CN105281825B - 测试系统和方法 - Google Patents
测试系统和方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN105281825B CN105281825B CN201410387906.3A CN201410387906A CN105281825B CN 105281825 B CN105281825 B CN 105281825B CN 201410387906 A CN201410387906 A CN 201410387906A CN 105281825 B CN105281825 B CN 105281825B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- mentioned
- optical signal
- value
- test system
- decay
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 99
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 120
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 12
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 2
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 abstract 4
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 12
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 11
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 2
- 238000013154 diagnostic monitoring Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04Q—SELECTING
- H04Q11/00—Selecting arrangements for multiplex systems
- H04Q11/0001—Selecting arrangements for multiplex systems using optical switching
- H04Q11/0062—Network aspects
- H04Q11/0067—Provisions for optical access or distribution networks, e.g. Gigabit Ethernet Passive Optical Network (GE-PON), ATM-based Passive Optical Network (A-PON), PON-Ring
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
- H04B10/073—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an out-of-service signal
- H04B10/0731—Testing or characterisation of optical devices, e.g. amplifiers
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04J—MULTIPLEX COMMUNICATION
- H04J14/00—Optical multiplex systems
- H04J14/02—Wavelength-division multiplex systems
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
Abstract
本发明公开一种测试系统和方法,该测试系统包括:一终端装置(Optical Line Terminal,OLT),用以提供一光信号;一光衰减器,用以根据上述终端装置输出的光信号,经衰减后产生一衰减光信号;一待测装置,用以产生对应上述衰减光信号的一模拟转数字(AD)值;以及一测试管理器,用以接收上述模拟转数字(AD)值,并根据上述模拟转数字(AD)值以及上述衰减光信号,产生一组校准值,且将上述组校准值回传上述待测装置,以检测上述待测装置。本发明公开的测试系统用来检测待测装置的良率。
Description
技术领域
本说明书涉及测试的技术尤其涉及接收光功率(RX POWER)的数字检测监视界面(Digital Diagnostic Monitoring Interface,DDMI)校准测试的测试技术。
背景技术
随着网络技术的发展,光纤网络的技术也越来越进步。被动式光纤网络(PassiveOptical Network;PON)即为光纤网络的技术一主要的技术。所谓被动式光纤网络PON,有别于传统光纤传输终端点对点拓朴网络架构(Point to Point;P2P),所采用的是点对多点树状形式拓朴(Point to Multi-Point;P2MP),由光纤线路终端(Optical Line Terminal;OLT)经由光分歧器(Optical Splitter)的分光传送给多个光纤网络终端(OpticalNetwork Unit;ONU),此方式可大量降低光纤及光器件的使用量。被动式光纤网络(PON)可包括以太被动式光纤网络(Ethernet Passive Optical Network,EPON)、超高速被动光纤网络(Gigabit Passive Optical Network,GPON)等不同技术。
超高速被动光纤网络(GPON)技术是一由ITU-T所订定的标准。除了可在单一波长下提供2.5Gbps的频宽;超高速被动光纤网络(GPON)的封装方式(GPON EncapsulationMode,GEM),提供了一种高效的、通用的机制传送不同的服务,可以灵活地分配语音、数据和图像等各种信号。此外,超高速被动光纤网络(GPON)的传输聚合(TransmissionConvergence,TC)层本质上是同步的,使用了标准的8kHz(125μs)Frame,使得超高速被动光纤网络(GPON)可以直接支持分时多功(Time-Division Multiplex,TDM)服务,适合作为行动网络基地台及传统专线传输使用。
因此,提升超高速被动光纤网络(GPON)产品的测试的准确度将是一个值得研究的课题。
发明内容
有鉴于上述现有技术的问题,本发明提供了在接收光功率(RX POWER)的数字检测监视界面(DDMI)校准测试的测试技术。
根据本发明的一实施例提供了一种测试系统。此测试系统包括:一终端装置,用以提供一光信号;一光衰减器,用以根据上述输出的光信号,衰减后产生一衰减光信号;一待测装置,用以产生对应上述衰减光信号的一模拟转数字(AD)值;以及一测试管理器,用以接收上述模拟转数字(AD)值,并根据上述模拟转数字(AD)值以及上述多个衰减光信号,产生一组校准值,且将上述组校准值回传上述待测装置,以检测上述待测装置。
根据本发明的一实施例提供了一种测试方法。此测试方法的步骤包括包括:提供一光信号;根据上述光信号,产生一衰减光信号;通过一待测装置产生对应上述衰减光信号的一模拟转数字(AD)值;以及根据上述模拟转数字(AD)值以及上述衰减光信号,产生一组校准值;回传上述组校准值至上述待测装置;以及通过一测试管理器检测取得上述校准值的上述待测装置。
关于本发明其他附加的特征与优点,本领域技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,当可根据本申请实施方法中所公开的执行联系程序的使用者装置、系统、以及方法,做些许的更动与润饰而得到。
附图说明
图1是显示根据本发明一实施例所述的测试系统100的方块图。
图2是根据本发明一实施例所述的测试方法的流程图200。
其中,附图标记说明如下:
100 测试系统
110 测试管理器
120 终端装置
130 光衰减器
140 待测装置
S1 光信号
200 流程图
具体实施方式
本章节所叙述的是实施本发明的最佳方式,目的在于说明本发明的精神而非用以限定本发明的保护范围,本发明的保护范围当视所附的权利要求所界定的为准。
图1是显示根据本发明一实施例所述的测试系统100的方块图。测试系统100适用于一接收光功率(RX POWER)的数字检测监视界面(Digital Diagnostic MonitoringInterface,DDMI)校准测试。测试系统100中包括了测试管理器110、终端装置120、光衰减器130和待测装置140。
根据本发明一实施例,测试管理器110可指一电脑装置或一具有数据或数据处理能力的处理装置。测试管理器110用以控制终端装置120和光衰减器130,并和待测装置140进行数据的传输。终端装置120可是一光纤线路终端(Optical Line Terminal,OLT)。待测装置140可是一光纤网络单元(Optical Network Unit,ONU)、一光纤网络终端(OpticalNetwork Terminal,ONT)、或在光纤网络单元或光纤网络终端中的一双向光纤次组件(Bi-directional Optical Sub Assembly,BOSA)或其它相关组件。
根据本发明一实施例,当待测装置140要进行光功率(RX POWER)的数字检测监视界面(DDMI)校正时,测试管理器110会先指示终端装置120送出一光信号S1至光衰减器130。光衰减器130收到光信号S1后会根据测试管理器110所指示的衰减参数来产生一衰减光信号,并将衰减光信号传送给待测装置140,其中已衰减的光信号亦可视为实际输入的光功率(Optical Power)。根据本发明一实施例,测试管理器110可预先设定多组衰减参数(例如:无衰减(衰减0dB)、衰减5dB、衰减15dB等),以提供光衰减器130产生对应不同衰减参数的衰减光信号。特别说明的是,上述衰减参数的设定仅用以说明本发明的实施例,并非用以限制本发明,测试管理器110亦可根据不同情况或不同待测装置调整或设定衰减参数。
当待测装置140接收到一衰减光信号后,就会根据衰减光信号,将衰减光信号转换为一模拟转数字(Analog to Digital,AD)值,其中不同衰减光信号会对应到不同数模拟转数字(Analog to Digital,AD)值,也就是一输入的光功率只会对应到一模拟转数字(AD)值。待测装置140产生模拟转数字(AD)值后,就会将模拟转数字(AD)值回传给测试管理器110。特别说明地是,待测装置140产生完一模拟转数字(AD)值后,光衰减器130会再产生另一光衰减信号,待测装置140会再根据另一衰减光信号产生另一模拟转数字(AD)值,依照相同动作重复产生新的衰减光信号和模拟转数字(AD)值,直到衰减光信号和模拟转数字(AD)值的数量足够产生校准值为止。测试管理器110接收到模拟转数字(AD)值后,就会根据所有模拟转数字(AD)值以及所有衰减光信号,产生一组校准值。
根据本发明一实施例,测试管理器110会将模拟转数字(AD)值以及衰减光信号代入下列方程式(1)进行运算,以求得校准值,方程式(1)如下所示:
y=ax4+bx3+cx2+dx+e (1)
其中y表示衰减光信号(输入的光功率),x表示模拟转数字(AD)值,以及a、b、c、d、e表示校准值。特别说明的是,在此方程式中是以需要产生5个校准值为例,因此光衰减器130需要产生5衰减光信号(5y值)来进行联立方程式的运算,以产生校准值a、b、c、d、e,但本发明并不以此为限。
当测试管理器110产生校准值后,就会将校准值(例如:a、b、c、d、e)回传待测装置140,并指示光衰减器130产生新的一组衰减光信号来检验取得校准值的待测装置140的测试精准度。也就是说待测装置140在取得校准值后,就可根据校准值,以及来自光衰减器130的新的一组衰减光信号所转换的模拟转数字(AD)值,来求得一估测的光功率值。测试管理器110即可根据估测的光功率值和光衰减器130所产生的衰减光信号(实际输入的光功率)的误差结果,来检测待测装置140。
根据本发明一实施例,为了降低估测的光功率值和光衰减器130所产生的衰减光信号(实际输入的光功率)的误差结果,测试管理器110会把指示光衰减器130产生的多个衰减光信号的的一光功率强度预先进行一反对数运算。
图2是根据本发明一实施例所述的测试方法的流程图200,此测试方法适用于待测装置140的一接收光功率(RX POWER)的数字检测监视界面(DDMI)校准测试。首先,在步骤S210,通过终端装置120提供一光信号。在步骤S220,通过测试管理器110控制光衰减器130的衰减值并根据上述光信号,衰减后产生一衰减光信号。在步骤S230,通过待测装置140接收该信号后产生对应衰减光信号的模拟转数字(AD)值,并传送模拟转数字(AD)值至测试管理器110。特别说明地是,在不同实施例中,产生校准值会需要多个衰减光信号和多个AD值,因此会重复步骤S220至步骤S230,每次通过产生不同衰减光信号,进而产生不同AD值。以上述实施例为例,若需要产生较准值a、b、c、d、e,就会需要重复步骤S220至步骤S230以产生5个衰减光信号和对应不同衰减光信号的5个AD值。在步骤S240,通过测试管理器110根据模拟转数字(AD)值以及衰减光信号,产生一组校准值。在步骤S250,通过测试管理器110回传校准值至待测装置140。在步骤S260,通过测试管理器110检验使用校准值的待测装置140的精准度。
根据本发明一实施例,上述测试方法的步骤还包括,在待测装置140取得一组校准值后,通过待测装置140根据校准值和模拟转数字(AD)值,产生一估测值(估测的光功率值),其中此实施例所述的模拟转数字(AD)值是通过光衰减器130重新产生的一组衰减光信号所转换而来。根据本发明一实施例,上述测试方法的步骤更包括,产生估测值后,通过测试管理器110根据待测装置140所产生的光功率估测值以及重新产生的衰减光信号的光功率值来检测待测装置140的精准度。
根据本发明一实施例,上述测试方法的步骤还包括,通过测试管理器110将衰减后的光信号的一光功率强度预先进行一反对数运算。
通过本发明的实施例所提供的接收光功率(RX POWER)的数字检测监视界面(DDMI)校准测试方法,将可用来检测待测装置的良率。此外,本发明还通过将衰减光信号预先进行一反对数运算,以降低实际输入的光功率和估测的光功率的误差结果。
本发明的说明书所公开的方法和演算法的步骤,可直接通过执行一处理器直接应用在硬件以及软件模块或两者的结合上。一软件模块(包括执行指令和相关数据)和其它数据可存储在数据存储器中,像是随机存取存储器(RAM)、快闪存储器(flash memory)、只读存储器(ROM)、可抹除可规化只读存储器(EPROM)、电子可抹除可规划只读存储器(EEPROM)、暂存器、硬盘、可携式硬盘、光盘只读存储器(CD-ROM)、DVD或在此领域公知技术中任何其它电脑可读取的存储媒体格式。一存储媒体可耦接至一机器装置,举例来说,像是电脑/处理器(为了说明的方便,在本说明书以处理器来表示),上述处理器可通过来读取信息(像是程序码),以及写入信息至存储媒体。一存储媒体可整合一处理器。一特殊应用积体电路(ASIC)包括处理器和存储媒体。一用户设备则包括一特殊应用积体电路。换句话说,处理器和存储媒体以不直接连接用户设备的方式,包含于用户设备中。此外,在一些实施例中,任何适合电脑程序的产品包括可读取的存储媒体,其中可读取的存储媒体包括和一或多个所公开实施例相关的程序码。在一些实施例中,电脑程序的产品可包括封装材料。
本说明书中所提到的“一实施例”或“实施例”,表示与实施例有关的所述特定的特征、结构、或特性是包含根据本发明的至少一实施例中,但并不表示它们存在于每一个实施例中。因此,在本说明书中不同地方出现的“在一实施例中”或“在实施例中”词组并不必然表示本发明的相同实施例。
以上段落使用多种层面描述。显然的,本文的教示可以多种方式实现,而在范例中公开的任何特定架构或功能仅为一代表性的状况。根据本文的教示,任何本领域技术人员应理解在本文公开的各层面可独立实作或两种以上的层面可以合并实作。
虽然本发明已以较佳实施例公开如上,然其并非用以限定本发明,任何本领域技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,当可作些许的更动与润饰,因此本发明的保护范围当视所附的权利要求所界定的为准。
Claims (10)
1.一种测试系统,其特征在于,包括:
一终端装置,用以提供一光信号;
一光衰减器,用以根据上述光信号,产生一衰减光信号;
一待测装置,用以产生对应上述衰减光信号的一模拟转数字值;以及
一测试管理器,用以接收上述模拟转数字值,并根据上述模拟转数字值以及上述衰减光信号,产生一组校准值,且将上述校准值回传上述待测装置,以检测上述待测装置,
其中上述待测装置取得上述校准值后,根据上述校准值和重新产生的上述模拟转数字值,产生一估测值,其中重新产生的上述模拟转数字值是由上述光衰减器所重新产生的上述衰减光信号所转换而来。
2.如权利要求1所述的测试系统,其特征在于,其中上述测试管理器还用以控制上述光衰减器所提供的上述光信号。
3.如权利要求1所述的测试系统,其特征在于,其中上述测试管理器还用以传送至少一衰减参数至上述光衰减器,以提供上述光衰减器产生上述衰减光信号。
4.如权利要求1所述的测试系统,其特征在于,其中上述测试管理器还用以将上述光衰减器输出的上述衰减光信号的一光功率强度预先进行一反对数运算。
5.如权利要求1所述的测试系统,其特征在于,其中上述测试管理器会根据上述估测值和重新产生的上述衰减光信号来检测上述待测装置。
6.一种测试方法,其特征在于,包括:
提供一光信号;
根据上述光信号,产生一衰减光信号;
通过一待测装置产生对应上述衰减光信号的模拟转数字值;以及
根据上述模拟转数字值以及上述衰减光信号,产生一组校准值;
回传上述组校准值至上述待测装置;
通过一测试管理器检测取得上述校准值的上述待测装置;以及
通过上述待测装置取得上述校准值后,再通过上述待测装置根据上述校准值和重新产生的上述模拟转数字(AD)值,产生一估测值,其中重新产生的上述模拟转数字(AD)值是通过一光衰减器所重新产生的上述衰减光信号所转换而来。
7.如权利要求6所述的测试方法,其特征在于,还包括:
通过上述测试管理器控制所提供的上述光信号。
8.如权利要求6所述的测试方法,其特征在于,还包括:
通过上述测试管理器产生一衰减参数,以产生上述衰减光信号。
9.如权利要求6所述的测试方法,其特征在于,还包括:
通过上述测试管理器将上述衰减后的光信号的一光功率强度预先进行一反对数运算。
10.如权利要求6所述的测试方法,其特征在于,还包括:
通过上述测试管理器根据上述估测值以及上述重新产生的衰减光信号来检测上述待测装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW103123896A TW201603508A (zh) | 2014-07-11 | 2014-07-11 | 測試系統和方法 |
TW103123896 | 2014-07-11 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN105281825A CN105281825A (zh) | 2016-01-27 |
CN105281825B true CN105281825B (zh) | 2017-12-19 |
Family
ID=55067416
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201410387906.3A Expired - Fee Related CN105281825B (zh) | 2014-07-11 | 2014-08-08 | 测试系统和方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9467758B2 (zh) |
CN (1) | CN105281825B (zh) |
TW (1) | TW201603508A (zh) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106941380B (zh) * | 2017-05-05 | 2019-05-17 | 上海剑桥科技股份有限公司 | 光路控制设备及ont测试系统 |
CN108390717B (zh) * | 2018-01-25 | 2021-03-16 | 四川长虹电器股份有限公司 | 用于光通信产品收发端测试时线衰的自动校准系统及方法 |
CN110247702B (zh) * | 2019-07-12 | 2022-07-15 | 南通同洲电子有限责任公司 | 用于gpon、epon光模块的测试系统及其测试方法 |
CN117395551A (zh) * | 2023-12-13 | 2024-01-12 | 深圳市亿联无限科技股份有限公司 | 线性bob接收光功率校准方法及系统 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002079758A1 (en) * | 2001-03-29 | 2002-10-10 | Circadiant Systems, Inc. | Error function analysis of optical components with uncertainty ranges |
CN202231724U (zh) * | 2011-10-20 | 2012-05-23 | 上海市计量测试技术研究院 | 无源光网络光功率计校准装置 |
CN103067074A (zh) * | 2011-10-20 | 2013-04-24 | 上海市计量测试技术研究院 | 无源光网络光功率计校准装置及校准方法 |
CN103686968A (zh) * | 2013-12-03 | 2014-03-26 | 波达通信设备(广州)有限公司 | 一种数字微波收发信机的发射功率校准方法及其校准电路 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3107027B2 (ja) | 1997-12-25 | 2000-11-06 | 日本電気株式会社 | 光部品特性測定システム |
US20040019459A1 (en) * | 2002-07-29 | 2004-01-29 | Paul Dietz | Auto-characterization of optical devices |
US8032020B2 (en) * | 2006-05-09 | 2011-10-04 | Aegis Lightwave, Inc. | Self calibrated optical spectrum monitor |
US20080226288A1 (en) * | 2007-03-14 | 2008-09-18 | Miller Frederick W | Method and apparatus for performing receiver sensitivity testing and stressed receive sensitivity testing in a transceiver |
JP5735755B2 (ja) * | 2010-05-17 | 2015-06-17 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置及び試験方法 |
JP5502767B2 (ja) * | 2011-01-11 | 2014-05-28 | 株式会社アドバンテスト | 光源装置、光信号発生装置、および電気信号発生装置 |
CN202696605U (zh) | 2012-04-27 | 2013-01-23 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种pon光模块检测装置 |
CN103763019A (zh) | 2014-01-26 | 2014-04-30 | 索尔思光电(成都)有限公司 | 一种调测试系统的自动校准方法 |
-
2014
- 2014-07-11 TW TW103123896A patent/TW201603508A/zh unknown
- 2014-08-08 CN CN201410387906.3A patent/CN105281825B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2014-09-10 US US14/482,741 patent/US9467758B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002079758A1 (en) * | 2001-03-29 | 2002-10-10 | Circadiant Systems, Inc. | Error function analysis of optical components with uncertainty ranges |
CN202231724U (zh) * | 2011-10-20 | 2012-05-23 | 上海市计量测试技术研究院 | 无源光网络光功率计校准装置 |
CN103067074A (zh) * | 2011-10-20 | 2013-04-24 | 上海市计量测试技术研究院 | 无源光网络光功率计校准装置及校准方法 |
CN103686968A (zh) * | 2013-12-03 | 2014-03-26 | 波达通信设备(广州)有限公司 | 一种数字微波收发信机的发射功率校准方法及其校准电路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9467758B2 (en) | 2016-10-11 |
TW201603508A (zh) | 2016-01-16 |
CN105281825A (zh) | 2016-01-27 |
US20160011264A1 (en) | 2016-01-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN105281825B (zh) | 测试系统和方法 | |
CN107408982B (zh) | 用于otdr发送器噪声补偿的装置、方法和计算机可读存储器 | |
EP2507925B1 (en) | Improvements in optical networks | |
US8913887B2 (en) | Passive optical fiber plant analysis | |
US7894362B2 (en) | Passive optical network topology estimation | |
US8068729B2 (en) | Network testing apparatus, network testing method and recording medium thereof | |
CN109819352B (zh) | 一种光纤数据处理系统架构及处理方法 | |
US11825249B2 (en) | Systems and methods for measurement of optical parameters in an optical network | |
CN104811243B (zh) | 长发光检测方法及装置 | |
WO2017197978A1 (zh) | 一种测距方法、光线路终端和光网络单元 | |
Simioni et al. | Upgrade of the ATLAS Level-1 Trigger with event topology information | |
CN209218092U (zh) | 一种量子密钥生成系统光纤链路衰减监测装置 | |
CN103997372B (zh) | 一种光线路终端光模块的状态监控方法及装置 | |
CN101505439B (zh) | 用于协调无源光网络中的测量和校准的方法 | |
CN105610535B (zh) | Epon接入业务的往返时间同步方法和系统 | |
CN202309718U (zh) | 集成集中器功能的数据隔离多信道透传olt、与其配套使用的核心板系统和电表组网系统 | |
CN105656648B (zh) | Odn资源梳理方法及系统 | |
CN102291177B (zh) | 光纤检测方法及光模块 | |
CN104981990A (zh) | 检测上行光信号的功率的方法、装置、光线路终端和光网络系统 | |
CN202231724U (zh) | 无源光网络光功率计校准装置 | |
CN101919189A (zh) | 自动验证光网络节点内的连通性的方法和设备 | |
CN103888185A (zh) | 一种光网络单元的检测方法及装置、系统 | |
CN105577269B (zh) | 一种光路检测方法和装置 | |
CN110213681A (zh) | 混合pon系统中对光功率临界onu的管理方法及装置 | |
CN207623567U (zh) | 一种高隔离度波分复用器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20171219 Termination date: 20190808 |