CN106033109A - 一种台阶电路板的测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种台阶电路板的测试方法，以解决现有技术中对台阶电路板的槽内线路需要全手工测试，耗时长且测试结果不可靠的问题。本发明一些实施方式中，方法可包括：生成测试图形，其中，在第一线路图形中补充槽内线路图形，并添加第一线路与槽内线路的连接关系；创建测试点，测试点包括：位于第一面的第一类测试点，位于第二面的第二类测试点，以及，位于台阶槽内的第三类测试点，其中，第二类测试点中还包括有与第三类测试点连接的连接测试点；由飞针测试设备分段测试，其中，在第一段测试中测试第一类测试点和第二类测试点，在第二段测试中测试位于第一面的台阶槽内的第三类测试点和位于第二面的连接测试点。

Description

一种台阶电路板的测试方法

技术领域

本发明涉及电路板技术领域，具体涉及一种台阶电路板的测试方法。

背景技术

目前，PCB(Printed Circuit Board，印制电路板，简称电路板)行业正在高速发展，产品的结构也越来越多样化。其中台阶电路板的数量是日趋增多。台阶电路板是指表面具有台阶槽的电路板。台阶槽一般是利用控深铣设备在电路板表面进行控深铣加工而成的，通常是具有一定深度的凹槽。其中一部分台阶电路板的台阶槽内还具有槽内线路。

一般的，电路板加工完毕后，需要对电路板上的线路进行电性能测试，以确保电路板线路及质量满足客户要求。常用的测试方法有两种：

一种是利用通用测试设备配合通用测试夹具，通用测试夹具一般包括两个测试面板，每个测试面板上具有很多个密集的测试针，各个测试针都连接通用测试设备。将两个测试面板上的测试针分别作用到电路板的两面，使得各个测试针接触到电路板表面线路的各个部位，根据设计图形给不同的测试针施加信号并接收其它测试针的反馈信号，来测试电路板表面线路的连通情况。

另一种是利用飞针测试设备来测试。飞针测试设备具有至少两个飞针刀片，一般可以是四个或八个或更多个，飞针刀片可被控制在一定范围内移动。控制不同的飞针刀片作用于电路板表面线路的不同部位，根据设计图形给不同的测试针施加信号并接收其它测试针的反馈信号，来测试电路板表面线路的连通情况。

上述两种测试方法，可以对电路板的表面线路进行测试。但是，对于台阶电路板，由于槽内线路与表面线路位于不同的层次，上述两种测试方法受限于图形资料识别能力和测试设备能力，无法实现对槽内线路的测试。

目前，对于台阶电路板，只能采用全手工方式，将槽内线路的焊盘等测试点标记出来，依次对槽内线路的每一个测试点进行手工测试。这种全手工测试方式，耗时很长(一般要数个小时)，且容易遗漏测试点，测试结果不可靠。

发明内容

本发明实施例提供一种台阶电路板的测试方法，以解决现有技术中对台阶电路板的槽内线路需要全手工测试，耗时长且测试结果不可靠的问题。

本发明第一方面提供一种台阶电路板的测试方法，所述台阶电路板具有第一面以及与所述第一面相对的第二面，所述台阶电路板还具有形成在所述第一面的台阶槽，所述第一面具有第一线路，所述第二面具有第二线路，所述台阶槽内具有槽内线路；所述方法包括：

获取分别对应于所述第一线路和所述第二线路以及所述槽内线路的第一线路图形和第二线路图形以及槽内线路图形；

生成测试图形，其中，在所述第一线路图形中补充所述槽内线路图形，并添加所述第一线路与所述槽内线路的连接关系，得到第一测试图形，以及，将所述第二线路图形作为第二测试图形；

分别在所述第一和第二测试图形中创建测试点，所述测试点包括：位于所述第一面的第一类测试点，位于所述第二面的第二类测试点，以及，位于所述台阶槽内的第三类测试点，其中，所述第二类测试点中还包括有连接测试点，所述连接测试点与所述第三类测试点连接；

由飞针测试设备根据所述第一和第二测试图形进行分段测试，其中，在第一段测试中测试位于所述第一面的所述第一类测试点和位于所述第二面的所述第二类测试点，在第二段测试中测试位于所述第一面的台阶槽内的所述第三类测试点和位于所述第二面的所述连接测试点。

本发明第二方面提供另一种台阶电路板的测试方法，所述台阶电路板具有第一面以及与所述第一面相对的第二面，所述台阶电路板还具有形成在所述第一面的台阶槽，所述第一面具有第一线路，所述第二面具有第二线路，所述台阶槽内具有槽内线路；所述方法包括：

获取分别对应于所述第一线路和所述第二线路以及所述槽内线路的第一线路图形和第二线路图形以及槽内线路图形；

生成测试图形，其中，在所述第一线路图形中补充所述槽内线路图形，并添加所述第一线路与所述槽内线路的连接关系，得到第一测试图形，以及，将所述第二线路图形作为所述第二测试图形；

在所述测试图形中创建测试点，所述测试点包括：位于所述第一面的第一类测试点，位于所述第二面的第二类测试点，以及，位于所述台阶槽内的第三类测试点；

提供通用测试夹具，所述通用测试夹具包括用于测试所述第一面的第一组测试针，和用于测试所述第二面的第二组测试针，所述第一组测试针包括用于测试所述第一类测试点的第一类测试针，和用于测试所述第三类测试点的第三类测试针，其中，所述第三类测试针的长度d3＝d1+d0，d1是所述第一类测试针的长度，d0是所述台阶槽的深度；

将所述第一组测试针和所述第二组测试针分别作用于所述台阶电路板的第一面和第二面，且所述第一组测试针和所述第二组测试针与通用测试设备连接，由所述通用测试设备根据所述测试图形对所述台阶电路板进行测试。

由上可见，本发明一些实施方式中，采用预先将台阶电路板的槽内图形补充到表面的第一线路图形中并添加连接关系，生成第一测试图形，将台阶电路板另一表面的第二线路图形作为第二测试图形，后续由飞针测试设备根据第一和第二测试图形进行分段测试，将第一线路图形上的第一类测试点和槽内图形上的第三类测试点分别在不同段测试的技术方案，取得了以下技术效果：对于台阶电路板的槽内线路，以自动测试取代了全手工测试，有效的提高了测试效率，可以避免遗漏测试点等问题，测试可靠性较高，解决了现有技术中需要全手工测试，耗时长且测试结果不可靠的问题。

由上可见，本发明另一些实施方式中，采用预先将台阶电路板的槽内图形补充到表面的第一线路图形中并添加连接关系，生成第一测试图形，将台阶电路板另一表面的第二线路图形作为第二测试图形，提供相应的通用测试夹具，对于槽内线路采用较长的测试针，然后由通用测试设备配合通用测试夹具对台阶电路板两面的第一和第二线路及槽内线路一次测试完成的技术方案，取得了以下技术效果：对于台阶电路板的槽内线路，以自动测试取代了全手工测试，有效的提高了测试效率，可以避免遗漏测试点等问题，测试可靠性较高，解决了现有技术中需要全手工测试，耗时长且测试结果不可靠的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例技术方案，下面将对实施例和现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1是本发明实施例中台阶电路板的结构示意图；

图2a是本发明实施例中台阶电路板的测试方法的流程图；

图2b是本发明实施例中台阶电路板的测试方法的流程图；

图3a是本发明实施例中第一线路图形的示意图；

图3b是本发明实施例中控深铣在板内图形位置的示意图；

图3c是本发明实施例中台阶槽槽底所在层次的线路图形的示意图；

图4是本发明实施例中通用测试夹具的结构示意图。

具体实施方式

本发明实施例提供一种台阶电路板的测试方法，以解决现有技术中对台阶电路板的槽内线路需要全手工测试，耗时长且测试结果不可靠的问题。

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

下面通过具体实施例，分别进行详细的说明。

实施例一、

请参考图1和图2，本发明实施例提供一种台阶电路板的测试方法。

如图1所示，台阶电路板100具有第一面以及与第一面相对的第二面，台阶电路板还具有形成在第一面的台阶槽110，其中，第一面具有第一线路，第二面具有第二线路，台阶槽内具有槽内线路。

如图2a所示，本发明实施例方法可包括：

201、获取分别对应于第一线路和第二线路以及槽内线路的第一线路图形和第二线路图形以及槽内线路图形。

台阶电路板的加工是依赖设计图形完成的，后续的测试也依赖于设计图形进行。测试之前，首先需要获取台阶电路板对应的线路图形，包括：对应于第一线路的第一线路图形，对应于第二线路的第二线路图形，以及，对应于槽内线路的槽内线路图形。

一般的，台阶电路板具有很多层，例如六层或八层或更多层等。其中，第一线路图形和第二线路图形，分别对应于第一层和最后一层。而台阶槽的槽内线路一般属于中间的某一层。本发明实施例中，可以根据台阶槽的控深铣要求，从台阶电路板的所有层次线路图形中获取台阶槽底面所在层次的线路图形；从台阶槽底面所在层次的线路图形中，获取槽内线路图形。

本步骤获取线路图形的操作，可以在控制设备，例如一台微处理计算机中实现。该控制设备可以集成在通用测试设备或飞针测试设备中，或者，也可以是独立的控制设备。该控制设备还可以是控深铣设备的控制设备。

一些实施例中，首先可以将台阶电路板的所有线路图形资料导入到控制设备的资料编辑软件中，例如，台阶电路板第一面的第一线路图形可以如图3a所示；然后，可以打开控深铣程序，找到控深铣在板内图形位置，如图3b所示；然后，可以提取控深铣的台阶槽槽底所在层次的线路图形，如图3c所示；最后，台阶槽底面所在层次的线路图形中，获取槽内线路图形。

202、生成测试图形，其中，在第一线路图形中补充槽内线路图形，并添加第一线路与槽内线路的连接关系，得到第一测试图形，以及，将第二线路图形作为第二测试图形。

现有技术中，一般直接根据设计图形，对台阶电路板进行测试，由于表面线路图形和槽内线路图形不在同一层次或者说不在同一平面，因此，无法同时完成对槽内线路图形的测试。

本发明实施例中，不再直接根据设计图形进行测试，而是，将设计图形编辑成为测试图形，以便后续按照测试图形进行测试。生成的测试图形可包括：在第一线路图形中补充槽内线路图形，并添加第一线路与槽内线路的连接关系，得到的第一测试图形；另外，可以直接将第二线路图形作为第二测试图形。

生成测试图形的步骤，可以在控制设备中完成，操作人员将槽内图形补充到第一线路图形中的对应位置以后，可以操作资料编辑软件中的软件工具，绘制第一线路图形与槽内线路图形的连接线路，完成连接关系的添加。

可选的，在生成测试图形步骤中，可以预先判断槽内线路图形是否满足创建测试点的要求，若满足，在第一线路图形中补充槽内线路图形，并添加第一线路与槽内线路的连接关系，得到第一测试图形。其中，测试点是指后续具体用于测试的位置，一般可对应于连接焊盘等。

203、分别在第一和第二测试图形中创建测试点，测试点包括：位于第一面的第一类测试点，位于第二面的第二类测试点，以及，位于台阶槽内的第三类测试点。

其中，可选的，第二类测试点中还包括有连接测试点，连接测试点与第三类测试点连接。

本步骤中，在第一测试图形和第二测试图形中创建测试点，以指导通用测试设备或飞针测试设备按照第一测试图形和第二测试图形中创建的测试点，具体进行测试。创建的测试点可包括以下几类：位于台阶电路板第一面的第一类测试点，位于第二面的第二类测试点，以及，位于台阶槽内的第三类测试点，其中，第二类测试点中还可以包括有连接测试点，连接测试点与第三类测试点连接。

生成测试图形和创建完测试点之后，就可以进行测试了。本发明实施例中，可以采用通用测试设备或者飞针测试设备进行测试。

一种实施方式中，具体采用飞针测试设备，则，步骤203之后，还可包括：

204、由飞针测试设备根据第一和第二测试图形进行分段测试，其中，在第一段测试中测试位于第一面的第一类测试点和位于第二面的第二类测试点，在第二段测试中测试位于第一面的台阶槽内的第三类测试点和位于第二面的连接测试点。

由于第一类测试点和第二类测试点以及第三类测试点分别位于三个平面上，采用飞针测试设备不能一次完成测试，因此，本实施例中，采用分段测试，具体的，分为两段测试。第一段测试中，测试第一类测试点和第二类测试点，该段测试与常规的飞针测试方法相同。第二段测试中，测试第三类测试点和连接测试点，第三类测试点和连接测试点分别位于两个平面中，可以在一次飞针测试中完成。

一般的，飞针测试设备包括至少两个分针刀片，具体测试过程可以包括：依次将至少两个分针刀片作用于第一类测试点和第二类测试点，进行第一段测试；然后，依次将至少两个分针刀片作用于第三类测试点和连接测试点，进行第二段测试。

需要说明的是，本实施例中飞针分段测试方法，适用于第一面台阶槽中的槽内线路与第二面的第二线路有连接(例如通过过孔)的情况，如果，槽内线路与第二线路无连接，则可以采用其他测试方式。

一种实施方式中，具体采用通用测试设备，则，如图2b所示，步骤203之后，还可包括：

205、提供通用测试夹具，通用测试夹具包括用于测试第一面的第一组测试针，和用于测试第二面的第二组测试针，第一组测试针包括用于测试第一类测试点的第一类测试针，和用于测试第三类测试点的第三类测试针，其中，第三类测试针的长度d3＝d1+d0，d1是第一类测试针的长度，d0是台阶槽的深度。

通用测试设备需要配合通用测试夹具。如图4所示，通用测试夹具300的测试架310上安装有测试针320，本实施例中，测试针可包括：用于测试台阶电路板100的第一面的第一组测试针，和用于测试台阶电路板100的第二面的第二组测试针。图4中仅示出了第一组测试针。第一组测试针具体可包括：用于测试第一类测试点的第一类测试针3201，和用于测试第三类测试点的第三类测试针3203，其中，第三类测试针的长度d3＝d1+d0，d1是第一类测试针3201的长度，d0是台阶电路板100上的台阶槽110的深度。

与常用的通用测试夹具相比，本发明实施例中的通用测试夹具，需要根据需要将其中的部分标准长度的测试针更换为长度较长的测试针。例如，标准测试针的长度可以是95.25mm，所增加的长度等于台阶槽的深度，例如可以是3mm或者其它尺寸。

206、将第一组测试针和第二组测试针分别作用于台阶电路板的第一面和第二面，且第一组测试针和第二组测试针与通用测试设备连接，由通用测试设备根据测试图形对台阶电路板进行测试。

通用测试夹具上的各个测试针是与通用测试设备相连的，可以将通用测试设备施加的信号传递到台阶电路板的测试点上。测试时，如图4所示，可以将台阶电路板100固定在通用测试夹具300中，使得第一组测试针和第二组测试针分别作用于台阶电路板100的第一面和第二面，由通用测试设备根据测试图形对台阶电路板进行测试。具体的，可根据测试图形给不同的测试针施加信号并接收其它测试针的反馈信号，来测试台阶电路板上线路的连通情况。

由上可见，本发明实施例公开了一种台阶电路板的测试方法。

其中一些实施方式中，采用预先将台阶电路板的槽内图形补充到表面的第一线路图形中并添加连接关系，生成第一测试图形，将台阶电路板另一表面的第二线路图形作为第二测试图形，后续由飞针测试设备根据第一和第二测试图形进行分段测试，将第一线路图形上的第一类测试点和槽内图形上的第三类测试点分别在不同段测试的技术方案。

取得了以下技术效果：

对于台阶电路板的槽内线路，以自动测试取代了全手工测试，有效的提高了测试效率，可以避免遗漏测试点等问题，测试可靠性较高，解决了现有技术中需要全手工测试，耗时长且测试结果不可靠的问题。

另一些实施方式中，采用预先将台阶电路板的槽内图形补充到表面的第一线路图形中并添加连接关系，生成第一测试图形，将台阶电路板另一表面的第二线路图形作为第二测试图形，提供相应的通用测试夹具，对于槽内线路采用较长的测试针，然后由通用测试设备配合通用测试夹具对台阶电路板两面的第一和第二线路及槽内线路一次测试完成的技术方案。

取得了以下技术效果：

对于台阶电路板的槽内线路，以自动测试取代了全手工测试，有效的提高了测试效率，可以避免遗漏测试点等问题，测试可靠性较高，解决了现有技术中需要全手工测试，耗时长且测试结果不可靠的问题。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详细描述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明并不受所描述动作顺序的限制，因为依据本发明，某些步骤可以采用其它顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定是本发明所必须的。

以上对本发明实施例所提供的台阶电路板的测试方法进行了详细介绍，但以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想，不应理解为对本发明的限制。本技术领域的技术人员，依据本发明的思想，在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种台阶电路板的测试方法，其特征在于，所述台阶电路板具有第一面以及与所述第一面相对的第二面，所述台阶电路板还具有形成在所述第一面的台阶槽，所述第一面具有第一线路，所述第二面具有第二线路，所述台阶槽内具有槽内线路；所述方法包括：

获取分别对应于所述第一线路和所述第二线路以及所述槽内线路的第一线路图形和第二线路图形以及槽内线路图形；

生成测试图形，其中，在所述第一线路图形中补充所述槽内线路图形，并添加所述第一线路与所述槽内线路的连接关系，得到第一测试图形，以及，将所述第二线路图形作为第二测试图形；

分别在所述第一和第二测试图形中创建测试点，所述测试点包括：位于所述第一面的第一类测试点，位于所述第二面的第二类测试点，以及，位于所述台阶槽内的第三类测试点，其中，所述第二类测试点中还包括有连接测试点，所述连接测试点与所述第三类测试点连接；

由飞针测试设备根据所述第一和第二测试图形进行分段测试，其中，在第一段测试中测试位于所述第一面的所述第一类测试点和位于所述第二面的所述第二类测试点，在第二段测试中测试位于所述第一面的台阶槽内的所述第三类测试点和位于所述第二面的所述连接测试点。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取分别对应于所述第一线路和所述第二线路以及所述槽内线路的第一线路图形和第二线路图形以及槽内线路图形包括：

根据所述台阶槽的控深铣要求，从所述台阶电路板的所有层次线路图形中获取所述台阶槽底面所在层次的线路图形；

从所述台阶槽底面所在层次的线路图形中，获取所述槽内线路图形。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述生成测试图形包括：

判断所述槽内线路图形是否满足创建测试点的要求，若满足，在所述第一线路图形中补充所述槽内线路图形，并添加所述第一线路与所述槽内线路的连接关系，得到第一测试图形。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述飞针测试设备包括至少两个分针刀片，所述由飞针测试设备根据所述第一和第二测试图形进行分段测试包括：

依次将所述至少两个分针刀片作用于所述第一类测试点和所述第二类测试点，进行第一段测试；

依次将所述至少两个分针刀片作用于所述第三类测试点和所述连接测试点，进行第二段测试。

5.一种台阶电路板的测试方法，其特征在于，所述台阶电路板具有第一面以及与所述第一面相对的第二面，所述台阶电路板还具有形成在所述第一面的台阶槽，所述第一面具有第一线路，所述第二面具有第二线路，所述台阶槽内具有槽内线路；所述方法包括：

获取分别对应于所述第一线路和所述第二线路以及所述槽内线路的第一线路图形和第二线路图形以及槽内线路图形；

生成测试图形，其中，在所述第一线路图形中补充所述槽内线路图形，并添加所述第一线路与所述槽内线路的连接关系，得到第一测试图形，以及，将所述第二线路图形作为所述第二测试图形；

在所述测试图形中创建测试点，所述测试点包括：位于所述第一面的第一类测试点，位于所述第二面的第二类测试点，以及，位于所述台阶槽内的第三类测试点；

提供通用测试夹具，所述通用测试夹具包括用于测试所述第一面的第一组测试针，和用于测试所述第二面的第二组测试针，所述第一组测试针包括用于测试所述第一类测试点的第一类测试针，和用于测试所述第三类测试点的第三类测试针，其中，所述第三类测试针的长度d3＝d1+d0，d1是所述第一类测试针的长度，d0是所述台阶槽的深度；

将所述第一组测试针和所述第二组测试针分别作用于所述台阶电路板的第一面和第二面，且所述第一组测试针和所述第二组测试针与通用测试设备连接，由所述通用测试设备根据所述测试图形对所述台阶电路板进行测试。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述获取分别对应于所述第一线路和所述第二线路以及所述槽内线路的第一线路图形和第二线路图形以及槽内线路图形包括：

根据所述台阶槽的控深铣要求，从所述台阶电路板的所有层次线路图形中获取所述台阶槽底面所在层次的线路图形；

从所述台阶槽底面所在层次的线路图形中，获取所述槽内线路图形。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述生成测试图形包括：

判断所述槽内线路图形是否满足创建测试点的要求，若满足，在所述第一线路图形中补充所述槽内线路图形，并添加所述第一线路与所述槽内线路的连接关系，得到第一测试图形。