CN106205443A - 检测电路及其工作方法、驱动电路 - Google Patents

检测电路及其工作方法、驱动电路 Download PDF

Info

Publication number
CN106205443A
CN106205443A CN201610841935.1A CN201610841935A CN106205443A CN 106205443 A CN106205443 A CN 106205443A CN 201610841935 A CN201610841935 A CN 201610841935A CN 106205443 A CN106205443 A CN 106205443A
Authority
CN
China
Prior art keywords
wire
measured signal
driver
testing circuit
judging unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201610841935.1A
Other languages
English (en)
Inventor
柯宇锷
杨怀伟
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Hefei BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Hefei BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd, Hefei BOE Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN201610841935.1A priority Critical patent/CN106205443A/zh
Publication of CN106205443A publication Critical patent/CN106205443A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开了一种检测电路及其工作方法、驱动电路，检测电路包括测试线、激光单元以及判断单元，激光单元用于对绝缘层进行激光击穿，以使测试线与待测信号线连接；测试线用于输出待测信号线的待测信号；判断单元用于根据待测信号判断驱动器的驱动信号是否异常。本发明提供的测试线与信号线通过绝缘层进行隔离，需要测试驱动器的某一信号线的输出信号时，对绝缘层进行激光击穿，以使测试线与待测信号线连接，此时测试线可以输出待测信号线的待测信号。本发明提供的技术方案在不影响驱动器的正常工作的前提之下，对测试线输出的待测信号进行检测，就可以判断驱动器的输出信号是否异常，从而提高了不良解析效率，降低了不良解析成本。

Description

检测电路及其工作方法、驱动电路
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种检测电路及其工作方法、驱动电路。
背景技术
在液晶显示面板的不良解析过程之中，许多不良现象可能与显示面板的内部相关，也可能与驱动器的输出异常相关。遇到上述情况，现有技术需要重新安装驱动器来验证原有驱动器的信号输出是否异常。因此，现有的不良检测技术效率低、风险高以及成本高。
发明内容
为解决上述问题，本发明提供一种检测电路及其工作方法、驱动电路，至少部分解决现有的不良检测技术效率低、风险高以及成本高的问题。
为此，本发明提供一种检测电路，包括测试线、激光单元以及判断单元，所述测试线与所述判断单元连接，所述测试线与驱动器的信号线在衬底基板上的投影相交，所述测试线与所述信号线之间设置有绝缘层；
所述激光单元用于对所述绝缘层进行激光击穿，以使所述测试线与待测信号线连接；
所述测试线用于输出所述待测信号线的待测信号；
所述判断单元用于根据所述待测信号判断所述驱动器的驱动信号是否异常。
可选的，所述驱动器为源极驱动器，所述信号线为数据线，所述测试线的走线方向与栅线方向相同。
可选的，所述测试线设置在所述数据线的下方。
可选的，所述测试线设置在所述数据线的上方。
可选的，所述测试线与栅线同层设置。
可选的，所述驱动器为栅极驱动器，所述信号线为栅线，所述测试线的走线方向与数据线方向相同。
可选的，所述测试线设置在所述栅线的下方。
可选的，所述测试线设置在所述栅线的上方。
可选的，所述测试线与数据线同层设置。
可选的，所述测试线的一端设置有测试节点，所述判断单元通过所述测试节点与所述测试线连接。
本发明提供一种驱动电路，包括驱动器以及上述检测电路。
本发明提供一种检测电路的工作方法，所述检测电路包括测试线、激光单元以及判断单元，所述测试线与所述判断单元连接，所述测试线与驱动器的信号线在衬底基板上的投影相交，所述测试线与所述信号线之间设置有绝缘层；
所述检测电路的工作方法包括：
所述激光单元对所述绝缘层进行激光击穿，以使所述测试线与待测信号线连接；
所述测试线输出所述待测信号线的待测信号；
所述判断单元根据所述待测信号判断所述驱动器的驱动信号是否异常。
本发明具有下述有益效果：
本发明提供的检测电路及其工作方法、驱动电路之中，所述检测电路包括测试线、激光单元以及判断单元，所述测试线与所述判断单元连接，所述测试线与驱动器的信号线在衬底基板上的投影相交，所述测试线与所述信号线之间设置有绝缘层；所述激光单元用于对所述绝缘层进行激光击穿，以使所述测试线与待测信号线连接；所述测试线用于输出所述待测信号线的待测信号；所述判断单元用于根据所述待测信号判断所述驱动器的驱动信号是否异常。本发明提供的测试线与信号线通过绝缘层进行隔离，需要测试驱动器的某一信号线的输出信号时，对所述绝缘层进行激光击穿，以使所述测试线与待测信号线连接，此时所述测试线可以输出所述待测信号线的待测信号。本发明提供的技术方案在不影响驱动器的正常工作的前提之下，对测试线输出的待测信号进行检测，就可以判断驱动器的输出信号是否异常，从而提高了不良解析效率，降低了不良解析成本。
附图说明
图1为本发明实施例一提供的一种检测电路的结构示意图；
图2为图1所示检测电路的截面图；
图3为本发明实施例二提供的一种检测电路的结构示意图；
图4为图3所示检测电路的截面图；
图5为本发明实施例四提供的一种检测电路的工作方法的流程图。
具体实施方式
为使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明提供的检测电路及其工作方法、驱动电路进行详细描述。
实施例一
图1为本发明实施例一提供的一种检测电路的结构示意图，图2为图1所示检测电路的截面图。如图1和图2所示，所述检测电路包括测试线101、激光单元以及判断单元，所述测试线101与所述判断单元连接，所述测试线101与驱动器的信号线在衬底基板上的投影相交，所述测试线101与所述信号线之间设置有绝缘层104。本实施例中，所述驱动器为源极驱动器103，所述信号线为数据线102，所述测试线101的走线方向与栅线方向相同。
本实施例中，所述激光单元用于对所述绝缘层104进行激光击穿，以使所述测试线101与数据线102连接，所述测试线101用于输出所述数据线102的待测信号，所述判断单元用于根据所述待测信号判断所述源极驱动器103的驱动信号是否异常。本实施例提供的测试线101与数据线102通过绝缘层104进行隔离，需要测试源极驱动器103的某一数据线102的输出信号时，对所述绝缘层104进行激光击穿，以使所述测试线101与待测数据线102连接，此时所述测试线101可以输出所述待测数据线102的待测信号。本实施例提供的技术方案在不影响源极驱动器103的正常工作的前提之下，对测试线101输出的待测信号进行检测，就可以判断源极驱动器103的输出信号是否异常，从而提高了不良解析效率，降低了不良解析成本。
参见图2，所述测试线101设置在所述数据线102的下方，所述测试线101与栅线同层设置。可选的，所述测试线101设置在所述数据线102的上方。本实施例中，所述测试线101的一端设置有测试节点201，所述判断单元通过所述测试节点201与所述测试线101连接。因此，本实施例在源极驱动器103的数据线102的下方设置测试线101，所述测试线101方向与栅线一致，所述测试线101与栅线处于同一膜层，所述测试线101的长度可以调节，所述测试线101的一端设置有若干测试节点201。测试线101与数据线102由绝缘层104隔离，从而避免影响源极驱动器103的正常工作。在需要测试源极驱动器103的某一管脚的输出信号时，可以通过激光使测试线101与被测试的数据线102短接，通过测试节点201来测试源极驱动器103的数据线102的输出信号，从而判断源极驱动器103的输出有无异常，从而提高了不良解析效率，降低了不良解析成本，提高了不良解析可靠性。
本实施例提供的检测电路包括测试线、激光单元以及判断单元，所述测试线与所述判断单元连接，所述测试线与驱动器的信号线在衬底基板上的投影相交，所述测试线与所述信号线之间设置有绝缘层；所述激光单元用于对所述绝缘层进行激光击穿，以使所述测试线与待测信号线连接；所述测试线用于输出所述待测信号线的待测信号；所述判断单元用于根据所述待测信号判断所述驱动器的驱动信号是否异常。本实施例提供的测试线与信号线通过绝缘层进行隔离，需要测试驱动器的某一信号线的输出信号时，对所述绝缘层进行激光击穿，以使所述测试线与待测信号线连接，此时所述测试线可以输出所述待测信号线的待测信号。本实施例提供的技术方案在不影响驱动器的正常工作的前提之下，对测试线输出的待测信号进行检测，就可以判断驱动器的输出信号是否异常，从而提高了不良解析效率，降低了不良解析成本。
实施例二
图3为本发明实施例二提供的一种检测电路的结构示意图，图4为图3所示检测电路的截面图。如图3和图4所示，所述检测电路包括测试线101、激光单元以及判断单元，所述测试线101与所述判断单元连接，所述测试线101与驱动器的信号线在衬底基板上的投影相交，所述测试线101与所述信号线之间设置有绝缘层104。本实施例中，所述驱动器为栅极驱动器105，所述信号线为栅线106，所述测试线101的走线方向与数据线方向相同。
本实施例中，所述激光单元用于对所述绝缘层 104进行激光击穿，以使所述测试线101与栅线106连接，所述测试线101用于输出所述栅线106的待测信号，所述判断单元用于根据所述待测信号判断所述栅极驱动器105的驱动信号是否异常。本实施例提供的测试线101与栅线106通过绝缘层104进行隔离，需要测试栅极驱动器105的某一栅线106的输出信号时，对所述绝缘层104进行激光击穿，以使所述测试线101与待测栅线106连接，此时所述测试线101可以输出所述待测栅线106的待测信号。本实施例提供的技术方案在不影响栅极驱动器105的正常工作的前提之下，对测试线101输出的待测信号进行检测，就可以判断栅极驱动器105的输出信号是否异常，从而提高了不良解析效率，降低了不良解析成本。
参见图4，所述测试线101设置在所述栅线106的下方，所述测试线101与数据线同层设置。可选的，所述测试线101设置在所述栅线106的上方。本实施例中，所述测试线101的一端设置有测试节点201，所述判断单元通过所述测试节点201与所述测试线101连接。因此，本实施例在栅极驱动器105的栅线106的下方设置测试线101，所述测试线101方向与数据线一致，所述测试线101与数据线处于同一膜层，所述测试线101的长度可以调节，所述测试线101的一端设置有若干测试节点201。测试线101与栅线106由绝缘层104隔离，从而避免影响栅极驱动器105的正常工作。在需要测试栅极驱动器105的某一管脚的输出信号时，可以通过激光使测试线101与被测试的栅线106短接，通过测试节点201来测试栅极驱动器105的栅线106的输出信号，从而判断栅极驱动器105的输出有无异常，从而提高了不良解析效率，降低了不良解析成本，提高了不良解析可靠性。
本实施例提供的检测电路包括测试线、激光单元以及判断单元，所述测试线与所述判断单元连接，所述测试线与驱动器的信号线在衬底基板上的投影相交，所述测试线与所述信号线之间设置有绝缘层；所述激光单元用于对所述绝缘层进行激光击穿，以使所述测试线与待测信号线连接；所述测试线用于输出所述待测信号线的待测信号；所述判断单元用于根据所述待测信号判断所述驱动器的驱动信号是否异常。本实施例提供的测试线与信号线通过绝缘层进行隔离，需要测试驱动器的某一信号线的输出信号时，对所述绝缘层进行激光击穿，以使所述测试线与待测信号线连接，此时所述测试线可以输出所述待测信号线的待测信号。本实施例提供的技术方案在不影响驱动器的正常工作的前提之下，对测试线输出的待测信号进行检测，就可以判断驱动器的输出信号是否异常，从而提高了不良解析效率，降低了不良解析成本。
实施例三
本实施例提供一种驱动电路，包括驱动器以及实施例一或实施例二提供的检测电路，具体内容可参照上述实施例一或实施例二中的描述，此处不再赘述。
本实施例提供的驱动电路之中，所述检测电路包括测试线、激光单元以及判断单元，所述测试线与所述判断单元连接，所述测试线与驱动器的信号线在衬底基板上的投影相交，所述测试线与所述信号线之间设置有绝缘层；所述激光单元用于对所述绝缘层进行激光击穿，以使所述测试线与待测信号线连接；所述测试线用于输出所述待测信号线的待测信号；所述判断单元用于根据所述待测信号判断所述驱动器的驱动信号是否异常。本实施例提供的测试线与信号线通过绝缘层进行隔离，需要测试驱动器的某一信号线的输出信号时，对所述绝缘层进行激光击穿，以使所述测试线与待测信号线连接，此时所述测试线可以输出所述待测信号线的待测信号。本实施例提供的技术方案在不影响驱动器的正常工作的前提之下，对测试线输出的待测信号进行检测，就可以判断驱动器的输出信号是否异常，从而提高了不良解析效率，降低了不良解析成本。
实施例四
图5为本发明实施例四提供的一种检测电路的工作方法的流程图。如图5所示，所述检测电路包括测试线、激光单元以及判断单元，所述测试线与所述判断单元连接，所述测试线与驱动器的信号线在衬底基板上的投影相交，所述测试线与所述信号线之间设置有绝缘层。所述检测电路的工作方法包括：
步骤1001、所述激光单元对所述绝缘层进行激光击穿，以使所述测试线与待测信号线连接。
步骤1002、所述测试线输出所述待测信号线的待测信号。
步骤1003、所述判断单元根据所述待测信号判断所述驱动器的驱动信号是否异常。
参见图1和图2，所述驱动器为源极驱动器103，所述信号线为数据线102，所述测试线101的走线方向与栅线方向相同。本实施例在源极驱动器103的数据线102的下方设置测试线101，所述测试线101方向与栅线一致，所述测试线101与栅线处于同一膜层，所述测试线101的长度可以调节，所述测试线101的一端设置有若干测试节点201。测试线101与数据线102由绝缘层104隔离，从而避免影响源极驱动器103的正常工作。在需要测试源极驱动器103的某一管脚的输出信号时，可以通过激光使测试线101与被测试的数据线102短接，通过测试节点201来测试源极驱动器103的数据线102的输出信号，从而判断源极驱动器103的输出有无异常，从而提高了不良解析效率，降低了不良解析成本，提高了不良解析可靠性。
参见图3和图4，所述驱动器为栅极驱动器105，所述信号线为栅线106，所述测试线101的走线方向与数据线方向相同。本实施例在栅极驱动器105的栅线106的下方设置测试线101，所述测试线101方向与数据线一致，所述测试线101与数据线处于同一膜层，所述测试线101的长度可以调节，所述测试线101的一端设置有若干测试节点201。测试线101与栅线106由绝缘层104隔离，从而避免影响栅极驱动器105的正常工作。在需要测试栅极驱动器105的某一管脚的输出信号时，可以通过激光使测试线101与被测试的栅线106短接，通过测试节点201来测试栅极驱动器105的栅线106的输出信号，从而判断栅极驱动器105的输出有无异常，从而提高了不良解析效率，降低了不良解析成本，提高了不良解析可靠性。
本实施例提供的检测电路的工作方法之中，所述检测电路包括测试线、激光单元以及判断单元，所述测试线与所述判断单元连接，所述测试线与驱动器的信号线在衬底基板上的投影相交，所述测试线与所述信号线之间设置有绝缘层；所述激光单元用于对所述绝缘层进行激光击穿，以使所述测试线与待测信号线连接；所述测试线用于输出所述待测信号线的待测信号；所述判断单元用于根据所述待测信号判断所述驱动器的驱动信号是否异常。本实施例提供的测试线与信号线通过绝缘层进行隔离，需要测试驱动器的某一信号线的输出信号时，对所述绝缘层进行激光击穿，以使所述测试线与待测信号线连接，此时所述测试线可以输出所述待测信号线的待测信号。本实施例提供的技术方案在不影响驱动器的正常工作的前提之下，对测试线输出的待测信号进行检测，就可以判断驱动器的输出信号是否异常，从而提高了不良解析效率，降低了不良解析成本。
可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (12)

1.一种检测电路，其特征在于，包括测试线、激光单元以及判断单元，所述测试线与所述判断单元连接，所述测试线与驱动器的信号线在衬底基板上的投影相交，所述测试线与所述信号线之间设置有绝缘层；
所述激光单元用于对所述绝缘层进行激光击穿，以使所述测试线与待测信号线连接；
所述测试线用于输出所述待测信号线的待测信号；
所述判断单元用于根据所述待测信号判断所述驱动器的驱动信号是否异常。
2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述驱动器为源极驱动器，所述信号线为数据线，所述测试线的走线方向与栅线方向相同。
3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述测试线设置在所述数据线的下方。
4.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述测试线设置在所述数据线的上方。
5.根据权利要求3或4所述的检测电路，其特征在于，所述测试线与栅线同层设置。
6.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述驱动器为栅极驱动器，所述信号线为栅线，所述测试线的走线方向与数据线方向相同。
7.根据权利要求6所述的检测电路，其特征在于，所述测试线设置在所述栅线的下方。
8.根据权利要求6所述的检测电路，其特征在于，所述测试线设置在所述栅线的上方。
9.根据权利要求7或8所述的检测电路，其特征在于，所述测试线与数据线同层设置。
10.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述测试线的一端设置有测试节点，所述判断单元通过所述测试节点与所述测试线连接。
11.一种驱动电路，其特征在于，包括驱动器以及权利要求1-10任一所述的检测电路。
12.一种检测电路的工作方法，其特征在于，所述检测电路包括测试线、激光单元以及判断单元，所述测试线与所述判断单元连接，所述测试线与驱动器的信号线在衬底基板上的投影相交，所述测试线与所述信号线之间设置有绝缘层；
所述检测电路的工作方法包括：
所述激光单元对所述绝缘层进行激光击穿，以使所述测试线与待测信号线连接；
所述测试线输出所述待测信号线的待测信号；
所述判断单元根据所述待测信号判断所述驱动器的驱动信号是否异常。
CN201610841935.1A 2016-09-22 2016-09-22 检测电路及其工作方法、驱动电路 Pending CN106205443A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610841935.1A CN106205443A (zh) 2016-09-22 2016-09-22 检测电路及其工作方法、驱动电路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610841935.1A CN106205443A (zh) 2016-09-22 2016-09-22 检测电路及其工作方法、驱动电路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN106205443A true CN106205443A (zh) 2016-12-07

Family

ID=58067970

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610841935.1A Pending CN106205443A (zh) 2016-09-22 2016-09-22 检测电路及其工作方法、驱动电路

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106205443A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106526923A (zh) * 2017-01-12 2017-03-22 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板、其测试方法及显示装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101556382A (zh) * 2008-04-10 2009-10-14 北京京东方光电科技有限公司 Tft-lcd阵列基板及其制造方法和测试方法
CN202917490U (zh) * 2012-11-29 2013-05-01 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板和显示装置
US20140002090A1 (en) * 2012-07-02 2014-01-02 E Ink Holdings Inc. Test structure of display panel and testing method thereof and test structure of tested display panel
CN104637834A (zh) * 2015-03-03 2015-05-20 京东方科技集团股份有限公司 数据线合格性测试方法和装置、阵列基板及其制作方法
CN104932164A (zh) * 2015-07-16 2015-09-23 合肥鑫晟光电科技有限公司 阵列基板及其制作方法、测试方法、显示面板、显示装置
CN206058866U (zh) * 2016-09-22 2017-03-29 合肥京东方光电科技有限公司 检测电路和驱动电路

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101556382A (zh) * 2008-04-10 2009-10-14 北京京东方光电科技有限公司 Tft-lcd阵列基板及其制造方法和测试方法
US20140002090A1 (en) * 2012-07-02 2014-01-02 E Ink Holdings Inc. Test structure of display panel and testing method thereof and test structure of tested display panel
CN202917490U (zh) * 2012-11-29 2013-05-01 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板和显示装置
CN104637834A (zh) * 2015-03-03 2015-05-20 京东方科技集团股份有限公司 数据线合格性测试方法和装置、阵列基板及其制作方法
CN104932164A (zh) * 2015-07-16 2015-09-23 合肥鑫晟光电科技有限公司 阵列基板及其制作方法、测试方法、显示面板、显示装置
CN206058866U (zh) * 2016-09-22 2017-03-29 合肥京东方光电科技有限公司 检测电路和驱动电路

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106526923A (zh) * 2017-01-12 2017-03-22 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板、其测试方法及显示装置
CN106526923B (zh) * 2017-01-12 2019-04-23 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板、其测试方法及显示装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104965321B (zh) 显示面板检测系统及检测方法
CN103529354B (zh) 一种电路测试方法及电路测试系统
CN110838273B (zh) 一种显示面板的裂纹检测方法
KR101612091B1 (ko) 정전 척의 검사방법 및 정전 척 장치
US20150170979A1 (en) Apparatuses and methods for die seal crack detection
CN104809970B (zh) 用于检测显示面板的方法
WO2014108048A1 (zh) 触摸屏模组的测试装置和方法以及触摸屏模组
CN103137049A (zh) 显示装置的显示面板和检测显示装置的信号线的缺陷的方法
CN106054474A (zh) 液晶显示面板及液晶显示面板线路监测方法
CN103676243B (zh) 一种阵列基板组件及其测量方法和显示装置
CN206058866U (zh) 检测电路和驱动电路
CN1996032A (zh) 布线不良检查方法以及布线不良检查装置
CN106128342A (zh) 阵列基板、显示装置及阵列基板的检测方法
CN106205443A (zh) 检测电路及其工作方法、驱动电路
CN109001610B (zh) Esd通路探测方法及系统
WO2015096238A1 (zh) 一种液晶显示阵列基板、源极驱动电路及断线修复方法
KR102317069B1 (ko) 표시 장치의 어레이 시험 장치 및 시험 방법
ITVI20150022U1 (it) Scheda di conversione da utilizzare con probe card
CN106803411A (zh) 显示装置、检测单元以及检测方法
CN108122796A (zh) 键合损伤的检测系统
CN101750563B (zh) 半导体器件中通孔或接触孔短路检测结构
CN205680445U (zh) 一种静态随机存取存储器老炼测试板及装置
KR101482683B1 (ko) 단선 및 단락 테스트 구조를 갖는 3차원 집적 회로 및 이의 테스트 방법
CN207012993U (zh) 一种用于粒子分析的微流控芯片
CN204964660U (zh) 一种电路板并行在线测试平台

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20161207

RJ01 Rejection of invention patent application after publication