CN103763019A - 一种调测试系统的自动校准方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种调测试系统的自动校准方法,该方法采用软件自动处理收发端系统衰减校准因子,在前一站工序/系统,初始化器件或者光模块的发端平均光功率Aop和收端监控校准RSSI,在后面任何一站工序中直接获取模块初始化的平均光功率Aop和收端监控校准RSSI,同时从调测试系统设备中读取系统衰减后的平均光功率Aop’和收端监控校准RSSI’,软件自动计算获得系统发端衰减校准因子=Aop-Aop’,收端衰减校准因子=RSSI’-RSSI。这样获得的系统衰减校准因子是实时的,精确的,无需人工校准,降低了人力资源成本,可以大幅度降低了光模块的制造成本,提高一次测试通过良品率。
Description
技术领域
本发明应用于光通信领域中调测试系统的自动校准,本发明涉及收发器件收端和发端系统衰减校准因子的处理方法。
背景技术
当前光器件和光模块制造领域中,对调测系统的衰减校准因子采用手工校准所获得。如用光功率计分别获得等待调测模块实际发出的光功率Aop1,再手动通过调测试系统中的设备光功率计测试系统衰减后的光功率Aop2,然后手动计算获得发端校准因子Aop1-Aop2,再录入到相关系统或者软件里面;收端校准的方法也类似,通过光功率计手动测试光源发出的光功率Aop1’,光源经过系统衰减后通过用系统收端的光功率计Aop2’,从而获得收端校准因子Aop1’-Aop2’。随着光纤到户事业的膨胀式的发展和对光器件、光模块的需求数量的剧增,以及低成本高和品质的要求,这种现有的方法已经不在适应了。
事实上,当前这种老的方法存在诸多弊端,
1) 需要投入诸多的人力资源和校准设备;
2) 无法对每一只模块/光器件校准,因此无法把不同插拔、端面“脏”、光纤测试跳线不同程度被折弯、挤压等不可控制因素带来的对衰减校准因子的影响因素考到衰减校准因子中去;
一旦发生较小的变异:如设备自身衰减因子的微变,或者光线跳线的自身衰减校准因子的变化(如从0.05db变成0.3db),或者光纤跳线折弯程度变化等,这些不可控的变化发生时,系统衰减校准因子理应发生变化,但是当前的方法是无法实时获得校准因子的。当前这种类似“每天或者每班”校准一次,在下一次校准之前一直沿用相同的校准因子,是大概值,不精确甚至是错误的,比如以LC or SC 类型的光纤连接头带来的不同插拔实插损经常在-0.5~0.5db甚至端面脏时在更大的范围内变化,严重影响了调测试系统的精确度和一次测试良品通过率,也影响了调试参数结果的分布(校差的CPK)等。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足,本发明提供了以下的技术方案,提供一种调测试系统的自动校准方法,该方法包括以下步骤:
1.一种调测试系统的自动校准方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
步骤1:自定义设置前一站工序/系统,并通过软件初始化模块,初始化器件或者光模块的发端平均光功率Aop和收端监控校准RSSI;
步骤2:后面任何一站工序/系统,自动调用初始化工序的数据结果,并读取实际系统设备监测到的实际值,软件自动计算系统衰减校准因子。
进一步的,在步骤1中还包括以下步骤:
步骤101:软件读取待调测模块的相关信息;
步骤102:软件自动通过微调光功率对应的DAC电流值,获得目标光功率值Aop,并把光功率值写入数据库中;
步骤103:软件自动通过微调收端衰减器,获得待测模块收端收到的监控校准值RSSI,并将监控校准值写入到数据库中。
进一步的,在步骤2中还包括:
后面任何一站工序/系统,从数据库中直接读取模块应当发出的平均光功率Aop,同时从系统相关的设备中读取系统衰减后的平均光功率Aop’;通过微调调测试系统中的可变衰减器,得到软件从模块中监控到的收端监控值RSSI,此时从光功率计上读取到的光功率Aop〞,记作RSSI’,通过软件自动计算得到系统发端衰减校准因子=Aop-Aop’,收端衰减校准因子= RSSI’-RSSI。
进一步的,在步骤2中还包括以下步骤:
步骤201:自动获得待调测模块的相关信息;
步骤202:软件自动从数据库中调用该模块发端实际应该发出的光功率Aop,然后从测试设备中读取系统衰减后的实际测出来的光功率Aop’,软件自动计算出系统发端校准因子=实际应该发出的光功率Aop-实际测出来的光功率Aop’;
步骤203:通过微调调测试系统中的可变衰减器,软件自动从数据库中调用该模块收端监控校准值RSSI,得到监控到的收端监控值RSSI,此时从光功率计上读取到的光功率Aop〞,记作RSSI’, 软件自动计算,获得收端的系统校准因子=实际系统设备监测到的实际值RSSI’ (视为光源实际发出的光功率)-待测器件/模块监控到的值RSSI。
与现有技术相比,本发明的有益效果为:
本方案系统衰减校准因子是实时的,精确的,可以大幅度提高一次测试通过良品率,从而也提高了产品的品质;同时,本发明无需人工校准,降低了人力资源成本,大大提高了系统的效率,特别是加以利用到全温多通道调测试系统后,大幅度降低了光模块的制造成本。
本发明的简写说明:
Aop:Average Optical Power,即平均光功率;
RSSI: Received Signal Strength Indication,接收端的信号强度指示,即收端监控到的信号强弱具体值;
Rx_Cal_Factor:收端系统衰减校准因子;
Tx_Cal_Factor:发端系统衰减校准因子;
ATE:Automatic Test Equipment,即自动测试设备。
附图说明
图1调测试系统的自动校准方法流程图。
图2调测试系统的自动校准方法初始化流程图。
图3调测试系统的自动计算校准因子流程图。
具体实施方式
下面结合实际案例及具体实施方式对本发明作进一步的详细描述。但不应将此理解为本发明上述主题的范围仅限于以下的实施例,凡基于本发明内容所实现的技术均属于本发明的范围。
本方案采用软件自动处理收发端系统衰减校准因子,无需人工校准。具体方案是,设置前一站工序/系统,初始化器件或者光模块的发端平均光功率Aop和收端监控校准RSSI,后续工序(后面任何一道工序)软件直接从数据库中获取模块发出的平均光功率Aop,同时从调测试系统设备中读取系统衰减后的平均光功率Aop’;通过微调调测试系统中的可变衰减器,获得一个收端目标值RSSI,此时软件从光功率计上读取到的光功率Aop〞,记作RSSI’。于是:系统发端衰减校准因子=Aop-Aop’,系统收端衰减校准因子=RSSI’-RSSI。这样校准后,软件相当于对每一只快速校准获得最精确的实时校准因子。这样获得的系统衰减校准因子已经含了不同产品/模块与光纤连接头连接时产生的各种不可控制的因素带来的对衰减校准因子的影响,比如法兰盘的插拔差异、光纤连接头的端面“脏”、光纤调测不同程度的弯折和挤压等带来的差异、仪器设备因温度的差异带来的衰减差异等无法人工实时有效地控制的因素。
以下是以一只SN为DDL2002168和型号为/N: SP-MR-SR1-IDFB-EN#11的光模块为例,介绍在实际调测中是如何自动获得调测试系统收端、发端的校准因子。
如图1所示,步骤1:前一站系统/工序(一般是第一个工序,但显然不局限于第一个工位)通过软件初始化模块,自动初始化 Aop和RSSI,得到Aop=-5.90dBm,RSSI=-9.07dBm。
步骤2:后一站系统/工序(显然不局限于第二站,凡指后面任何一站)自动调用初始化的工序的平均光功率Aop,同时从系统相关的设备中读取系统衰减后的平均光功率Aop’ =-10.76dBm;通过微调调测试系统中的可变衰减器,自动得到软件监控收端监控值RSSI,此时从光功率计上读取到的光功率Aop〞,记作RSSI’= -4.62dBm,软件自动计算得到系统发端衰减校准因子=Aop-Aop’,系统收端衰减校准因子= RSSI’-RSSI。
通过以上自动软件获取数据信息:
Aop=-5.90,Aop’=-10.76,RSSI=-9.07,RSSI’=-4.62。
如图2所示,在步骤1中还包括以下步骤:
步骤101:软件读取待调测模块的相关信息;
步骤102:软件自动通过微调光功率对应的DAC值(电流),获得目标光功率值(本案例目标范围是-5.7~-6.3,显然不局限于该范围),这里实际调到的光功率为-5.90dBm,并把-5.90写入数据库中;
步骤103:软件自动通过微调收端衰减器,目的是待测模块收端收到目标光功率值-9.00dBm(实际范围是-8.50~-9.50,即为调试结束),本次实际收端监控到的光功率值为-9.07dBm,并把该值写入到数据库中。
如图3所示,在步骤2中还包括以下步骤:
步骤201:自动获得待调测模块的相关信息;
步骤202:软件自动从数据库中调用该模块实际应该发出的光功率:-5.90dBm,然后从测试设备中读取经过系统衰减后的实际测出来的光功率:-10.76,于是软件自动计算出系统发端校准因子=-5.90-(-10.76)=4.86,同样获得收端的系统校准因子=-4.62-(-9.07)=4.45。
于是自动软件自动获得如下系统衰减校准因子:
Tx_Cal_Fator:4.8 [=-5.90-(-10.76)];
RX_Cal_Factor:4.45[=-4.62-(-9.07)]。
本方案系统衰减校准因子是实时的,精确的,可以大幅度提高一次测试通过良品率,从而也提高了产品的品质;同时,本发明无需人工校准,降低了人力资源成本,大大提高了系统的效率,特别是加以利用到全温多通道调测试系统后,大幅度降低了光模块的制造成本。
Claims (4)
1.一种调测试系统的自动校准方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
步骤1:自定义设置前一站工序/系统,并通过软件初始化模块,初始化器件或者光模块的发端平均光功率Aop和收端监控校准RSSI;
步骤2:后面任何一站工序/系统,自动调用初始化工序的数据结果,并读取实际系统设备监测到的实际值,软件自动计算系统衰减校准因子。
2.根据权利要求1所述的调测试系统的自动校准方法,其特征在于,在步骤1中还包括以下步骤:
步骤101:软件读取待调测模块的相关信息;
步骤102:软件自动通过微调光功率对应的DAC电流值,获得目标光功率值Aop,并把光功率值写入数据库中;
步骤103:软件自动通过微调收端衰减器,获得待测模块收端收到的监控校准值RSSI,并将监控校准值写入到数据库中。
3.根据权利要求1所述的调测试系统的自动校准方法,其特征在于,在步骤2中还包括:
后面任何一站工序/系统,从数据库中直接读取模块应当发出的平均光功率Aop,同时从系统相关的设备中读取系统衰减后的平均光功率Aop’;通过微调调测试系统中的可变衰减器,得到软件从模块中监控到的收端监控值RSSI,此时从光功率计上读取到的光功率Aop″,记作RSSI’,通过软件自动计算得到系统发端衰减校准因子=Aop-Aop’,收端衰减校准因子=RSSI’-RSSI。
4.根据权利要求3所述的调测试系统的自动校准方法,其特征在于,在步骤2中还包括以下步骤:
步骤201:自动获得待调测模块的相关信息;
步骤202:软件自动从数据库中调用该模块发端实际应该发出的光功率Aop,然后从测试设备中读取系统衰减后的实际测出来的光功率Aop’,软件自动计算出系统发端校准因子=实际应该发出的光功率Aop-实际测出来的光功率Aop’;
步骤203:通过微调调测试系统中的可变衰减器,软件自动从数据库中调用该模块收端监控校准值RSSI,得到监控到的收端监控值RSSI,此时从光功率计上读取到的光功率Aop″,记作RSSI’,软件自动计算,获得收端的系统校准因子=实际系统设备监测到的实际值RSSI’-待测器件/模块监控到的值RSSI。
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