所述第二构件中的另一个被构造成检测来自所述电气部件的信号。
12.根据权利要求7所述的设备,其中,所述第一构件和所述第二构件均被构造成具有平坦表面,用于建立与所述电气部件的引线的接触。
13.根据权利要求12所述的设备,其中,所述第一构件的所述平坦表面和所述第二构件的所述平坦表面是共面的。
14.一种组装用于测试电气部件的设备的方法,所述方法包括:
提供保持件;
提供至少一个电气接头,该电气接头用于接触所述电气部件的引线,所述电气接头包括:
固定在保持件上的第一和第二构件,所述第一和第二构件被定位并可操作以接触电气部件引线;
第一构件,该第一构件由所述保持件处纵向地延伸并且具有纵向的端部,所述纵向的端部位于距所述保持件最远的位置,所述第一构件具有第一纵向侧和第二纵向侧,所述第一构件由第一支撑条支撑以便于由所述保持件固定;
第二构件,该第二构件由第二支撑条支撑以便于所述保持件固定,所述第二构件具有:
第一节段,该第一节段与所述第一构件的所述第一纵向侧纵向相邻地由所述保持件处延伸,
第二节段,所述第二节段未直接固定在所述保持件上,该第二节段与所述第一构件的所述第二纵向侧纵向相邻地延伸,和
第三节段,该第三节段基本横向于所述第一构件延伸并且定位成与所述第一构件的所述纵向的端部相邻,该第三节段设置成将所述第一节段的纵向的端部与所述第二节段联接,所述第一节段的纵向的端部位于距所述保持件最远的位置;以及
连续沟槽,该连续沟槽被限定在所述第一构件和所述第二构件之间,使得所述第一构件和所述第二构件彼此电绝缘,并且通过利用所述保持件将所述第一支撑条的所述端部和所述第二支撑条的所述端部紧固,而将所述第一支撑条和所述第二支撑条相对于彼此固定地安置。
15.根据权利要求14所述的方法,其中,所述第二构件的所述第一节段和所述第二节段基本平行于所述第一构件被固定地安置。
CN201610403943.8A 2015-06-10 2016-06-08 用于测试电气部件的电气接头 Active CN106249002B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US14/735,405 2015-06-10
US14/735,405 US10151774B2 (en) 2015-06-10 2015-06-10 Electrical contact having electrical isolated members for contacting an electrical component

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106249002A CN106249002A (zh) 2016-12-21
CN106249002B true CN106249002B (zh) 2020-07-14

Family

ID=57516972

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610403943.8A Active CN106249002B (zh) 2015-06-10 2016-06-08 用于测试电气部件的电气接头

Country Status (3)

Country Link
US (1) US10151774B2 (zh)
CN (1) CN106249002B (zh)
MY (1) MY190155A (zh)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5936237A (en) * 1995-07-05 1999-08-10 Van Der Weide; Daniel Warren Combined topography and electromagnetic field scanning probe microscope
CN102483435A (zh) * 2009-04-21 2012-05-30 约翰国际有限公司 用于微电路测试器的导电开尔文接触件
CN103026555A (zh) * 2010-09-30 2013-04-03 伊斯梅卡半导体控股公司 电接触件和测试平台
WO2014182633A1 (en) * 2013-05-06 2014-11-13 Formfactor A probe card assembly for testing electronic devices
WO2014167410A3 (en) * 2013-04-09 2015-04-30 Technoprobe S.P.A. Testing head of electronic devices

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3667037A (en) * 1969-11-12 1972-05-30 Gen Electric Pocket size integrated circuit logic analyzer
US4028812A (en) * 1976-01-21 1977-06-14 Fieberg Russell F Contact retention test tool
FR2574995B1 (fr) * 1984-12-19 1987-01-23 Allied Corp Connecteur electrique
US5184065A (en) * 1989-10-02 1993-02-02 Tektronix, Inc. Twist lock probe tip
JP3790041B2 (ja) * 1998-04-28 2006-06-28 富士通株式会社 プローブおよび検査装置
JP4585024B2 (ja) * 2005-06-10 2010-11-24 デラウェア キャピタル フォーメーション インコーポレイテッド 可撓性のある内部相互接続部を備えた電気コンタクトプローブ
JP4912961B2 (ja) * 2007-06-06 2012-04-11 日本エンジニアリング株式会社 エッジコネクタ及びバーンインシステム

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5936237A (en) * 1995-07-05 1999-08-10 Van Der Weide; Daniel Warren Combined topography and electromagnetic field scanning probe microscope
CN102483435A (zh) * 2009-04-21 2012-05-30 约翰国际有限公司 用于微电路测试器的导电开尔文接触件
CN103026555A (zh) * 2010-09-30 2013-04-03 伊斯梅卡半导体控股公司 电接触件和测试平台
WO2014167410A3 (en) * 2013-04-09 2015-04-30 Technoprobe S.P.A. Testing head of electronic devices
WO2014182633A1 (en) * 2013-05-06 2014-11-13 Formfactor A probe card assembly for testing electronic devices

Also Published As

Publication number Publication date
CN106249002A (zh) 2016-12-21
US10151774B2 (en) 2018-12-11
MY190155A (en) 2022-03-31
US20160363610A1 (en) 2016-12-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101779342B (zh) 具有分叉触头臂的连接器
US7815462B2 (en) Connector and method of terminating electric leads to a connector
KR102145924B1 (ko) 플러그 접촉부 세트 및 플러그 접촉부 세트의 래칭을 테스트하기 위한 방법
CA2586638C (en) Electrical connector and system having contact array interface for engaging contacts at varying centerline spacing
US20050227512A1 (en) Kelvin contact module for a microcircuit test system
KR100815460B1 (ko) 전기적 접속장치 및 접촉자
KR101353925B1 (ko) 커넥터 연결 단자 및 이를 이용한 커넥터
US20120003879A1 (en) Electrical connector for an electronic module
US5967832A (en) High speed connector assembly
US20030060086A1 (en) Connector
CN104425909A (zh) 跨接模块搭载电路基板和电路基板组装体
CN115015597A (zh) 一种弹片针测试模块
US8083538B2 (en) Insulation displacement contact with separation point and contact arrangement with insulation displacement contact
CN106249002B (zh) 用于测试电气部件的电气接头
CN102053173B (zh) 探针引导件、探针板及使用它的半导体装置的试验方法
KR102430924B1 (ko) 커넥터 및 커넥터 조립체
KR101465617B1 (ko) 번-인 소켓 조립체
KR101391210B1 (ko) 협피치 콘택트군을 갖는 커넥터의 제조 방법 및 커넥터
US20060121750A1 (en) Contactor, frame comprising such a contactor, electrical measuring and testing apparatus and method of contacting by means of such a contactor
KR100640702B1 (ko) 플렉시블 회로기판 접속장치
JP2008004368A (ja) コネクタ
KR101250306B1 (ko) 프로브카드
US10886647B2 (en) Electronic circuitry socket structure
KR100340770B1 (ko) 프린터기판에 양호하게 접촉하는 전기커넥터
CN219302518U (zh) 一种芯片转接板

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant