CN105984723B - 电子元件作业装置的气压式检知机构、方法及其应用设备 - Google Patents

Abstract

本发明是一种电子元件作业装置的气压式检知机构、方法及其应用设备，包含作业机构、移料机构及检知机构，作业机构设有承置器，该移料机构带动取放器的拾取件位移至作业机构的承置器处，该检知机构是在取放器内设有具气室的负压结构，负压结构并设有可控制气室启闭的控制部件，一真空单元以真空产生器连通气室及拾取件的抽气道，使拾取件具有吸力执行吸取电子元件作业，真空单元并以装配于真空产生器与取放器间的真空感测器检知取放器的负压值，并将负压值资料传输至比对单元，比对单元的控制器将负压值资料与资料库的设定负压范围资料作比对，以分析取放器的吸附状态，进而检知出承置器的异常承置状态，以便立即排除异常，提升作业效能。

Description

电子元件作业装置的气压式检知机构、方法及其应用设备

技术领域

本发明涉及一种移料机构的取放器于作业机构的承置器处执行吸取电子元件作业时，可利用检知机构侦测取放器的负压值是否异常，以进一步判别承置器是否发生异常承置状态，而即时排除异常，进而提升作业效能的电子元件作业装置的气压式检知机构及检知方法。

背景技术

在现今，电子元件作业设备以具吸附式取放器的移料机构，在不同作业机构的承置器(例如输送机构的载台、供料机构的供料盘或测试机构的测试座)处取放及移载电子元件，然而作业机构的承置器于正常承置状态下，以一容置槽承置单一水平摆置的待作业电子元件，以供移料机构的取放器取出移载至另一作业装置，由于承置器可能会发生容置槽内并无承置电子元件或一次承置复数个堆迭电子元件，也或承置倾斜电子元件等异常承置状态，一旦未即时发现承置器的异常承置状态，将会造成移料机构空跑移载行程或压损电子元件等问题，进而影响后续作业流程；因此，目前电子元件作业设备是在承置器的侧方均设置有光感测器，以感测承置器内的电子元件是否放置异常，如发现异常，可立即停机排除异常。

请参阅图1、图2，该电子元件作业设备的机台上配置有具承置器11的输送机构，该承置器11设有复数个承置待作业电子元件12的容置槽111，并可载送待作业的电子元件12至不同作业装置；然为了检查承置器11是否发生无承置电子元件或承置二堆迭电子元件等异常承置状态，是在承置器11的两侧方配置相对应容置槽111数量的复数组光散式感测器，各组光散式感测器是在承置器11的一侧设有光源发射件13，于另一侧设有光源接收件14，该光源发射件13对承置器11发射光线，并由光源接收件14接收光线，以感测承置器11的容置槽111内的电子元件12对光线的遮光量，若遮光量为预设单一且水平摆置的电子元件12的遮光量，则判别承置器11为正常承置状态，而可由移料机构(图未示出)的取放器取出移载至下一装置处，若遮光量为非预设遮光量，则判别承置器11发生承置二个电子元件或倾斜电子元件等异常承置状态，进而控制作业设备立即停机以排除异常；然而，于使用上具有如下缺失：

1.由于电子元件日趋精密微小，其放置于容置槽111内的遮光量变化也就更小，导致光散式感测器的光源接收件14不易感测到微小的遮光量变化，以致无法确实检查出承置器11的异常承置状态，进而发生误判的情形，使得工作人员无法立即排除异常，造成影响后续作业的缺失。

2.由于为确实检查承置器11的各容置槽111是否承载异常，配置有相对应容置槽111数量的光散式感测器，若承置器11的容置槽111数量繁多，则必须配置更多的光散式感测器，不仅占用空间，也增加设备成本；再者，作业设备大多设有复数个具有承置器的作业机构(如供料机构、输送机构或测试机构)，以致必须于不同作业机构处独立配置有光散式感测器，以致整个作业设备需配置相当多数量的光散式感测器，造成更加耗费成本的缺失。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明的目的在于：提供一种电子元件作业装置的气压式检知机构、方法及其应用设备，解决现有技术中存在的上述技术问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种电子元件作业装置的气压式检知机构，其特征在于，包含：

作业机构：设有至少一承置器，用以承置电子元件；

移料机构：设有至少一取放器，该取放器设有作至少一方向位移的拾取件，该拾取件设有至少一连通外部的抽气道，并设有至少一连通该抽气道的吸取部，用以取放移载该电子元件；

检知机构：设有负压结构、真空单元及比对单元，该负压结构是在该移料机构的拾取件周侧设有至少一相通至该取放器外部的气室，该负压结构并设有至少一控制该气室启闭的控制部件，该真空单元设有真空产生器及真空感测器，该真空产生器连通该抽气道及该气室，该真空感测器设置于该真空产生器与该取放器之间，以感测该取放器的负压值，并将感测的负压资料传输至该比对单元，该比对单元设有资料库及控制器，该资料库内建有设定负压范围资料，该控制器将感测的负压资料与该资料库的设定负压范围资料进行比对。

所述的电子元件作业装置的气压式检知机构中，该移料机构的取放器设有具有容置空间的本体，并在该容置空间内装设有该拾取件。

所述的电子元件作业装置的气压式检知机构中，该取放器的拾取件在该吸取部装配有吸盘。

所述的电子元件作业装置的气压式检知机构中，该取放器的拾取件在该吸取部的外侧设有至少一下压件。

所述的电子元件作业装置的气压式检知机构中，该检知机构的负压结构在该控制部件与该本体之间设有垫片。

所述的电子元件作业装置的气压式检知机构中，该检知机构的负压结构在该移料机构的拾取件外环面设有控制部件。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案还包括：

一种电子元件作业装置的检知方法，其特征在于，包含：

对位程序：该移料机构的取放器与该作业机构的承置器相对位，以供取料；

取料程序：该移料机构的取放器于该作业机构的承置器上执行取料作业；

抽真空程序：该检知机构的真空单元的真空产生器抽吸该拾取件的抽气道及该气室的空气；

检知比对程序：该检知机构的真空单元的真空感测器检知该取放器的负压值，并将感测的负压值资料传输至该比对单元，该比对单元的控制器将感测的负压值资料与该资料库内建的设定负压范围资料进行比对，以判别该取放器的吸附状态及该承置器的承置状态。

所述的电子元件作业装置的检知方法中，在执行该对位程序前，执行负压状态设定程序，该负压状态设定程序是在该资料库内建立复数种不同负压范围资料。

所述的电子元件作业装置的检知方法中，该检知比对程序判别出该承置器有异承承置状态后，发出警示讯息，以通知进行排除异常。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案还包括：

一种应用电子元件作业装置的作业设备，其特征在于，包含：

机台；

至少一所述的电子元件作业装置的气压式检知机构配置于该机台，并设有至少一作业机构及至少一移料机构及至少一检知机构，用以对电子元件执行预设作业及检知作业；

中央控制装置是用以控制及整合各装置作动，以执行自动化作业。

与现有技术相比较，本发明具有的有益效果是：

本发明提供一种电子元件作业装置的气压式检知机构及检知方法，该作业装置包含作业机构、移料机构及检知机构，该作业机构设有承置电子元件的承置器，该移料机构带动取放器的拾取件位移至作业机构的承置器处，该检知机构是在取放器内设有具气室的负压结构，负压结构并设有可控制气室启闭的控制部件，一真空单元以真空产生器连通气室及拾取件的抽气道，使拾取件具有吸力执行吸取电子元件作业，真空单元并以装配于真空产生器与取放器间的真空感测器检知取放器的负压值，并将负压值资料传输至比对单元，比对单元的控制器将负压值资料与资料库的设定负压范围资料作比对，以分析取放器的吸附状态，进而检知出承置器的异常承置状态，以便立即排除异常，达到提升作业效能的实用效益。

本发明提供一种电子元件作业装置的气压式检知机构及检知方法，其中，该检知机构装配于移料机构上，而可同步位移至不同作业装置处，并以真空感测器即时检知取放器的负压值，且将负压值资料传输至比对单元，以供判别承置器是否承置异常，检知机构不需于各承置器侧方或不同作业装置处配置繁多数量的光散式感测器，不仅有效节省成本，并利于机台空间运用，达到提升使用效能的实用效益。

本发明提供一种应用电子元件作业装置的作业设备，其中，该作业设备包含机台、作业装置及中央控制装置，该作业装置装配于机台，并设有至少一作业机构及至少一移料机构及至少一检知机构，用以对电子元件执行预设作业及检知作业，该中央控制装置用以控制及整合各装置作动，以执行自动化作业，达到提升作业效能的实用效益。

附图说明

图1是现有光散式感测器与承置器的配置示意图；

图2是现有光散式感测器与承置器的使用示意图；

图3是本发明第一实施例作业装置的示意图；

图4是第一实施例作业装置的承置器承置单一电子元件的使用示意图；

图5是第一实施例作业装置的承置器承置复数电子元件的使用示意图；

图6是第一实施例作业装置的承置器无承置电子元件的使用示意图；

图7是本发明检知方法的流程图；

图8是本发明第二实施例作业装置的示意图；

图9是第二实施例作业装置的承置器承置单一电子元件的使用示意图；

图10是第二实施例作业装置的承置器承置复数电子元件的使用示意图；

图11是第二实施例作业装置的承置器无承置电子元件的使用示意图；

图12是本发明第三实施例作业装置的示意图；

图13是第三实施例作业装置的承置器承置单一电子元件的使用示意图；

图14是第三实施例作业装置的承置器承置复数电子元件的使用示意图；

图15是第三实施例作业装置的承置器无承置电子元件的使用示意图；

图16是本发明作业装置应用于作业设备的示意图。

附图标记说明：[现有技术]承置器11；容置槽111；电子元件12；光源发射件13；光源接收件14；[本发明]作业装置20；作业机构21；承置器211；容置槽2111；移料机构22；取放器221；本体2211；容置空间2212；拾取件2213；弹簧2214；吸取部2215；抽气道2216；控制部件2217；吸盘2218；下压件2219；驱动结构222；驱动器2221；检知机构23；气室231；垫片232；真空产生器233；真空感测器234；管路235；资料库236；控制器237；作业机构24；承置器241；容置槽2411；作业机构25；承置器251；容置槽2511；供料作业机构261；供料承置器2611；收料作业机构262；收料承置器2621；第一移料机构263；第一检知机构264；输送作业机构265；第一入料承置器2651；第二入料承置器2652；第一出料承置器2653；第二出料承置器2654；测试作业机构266；测试承置器2661；第二移料机构267；第三移料机构268；第二检知机构269；第三检知机构270；第四移料机构271；第四检知机构272；步骤31～43；机台50；电子元件A。

具体实施方式

为使贵审查委员对本发明作更进一步的了解，兹举一较佳实施例并配合图式，详述如后：

请参阅图3，是本发明作业装置20的第一实施例，包含至少一作业机构21、至少一移料机构22及至少一检知机构23，该作业机构21设有至少一承置器211，用以承置电子元件，更进一步，该作业机构21可为供料作业机构、收料作业机构、测试作业机构或输送作业机构，而执行供料作业、收料作业、测试作业或输送作业，该承置器211可为供料盘、收料盘、测试座或载台，并固定于机台(图未示出)或于机台上作至少一方向位移，于本实施例中，该作业机构21是输送作业机构，并设有至少一为载台的承置器211，该承置器211上设有复数个承置电子元件的容置槽2111，并作第一方向(如X方向)位移而执行载送电子元件作业；该移料机构22设有至少一取放器221，用以于作业机构21的承置器211处取放及移载电子元件，于本实施例中，该取放器221设有具至少一容置空间2212的本体2211，并于容置空间2212内装设一套置弹簧2214的拾取件2213，该拾取件2213的一端设有为刚性管体的吸取部2215，用以取放及压测电子元件，并于内部设有连通吸取部2215的抽气道2216，另该移料机构22设有驱动结构222，该驱动结构222设有至少一驱动器2221，用以带动取放器221作至少一方向位移，于本实施例中，该移料机构22的驱动器2221带动取放器221作第二、三方向(如Y、Z方向)位移；该检知机构23包含负压结构、真空单元及比对单元，该负压结构是在取放器221的拾取件2213周侧设有至少一气室231，气室231连通取放器221的外部，负压结构并设有至少一可控制气室231启闭的控制部件，于本实施例中，是在拾取件2213的周侧设有气室231，并于拾取件2213的外环面凸设有控制部件2217，以控制气室231启闭，控制部件2217下方与本体2211间则设有垫片232，该拾取件2213以本身重量压抵于垫片232上，而防止气室231破真空，该真空单元设有真空产生器233及真空感测器234，该真空产生器233以管路235连通取放器221的抽气道2216及负压结构的气室231，使抽气道2216及气室231形成真空负压状态，以使取放器221的拾取件2213具有吸力而吸取电子元件，该真空感测器234设置于真空产生器233与取放器221之间，以感测取放器221内的负压值，并将负压值资料传输至比对单元，该比对单元设有资料库236及控制器237，该资料库236内建有取放器221不同吸附状态的设定负压范围资料，该控制器237用以接收真空感测器234传输的负压值资料，并将负压值资料与资料库236的设定负压范围资料进行比对，以分析出取放器221目前的吸附状态，而进一步检知出承置器211是否有异常承置状态，以便立即排除异常。

请参阅图4，若作业机构21的承置器211承置单一且平整摆置的电子元件A位移至移料机构22的取放器221下方，并令承置器211的容置槽2111对位于取放器221的拾取件2213时，该移料机构22以驱动结构222的驱动器2221带动取放器221作第三方向向下位移，取放器221以拾取件2213刚性的吸取部2215接触且压抵电子元件A，电子元件A会对拾取件2213产生一反作用力，由于拾取件2213的吸取部2215是刚性材质，该吸取部2215于承受反作用力时，直接带动拾取件2213作第三方向向上位移，且压缩弹簧2214，由于拾取件2213仅承受单一电子元件A的反作用力顶推，并不会作过当的第三方向位移，使得拾取件2213的控制部件2217仍保持压抵于垫片232上，以防止取放器221内的气室231泄压，由于气室231及拾取件2213的抽气道2216均保持封闭而可防止破真空，当检知机构23以真空产生器233抽吸该气室231及抽气道2216内的空气时，可令气室231及抽气道2216形成真空状态，使取放器221以预设负压值的吸力吸取电子元件A，同时，该检知机构23以真空感测器234感测取放器221的负压值，并将负压值资料传输至比对单元，比对单元的控制器237将负压值资料与资料库236的设定负压范围资料进行比对，以分析出取放器221目前的吸附状态，而进一步检知出承置器211是否有异常承置状态，以便立即排除异常。

请参阅图5，若作业机构21的承置器211承置二个堆迭的电子元件A位移至移料机构22的取放器221下方，并令承置器211的容置槽2111对位于取放器221的拾取件2213时，该移料机构22以驱动结构222的驱动器2221带动取放器221作第三方向向下位移，取放器221以拾取件2213刚性的吸取部2215接触且压抵电子元件A，由于二个迭置电子元件A的高度较高，以致取放器221的拾取件2213会作过当压抵二个迭置电子元件A，二个迭置电子元件A即对拾取件2213产生较大的反作用力，以致拾取件2213作较大的第三方向向上位移，并压缩弹簧2214，令拾取件2213的控制部件2217脱离垫片232，虽然拾取件2213被电子元件A封闭，但拾取件2213的控制部件2217与垫片232间具有间隙，令气室231可发生微量泄压，当真空单元的真空产生器233抽吸取放器221的抽气道2216及气室231的空气时，可利用气室231的微量泄压，促使取放器221内的负压值发生变化，令取放器221的负压值低于预设负压值，并以较低的吸力吸附承置器211上的电子元件A，该检知机构23以真空感测器234感测取放器221的负压值，并将负压值资料传输至比对单元，比对单元的控制器237将负压值资料与资料库236的设定负压范围资料进行比对，以分析出取放器221目前的吸附状态，而进一步检知出承置器211是否有异常承置状态，以便立即排除异常。

请参阅图6，若作业机构21的承置器211无承置电子元件位移至移料机构22的取放器221下方，并令承置器211的容置槽2111对位于取放器221的拾取件2213时，该移料机构22以驱动结构222的驱动器2221带动取放器221作第三方向向下位移而执行取料动作，该检知机构23以真空产生器233抽吸取放器221的抽气道2216及气室231的空气，由于承置器211的容置槽2111内并无电子元件，以致取放器221的拾取件2213未被封闭而形成破真空状态，并不具吸力，该检知机构23的真空感测器234感测取放器221的负压值，并将负压值资料传输至比对单元，比对单元的控制器237将负压值资料与资料库236的设定负压范围资料进行比对，以分析出取放器221目前的吸附状态，而进一步检知出承置器211是否有异常承置状态，以便立即排除异常。

再请参阅图3，然于执行检知作业前，先执行负压状态设定程序，该负压状态设定程序是在资料库236内建立复数种不同负压范围资料，以区别取放器221的不同吸附状态，而供判别承置器211的不同承置情况，于本实施例中，是在资料库236设定有第一种预设负压状态、第二种低于预设负压状态及第三种非负压状态，其中，第一种预设负压状态，其负压值范围设定为-90～-80kpa，当真空感测器234感测到取放器221的负压值为-90～-80kpa时，即表示取放器221为正常吸附状态，也表示承置器211是承置单一且水平摆置电子元件的正常承置情况(如图4)；第二种低于预设负压状态，其负压值范围设定为-80～-10kpa，当真空感测器234感测到取放器221的负压值为-80～-10kpa，即表示取放器221为异常吸附状态，也表示承置器211是承置倾斜电子元件或复数个电子元件等异常承置情况(如图5)；第三种非负压状态，其负压值范围设定为-10～0kpa，当真空感测器234感测到取放器221的负压值为-10～0kpa，即表示取放器221为异常破真空吸附状态，也表示承置器211是无承置电子元件的异常承置情况(如图6)；因此，本发明可于资料库236设定不同负压值状态，以供对照取放器221的负压值，进而比对出取放器221的吸附状态及承置器211的承置情况。

请参阅图4、图7，是本发明的检知方法，在执行作业时，进行对位程序，执行步骤31，其移料机构22的取放器221与作业机构21的承置器211相对位，更进一步，该移料机构22可驱动取放器221位移至作业机构21的承置器211的上方，也或作业机构21驱动承置器211位移至移料机构22的取放器221下方，于本实施例中，作业机构21的承置器211作第一方向位移至移料机构22的取放器221下方，令承置器211的容置槽2111对应于取放器221的拾取件2213，以供取放器221取料；接着进行取料程序，执行步骤32，其该移料机构22以取放器221于作业机构21的承置器211上执行取料，于本实施例中，移料机构22的取放器221作第三方向向下位移，令取放器221的拾取件2213于承置器211的容置槽2111执行取料；接着进行抽真空程序，执行步骤33，其检知机构23的真空单元以真空产生器233抽吸该拾取件2213的抽气道2216及气室231的空气；同时，进行检知比对程序，执行步骤34，其该检知机构23以真空单元的真空感测器234感测取放器221的负压值，并将感测的负压值资料传输至比对单元，该比对单元的控制器237将感测的负压值资料与资料库236内建的设定负压范围资料进行比对，以判别该取放器221的吸附状态及该承置器211的承置状态，该比对单元的控制器237即可将感测的负压值资料与资料库236内建设定的复数种不同负压范围资料进行比对；接着执行步骤35，比对单元的控制器237先判断取放器221的负压值是否符合资料库236内建的第一种预设负压状态(-90～-80kpa)，若不符合，则执行步骤36，若符合，则执行步骤37，因此，当控制器237将取放器221的负压值(如为-90kpa)与资料库236内建的复数种不同负压范围资料进行比对，而判断符合第一种预设负压状态(-90～-80kpa)，即表示取放器221以预设负压值吸附电子元件A，而为正常吸附状态，即接着执行步骤37，由于取放器221为正常吸附状态，控制器237可进一步判断承置器211是承置单一且水平摆置电子元件A的正常承置情况(请配合参阅图4)；接着执行步骤38，该移料机构22的取放器222于作业机构21的承置器211处执行取出移载电子元件A的作业；然，若取放器221的负压值(如为-70kpa)不符合资料库236的第一种预设负压状态，执行步骤36，控制器237判断取放器221的负压值(如为-70kpa)是否符合第二种低于预设负压状态(-80～-10kpa)，若不符合，则执行步骤39，若符合，则执行步骤40，因此，当控制器237依据资料库236内建的复数种不同负压范围资料，而判断取放器221的负压值(如为-70kpa)符合第二种低于预设负压状态(-80～-10kpa)，即表示取放器221的负压值低于预设负压值，以较低的吸力吸附电子元件A，而为异常吸附状态，即执行步骤40，由于取放器221为异常吸附状态，控制器237可进一步判断承置器211是承置复数个电子元件A或倾斜电子元件A等异常承置情况(请配合参阅图5)；接着执行步骤41，检知机构23的比对单元发出警告讯息，以通知工作人员即时排除异常；再者，若取放器221的负压值(如为0kpa)不符合资料库236的第二种低于预设负压状态，执行步骤39(请配合参阅图6)，控制器237判断取放器221的负压值(如为0kpa)符合第三种非负压状态，即表示取放器221并无吸附电子元件A，而为异常破真空，接着执行步骤42，由于取放器221为异常破真空，控制器237依据资料库236内建的复数种不同负压范围资料，进一步判断承置器211是无承置电子元件A的异常承置情况；接着执行步骤43，检知机构23的比对单元发出警告讯息，以通知工作人员即时排除异常。

请参阅图8，本发明作业装置20的第二实施例，包含至少一作业机构24、至少一移料机构22及至少一检知机构23，于本实施例中，该作业机构24是供料作业机构，其承置器241是供料盘，用以容置复数个待作业的电子元件；该移料机构22另于取放器221的拾取件2213套置弹簧2214，并于刚性的吸取部2215处装设有相通且为软质的吸盘2218，用以接触电子元件；该检知机构23包含负压结构、真空单元及比对单元，该负压结构是在拾取件2213的周侧设有气室231，并于拾取件2213的外环面凸设有控制部件2217，以控制气室231启闭，控制部件2217下方与本体2211间则设有垫片232，该拾取件2213以本身重量压抵于垫片232上，而防止气室231破真空，该真空单元设有真空产生器233及真空感测器234，该真空产生器233以管路235连通拾取件2213的抽气道2216及负压结构的气室231，使抽气道2216及气室231形成真空负压状态，以供取放器221的拾取件2213吸取待作业的电子元件，该真空感测器234设置于真空产生器233与取放器221之间，以感测取放器221的负压值，并将负压资料传输至比对单元，该比对单元设有资料库236及控制器237，该资料库236内建有取放器221不同吸附状态的设定负压范围资料，该控制器237于接收到的负压资料后，即与资料库236的设定负压范围资料进行比对，以分析出取放器221目前的吸附状态，而进一步检知出承置器211是否有异常承置的状态，以便立即排除异常。

请参阅图9，若作业机构24的承置器241承置单一且平整摆置的电子元件A时，该移料机构22以驱动结构222的驱动器2221带动取放器221作第一、二、三方向向下位移，令取放器221的吸盘2218接触且压抵电子元件A，电子元件A会对吸盘2218产生一反作用力，而顶压吸盘2218扁平变形，由于取放器221的拾取件2213并未作第三方向位移，使得拾取件2213上的控制部件2217仍保持压抵于垫片232上，以防止拾取件2213周侧的气室231泄压，令气室231及拾取件2213的抽气道2216均保持封闭而防止破真空，进而检知机构23以真空产生器233抽吸该气室231及抽气道2216内的空气，使取放器221的拾取件2213以预设负压值的吸力吸取电子元件A，同时，该检知机构23以真空感测器234感测取放器221的负压值，并将负压值资料传输至比对单元，比对单元的控制器237将感测的负压值资料与资料库236的设定负压范围资料进行比对，以分析出取放器221目前的吸附状态，而进一步检知出承置器241是否有异常承置的状态，以便立即排除异常。

请参阅图10，若作业机构24的承置器241承置二个迭置的电子元件A时，该移料机构22以驱动结构222的驱动器2221带动取放器221作第一、二、三方向向下位移，令取放器221的吸盘2218接触且压抵电子元件A，由于二个迭置电子元件A的高度较高，以致取放器221的拾取件2213会过当压抵二个迭置电子元件A，二个迭置电子元件A即会对拾取件2213及吸盘2218产生较大的反作用力，而顶压吸盘2218扁平变形，并顶推带动拾取件2213作第三方向向上位移，且压缩弹簧2214，使得拾取件2213上的控制部件2217脱离垫片232，于检知机构23的真空单元以真空产生器233抽吸取放器221的抽气道2216及气室231的空气时，该控制部件2217与垫片232间之间隙，即会令拾取件2213周侧的气室231发生微量泄压，并可利用此一微量泄压而促使改变取放器221的负压值，使取放器221的负压值低于预设负压值，同时，该检知机构23以真空感测器234感测取放器221的负压值，并将负压值资料传输至比对单元，比对单元的控制器237将感测的负压值资料与资料库236的设定负压范围资料进行比对，以分析出取放器221目前的吸附状态，而进一步检知出承置器241是否有异常承置的状态，以便立即排除异常。

请参阅图11，若作业机构24的承置器241无承置电子元件时，该移料机构22以驱动结构222的驱动器2221带动取放器221作第一、二、三方向向下位移，而以拾取件2213执行取料动作，由于承置器241的容置槽2411内并无承置电子元件，而未封闭该取放器221的吸盘2218，当检知机构23的真空单元以真空产生器233抽吸取放器221的抽气道2216及气室231的空气时，取放器221的拾取件2213即形成破真空状态，而不具吸力，同时，该检知机构23以真空感测器234感测取放器221的负压值，并将负压值资料传输至比对单元，比对单元的控制器237将感测的负压值资料与资料库236的设定负压范围资料进行比对，以分析出取放器221目前的吸附状态，而进一步检知出承置器241是否有异常承置的状态，以便立即排除异常。

请参阅图12，本发明作业装置20的第三实施例，包含至少一作业机构25、至少一移料机构22及至少一检知机构23，于本实施例中，该作业机构25是测试作业机构，其承置器251是测试座，用以容置待测试的电子元件；该移料机构22另于取放器221的拾取件2213套置弹簧2214，并于刚性的吸取部2215处装设有相通且为软质的吸盘2218，用以接触电子元件，并于拾取件2213的刚性吸取部2215外侧设有至少一刚性的下压件，该下压件可与拾取件2213一体成型，或为一独立元件装配于拾取件2213，于本实施例中，是在拾取件2213的底部一体成型有下压件2219，用以压抵电子元件执行测试作业，以及防止取放器221于移载电子元件时发生偏斜，使取放器221平稳移载电子元件；该检知机构23包含负压结构、真空单元及比对单元，该负压结构是在拾取件2213的周侧设有气室231，并于拾取件2213的外环面凸设有控制部件2217，以控制气室231启闭，控制部件2217下方与本体2211间则设有垫片232，该拾取件2213以本身重量压抵于垫片232上，而防止气室231破真空，该真空单元设有真空产生器233及真空感测器234，该真空产生器233以管路235连通取放器221的抽气道2216及负压结构的气室231，用以抽气，使抽气道2216及气室231形成真空负压状态，以供取放器221的拾取件2213吸取待作业的电子元件，该真空感测器234设置于真空产生器233与取放器221之间，以感测取放器221的负压值，并将负压资料传输至比对单元，该比对单元设有资料库236及控制器237，该资料库236内建有取放器221不同吸附状态的设定负压范围资料，该控制器237于接收到的负压资料后，将感测的负压资料与资料库236的设定负压范围资料进行比对，以分析出取放器221目前的吸附状态，而进一步检知出承置器251是否有异常承置的状态，以便立即排除异常。

请参阅图13，当作业机构25的承置器251承置单一且平整摆置的电子元件A时，该移料机构22以驱动结构222的驱动器2221带动取放器221作第一、二、三方向向下位移，令取放器221的吸盘2218接触且压抵电子元件A，并以下压件2219压抵电子元件A，电子元件A会对拾取件2213的吸盘2218产生一反作用力，而顶压吸盘2218扁平变形，由于拾取件2213并未作第三方向位移，使得拾取件2213上的控制部件2217仍保持压抵于垫片232上，以防止拾取件2213周侧的气室231泄压，令气室231及拾取件2213的抽气道2216均保持封闭而防止破真空，进而检知机构23以真空产生器233抽吸该气室231及拾取件2213的抽气道2216内的空气，使取放器221以预设负压值的吸力吸取电子元件A，同时，该检知机构23以真空感测器234感测取放器221的负压值，并将负压值资料传输至比对单元，比对单元的控制器237将感测的负压值资料与资料库236的设定负压范围资料进行比对，以分析出取放器221目前的吸附状态，而进一步检知出承置器251是否有异常承置的状态，以便立即排除异常。

请参阅图14，若作业机构25的承置器251承置二个迭置的电子元件A时，该移料机构22以驱动结构222的驱动器2221带动取放器221作第一、二、三方向向下位移，令取放器221的吸盘2218接触电子元件A，并以下压件2219压抵电子元件A，由于二个迭置电子元件A的高度较高，以致取放器221的拾取件2213会过当压抵二个迭置电子元件A，二个迭置电子元件A即会对拾取件2213及吸盘2218产生较大的反作用力，而顶压吸盘2218扁平变形，并顶推带动拾取件2213作第三方向向上位移，且压缩弹簧2214，使得拾取件2213上的控制部件2217脱离垫片232，于检知机构23以真空产生器233抽吸取放器221的抽气道2216及气室231的空气时，该控制部件2217与垫片232间之间隙，即会令拾取件2213周侧的气室231发生微量泄压，并可利用此一微量泄压状态而促使改变取放器221的负压值，使取放器221的负压值低于预设负压值，同时，该检知机构23以真空感测器234感测取放器221的负压值，并将负压值资料传输至比对单元，比对单元的控制器237将感测的负压值资料与资料库236的设定负压范围资料进行比对，以分析出取放器221目前的吸附状态，而进一步检知出承置器251是否有异常承置的状态，以便立即排除异常。

请参阅图15，若作业机构25的承置器251无承置电子元件时，该移料机构22以驱动结构222的驱动器2221带动取放器221作第一、二、三方向向下位移，由于承置器251的容置槽2511内并无承置电子元件，而未封闭该取放器221的吸盘2218，于检知机构23的真空产生器233抽吸取放器221的抽气道2216及气室231的空气时，取放器221的拾取件2213即形成破真空状态，而不具吸力，同时，该检知机构23以真空感测器234感测取放器221的负压值，并将负压值资料传输至比对单元，比对单元的控制器237将感测的负压值资料与资料库236的设定负压范围资料进行比对，以分析出取放器221目前的吸附状态，而进一步检知出承置器251是否有异常承置的状态，以便立即排除异常。

请参阅图16，本发明作业装置20可应用于测试作业设备，该测试作业设备包含机台50、作业装置20及中央控制装置(图未示出)，于本实施例中，该作业装置20装配于机台50，并设有供料作业机构261、收料作业机构262、第一移料机构263、第一检知机构264、输送作业机构265、测试作业机构266、第二移料机构267、第三移料机构268、第二检知机构269、第三检知机构270、第四移料机构271及第四检知机构272；该供料作业机构261设有至少一为料盘的供料承置器2611，用以容纳至少一待测的电子元件；该收料作业机构262设有至少一为料盘的收料承置器2621，用以容纳至少一已测的电子元件；该第一移料机构263是在供料作业机构261的供料承置器2611处取出待测的电子元件，该第一检知机构264相同上述检知机构23，用以检知供料承置器2611是否异常承置电子元件，第一移料机构263将待测电子元件分别输送至输送作业机构265可为载台的第一入料承置器2651或第二入料承置器2652，第一入料承置器2651或第二入料承置器2652分别将待测电子元件载送至测试作业机构266侧方，以供第二移料机构267及第三移料机构268取出待测的电子元件，并载送至测试作业机构266可为测试座的测试承置器2661而执行测试作业，另该输送作业机构265设有可为载台的第一出料承置器2653及第二出料承置器2654，可位移至测试作业机构266的侧方，以分别承载第二移料机构267及第三移料机构268置入的已测电子元件，并载出测试作业机构266，该第二检知机构269及第三检知机构270相同上述检知机构23，用以检知第一、二入料承置器2651、2652及测试承置器2661及第一、二出料承置器2653、2654是否异常承置电子元件，该第四移料机构271是在第一出料承置器2653或第二出料承置器2654上取出已测电子元件，并依据测试结果，将已测电子元件输送至该收料作业机构262的收料承置器2621分类放置，第四检知机构272相同上述检知机构23，用以检知第一、二出料承置器2653、2654及收料承置器2621，该中央控制装置用以控制及整合各装置作动，以执行自动化作业，达到提升作业效能的实用效益。

Claims (10)

1.一种电子元件作业装置的气压式检知机构，其特征在于，包含：

作业机构：设有至少一承置器，用以承置电子元件；

移料机构：设有至少一取放器，该取放器设有作至少一方向位移的拾取件，该拾取件设有至少一连通外部的抽气道，并设有至少一连通该抽气道的吸取部，用以取放移载该电子元件；

检知机构：设有负压结构、真空单元及比对单元，该负压结构是在该移料机构的拾取件周侧设有至少一相通至该取放器外部的气室，该负压结构并设有至少一控制该气室启闭的控制部件，该真空单元设有真空产生器及真空感测器，该真空产生器连通该抽气道及该气室，该真空感测器设置于该真空产生器与该取放器之间，以感测该取放器的负压值，并将感测的负压资料传输至该比对单元，该比对单元设有资料库及控制器，该资料库内建有设定负压范围资料，该控制器将感测的负压资料与该资料库的设定负压范围资料进行比对。

2.根据权利要求1所述的电子元件作业装置的气压式检知机构，其特征在于，该移料机构的取放器设有具有容置空间的本体，并在该容置空间内装设有该拾取件。

3.根据权利要求2所述的电子元件作业装置的气压式检知机构，其特征在于，该取放器的拾取件在该吸取部装配有吸盘。

4.根据权利要求3所述的电子元件作业装置的气压式检知机构，其特征在于，该取放器的拾取件在该吸取部的外侧设有至少一下压件。

5.根据权利要求2所述的电子元件作业装置的气压式检知机构，其特征在于，该检知机构的负压结构在该控制部件与该本体之间设有垫片。

6.根据权利要求1所述的电子元件作业装置的气压式检知机构，其特征在于，该检知机构的负压结构在该移料机构的拾取件外环面设有控制部件。

7.一种电子元件作业装置的检知方法，其特征在于，包含：

对位程序：该移料机构的取放器与该作业机构的承置器相对位，以供取料；

取料程序：该移料机构的取放器于该作业机构的承置器上执行取料作业；

抽真空程序：该检知机构的真空单元的真空产生器抽吸拾取件的抽气道及该气室的空气；

检知比对程序：该检知机构的真空单元的真空感测器检知该取放器的负压值，并将感测的负压值资料传输至该比对单元，该比对单元的控制器将感测的负压值资料与该资料库内建的设定负压范围资料进行比对，以判别该取放器的吸附状态及该承置器的承置状态。

8.根据权利要求7所述的电子元件作业装置的检知方法，其特征在于，在执行该对位程序前，执行负压状态设定程序，该负压状态设定程序是在该资料库内建立复数种不同负压范围资料。

9.根据权利要求7所述的电子元件作业装置的检知方法，其特征在于，该检知比对程序判别出该承置器有异承承置状态后，发出警示讯息，以通知进行排除异常。

10.一种应用电子元件作业装置的作业设备，其特征在于，包含：

机台；

至少一如权利要求1所述的电子元件作业装置的气压式检知机构配置于该机台，并设有至少一作业机构及至少一移料机构及至少一检知机构，用以对电子元件执行预设作业及检知作业；

中央控制装置是用以控制及整合各装置作动，以执行自动化作业。