CN105988073A - 检测装置、系统及单板 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种检测装置，所述检测装置包括EPLD逻辑控制单元、高速信号环回单元、CFP插座，所述CFP插座与所述高速信号环回单元连接，所述高速信号环回单元与所述EPLD逻辑控制单元连接，所述CFP插座与所述EPLD逻辑控制单元连接。本发明还公开了一种单板、检测系统，实现对待测的业务主板的高速信号通道以及低速信号通道的检测，通过带有检测装置的业务主板代替带有CFP模块的业务主板，从而降低原有的测试单板业务的成本。

Description

检测装置、系统及单板
技术领域
本发明涉及硬件领域，尤其涉及一种检测装置、系统及单板。
背景技术
光传送网(Optical Transport Network，OTN)是以波分复用技术为基础、在光层组织网络的传送网。OTN目前发展比较迅速，应用范围广泛。OTN需要支持的业务类型也不断增加。OTN主要支持固定速率的业务，如ODUk，k等于0/1/2/3/4。
随着客户业务带宽越来越大，OTN业务板带宽也逐渐增大，目前100G业务板也逐渐开始大范围使用。40G和100G业务板客户侧光模块均是CFP模块，支持热插拔，价格比较昂贵。在生产线测试业务板及高温老化时，一般是业务表通用CFP模块接入业务到业务板，然后通过背板交叉到其他业务板，这种方式需要几十个CFP模块来验证单板业务，测试成本很高。
发明内容
本发明提供一种检测装置、系统及单板，主要目的在于解决测试业务板时的测试成本较高的技术问题。
为实现上述目的，本发明提供的一种检测装置，所述检测装置包括EPLD逻辑控制单元、高速信号环回单元、CFP插座，所述CFP插座与所述高速信号环回单元连接，所述高速信号环回单元与所述EPLD逻辑控制单元连接，所述CFP插座与所述EPLD逻辑控制单元连接；
所述CFP插座，用于连接待测的业务主板和所述检测装置；
所述高速信号环回单元，用于接收所述待测的业务主板通过所述CFP插座发送的高速信号，并将所述高速信号通过所述CFP插座环回到所述待测的业务主板，以使得所述待测的业务主板根据接收到的环回后的高速信号检测所述待测的业务主板的高速通道是否正常；
所述EPLD逻辑控制单元，用于向所述高速信号环回单元发送控制信号，并且通过所述CFP插座接收所述待测的业务主板发送的低速信号，并根据所述低速信号检测所述待测业务主板的低速通道是否正常；
所述控制信号用于驱动所述高速信号环回单元工作。
优选地，所述检测装置还包括分频器，所述CFP插座通过所述分频器与所述EPLD逻辑控制单元连接：
所述分频器，用于降低所述待测业务主板发送的高速时钟信号频率，将降低后的低速时钟送给EPLD逻辑控制单元来检测。
优选地，所述检测装置还包括插拔次数记录单元，所述插拔次数记录单元与所述EPLD逻辑控制单元连接；
所述插拔次数记录单元，用于记录所述检测装置插入所述待测业务主板的次数。
优选地，所述检测装置还包括电源单元，所述电源单元与所述CFP插座连接。
优选地，所述CFP插座为148pin的插座。
此外，为实现上述目的，本发明还提供一种单板，所述单板包括如上所述的检测装置。
此外，为实现上述目的，本发明还提供一种检测系统，所述检测系统包括业务仪表、带有CFP模块的待测的业务主板、交叉板以及至少一个带有检测装置的待测的业务主板；
所述带有CFP模块的待测的业务主板与所述交叉板连接，所述交叉板与所述至少一个带有检测装置的待测的业务主板。
本发明实施例通过包括EPLD逻辑控制单元、高速信号环回单元、CFP插座的检测装置，实现对待测的业务主板的高速信号通道以及低速信号通道的检测，通过带有检测装置的业务主板代替带有CFP模块的业务主板，从而降低原有的测试单板业务的成本。
附图说明
图1为检测装置第一实施例的功能模块示意图；
图2为检测装置第二实施例的功能模块示意图；
图3为检测装置第三实施例的功能模块示意图；
图4为检测装置第四实施例的功能模块示意图；
图5为单板第一实施例的功能模块示意图；
图6为检测系统第一实施例的功能模块示意图；
图7为现有技术提供的一种检测系统的功能模块示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明提供一种检测装置。
参照图1，图1为检测装置第一实施例的功能模块示意图。
在第一实施例中，该检测装置100包括：
包括EPLD逻辑控制单元101、高速信号环回单元102、光模块(Centum Form-factor Pluggable，CFP)插座103，所述CFP插座103与所述高速信号环回单元102连接，所述高速信号环回单元102与所述电子逻辑控制单元(Electrically Programmable Logic Device，EPLD)101连接，所述CFP插座103与所述EPLD逻辑控制单元101连接；
所述CFP插座103，用于连接待测的业务主板和所述检测装置100；
所述高速信号环回单元102，用于接收所述待测的业务主板通过所述CFP插座103发送的高速信号，并将所述高速信号通过所述CFP插座103环回到所述待测的业务主板，以使得所述待测的业务主板根据接收到的环回后的高速信号检测所述待测的业务主板的高速通道是否正常；
所述EPLD逻辑控制单元101，用于向所述高速信号环回单元102发送控制信号，并且通过所述CFP插座103接收所述待测的业务主板发送的低速信号，并根据所述低速信号检测所述待测业务主板的低速通道是否正常；
所述控制信号用于驱动所述高速信号环回单元102工作。
其中，所述EPLD逻辑控制单元101可以用于模拟管理数据接口(Management Data Interface，MDIO)时序实现MDIO接口，所述EPLD逻辑控制单元101可以向高速环回单元发送控制信号，所述控制信号用于驱动所述高速环回单元能正常工作。
为了实现对待测的业务主板的高速通道以及低速通道的检测，检测装置100分别通过以下方式实现：
对待测的业务主板的高速通道的检测，是通过CFP插座103接收待测的业务主板发送的高速业务信号，并通过检测装置100中的高速环回单元后，将所述高速业务信号环回输出给所述待测的业务主板，所述待测的业务主板可以根据接收到的环回的高速业务信号检测所述待测的业务主板的高速通道是否正常工作；
对待测的业务主板的低速通道的检测，是通过CFP插座103接收待测的业务主板发送的低速业务信号，并通过检测装置100中的EPLD逻辑控制单元101检测该低速业务信号是否正常，从而检测所述待测的业务主板的低速通道是否正常工作。
所述CFP插座103为148pin的插座。
本发明实施例通过包括EPLD逻辑控制单元101、高速信号环回单元102、CFP插座103的检测装置100，实现对待测的业务主板的高速信号通道以及低速信号通道的检测，通过带有检测装置100的业务主板代替带有CFP模块的业务主板，从而降低原有的测试单板业务的成本。
参照图2，图2为检测装置100第二实施例的功能模块示意图。
在第一实施例的基础上，该检测装置100还包括：
分频器104，所述CFP插座103通过所述分频器与所述EPLD逻辑控制单元101连接：
所述分频器104，用于降低所述待测业务主板发送的高速时钟信号频率，将降低后的低速时钟送给EPLD逻辑控制单元101来检测。
具体的，检测装置100插在100G的待测的业务主板上时，会有时钟输入，对于以太网协议，此时钟频率为644.53125M，对于波分系统来说，此频率为698.8125M。由于逻辑不支持如此高的输入频率，在EPLD逻辑控制单元101前增加分频器，分频到低频，同时，分频器作用是：将所述业务主板发送给环回检测装置100的高频时钟信号降频，然后将降频后的低频时钟信号送给EPLD，EPLD来实现时钟频率检测功能，并将检测结果存在EPLD的寄存器中，可通过MDIO接口反馈给待测的业务主板的CPU。
所述CFP插座103为148pin的插座。
本发明实施例通过包括EPLD逻辑控制单元101、高速信号环回单元102、CFP插座103的检测装置100，实现对待测的业务主板的高速信号通道以及低速信号通道的检测，通过带有检测装置100的业务主板代替带有CFP模块的业务主板，从而降低原有的测试单板业务的成本。
参照图3，图3为检测装置100第三实施例的功能模块示意图。
在第一实施例的基础上，该检测装置100还包括：
插拔次数记录单元105，所述插拔次数记录单元与所述EPLD逻辑控制单元101连接；
所述插拔次数记录单元，用于记录所述检测装置100检测所述待测的业务主板的次数。
所述CFP插座103为148pin的插座。
具体的，由于高速连接器有一定的使用寿命，插拔次数有要求，所以在子卡上内置一个EEPROM，用于存放插拔次数。
本发明实施例通过包括EPLD逻辑控制单元101、高速信号环回单元102、CFP插座103的检测装置100，实现对待测的业务主板的高速信号通道以及低速信号通道的检测，通过带有检测装置100的业务主板代替带有CFP模块的业务主板，从而降低原有的测试单板业务的成本。
参照图4，图4为检测装置100第四实施例的功能模块示意图。
在第一实施例的基础上，该检测装置100还包括：
电源单元106，所述电源单元106与所述CFP插座103连接。
所述CFP插座103为148pin的插座。
所述电源单元为通过148pin插座引入3.3V到环回检测装置100，环回检测装置100内部有电源单元转换为其他环回检测装置100需要的电压。
本发明实施例通过包括EPLD逻辑控制单元101、高速信号环回单元102、CFP插座103的检测装置100，实现对待测的业务主板的高速信号通道以及低速信号通道的检测，通过带有检测装置100的业务主板代替带有CFP模块的业务主板，从而降低原有的测试单板业务的成本。
本发明提供一种单板。
参照图5，图5为单板第一实施例的功能模块示意图。
在第一实施例中，该单板包括图1至图5所述的检测装置100100。
本发明实施例通过包括EPLD逻辑控制单元101、高速信号环回单元102、CFP插座103的检测装置100，实现对待测的业务主板的高速信号通道以及低速信号通道的检测，通过带有检测装置100的业务主板代替带有CFP模块的业务主板，从而降低原有的测试单板业务的成本。
本发明提供一种检测系统。
参照图6，图6为检测系统第一实施例的功能模块示意图。
所述检测系统包括业务仪表、带有CFP模块的待测的业务主板601、交叉板602以及至少一个带有检测装置100的待测的业务主板603；
所述带有CFP模块的待测的业务主板601与所述交叉板602连接，所述交叉板602与所述至少一个带有检测装置100的待测的业务主板603。
将与业务表连接的第一块业务板插上CFP模块，接入业务，业务板1背板交叉自环业务通。将需要级联的业务板2.....业务板n分别插入检测装置100100。通过网管设置交叉，将业务板1接入的业务分别交叉到待测试的其他业务板。根据业务板能力，尽可能级联更多的业务板，达到使用一块业务表和一个CFP模块，检测或高温老化多块业务板的目的。
参照图7，图7为现有技术提供的一种检测系统的功能模块示意图。
所述检测系统包括业务仪表、带有CFP模块的待测的业务主板701、交叉板702以及至少一个带有CFP模块的待测的业务主板703；
所述带有CFP模块的待测的业务主板701与所述交叉板702连接，所述交叉板702与所述至少一个带有CFP模块的待测的业务主板703。
具体的，在生产线测试业务板及高温老化时，一般是业务表通用CFP模块接入业务到业务板，然后通过背板交叉到其他业务板，实现一块光表来测试几十块业务板，这种方式需要几十个CFP光模块来验证单板业务，测试成本很高。
通过比较图6和图7，可发现通过使用该检测装置100，可大大减少测试所需CFP模块的数量，极大的降低测试成本；而且采用检测装置100后也不需要加入光钎自环，提高测试效率。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (7)

1.一种检测装置，其特征在于，所述检测装置包括EPLD逻辑控制单元、高速信号环回单元、CFP插座，所述CFP插座与所述高速信号环回单元连接，所述高速信号环回单元与所述EPLD逻辑控制单元连接，所述CFP插座与所述EPLD逻辑控制单元连接；
所述CFP插座，用于连接待测的业务主板和所述检测装置；
所述高速信号环回单元，用于接收所述待测的业务主板通过所述CFP插座发送的高速信号，并将所述高速信号通过所述CFP插座环回到所述待测的业务主板，以使得所述待测的业务主板根据接收到的环回后的高速信号检测所述待测的业务主板的高速通道是否正常；
所述EPLD逻辑控制单元，用于向所述高速信号环回单元发送控制信号，并且通过所述CFP插座接收所述待测的业务主板发送的低速信号，并根据所述低速信号检测所述待测业务主板的低速通道是否正常；
所述控制信号用于驱动所述高速信号环回单元工作。
2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括分频器，所述CFP插座通过所述分频器与所述EPLD逻辑控制单元连接：
所述分频器，用于降低所述待测业务主板发送的高速时钟信号频率，将降低后的低速时钟送给EPLD逻辑控制单元来检测。
3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括插拔次数记录单元，所述插拔次数记录单元与所述EPLD逻辑控制单元连接：
所述插拔次数记录单元，用于记录所述检测装置插入所述待测业务主板的次数。
4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括电源单元，所述电源单元与所述CFP插座连接。
5.根据权利要求1至4任意一项所述的检测装置，其特征在于，所述CFP插座为148pin的插座。
6.一种单板，其特征在于，所述单板包括权利要求1至5任意一项所述的检测装置。
7.一种检测系统，其特征在于，所述检测系统包括业务仪表、带有CFP模块的待测的业务主板、交叉板以及至少一个带有检测装置的待测的业务主板；
所述带有CFP模块的待测的业务主板与所述交叉板连接，所述交叉板与所述至少一个带有检测装置的待测的业务主板。
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