CN106248689B - 复合膜的缺陷判别方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供复合膜的缺陷判别方法。本发明涉及复合膜的缺陷判别方法，其通过包含：(S1)从对偏光器接合于透明基材膜的一面的复合膜的指定区域摄影的图像分选缺陷候补群区域的阶段；(S2)从上述缺陷候补群区域取得缺陷位于中央的四边形的缺陷候补群的图像，测定上述缺陷候补群的图像的4个顶点部分的各自的平均亮度的阶段；(S3)上述4个顶点的平均亮度中的至少一个为基准亮度范围内的情况下，从缺陷检查对象中排除的阶段，从而在制造工序中将不需要检查的区域去除，大幅地提高缺陷判别的效率和缺陷判别的正确性。

Description

复合膜的缺陷判别方法
技术领域
本发明涉及复合膜的缺陷判别方法。更详细地说，涉及在制造工序中通过去除不需要检查的区域从而使检查效率提高的复合膜的缺陷判别方法。
背景技术
近年来，液晶显示器、有机发光显示器、场致发射显示器(FED)、等离子体显示面板(PDP)等各种图像显示装置被广泛地开发使用。
另一方面，图像显示装置作为制品发货之前，由于在制造过程中可产生各种不良，因此经过多个检查过程。图像显示装置中最多使用的部件之一为偏光膜、相位差膜等的复合膜，因此复合膜的缺陷为图像显示装置的不良的主要原因之一。在复合膜的缺陷的检测中，首先正确地判定是否为缺陷后，如果判定为缺陷，则进行基于缺陷的修复(repair)或废弃、进而缺陷原因的除去等从制造工序的制造收率的方面出发是重要的。
为了工业上的大量生产，复合膜的制造通常使用生产线工序。因此，缺陷的检测通过在生产线的特定位置对复合膜连续地摄影，对摄影的部分中的缺陷进行判别而进行。
缺陷的判别中，以往通过确实地检测各种缺陷，同时在制造工序中检测缺陷，从而提高制造工序的效率是重要的。与其相关，韩国公开专利第2010-24753号(专利文献1)公开了将包含异物的闭曲线和异物的面积进行比较而判别线状的异物的方法。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：韩国公开专利第2010-24753号公报
发明内容
发明要解决的课题
本发明的目的在于提供使工序的效率大幅地提高的复合膜的缺陷判别方法。
另外，本发明的目的在于提供正确地判别复合膜的缺陷的方法。
用于解决课题的手段
1.复合膜的缺陷判别方法，其包含：
(S1)从对偏光器接合于透明基材膜的一面的复合膜的指定区域摄影的图像分选缺陷候补群区域的阶段；
(S2)从上述缺陷候补群区域取得缺陷位于中央的四边形的缺陷候补群的图像，测定上述缺陷候补群的图像的4个顶点部分的各自的平均亮度的阶段；
(S3)上述4个顶点的平均亮度中的至少一个为基准亮度范围内的情况下，从缺陷检查对象中排除的阶段。
2.上述项目1的复合膜的缺陷判别方法，其中，上述顶点在将缺陷候补群的图像的最外边框部分除去的剩余的部分中被确定。
3.上述项目1的复合膜的缺陷判别方法，其中，上述基准亮度范围为透明基材膜的正常亮度范围。
4.上述项目1的复合膜的缺陷判别方法，其中，上述4个顶点的平均亮度中的至少一个比基准亮度的值大的情况下，从缺陷检查对象中排除。
5.上述项目1的复合膜的缺陷判别方法，其中，上述4个顶点的平均亮度中的至少一个比基准亮度的值小的情况下，从缺陷检查对象中排除。
6.上述项目1的复合膜的缺陷判别方法，其中，在上述(S2)阶段之前或(S3)阶段之后，还包含缺陷检测确定阶段。
7.上述项目1的复合膜的缺陷判别方法，其中，上述偏光器的大小比上述透明基材膜小。
8.上述项目7的复合膜的缺陷判别方法，其中，上述偏光器为多边形的形状。
9.上述项目1的复合膜的缺陷判别方法，其中，在将偏光器接合于透明基材膜的在线工序中进行。
10.上述项目1的复合膜的缺陷判别方法，其中，上述透明基材膜选自脱模膜、保护膜、和相位差膜。
发明的效果
根据本发明的复合膜的缺陷判别方法，通过在制造工序中将不需要检查的区域去除，能够提高检查效率。
另外，根据本发明的复合膜的缺陷判别方法，能够通过更加正确的缺陷判别显著地提高复合膜的制造收率，也能够大幅地降低制造成本，防止资源的浪费。
附图说明
图1为本发明的一实施方式涉及的复合膜的缺陷判别方法的概略的流程图。
图2为概略地表示本发明的一实施方式涉及的复合膜的缺陷判别方法中的、缺陷候补群的图像的顶点部分的图。
图3为概略地表示本发明的一实施方式涉及的复合膜的缺陷判别方法中的、取得的缺陷候补群的图像的图。
图4为表示应用了本发明的一实施方式涉及的缺陷判别方法的情形以及没有应用的比较例的情形的、缺陷判别对象的分选的正确度的图。
具体实施方式
本发明涉及复合膜的缺陷判别方法。更详细地说，涉及复合膜的缺陷判别方法，其通过包含：(S1)从对偏光器接合于透明基材膜的一面的复合膜的指定区域摄影的图像分选缺陷候补群区域的阶段；(S2)从上述缺陷候补群区域取得缺陷位于中央的四边形的缺陷候补群的图像，测定上述缺陷候补群的图像的4个顶点部分的各自的平均亮度的阶段；(S3)上述4个顶点的平均亮度中的至少一个为基准亮度范围内的情况下，从缺陷检查对象中排除的阶段，从而在制造工序中将不需要检查的区域去除，提高缺陷判别工序的效率，同时大幅地提高缺陷判别的正确性。
通常,光学膜的制造通过连续的工序、例如辊到辊(Roll-to-Roll)工序移送而进行。因此，为了对光学膜的缺陷进行判别，进行如下工序：在一定方向上被移送的光学膜的上部对光学膜摄影而取得图像，将该图像与已设定的缺陷基准值(亮度、大小等)进行比较。
但是，作为制品所要求的光学膜为彼此不同的2种以上的光学功能性膜的层叠体(例如，透明基材膜与偏光器的复合膜)的情况下，有时将任一个光学功能性膜设置为各种形状，此时，缺陷的判别时可取得不需要检查的区域的图像。不需要检查的区域为制品中不使用的区域等，如果对该区域进行缺陷判别工序，则工序的效率显著地降低。因此，本发明通过进行将不需要缺陷检查的区域去除的工序，能够大幅地提高缺陷判别阶段的效率，同时进一步提高缺陷判别的正确性。
以下参照附图对本发明更详细地进行说明。图1为概略地表示本发明的一实施方式涉及的复合膜的缺陷判别方法的流程图的图。
本发明中，作为缺陷判别对象的复合膜设为将偏光器接合于透明基材膜的一面的复合膜。
首先，从对偏光器接合于透明基材膜的一面的复合膜的指定区域摄影的图像，分选缺陷候补群区域((S1)阶段)。
本发明中，所谓缺陷候补群区域，是脱离复合膜的平均的均一性的部分，意味着包含通过后述的缺陷检测确定阶段判别为不良的不良缺陷的区域、和包含判别为良品的良品缺陷的区域这两者。
本发明中，对上述缺陷候补群区域的分选方法并无特别限定，例如，对将偏光器接合于透明基材膜的一面的复合膜的指定区域进行摄影而取得图像，在取得的图像中，对于包含脱离已设定的复合膜的平均的均一性的部分(缺陷候补群)的区域的图像，能够按照根据检查对象的复合膜的具体的种类及用途预先确定的基准，使用图像处理软件等进行。
本发明从在上述(S1)阶段中分选的缺陷候补群区域，取得缺陷位于中央的四边形的缺陷候补群的图像，测定上述缺陷候补群的图像的4个顶点部分的各自的平均亮度((S2)阶段)。
本发明涉及的复合膜，由于只是将透明基材膜与偏光器这两者层叠的部分作为制品生产，因此，在制造工序中在透明基材膜的上部将偏光器形成各种的形状，只存在透明基材膜的部分以后被除去。因此，在只存在透明基材膜的区域存在缺陷的情况下，上述部分成为不需要缺陷判别的区域。
因此，如果从在(S1)阶段中分选的缺陷候补群区域中，预先将偏光器没有被接合的、只形成了透明基材膜的部分除去((S2)及(S3)阶段)，则能够提高缺陷判别工序的效率，同时提高缺陷判别的正确性。
另外，根据本发明的复合膜的边框部分是工序上的空白，是之后将被除去的部分。由此，与偏光器的末端邻接的缺陷由于不包含在制品中，因此上述部分也成为不需要缺陷判别的区域。
因此，如果从在(S1)阶段中分选的缺陷候补群区域中预先将作为与只形成了透明基材膜的部分的边界的部分除去((S2)及(S3)阶段)，则能够提高缺陷判别工序的效率，同时提高缺陷判别的正确性。
如前述那样，上述缺陷包含良品缺陷和不良缺陷这两者。在使缺陷位于中央而取得的四边形的缺陷候补群的图像中，包含缺陷形成于偏光器的内部的情形、缺陷形成于只形成了透明基材膜的部位的情形、和在只形成了透明基材膜的部位与和偏光器一起层叠的部分的边界面形成了的情形全部。
根据本发明的另一实施方式，如图2中所示，上述顶点能够在将缺陷候补群的图像的最外边框部分去除的剩余的部分中确定。
摄影后、取得图像的阶段中，有时因照相机的透镜的形状、噪音的产生等而在图像的最外边框部分产生变形。考虑这点，如果在将缺陷候补群的图像的最外边框部分(像素)去除的剩余的部分中确定顶点，则能够防止上述的问题，能够进一步提高缺陷判定的正确性。
接下来，上述4个顶点的平均亮度中的至少一个为基准亮度范围内的情况下，从缺陷检查对象中排除((S3)阶段)。
本发明中，所谓基准亮度范围，意味着作为不需要缺陷判别工序的区域已设定的亮度范围，例如，可意味着没有形成偏光器的透明基材膜的正常亮度范围。
上述缺陷候补群的图像由于形成为四边形，因此在将缺陷形成于只层叠了透明基材膜的部位、或者形成于只形成了透明基材膜的部分与层叠了偏光器的部分的边界附近的情况下，上述四边形的4个顶点的至少一个成为透明基材膜的摄影图像区域(参照图3)。因此，4个顶点的至少一个为基准亮度范围内的情况下，通过从缺陷检查对象排除，能够提高缺陷判别的效率。
本发明中，上述基准亮度范围能够根据使用的透明基材膜的种类多样地设定。因此，根据本发明的另一实施方式，在透明基材膜的正常亮度范围比偏光器的正常亮度范围大的情况下，上述(S3)阶段在4个顶点的平均亮度中的至少一个比基准亮度的值大的情况下，能够通过从缺陷检查对象排除的工序进行。
另外，根据本发明的另一实施方式，在透明基材膜的正常亮度范围比偏光器的正常亮度范围小的情况下，上述(S3)阶段在4个顶点的平均亮度中的至少一个比基准亮度的值小的情况下，能够通过从缺陷检查对象排除的工序进行。
作为本发明中可以使用的透明基材膜的种类，并无特别限定，例如可列举脱模膜、保护膜、相位差膜等。
根据本发明的一实施方式，为了提高工序的效率，能够通过将偏光器接合于透明基材膜的在线工序进行缺陷判别工序。
另外，根据本发明的偏光器的大小可以比透明基材膜小，对其形状并无特别限定，例如，可以为三角形、四边形、五边形、六边形等多边形形状。这是因为，本发明的复合膜的缺陷判别方法为了提高工序的效率，在通过将偏光器接合于透明基材膜的在线工序进行的情况下，将偏光器形成为图案状。
根据本发明的一实施方式，在(S2)阶段之前或(S3)阶段之后，可以还包含缺陷检测确定阶段。
缺陷检测确定阶段是判断缺陷候补群区域中所含的缺陷为相当于不良的缺陷或者相当于良品的缺陷的阶段。该判断能够按照根据检查对象的复合膜的具体的种类和用途预先确定的基准，使用图像处理软件等进行。
如果在(S2)阶段之前进行缺陷检测确定阶段，通过从确定了的缺陷中去除不需要检查的区域的缺陷，从而能够提高缺陷判别的正确性。另外，如果在(S3)阶段之后进行缺陷检测确定阶段，由于只在将不需要检查的区域去除了的部分中进行检测确定阶段，因此能够进一步提高缺陷判别的正确性及缺陷判别工序的效率。
对进行缺陷检测确定阶段的方法并无特别限定，只要为本领域中已知的方法，则能够无限制地采用。
以下为了有助于本发明的理解，示出了优选的实施例，但下述实施例只不过是对本发明进行例示，对于本领域技术人员而言，在本发明的范畴和技术思想的范围内可以进行各种变更和修正是显而易见的，这样的变形和修正当然也属于所附的专利权利要求书。
实施例1
在COP透明基材膜的上部，通过辊到辊工序将比上述透明基材膜的大小小的偏光器接合后，分选缺陷候补群区域。然后，从上述缺陷候补群区域中以使缺陷位于中央的方式取得100×100像素的大小的缺陷候补群的图像，将上述图像的最外边框的1像素去除后，测定了上述图像的各顶点的2×2像素部分的平均亮度。上述测定的顶点的亮度中的至少一个为105Grey以上的情况下，从缺陷检查对象中排除后，对于剩余的缺陷候补群的图像进行了缺陷检测确定阶段。
比较例1
没有进行根据实施例的缺陷检查对象的排除工序，对于缺陷候补群的图像全体进行了缺陷检测确定阶段。
评价方法和评价结果
基于上述实施例1及比较例1测定了缺陷后，将实际的需要缺陷检查的区域、以及与不需要缺陷检查的区域的边界区域中的缺陷示于图3。进行了本发明涉及的缺陷判定方法的实施例1的情况下，能够确认只对需要缺陷检查的区域进行了判别缺陷的工序。而比较例1的情况下，能够确认对于不需要缺陷检查的区域和其边界区域的全部进行了判别缺陷的工序，检查效率显著地降低。

Claims (10)

1.复合膜的缺陷判别方法，其包含：
(S1)从对偏光器接合于透明基材膜的一面的复合膜的指定区域摄影的图像分选脱离所述复合膜的平均均一性的缺陷候补群区域的阶段；
(S2)从上述缺陷候补群区域取得缺陷位于中央的四边形的缺陷候补群的图像，测定上述缺陷候补群的图像的4个顶点部分的各自的平均亮度的阶段；
(S3)上述4个顶点的平均亮度中的至少一个为基准亮度范围内的情况下，从缺陷检查对象中排除的阶段。
2.根据权利要求1所述的复合膜的缺陷判别方法，其中，上述顶点在将缺陷候补群的图像的最外边框部分除去的剩余的部分中被确定。
3.根据权利要求1所述的复合膜的缺陷判别方法，其中，上述基准亮度范围为透明基材膜的正常亮度范围。
4.根据权利要求1所述的复合膜的缺陷判别方法，其中，所述基准亮度的范围意味着比指定的基准亮度的值大的范围，上述4个顶点的平均亮度中的至少一个比所述基准亮度的值大的情况下，从缺陷检查对象中排除。
5.根据权利要求1所述的复合膜的缺陷判别方法，其中，所述基准亮度的范围意味着比指定的基准亮度的值小的范围，上述4个顶点的平均亮度中的至少一个比所述基准亮度的值小的情况下，从缺陷检查对象中排除。
6.根据权利要求1所述的复合膜的缺陷判别方法，其中，在上述(S2)阶段之前或(S3)阶段之后，还包含缺陷检测确定阶段。
7.根据权利要求1所述的复合膜的缺陷判别方法，其中，上述偏光器的大小比上述透明基材膜小。
8.根据权利要求7所述的复合膜的缺陷判别方法，其中，上述偏光器为多边形的形状。
9.根据权利要求1所述的复合膜的缺陷判别方法，其中，在将偏光器接合于透明基材膜的在线工序中进行。
10.根据权利要求1所述的复合膜的缺陷判别方法，其中，上述透明基材膜选自脱模膜、保护膜、和相位差膜。
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