CN106091892A - 一种测量高精度内圆密封槽深度的装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，属于槽深测量技术领域。一种测量高精度内圆密封槽深度的装置包括基准块和测量轴，基准块沿待测零件内圆的径向设置在待测零件内圆的内壁上，基准块上沿待测零件内圆径向开设有一轴孔，轴孔中配套插设有测量轴，测量轴的一端伸入轴孔中，测量轴的另一端突出于基准块并伸入密封槽内；本发明通过基准块上的圆弧定位面确定基准面的位置，此时槽深的误差通过测量轴与基准面之间的高低差来反应，并通过杠杆表测量该数值，得到槽深的偏差值，测量精度高；装置仅通过两个简单部件便能精准确定槽深，且安装和拆卸过程快速，部件制作方便，使测量更加及时、成本更低、效率更高，满足工厂流水线生产的需求。

Description

一种测量高精度内圆密封槽深度的装置

技术领域

本发明涉及槽深测量技术领域，具体是涉及一种测量高精度内圆密封槽深度的装置。

背景技术

随着人们生活水平的提高，对使用到的工具的要求也变得更加严格。绝大多数的装置都存在密封的空间，且密封空间上均设置有密封槽。对于一些精度要求较高的密封槽而言，能有效的测量出槽深确保装置密封性的重要前提。

目前，测量槽深的方法有以下两种，其一，通过常规量具进行测量，如千分尺、卡钳等；其二，将零件送三坐标测量，测量结果较准确。但由于常规量具存在测量过程不方便，且常规量具的测量精度误差大，受测量范围的限制比较大，并且会因为量具的形状无法伸入槽中或测量的基准把握不准而直接影响槽深的测量。其次，由于量具的价格高，在工厂经费有限的情况下，常规量具的采购数量有限，难以满足零件工厂式生产的检测需求。对于三坐标测量而言，虽说检测精度高，但由于三坐标测量需要送专门的检测地，检测存在不及时的缺点，并且检测过程较复杂，成本较高，也难以满足零件工厂式的生产。

综上所述，目前对槽深的测量存在检测装置成本高，测量误差大，检测不及时，难以满足零件工厂式生产的检测需求的问题。

发明内容

针对现有技术中存在的上述问题，现旨在提供一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，以基准块和测量轴配合，将基准块以零件的内壁为标准设置，并在基准块上设置与测量轴配合的轴孔，通过测量轴插入待测量的密封槽中并通过测量轴与基准块之间的高低差，确定槽深，操作简单，只通过两个部件即可快速测量出槽深，并且测量精度高，效率快，可以实现对工厂中零件流水线生产的检测。

具体技术方案如下：

一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，具有这样的特征，包括：基准块和测量轴，基准块沿待测零件内圆的径向设置在待测零件内圆的内壁上，基准块上沿待测零件内圆径向开设有一轴孔，轴孔中配套插设有测量轴，测量轴的一端伸入轴孔中，测量轴的另一端突出于基准块并伸入密封槽内。

上述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其中，基准块上设置有圆弧定位面，且圆弧定位面与待测零件内圆的内壁贴合。

上述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其中，测量轴分为大端和小端，且大端的长度长于小端长度。

上述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其中，大端侧壁为轴外壁，轴孔的内壁为孔壁，且轴外壁与孔壁贴合。

上述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其中，测量轴的长度等于基准块的厚度加上密封槽的槽深。

上述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其中，测量轴小端设置测量面，且测量面呈球面设置。

上述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其中，基准块的上部设置大平面，基准块的下部设置小平面，且小平面与待测零件内圆的内壁之间设置有一定间隙。

上述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其中，小平面与圆弧定位面之间设置有防触面，防触面的一端连接在小平面上，防触面的另一端连接在圆弧定位面上。

上述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其中，基准块的厚度为大平面与小平面之间的距离。

上述技术方案的积极效果是：1、通过设置基准块和测量轴两个部件即可完成对密封槽深度的测量，且随时可对槽深进行测量，避免测量不及时的问题；2、通过测量基准块与测量轴之间的高低差即可确定密封槽深度，测量过程简单，操作方便，能有效提高测量精度；3、基准块的圆弧定位面与待测零件内圆的内壁贴合，且测量轴的长度根据基准块厚度和槽深理论值之和设置，可使装置不受测量范围的限制；4、测量装置制作过程简单，节省了购买大量常规量具的费用，成本更加低；5、装置安装、拆卸方便且快速，能提高密封槽深度测量的效率，满足零件工厂式加工的测量需求。

上述的测量高精度内圆密封槽深度的装置，包括基准块和测量轴，并将基准块设置在待测零件内圆的内壁上，同时，基准块沿待测零件内圆径向开设有一轴孔，轴孔中配套插设有测量轴，测量轴的测量面插设在密封槽内，结构设计合理，布局紧凑。在基准块上设置圆弧定位面和大平面，并将大平面设置成基准面，且让圆弧定位面与待测零件内圆的内壁贴合，确保装置不受测量范围的限制；并在基准块上开设与测量轴轴外壁贴合的轴孔，测量轴可在轴孔内沿待测零件内圆径向运动，通过测量轴与基准面之间的高低差，确定密封槽槽深，测量精度高，使用方便；装置仅采用两个简单部件即可完成对密封槽深度的测量，且两部件之间的安装配合过程简单，安装和拆卸过程快速，部件制作方便，使对密封槽槽深的测量更加及时、成本更低、效率更高，满足工厂流水线生产的需求。

附图说明

图1为本发明的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置的实施例的结构图；

图2为本发明一较佳实施例的基准块的结构图；

图3为图2中沿A-A剖线的剖视图；

图4为本发明一较佳实施例的测量轴的结构图。

附图中： 1、基准块；2、测量轴； 3、内壁；11、圆弧定位面；12、防触面；13、小平面；14、大平面；15、轴孔；151、孔壁；21、大端；22、小端；211、轴外壁；212、大端面；221、测量面。

具体实施方式

为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，以下实施例结合附图1至附图4对本发明提供的技术方案作具体阐述，但以下内容不作为本发明的限定。

图1为本发明的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置的实施例的结构图；图2为本发明一较佳实施例的基准块的结构图；图3为图2中沿A-A剖线的剖视图。如图1、图2和图3所示，本实施例提供的测量高精度内圆密封槽深度的装置包括：基准块1、测量轴2、大平面14、圆弧定位面11、防触面12、小平面13、以及轴孔15和孔壁151。

图4为本发明一较佳实施例的测量轴的结构图。如图1和图4所示，本实施例提供的测量高精度内圆密封槽深度的装置还包括：大端21、小端22、大端21面、测量面221、轴外套。

具体的，在待测零件内圆（未标出）的内壁 3上设置基准块1，基准块1径向设置在待测零件内圆（未标出）上，且基准块1侧面形状呈多边形设置，基准块1上部设置大平面14，基准块1下部设置小平面13，基准块1上的大平面14和小平面13平行设置，并设置大平面14为基准面，且大平面14与小平面13之间的距离为基准块1的厚度；沿待测零件内圆（未标出）的轴向方向上，基准块1上的两个面均为平面，且这两个面平行设置；除去这两个面以及大平面14和小平面13之外的侧面均贴近或抵靠在待测零件内圆（未标出）的内壁 3上。

在基准块1大平面14的中间区域，沿待测零件内圆（未标出）的径向开设有一通孔，设置为轴孔15，基准块1上除去大平面14和小平面13以外的侧面均关于轴孔15对称设置；以基准块1上的轴孔15轴线为分割线将基准块1分为对称的两部分，其中一部分基准块1上的侧面沿从大平面14到小平面13的方向上依次为圆弧定位面11和防触面12，所述圆弧定位面11的轮廓线为圆弧，圆弧定位面11的圆弧面与待测零件内圆（未标出）的内壁 3贴合，保证测量的精度；防触面12一端连接在圆弧定位面11上，另一端连接在小平面13上，防触面12呈平面设置，与小平面13之间成一定的夹角，该夹角为钝角，夹角角度根据待测零件内圆（未标出）的尺寸决定，这样设置既保证了基准块1上除了圆弧定位面11与待测零件内圆（未标出）的内壁 3贴合之外，其它面均不接触待测零件内圆（未标出）的内壁 3，提高了测量的精度，也简化了基准块1的加工过程，使基准块1的制作更加容易。

作为优选的实施方式，小平面13与待测零件内圆（未标出）的内壁 3之间设置有一定的间隙，这样设置能防止基准块1上除了圆弧定位面11的其它面接触到待测零件内圆（未标出）的内壁 3，进一步提高对密封槽（未标出）槽深的测量精度。

作为优选的实施方式，圆弧定位面11的面积要小于防触面12的面积，避免圆弧定位面11与待测零件内圆（未标出）的内壁 3过多接触，减小因待测零件内圆（未标出）的尺寸加工不精准带来的测量误差。

具体的，在基准块1的轴孔15中设置有测量轴2，测量轴2的长度设置为基准块1的厚度和密封槽（未标出）槽深的理论值之和，测量轴2分为大端21和小端22，其中大端21长度长于小端22长度；测量轴2的大端21的横截面大于小端22的横截面，且大端21的轴外壁211与基准块1上的轴孔15的孔壁151贴合；测量轴2可在轴孔15中沿待测零件内圆（未标出）的径向滑动，且测量轴2的小端22伸入待测零件的密封槽（未标出）内；测量轴2的大端21上远离小端22的一端设置大端21面，且大端21面为平面；测量轴2的小端22上远离连接在大端21上的一端设置测量面221，且测量面221抵靠在待测零件的密封槽（未标出）内。

作为优选的实施方式，测量轴2上小端22的横截面尺寸要小于待测零件上密封槽（未标出）的槽宽，保证测量轴2小端22能伸入到密封槽（未标出）的底部，准确测量出密封槽（未标出）槽深。

作为优选的实施方式，小端22上的测量面221呈球面设置，使测量轴2与密封槽（未标出）之间形成点接触，提高了槽深测量的精度。

更加具体的，将基准块1径向设置在待测零件内圆（未标出）的内壁 3上，并在基准块1的大平面14的中部沿待测零件内圆（未标出）的径向开设一轴孔15，并在轴孔15中配合设置一测量轴2，且测量轴2的大端21的轴外壁211与轴孔15的孔壁151贴合，测量轴2的小端22伸入密封槽（未标出）内，且测量面221抵靠在密封槽（未标出）槽底上；由于密封槽（未标出）的加工存在偏差，导致实际密封槽（未标出）的加工深度与密封槽（未标出）的理论槽深存在差异，因此测量轴2的大端21面与基准块1的基准面之间会形成高低差，再通过杠杆表（未标出）测量出高低差的数值，此数值便是加工的密封槽（未标出）槽深与密封槽（未标出）理论槽深的偏差值，将这个偏差值与产品允许的公差进行对比，确定加工的密封槽（未标出）是否符合要求。

作为进一步优选的实施方式，同一密封槽（未标出）的测量过程可取不同位置的多段密封槽（未标出）来测量槽深，通过多次测量确保测量的准确性。

本实施例提供的测量高精度内圆密封槽深度的装置，包括基准块1和测量轴2，并将基准块1径向设置在待测零件内圆（未标出）的内壁 3上，同时，基准块1大平面14的中部沿待测零件内圆（未标出）的径向开设一轴孔15，轴孔15中配合设置一测量轴2，测量轴2的小端22插设在密封槽（未标出）内，结构设计合理，布局紧凑。在基准块1上设置圆弧定位面11和大平面14，并将大平面14设置成基准面，且让圆弧定位面11与待测零件内圆（未标出）的内壁 3贴合，确保装置不受测量范围的限制；由于测量轴2可在轴孔15内沿待测零件内圆（未标出）径向运动，因此槽深的误差可通过测量轴2的大端21面与基准块1的基准面之间的高低差来反应，通过杠杆表（未标出）测量出高低差的数值，便可得到槽深的偏差值，再与零件允许的公差值进行比较，确定产品是否合格，测量过程方便，测量精度高；装置仅采用两个简单部件即可完成对密封槽（未标出）深度的测量，且两部件之间的安装配合过程简单，安装和拆卸过程快速，部件制作方便，使对密封槽（未标出）槽深的测量更加及时、成本更低、效率更高，满足工厂流水线生产的需求。

以上仅为本发明较佳的实施例，并非因此限制本发明的实施方式及保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本发明说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含在本发明的保护范围内。

Claims (9)

1.一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其特征在于，包括：基准块和测量轴，所述基准块沿待测零件内圆的径向设置在所述待测零件内圆的内壁上，所述基准块上沿所述待测零件内圆径向开设有一轴孔，所述轴孔中配套插设有所述测量轴，所述测量轴的一端伸入所述轴孔中，所述测量轴的另一端突出于所述基准块并伸入密封槽内。

2.根据权利要求1所述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其特征在于，所述基准块上设置有圆弧定位面，且所述圆弧定位面与所述待测零件内圆的所述内壁贴合。

3.根据权利要求1所述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其特征在于，所述测量轴分为大端和小端，且所述大端的长度长于所述小端的长度。

4.根据权利要求3所述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其特征在于，所述大端侧壁为轴外壁，所述轴孔的内壁为孔壁，且所述轴外壁与所述孔壁贴合。

5.根据权利要求1所述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其特征在于，所述测量轴的长度等于所述基准块的厚度加上所述密封槽的槽深。

6.根据权利要求3所述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其特征在于，所述测量轴的所述小端设置测量面，且所述测量面呈球面设置。

7.根据权利要求1所述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其特征在于，所述基准块的上部设置大平面，所述基准块的下部设置小平面，且所述小平面与所述待测零件内圆的所述内壁之间设置有一定间隙。

8.根据权利要求2或7所述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其特征在于，所述小平面与所述圆弧定位面之间设置有防触面，所述防触面的一端连接在所述小平面上，所述防触面的另一端连接在所述圆弧定位面上。

9.根据权利要求7所述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其特征在于，所述基准块的厚度为所述大平面与所述小平面之间的距离。