CN106226040A - Led元件测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种LED元件测试系统,包括机架,机架上设有倾斜的底板,底板上安装有第一挡板和第二挡板,底板、第一挡板和第二挡板围成倾斜的输送通道;第一阻挡件和第二阻挡件可伸缩的穿设于第二挡板,第一阻挡件和第二阻挡件在输送通道中分隔出一段用于测试LED元件的测试通道;测试通道内设有相对的第一导电电极和第二导电电极,第一导电电极固定安装在第二挡板上;第二导电电极活动设置;底板上设有长度方向与第二挡板垂直的滑槽,螺栓穿过滑槽将第二挡板安装在底板上。本发明所提供的LED元件测试系统,通过第一导电电极和第二导电电极分别与LED元件两侧的LED电极挤压接触实现电连接从而完成测试,适合不同规格尺寸LED元件的测试。
Description
技术领域
本发明属于LED元件测试技术领域,具体涉及一种LED元件测试系统。
背景技术
半导体LED是一种重要的光电子器件,它在科学研究和工农业生产中均有非常广泛的应用。发光二极管虽小,但要准确测量它的各项光和辐射参数并非一件易事。
现有的测试方法,是将单颗LED灯的两极进行导线的焊接。图3为现有技术LED灯的结构示意图,包括LED元件19和其两侧的LED电极20,图4为LED元件19的侧视图,由于LED元件本身尺寸限制,将导线焊接在LED电极上较为困难,经常容易损坏LED元件本身,对LED元件样品造成了浪费;另外一方面由于LED元件本身电阻较小,焊接方法造成的焊接电阻对其影响较大,在进行LED测试时,造成测试数据准确度不高。
发明内容
本发明的目的是解决上述问题,提供一种LED元件测试系统。
为解决上述技术问题,本发明的技术方案是:一种LED元件测试系统,包括用于安装各组件的机架,机架上设有倾斜的底板,底板上表面平行安装有第一挡板和第二挡板,底板、第一挡板和第二挡板围成倾斜的输送通道;第一阻挡件和第二阻挡件可伸缩的穿设于第二挡板,第一阻挡件和第二阻挡件在输送通道中分隔出一段用于测试LED元件的测试通道;测试通道内设有相对的第一导电电极和第二导电电极,第一导电电极固定安装在第二挡板上;第二导电电极活动设置,与第一导电电极的间距可调;所述底板上设有长度方向与第二挡板垂直的滑槽,螺栓穿过滑槽将第二挡板安装在底板上。
优选地,所述第一阻挡件与第一伸缩气缸相连,第二阻挡件与第二伸缩气缸相连。
优选地,所述滑槽的数量为二。
本发明的有益效果是:
1、本发明所提供的LED元件测试系统,通过第一导电电极和第二导电电极分别与LED元件两侧的LED电极挤压接触实现电连接,从而完成测试,解决现有技术中由于焊接造成的LED元件损坏及焊接电阻的影响。
2、第二挡板可移动设置,从而可便捷的调整输送通道的宽度,适合不同规格尺寸LED元件的测试。
附图说明
图1是本发明LED元件测试系统的结构示意图;
图2是本发明输送通道的侧视图;
图3是现有技术LED灯的结构示意图;
图4是为LED元件的侧视图。
附图标记说明:1、机架;2、底板;3、第一挡板;4、第二挡板;5、输送通道;6、第一阻挡件;7、第二阻挡件;8、测试通道;9、第一导电电极;10、第二导电电极;11、第一伸缩气缸;12、第二伸缩气缸;13、第三伸缩气缸;14、滑槽;15、传送皮带;16、推料板;17、第四伸缩气缸;18、刻度尺;19、LED元件;20、LED电极。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明做进一步的说明:
如图1和图2所示,本发明的一种LED元件测试系统,包括用于安装各组件的机架1,机架1上设有倾斜的底板2,底板2上表面平行安装有第一挡板3和第二挡板4,底板2、第一挡板3和第二挡板4围成倾斜的输送通道5;输送通道5的起始端与入料机构相连,输送通道5的末端与传送皮带15的起始端相连。
第一阻挡件6和第二阻挡件7可伸缩的穿设于第二挡板4,在本实施例中,第一阻挡件6与第一伸缩气缸11相连,第二阻挡件7与第二伸缩气缸12相连,第一阻挡件6顺着LED元件的输送方向位于第二阻挡件7的下游。
第一阻挡件6和第二阻挡件7在输送通道5中分隔出一段用于测试LED元件的测试通道8;测试通道8内设有相对的第一导电电极9和第二导电电极10,第一导电电极9和第二导电电极10均与导线相连。第一导电电极9固定安装在第二挡板4上;第二导电电极10活动设置,具体的,第二导电电极10与第三伸缩气缸13相连,从而第二导电电极10与第一导电电极9的间距可调。
入料机构把LED元件有序地排列后,使得LED元件进入输送通道的姿态为:LED电极分别与第一挡板3和第二挡板4相对。初始状态时,第一阻挡件6伸出,第二阻挡件7缩回,在重力的作用下,LED元件顺着输送通道进入测试通道8,此时第二阻挡件7伸出,使得LED元件位置固定在测试通道中。第二导电电极10在第三伸缩气缸13的驱动下,伸出预设的距离,第二导电电极10对LED元件施加一定的力度,使得LED元件两侧的LED电极分别与第一导电电极9和第二导电电极10电接触,此时按照常规手段进行测试。测试完成后,第一阻挡件6缩回,在重力的作用下,LED元件顺着输送通道进入传送皮带。当LED元件排出测试通道后,第一阻挡件6再次伸出,第二阻挡件7缩回,使得下一个LED元件进入测试通道。重复上述步骤,即可完成LED元件源源不断的测试。
为了防止LED元件在测试通道8中测试出现异常而无法发现,在第二导电电极10与LED元件相对的一面设有压力传感器,从而当第二导电电极10伸出挤压LED元件时,如果压力超出预设范围,便发出报警,提醒工作人员查看。如果第二导电电极10伸出预设的距离后,压力低于预设范围,也会发出报警。
由于目前行业内的LED元件的种类繁多,规格尺寸有多种,对于不同尺寸的LED元件测试,需要调整输送通道的宽度,便于LED元件按预设姿态下滑,故将第二挡板4设置为可活动的,具体的,底板2上设有长度方向与第二挡板4垂直的两个平行的滑槽14,螺栓穿过滑槽14将第二挡板4安装在底板2上,底板2上设有测量第一挡板3和第二挡板4之间间距的刻度尺18。需要调整输送通道的宽度时,只需松开螺栓移动第二挡板和螺栓的位置至刻度尺上相应的位置,然后重新拧紧螺栓,固定第二挡板。
为了进一步将测试不合格的LED元件筛选出来,在传送皮带15起始端的侧面设有推料板16,推料板16与第四伸缩气缸17相连。当测试通道中的LED元件测试不合格时,推料板16可将不合适的LED元件推出传送皮带。需要说明的是,推动过程的同步控制可以根据工作的需要选择不同的方式来实现,比如设置红外传感器监测LED元件的到位情况以及通过PLC系统实现。
本领域的普通技术人员将会意识到,这里所述的实施例是为了帮助读者理解本发明的原理,应被理解为本发明的保护范围并不局限于这样的特别陈述和实施例。本领域的普通技术人员可以根据本发明公开的这些技术启示做出各种不脱离本发明实质的其它各种具体变形和组合,这些变形和组合仍然在本发明的保护范围内。
Claims (3)
1.一种LED元件测试系统,其特征在于:包括用于安装各组件的机架(1),机架(1)上设有倾斜的底板(2),底板(2)上表面平行安装有第一挡板(3)和第二挡板(4),底板(2)、第一挡板(3)和第二挡板(4)围成倾斜的输送通道(5);第一阻挡件(6)和第二阻挡件(7)可伸缩的穿设于第二挡板(4),第一阻挡件(6)和第二阻挡件(7)在输送通道(5)中分隔出一段用于测试LED元件的测试通道(8);测试通道(8)内设有相对的第一导电电极(9)和第二导电电极(10),第一导电电极(9)固定安装在第二挡板(4)上;第二导电电极(10)活动设置,与第一导电电极(9)的间距可调;
所述底板(2)上设有长度方向与第二挡板(4)垂直的滑槽(14),螺栓穿过滑槽(14)将第二挡板(4)安装在底板(2)上。
2.根据权利要求1所述的LED元件测试系统,其特征在于:所述第一阻挡件(6)与第一伸缩气缸(11)相连,第二阻挡件(7)与第二伸缩气缸(12)相连。
3.根据权利要求1所述的LED元件测试系统,其特征在于:所述滑槽(14)的数量为二。
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